ISO 4519-1980 Electrodeposited metallic coatings and related finishes Sampling procedures for inspection by attributes《金属电镀层和有关的精加工 计数检查的抽样程序》.pdf

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1、Norme internationale INTERNATIONAL ORANIZATION FOR STANDARDIZATIONOMEYHAPOHAR OPTAHM3AMR l-l0 CTAHAAPTl43AL dans ce cas, la rfrence doit tre faite IISO 2859 et son Additif 1. II est galement possible dtablir des plans dchantillonnage bass sur le contrle par variables. 2 Rfrences I SO 2859, Rgles et

2、tables dchantillonnage pour les contrles par attributs. ISO 2859lAdd. 1 : Renseignements gnraux sur le contrle par chantillonnage, et guide pour lemploi des tables de IISO 28% I SO 3269, lments de fixation - Contrle par acceptation. 2) ISO 3534, Statistiques - Vocabulaire et symboles. 3 Dfinitions N

3、OTE - Quelques-unes de ces dfinitions ne sont pas identiques cel- les de IISO 3534 mais ont t modifies pour les rendre plus faciles comprendre par des non-statisticiens et pour les rendre aisment appli- cables aux individus revtus de dpt lectrolytique. 3.1 contrle : Processus de msurage, dexamen, de

4、ssai ou autres, comparant lunit de produit (voir 3.4) aux spcifications. 3.2 attribut : Caractristique ou proprit dont on tablit la prsence ou labsence (par exemple entre ou nentre pas) par rapport une spcification donne. 3.3 contrle par attributs : Mthode destimation consis- tant soit classer une u

5、nit de produit comme dfectueuse ou non dfectueuse, soit compter le nombre de dfauts par unit de fabrication, par rapport une ou plusieurs spcifications donnes. 3.4 unit de produit (individu) : Objet soumis un con- trle, soit simplement en vue de le classer comme dfectueux ou non dfectueux, soit en v

6、ue den dnombrer les dfauts. II peut tre constitu par un seul article, une paire, un jeu, une longueur, une surface, un fonctionnement, un volume, un l- ment de produit fini ou le produit fini lui-mme. Lunit de pro- duit peut ou non correspondre lunit dachat, de livraison, de fabrication ou dexpditio

7、n. 3.5 critre dacceptation : Nombre maximal de dfauts ou de dfectueux dun chantillon entranant lacceptation du lot contrl. 3.6 critre de rejet : Nombre minimal de dfauts ou de dfectueux dun chantillon entranant le rejet du lot contrl. 3.7 lot contr&l : Collection darticles revtus qui sont de mme nat

8、ure, qui ont t produits conformment aux mmes spcifications, qui ont t revtus par un seul fournisseur en une seule fois ou approximativement en mme temps, dans des conditions essentiellement identiques, et qui sont soumis pour acceptation ou rejet en groupe. . 1) NQA = Niveau de qualit acceptable. 2)

9、 Actuellement au stade de projet. 1 ISO 4519-1980 (FI 3.8 Classification des dfauts et dfectueux 3.8.1 mthode de classification des dfauts : numra- tion des dfauts possibles dune unit de produit (individu), classs par ordre de gravit. Un dfaut consiste en tout man- que de conformit dune unit de prod

10、uit (individu) aux spcifi- cations. Les dfauts sont normalement regroups sous une ou plusieurs des catgories suivantes. Ils peuvent tre galement regroups sous dautres catgories ou sous-classes lintrieur de ces catgories. 3.8.1 .l dfaut critique : Dfaut qui, daprs le jugement et lexprience, est susce

11、ptible de conduire un manque de scu- rit ou des risques daccident pour les utilisateurs, le person- nel dentretien ou ceux qui dpendent du produit revtu du dpt lectrolytique ou de la finition apparente considre. Ce peut tre galement un dfaut du revtement, qui daprs le jugement et lexprience, pourrai

12、t empcher laccomplissement de la fonction dun produit final plus important. 3.8.1.2 dfaut majeur : Dfaut qui, sans tre critique, risque de provoquer une dfaillance ou de rduire de faon importante la possibilit dutilisation de lunit de produit considre pour le but qui lui est assign. 3.8.1.3 dfaut mi

13、neur : Dfaut qui ne rduira vraisemblable- ment pas beaucoup la possibilit dutilisation de lunit de pro- duit considre pour le but qui lui est assign ou qui traduit, par rapport aux normes fixes, une divergence nentranant que peu ou pas de consquences apprciables sur lutilisation ou le fonctionnement

