DIN 50452-2-2009 Testing of materials for semiconductor technology - Test method for particle analysis in liquids - Part 2 Determination of particles by optical particle counters《半.pdf
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1、Oktober 2009DEUTSCHE NORM Normenausschuss Materialprfung (NMP) im DINPreisgruppe 8DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e.V., Berlin, gestattet.ICS 29.045!$XT-“1534910www.din.deDDIN 50452-2Prf
2、ung von Materialien fr die Halbleitertechnologie Verfahren zur Teilchenanalytik in Flssigkeiten Teil 2: Teilchenbestimmung mit optischen DurchflusspartikelzhlernTesting of materials for semiconductor technology Test method for particle analysis in liquids Part 2: Determination of particles by optica
3、l particle countersEssai des matriaux pour la technologie des semiconducteurs Mthode pour lanalyse des particules dans les liquides Partie 2: Dtermination des particules par compteur optique de particulesAlleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinErsatz frDIN 50452-2:1991-03www.be
4、uth.deGesamtumfang 11 SeitenDIN 50452-2:2009-10 Inhalt Seite Vorwort . 3 1 Anwendungsbereich 4 2 Normative Verweisungen. 4 3 Begriffe 4 4 Kurzbeschreibung 5 5 Gerte. 5 5.1 Allgemeines. 5 5.2 Probenahmegert . 6 5.3 Optisches Durchfluss-Partikelmessgert 8 5.4 Durchfluss-Regeleinrichtung 9 5.5 Hilfsmed
5、ien 9 6 Durchfhrung 9 6.1 Vorbehandlung der Gesamtprobe. 9 6.2 Vorbehandlung der Gerte 9 6.3 Bestimmung der Partikelanzahl-Konzentration der Splflssigkeit als System-Eignungstest . 9 6.4 Partikelgren-Kalibrierung 10 6.5 Messung 10 7 Berechnung und Angabe der Ergebnisse 10 8 Wiederholprzision. 11 9 P
6、rfbericht. 11 Bilder Bild 1 Durchfluss-Partikelmessgert, Probenahme aus Kleingebinden mittels berdruck (schematisch) .6 Bild 2 Durchfluss-Partikelmessgert, Probenahme aus Grogebinden mittels berdruck (schematisch) .7 Bild 3 Durchfluss-Partikelmessgert, Probenahme aus Gebinden mittels Unterdruck (sch
7、ematisch)8 Tabellen Tabelle 1 Erfahrungswerte fr Variationskoeffizienten unter Wiederholbedingungen, vr, in Abhngigkeit von der mittleren Partikelanzahl-Konzentration, )(dc , der gemessenen Gesamtproben.11 2 DIN 50452-2:2009-10 Vorwort Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-02-21 AA Prfun
8、g von Prozesschemikalien fr die Halbleitertechnologie“ im Normenausschuss Materialprfung (NMP) erarbeitet. nderungen Gegenber DIN 50452-2:1991-03 wurden folgende nderungen vorgenommen: a) Anwendungsbereich auf Partikelgren ab 0,1 m gegenber 0,3 m gendert; b) normative Verweisungen aktualisiert; c) B
9、eruhigungszeit von mindestens 30 min bei Vorbehandlung der Proben gestrichen und ersetzt durch Festlegung eines Vorversuches; d) Richtwert fr Teilchenbestimmung der Splflssigkeit gestrichen und ersetzt durch Festlegung einer maximalen Partikelanzahl-Konzentration; e) Festlegung zur Partikelgren-Kali
10、brierung aufgenommen; f) Inhalt redaktionell berarbeitet. Frhere Ausgaben DIN 50452-2: 1991-03 3 DIN 50452-2:2009-10 1 Anwendungsbereich Dieses Dokument legt ein Verfahren zur Bestimmung der Anzahlkonzentration von Partikeln in Flssigkeiten mittels automatischer Durchfluss-Partikelmessgerte fest. Da
11、s Verfahren arbeitet nach der Laser-Streulicht- Methode und erlaubt sowohl Partikelgren-Messungen durchzufhren als auch die gemessenen Partikel in bestimmten Partikelgren-Bereichen zu zhlen. Dieses Dokument gilt fr in der Halbleitertechnologie bliche Flssigchemikalien mit Partikelgren von 0,1 m und
12、grer. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderun
