ISO TS 80004-6-2013 Nanotechnologies - Vocabulary - Part 6 Nano-object characterization《纳米技术 词汇 第6部分 纳米对象描述》.pdf

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1、 ISO 2013 Nanotechnologies Vocabulaire Partie 6: Caractrisation des nano-objets Nanotechnologies Vocabulary Part 6: Nano-object characterization Numro de rfrence ISO/TS 80004-6:2013(F) SPCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 80004-6 Premire dition 2013-11-01 ISO/TS 80004-6:2013(F)ii ISO 2013 Tous droits rserv

2、s DOCUMENT PROTG PAR COPYRIGHT ISO 2013 Droits de reproduction rservs. Sauf indication contraire, aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie, laffichage sur linternet ou sur

3、un Intranet, sans autorisation crite pralable. Les demandes dautorisation peuvent tre adresses lISO ladresse ci-aprs ou au comit membre de lISO dans le pays du demandeur. ISO copyright office Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Tel. + 41 22 749 01 11 Fax + 41 22 749 09 47 E-mail copyrightiso.org Web w

4、ww.iso.org Publi en Suisse ISO/TS 80004-6:2013(F) ISO 2013 Tous droits rservs iii Sommaire Page Avant-propos iv Introduction vi 1 Domaine dapplication . 1 2 Termes gnraux 1 3 Termes associs la mesure des tailles et des formes . 3 3.1 Termes relatifs aux mesurandes pour la taille et la forme 3 3.2 Te

5、rmes relatifs aux techniques de diffusion 4 3.3 Termes relatifs la caractrisation des arosols . 6 3.4 Termes relatifs aux techniques de sparation . 7 3.5 Termes relatifs la microscopie 7 3.6 Termes relatifs la mesure de laire de surfaces 11 4 Termes relatifs lanalyse chimique 12 5 Termes relatifs la

6、 mesure dautres proprits 17 5.1 Termes relatifs la mesure de la masse .17 5.2 Termes relatifs la mesure de la cristallinit 17 5.3 Termes relatifs la mesure des charges dans les suspensions 18 Annexe A (informative) Index .19 Bibliographie .24 ISO/TS 80004-6:2013(F) Avant-propos LISO (Organisation in

7、ternationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres de lISO). Llaboration des Normes internationales est en gnral confie aux comits techniques de lISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire partie du comit technique c

8、r cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec lISO participent galement aux travaux. L ISO collabore troitement avec la Commission lectrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation lectrotechnique. Les procdures utili

9、ses pour laborer le prsent document et celles destines sa mise jour sont dcrites dans les Directives ISO/CEI, Partie 1. Il convient, en particulier de prendre note des diffrents critres dapprobation requis pour les diffrents types de documents ISO. Le prsent document a t rdig conformment aux rgles d

10、e rdaction donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 2 (voir www. iso.org/directives). Lattention est appele sur le fait que certains des lments du prsent document peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas a

11、voir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. Les dtails concernant les rfrences aux droits de proprit intellectuelle ou autres droits analogues identifis lors de llaboration du document sont indiqus dans lIntroduction et/ou sur la liste ISO des dclarations de brevets reues (v

12、oir www.iso.org/patents). Les ventuelles appellations commerciales utilises dans le prsent document sont donnes pour information lintention des utilisateurs et ne constituent pas une approbation ou une recommandation. Pour une explication de la signification des termes et expressions spcifiques de l

13、ISO lis lvaluation de la conformit, aussi bien que pour des informations au-sujet de ladhsion de lISO aux principes de lOMC concernant les obstacles techniques au commerce (OTC) voir le lien suivant: Foreword - Supplementary information LISO/ TS 80004-6 a t prpare conjointement par le Comit techniqu

14、e ISO/TC 229, Nanotechnologies et le Comit technique CEI/TC 113, Normalistion dans le domaine des nanotechnologies relatives aux appareils et systmes letriques et letroniques. Le projet a t distribu aux organismes nationaux membres de lISO et de la CEI pour le vote. Les documents dans la plage de nu

15、mros de rfrence allant de 80000 89999 sont dvelopps en collaboration entre lISO et la CEI. LISO/ TS 80004 comprend les parties suivantes, prsentes sous le titre gnral Nanotechnologies Vocabulaire: Partie 1: Termes cur Partie 3: Nano-objets en carbone Partie 4: Matriaux nanostructurs Partie 5: Interf

16、ace nano/bio Partie 6: Caractrisation dun nano-objet Partie 7: Diagnostics et thrapies pour les soins de sant Les parties suivantes sont en prparation: Partie 2: Nano-objets: Nanoparticule, nanofibre et nanofeuillet 1) 1) Rvision de lISO/TS 27687:2008, Nanotechnologies Terminologie et dfinitions rel

17、atives aux nano- objets Nanoparticule, nanofibre et nanofeuillet.iv ISO 2013 Tous droits rservs ISO/TS 80004-6:2013(F) Partie 8: Processus de nanofabrication Partie 9: Produits et systmes lectrotechniques nano-activs Partie 10: Produits et systmes photoniques nano-activs Partie 11: Nano-couche, nano