14、 efficace du produit revtu du dpot lectrolyti- que ou de la finition apparente. NOTE - Le contrle des dfauts critiques peut exiger un essai non destructif de toutes les units de produit dun lot. Dans la presente Norme internationale, sont considrs comme majeurs tous les dfauts faisant quune unit de

15、produit donne nest pas conforme aux spcifi- cations indiques pour les dpts lectrolytiques et finitions apparen- tes. Sur demande de lacheteur, on peut augmenter le nombre maxi- mal de dfauts par cent units de produit ou le pourcentage maximal de dfectueux figurant dans la prsente Norme international

16、e avec lobjectif de procder un contrle par chantillonnage des dfauts mineurs. 3.8.2 mthode de classification des dfectueux : Un dfectueux est une unit de produit (individu) qui prsente un ou plusieurs dfauts. On les classe gnralement comme suit : 3.8.2.1 dfectueux critique : Dfectueux qui prsente un

17、 ou plusieurs dfauts critiques et qui peut galement prsenter des dfauts majeurs ou mineurs. 3.8.2.2 dfectueux majeur : Dfectueux qui prsente un ou plusieurs dfauts majeurs et qui peut galement prsenter des dfauts mineurs, mais aucun dfaut critique. 3.8.2.3 dbfectueux mineur : Dfectueux qui prsente u

18、n ou plusieurs dfauts mineurs, mais ni dfaut majeur, ni dfaut criti- que. 3.9 expression de la non-conformit : La non-conformit dun produit sexprime soit en pourcentage de dfectueux, soit en nombre de dfauts par cent units de produit. 3.10 pourcentage de dfectueux : Quotient du nombre de dfectueux d

19、une quantit donne dunits de produit multipli par 100, par le nombre total dunits de produit contrl, cest- -dire : Pourcentage de dfectueux = nombre de dfectueux nombre dunits de produit contrles x 100 4 Contrle du produit 4.1 Lot Un lot de contrle est une quantit de produits parmi lesquels un chanti

20、llon est prlev au hasard en vue dun contrle de conformit aux critres dacceptation. Ce lot peut diffrer des lots utiliss des fins diffrentes : fabrication, expdition, stoc- kage. 4.2 Formation des lots Les produits doivent tre regroups en lots identifiables, en sous-lots ou de toute autre manire pres

21、crite (voir 6.3). Chaque lot doit, dans la mesure du possible, se composer dindividus ou dchantillons ayant mme composition du matriau de base, mme type, nuance ou classe de revtement ou de fini- tion et peu prs mme forme et mmes dimensions, qui ont subi un traitement peu prs identique, peu prs au m

22、me moment (voir 7.22). 4.3 Taille du lot La taille dun lot est le nombre dunits de produit (individu) du lot. 4.4 Prsentation du lot Sauf spcification contraire de lacheteur dans le contrat ou dans la commande, la formation des lots, leur taille et leur mode de prsentation et didentification sont du

23、 ressort du fournisseur. 5, Acceptation et rejet 5.1 Responsabilit des essais Sauf spcification contraire dans le contrat ou la commande, cest le fournisseur qui est responsable de la ralisation de tous les essais de conformit aux exigences spcifies. II peut cet effet se servir de ses propres instal

24、lations ou de celles dun autre laboratoire. Lacheteur se rserve le droit deffectuer lun quelconque des contrles spcifis dans le document se rap- portant au matriau, sil estime cette action ncessaire pour vrifier que le dpt lectrolytique ou la finition apparente sont bien conformes aux prescriptions.

25、 Les pro&-verbaux des 2 ISO 4519-1980 (FI . rsultats dessai doivent tre conservs chez le fournisseur et soumis sur demande lexamen de lacheteur durant encore 1 anne aprs la date dacceptation des matriaux. Le fournis- seur doit fournir des copies des procs-verbaux dessai ainsi que des conditions dtai

26、lles de ceux-ci sur spcification dans le contrat ou la,commande. 5.2 Acceptabilit des lots Lacceptabilit dun lot est dfinie laide dun plan dchantil- lonnage. 5.3 Dfectueux Lacheteur se rserve le droit de rejeter tout produit qui lui sem- ble dfectueux au cours du contrle, que ce produit forme ou non

27、 partie dun chantillon et que le lot dans son entier ait t accept ou rejet. Les produits rebuts peuvent tre rpars ou corrigs avec lapprobation de lacheteur et de la manire indi- que par lui, puis soumis un deuxime contrle. Le fournisseur peut tre requis, la diligence de lautorit res- ponsable, de co