13、gen). DIN EN ISO 14644-1, Reinrume und zugehrige Reinraumbereiche Teil 1: Klassifizierung der Luftreinheit 3 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokuments gelten die folgenden Begriffe. 3.1 Partikelgre Durchmesser eines in einer Probenflssigkeit suspendierten Partikels, der vom Messgert aufgrund einer
14、bestimmten Kalibrierung registriert wird ANMERKUNG 1 Der Durchmesser entspricht dem eines kugelfrmigen Partikels mit gleichem Lichtstreuvermgen wie das Partikel, dessen Gre gemessen wurde und wie es das Kalibriermaterial im Kalibriermedium (blicherweise Polystyrolpartikel in Wasser) aufweist. ANMERK
15、UNG 2 Das Lichtstreuvermgen wird wesentlich vom Brechungsindexverhltnis nPartikel/nMediumbeeinflusst. Weist das flssige Medium, in dem die Partikelzhlung stattfindet, einen hheren Brechungsindex als Wasser auf, wird die Partikelgre durch das optische Durchfluss-Partikelmessgert unterbewertet. 3.2 Pr
16、obe Teilvolumen einer zu analysierenden Flssigkeit (Gesamtprobe), das im Durchfluss-Partikelmessgert gemes-sen wird, um die Partikelanzahl-Konzentration der gesamten Flssigkeit zu kennzeichnen 3.3 Bezugs-Partikelgre kleinste bei der Summierung bercksichtigte Partikelgre 3.4 Partikelanzahl-Konzentrat
17、ion Anzahl der Partikel in 100 ml Flssigkeit, deren Partikelgre gleich oder grer einer vorgegebenen Bezugs-Partikelgre ist 3.5 Gebinde handelsblicher Behlter fr die zu prfende Chemikalie ANMERKUNG Es werden Kleingebinde und Grogebinde unterschieden. 4 DIN 50452-2:2009-10 3.6 Kleingebinde Behlter fr
18、die zu prfende Chemikalie mit einem Nennvolumen von hchstens 15 l 3.7 Grogebinde Behlter fr die zu prfende Chemikalie mit einem Nennvolumen grer 15 l und hchstens 1 000 l 4 Kurzbeschreibung Die Probe wird aus einem Gebinde direkt dem Sensor des optischen Durchfluss-Partikelmessgertes zugefhrt. Der D
19、urchfluss wird hinter dem Sensor mit einer Durchfluss-Regeleinrichtung auf den bei der Kalibrierung verwendeten Wert abgeglichen. Die Messung der Partikelanzahl-Konzentration wird gestartet, nachdem ein Vorlauf so lange erfolgt ist, bis die Zhlraten stabil sind. Sie wird beendet, wenn mindestens fnf
20、 Wiederholmessungen durchgefhrt worden sind und die Variationskoeffizienten bei Partikelgren 0,5 m kleiner 10 % sind. 5 Gerte 5.1 Allgemeines Die Prfanordnung (siehe Bild 1) zur Messung der Partikelanzahl-Konzentration in Flssigkeiten besteht aus dem Probenahmegert, dem Partikelzhler und der Durchfl
21、uss-Regeleinrichtung. Bei der Auslegung des Messplatzes sind folgende Kriterien zu beachten: a) Bei der Probenahme aus offenen Gebinden muss dafr Sorge getragen werden, dass keine Sekun-drkontamination durch luftgetragene Partikel erfolgen kann. Im Fall der Probenahme mittels berdruck gengt es im Al
22、lgemeinen, das druckbertragende Gas unmittelbar vor der Einlassstelle zu filtrieren. Im Fall der Probenahme mittels Unterdruck muss das Gebinde whrend des ffnens und Messens in einer reinen Werkbank untergebracht sein; aus praktischen Grnden ist dann auch der Sensor in der reinen Werkbank zu betreib
23、en. Die reine Werkbank muss eine laminare Luftstrmung aufweisen, und der reine Bereich muss mindestens der ISO-Klasse 5 nach DIN EN ISO 14644-1 gengen; es ist darauf zu achten, dass der laminare Luftstrom nicht durch Partikel kontaminiert wird; b) die mit der Probe in Kontakt kommenden Teile des Mes
24、splatzes mssen chemisch bestndig und in ihrer Oberflche so beschaffen sein, dass sie weder Partikel freisetzen noch Partikel aufnehmen; c) die Verbindungsleitung zwischen Probe und Sensor ist so kurz wie mglich auszufhren und darf neben den Verschraubungen an der Messzelle des Sensors keine weiteren
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