18、-revtement, nano-film et termes associs Partie 12: Effets quantiques dans les nanotechnologies Le graphne et autres matriaux deux dimensions feront lobjet dune future Partie 13. ISO 2013 Tous droits rservs v ISO/TS 80004-6:2013(F) Introduction Les techniques de mesure et dinstrumentation ont largeme

19、nt contribu ouvrir efficacement la porte aux nanotechnologies modernes. La caractrisation constitue llment cl pour comprendre les proprits et les fonctions des nano-objets. La caractrisation des nano-objets implique des interactions entre des personnes ayant des formations diffrentes et intervenant

20、dans des domaines diffrents. Ceux qui sintressent la caractrisation des nano-objets peuvent tre des spcialistes des sciences des matriaux, des biologistes, des chimistes ou des physiciens et il est possible que leur formation soit essentiellement exprimentale ou thorique. Ceux qui utilisent les donn

21、es peuvent se situer au-del de ce groupe et inclure des spcialistes de la rglementation et des toxicologues. Pour viter les malentendus et pour faciliter la fois la comparabilit et lchange fiable dinformations, il est essentiel de clarifier les concepts et dtablir les termes utiliser ainsi que leurs

22、 dfinitions. Les termes sont classs sous les titres gnraux suivants: Article 2: Termes gnraux Article 3: Termes associs la mesure des dimensions et des formes Article 4: Termes associs lanalyse chimique Article 5: Termes associs la mesure dautres proprits Ces catgories sont uniquement destines servi

23、r de guide car certaines techniques permettent de dterminer plus dune proprit. Le paragraphe 3.1 numre les mesurandes gnriques qui sappliquent au reste de lArticle 3. Dautres mesurandes sont plus spcifiques une technique et sont placs dans le texte ct de la technique. Il convient de noter que la plu

24、part des techniques ncessitent une analyse dans un tat non natif et impliquent une prparation des chantillons, par exemple, en plaant les nano-objets sur une surface ou dans un fluide spcifique ou sous vide. Cela pourrait conduire une modification de la nature des nano-objets. Il convient de ne pas

25、considrer lordre dans lequel les techniques sont prsentes dans le document comme un ordre de prfrence. La liste des techniques numres dans le prsent document nest pas exhaustive. Par ailleurs, certaines des techniques numres dans le document sont plus connues que d autres pour leur utilisation dans

26、l analyse de certaines proprits des nano-objets. Le Tableau 1 numre, par ordre alphabtique, les principales techniques actuellement utilises pour la caractrisation des nano-objets. Tableau 1 Liste alphabtique des principales techniques actuellement utilises pour la caractrisation des nano-objets Pro

27、prit Principales techniques actuellement utilises Dimensions microscopie force atomique (AFM), sdimentation centrifuge en phase liquide (CLS); sys- tme danalyse diffrentielle de la mobilit (DMAS); diffusion dynamique de la lumire (DLD), microscopie lectronique balayage (MEB), analyse par traage de p

28、articules (analyse par suivi de particules) (PTA), microscopie lectronique transmission (MET) Forme microscopie force atomique (AFM), microscopie lectronique balayage (MEB), microscopie lectronique transmission (MET) Surface Mthode de Brunauer-Emmett-Teller (BET) Composition chimique de surface spec

29、tromtrie de masse dions secondaires (SIMS), spectroscopie de photolectrons X (XPS)vi ISO 2013 Tous droits rservs ISO/TS 80004-6:2013(F) Proprit Principales techniques actuellement utilises Analyse chimique de lchantillon en vrac spectromtrie de masse plasma coupl par induction (ICP-MS), spectroscopi

30、e de rsonance magntique nuclaire (RMN) Charge dans les suspensions potentiel zta Le prsent document est destin servir de rfrence de dpart pour le vocabulaire utilis en soutien aux efforts de mesure et de caractrisation dans le domaine des nanotechnologies. ISO 2013 Tous droits rservs vii Nanotechnol

31、ogies Vocabulaire Partie 6: Caractrisation des nano-objets 1 Domaine dapplication La prsente Spcification technique donne la liste des termes et dfinitions applicables la caractrisation des nano-objets. 2 Termes gnraux 2.1 chelle nanomtrique gamme de dimensions stendant approximativement de 1 nm 100

32、 nm Note 1 larticle: Les proprits qui ne constituent pas des extrapolations par rapport des dimensions plus grandes seront prsentes de faon gnrale, mais pas exclusivement, dans cette gamme de dimensions. Pour ces proprits, on considre que les limites dimensionnelles sont approximatives. Note 2 larti

33、cle: Dans cette dfinition, on indique une limite infrieure (approximativement 1 nm) pour viter des atomes isols et de petits groupes datomes dtre dsigns en tant que nano-objets (2.2) ou lments de nanostructures, ce qui pourrait tre le cas en labsence de limite infrieure. SOURCE: ISO/TS 80004-1:2010,