28、ntrler chaque unit du lot quant aux dfauts critiques. Le droit est rserv de contrler chaque unit sou- mise par le fournisseur quant aux dfauts critiques, et de rejeter le lot immdiatement quand un dfaut critique est trouv. Le droit est rserv galement dchantillonner quant aux dfauts critiques tout lo

29、t soumis par le fournisseur et de rejeter tout lot pour lequel un chantillon ainsi prlev se trouve prsenter un ou plusieurs dfauts critiques. 5.4 Lots recontrls Des lots estims inacceptables peuvent tre recontrls, mais seulement une fois tous les individus rexamins ou revrifis, et une fois tous les

30、dfectueux limins ou rpars. Lacheteur doit spcifier si le deuxime contrle doit porter sur tous les types ou classes de dfauts ou seulement sur un type ou une classe donn ayant caus le premier rejet. 6 Slection des chantillons (chantillonnage) 6.1 chantillon Un chantillon comprend un ou plusieurs indi

31、vidus prlevs au hasard dans un lot soumis au contrle sans tenir compte de leur quantit. Le nombre dindividus de lchantillon constitue sa taille. Aucun dfectueux ne doit tre ni exclu, ni inclus dlibr- ment lors dun chantillonnage au hasard. Lors du prlvement des chantillons, le fournisseur doit repre

32、r tous les individus jugs dfectueux et les rebuter ou les rparer une fois le con- trle termin. 6.2 chantillonnage reprsentatif Le nombre des individus de lchantillon doit, si besoin est, tre proportionnel la taille des sous-lots ou parties de lot dfinis par un critere rationnel. Si lon veut procder

33、un chantillon- nage reprsentatif, les individus de chaque partie de lot doivent tre choisis au hasard. Voir lannexe pour des mthodes de pr- Ivement des chantillons. 6.3 Taille du lot Le fournisseur et lacheteur doivent se mettre daccord sur une taille qui leur convient mutuellement et qui tient comp

34、te de la nature du procd de fabrication. Du point de vue du prix du contrle, il y a avantage envisager des lots de grande taille, dautant plus que lchantillon est une plus petite partie du lot et amliore le jugement. Cependant, des lots de grande taille ne devraient pas tre envisags quand cela arrte

35、 la sortie de la production et que des lots pluspetits pourraient tre chantil- lonns sparment tout en maintenant la cadence de sortie. Aussi, de petits lots ne devraient pas tre envisags sil y a doute sur la similitude de leur qualit. Les lots devraient com- prendre des individus produits essentiell

36、ement dans les mmes conditions. 6.4 Moment de lchantillonnage Les chantillons peuvent tre prlevs une fois le lot constitu de tous les individus, ou en cours de constitution du lot. 7 Plans dchantillonnage 7.1 Plan dchantillonnage Un plan dchantillonnage indique le nombre dindividus de chaque lot con

37、trler (taille ou srie de tailles de lots), ainsi que les conditions dacceptation du lot (critres dacceptation et de rejet). Sauf spcification contraire de lacheteur, les plans dchantillonnage doivent tre considrs comme des mtho- des normales de contrle et utiliss comme tels ds le dbut du contrle. 7.

38、2 Types de plan dchantillonnage Trois plans dchantillonnage pour contrle normal sont indi- qus dans les tableaux 1, 2 et 3. 7.2.1 chantillonnage pour examens visuels, contrles dimensionnels et tous essais non destructifs Lchantillonnage pour examens visuels, contrle des tolran- ces dimensionnelles,

39、essais non destructifs de mesurage de lpaisseur et tous autres essais non destructifs, doit se faire de la manire indique dans le tableau 1, sauf dans le cas o les units de produit (individu) sont revtus au tonneau. Dans ce dernier cas, on doit utiliser le plan dchantillonnage du tableau 2. Sauf nce

40、ssit dmontre, on ne doit pas utiliser pour les examens et essais non destructifs des chantillons sp- cialement prpars en lieu, et place des units de produit norma- les. 7.2.2 chantillonnage pour tous essais destructifs Lchantillonnage pour tous les essais destructifs, tels que fra- gilisation par lh

41、ydrogne, adhrence, rsistance la corrosion, soudabilit, etc., doit se faire selon les indications du tableau 3. Lorsque larticle recouvert dun revtement ou dun dpt lec- trolytique est de forme, daspect, de taille ou de valeur tels que ce plan ne puisse pas tre utilis ou ne soit pas immdiatement adaptable aux besoins de lessai spcifi dans le contrat, la commande ou la norme applicable, ou encore lorsque les essais 3