34、 dfinition 2.1 2.2 nano-objet matriau dont une, deux ou les trois dimensions externes sont lchelle nanomtrique (2.1) Note 1 larticle: Terme gnrique pour tous les objets discrets lchelle nanomtrique. SOURCE: ISO/TS 80004-1:2010, dfinition 2.5 2.3 nanoparticule nano-objet (2.2) dont les trois dimensio

35、ns externes sont lchelle nanomtrique (2.1) Note 1 larticle: Si les valeurs de la plus longue dimension et de la plus courte dimension du nano-objet diffrent de faon significative (gnralement dun facteur plus grand que trois), on utilise les termes nanofibre (2.6) ou nanofeuillet (2.4) la place du te

36、rme nanoparticule. SOURCE: ISO/TS 27687:2008, dfinition 4.1 2.4 nanofeuillet nano-objet (2.2) dont une dimension externe est lchelle nanomtrique (2.1) et dont les deux autres sont significativement plus grandes Note 1 larticle: La dimension externe la plus petite est lpaisseur du nanofeuillet. Note

37、2 lar t icle: On considre que les deux dimensions significativement les plus grandes diffrent de la dimension lchelle nanomtrique dun facteur suprieur trois. Note 3 larticle: Les dimensions externes les plus grandes ne sont pas ncessairement lchelle nanomtrique. SPCIFICATION TECHNIQUE ISO/TS 80004-6

38、:2013(F) ISO 2013 Tous droits rservs 1 ISO/TS 80004-6:2013(F) SOURCE: ISO/TS 27687:2008, dfinition 4.2 2.5 nanotige nanofibre (2.6) pleine SOURCE: ISO/TS 27687:2008, dfinition 4.5 2.6 nanofibre nano-objet (2.2) dont deux dimensions externes similaires sont lchelle nanomtrique (2.1) et dont la troisi

39、me dimension est significativement plus grande Note 1 larticle: Une nanofibre peut tre flexible ou rigide. Note 2 larticle: On considre que les deux dimensions externes similaires ont une diffrence de taille plus petite quun facteur trois et on considre que la dimension externe significativement plu

40、s grande diffre des deux autres dun facteur suprieur trois. Note 3 larticle: La dimension externe la plus grande nest pas ncessairement lchelle nanomtrique. SOURCE: ISO/TS 27687:2008, dfinition 4.3 2.7 nanotube nanofibre (2.6) creuse SOURCE: ISO/TS 27687:2008, dfinition 4.4 2.8 point quantique nanop

41、articule (2.3) cristalline prsentant des proprits qui dpendent de la taille en raison des effets de confinement quantique sur les tats lectroniques SOURCE: ISO/TS 27687:2008, dfinition 4.7 2.9 particule lment minuscule de matire, possdant un primtre physique dfini Note 1 larticle: Une limite physiqu

42、e peut galement tre dcrite sous la forme dune interface. Note 2 larticle: Une particule peut se dplacer sous la forme dune unit. Note 3 larticle: Cette dfinition gnrale de particule sapplique aux nano-objets (2.2). SOURCE: ISO 14644-6:2007, dfinition 2.102 et ISO/TS 27687:2008, dfinition 3.1 2.10 ag

43、glomrat ensemble de particules (2.9) ou dagrgats (2.11), ou mlange des deux, faiblement lis, dont la surface externe rsultante est sensiblement gale la somme des surfaces de chacun des lments qui le composent Note 1 larticle: Les forces assurant la cohsion dun agglomrat sont des forces faibles, par

44、exemple forces de Van der Waals ou un simple enchevtrement physique. Note 2 larticle: Les agglomrats sont galement appels particules secondaires et les particules sources initiales sont appeles particules primaires. SOURCE: ISO/TS 27687:2008, dfinition 3.22 ISO 2013 Tous droits rservs ISO/TS 80004-6

45、:2013(F) 2.11 agrgat particule (2.9) compose de particules fortement lies ou fusionnes, dont la surface externe rsultante peut tre significativement plus petite que la somme des surfaces calcules de chacun des lments qui la composent Note 1 larticle: Les forces assurant la cohsion dun agrgat sont de

46、s forces intenses, par exemple liaisons covalentes ou forces rsultant dun frittage ou dun enchevtrement physique complexe. Note 2 larticle: Les agglomrats sont galement appels particules secondaires et les particules sources initiales sont appeles particules primaires. SOURCE: ISO/TS 27687:2008, dfi

47、nition 3.3 2.12 arosol systme de particules (2.9) solides ou liquides en suspension dans un gaz SOURCE: ISO 15900:2009, dfinition 2.1 2.13 suspension mlange htrogne de matriaux comprenant un liquide et un matriau solide finement dispers SOURCE: ISO 4618:, dfinition 2.243 3 Termes associs la mesure des tailles et des formes 3.1 Termes relatifs aux mesurandes pour la taille et la forme 3.1.1 taille des particules dimensio