DIN EN 61967-1-2003 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions 150 kHz to 1 GHz - Part 1 General conditions and definitions (IEC 61967-1 2002) German version EN.pdf

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1、DEUTSCHE NORM Januar 2003Integrierte SchaltungenMessung von elektromagnetischen Aussendungenim Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHzTeil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen(IEC 61967-1:2002) Deutsche Fassung EN 61967-1:2002EN 61967-1ICS 01.040.31; 01.040.33; 31.200; 33.100.10Integrated circui

2、ts Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHzPart 1: General conditions and definitions(IEC 61967-1:2002); German version EN 61967-1:2002Circuits intgrs Mesure des missions lectromagntiques, 150 kHz 1 GHzPartie 1: Conditions gnrales et dfinitions(CEI 61967-1:2002); Version allemande

3、EN 61967-1:2002Die Europische Norm EN 61967-1:2002 hat den Status einer Deutschen Norm.Beginn der GltigkeitDie EN 61967-1 wurde am 2002-05-01 angenommen.Nationales VorwortFr die vorliegende Norm ist das nationale Arbeitsgremium UK 631.3 Integrierte Halbleiterschaltungen(monolithisch und hybrid) der

4、DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informations-technik im DIN und VDE zustndig.Norm-Inhalt war verffentlicht als E DIN EN 61967-1:2000-03.Die enthaltene IEC-Publikation wurde vom SC 47A Integrated circuits erarbeitet.Das IEC-Komitee hat entschieden, dass der Inhalt dieser Publikation

5、 bis zum Jahr 2012 unverndertbleiben soll. Zu diesem Zeitpunkt wird entsprechend der Entscheidung des Komitees die Publikation besttigt, zurckgezogen, durch eine Folgeausgabe ersetzt oder gendert.Fr den Fall einer undatierten Verweisung im normativen Text (Verweisung auf eine Norm ohne Angabedes Aus

6、gabedatums und ohne Hinweis auf eine Abschnittsnummer, eine Tabelle, ein Bild usw.) beziehtsich die Verweisung auf die jeweils neueste gltige Ausgabe der in Bezug genommenen Norm.Fr den Fall einer datierten Verweisung im normativen Text bezieht sich die Verweisung immer auf diein Bezug genommene Aus

7、gabe der Norm.Der Zusammenhang der zitierten Normen mit den entsprechenden Deutschen Normen ergibt sich,soweit ein Zusammenhang besteht, grundstzlich ber die Nummer der entsprechenden IEC-Publikation. Beispiel: IEC 60068 ist als EN 60068 als Europische Norm durch CENELEC bernommenund als DIN EN 6006

8、8 ins Deutsche Normenwerk aufgenommen.IEC hat 1997 die Benummerung der IEC-Publikationen gendert. Zu den bisher verwendetenNormnummern wird jeweils 60000 addiert. So ist zum Beispiel aus IEC 68 nun IEC 60068 geworden.Fortsetzung 24 Seiten ENDKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informati

9、onstechnik im DIN und VDE DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise,nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinRef. Nr. DIN EN 61967-1:2003-01Preisgr. 1

10、4 Vertr.-Nr. 2514 Leerseite EUROPISCHE NORMEUROPEAN STANDARDNORME EUROPENNEEN 61967-1Juni 2002ICS 31.200 Deutsche FassungIntegrierte Schaltungen Messung von elektromagnetischen Aussendungenim Frequenzbereich von 150 kHz bis 1 GHzTeil 1: Allgemeine Bedingungen und Definitionen(IEC 61967-1:2002)Integr

11、ated circuits Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHzPart 1: General conditions and definitions(IEC 61967-1:2002)Circuits intgrs Mesure des missions lectromagntiques,150 kHz 1 GHzPartie 1: Conditions gnrales et dfinitions(CEI 61967-1:2002)Diese Europische Norm wurde von CENELEC am

12、2002-05-01 angenommen. DieCENELEC-Mitglieder sind gehalten, die CEN/CENELEC-Geschftsordnung zuerfllen, in der die Bedingungen festgelegt sind, unter denen dieser EuropischenNorm ohne jede nderung der Status einer nationalen Norm zu geben ist.Auf dem letzten Stand befindliche Listen dieser nationalen

13、 Normen mit ihren biblio-graphischen Angaben sind beim Zentralsekretariat oder bei jedem CENELEC-Mit-glied auf Anfrage erhltlich.Diese Europische Norm besteht in drei offiziellen Fassungen (Deutsch, Englisch,Franzsisch). Eine Fassung in einer anderen Sprache, die von einem CENELEC-Mitglied in eigene

14、r Verantwortung durch bersetzung in seine Landessprache ge-macht und dem Zentralsekretariat mitgeteilt worden ist, hat den gleichen Status wiedie offiziellen Fassungen.CENELEC-Mitglieder sind die nationalen elektrotechnischen Komitees von Belgien,Dnemark, Deutschland, Finnland, Frankreich, Griechenl

15、and, Irland, Island, Italien,Luxemburg, Malta, den Niederlanden, Norwegen, sterreich, Portugal, Schweden,der Schweiz, Spanien, der Tschechischen Republik und dem VereinigtenKnigreich.CENELECEuropisches Komitee fr Elektrotechnische NormungEuropean Committee for Electrotechnical StandardizationComit E

16、uropen de Normalisation ElectrotechniqueZentralsekretariat: rue de Stassart 35, B-1050 Brssel2002 CENELEC Alle Rechte der Verwertung, gleich in welcher Form und in welchem Verfahren,sind weltweit den Mitgliedern von CENELEC vorbehalten.Ref. Nr. EN 61967-1:2002 DEN 61967-1:20022VorwortDer Text des Sc

17、hriftstcks 47A/632/FDIS, zuknftige 1. Ausgabe von IEC 61967-1, ausgearbeitet von demSC 47A Integrated circuits des IEC TC 47 Semiconductor devices, wurde der IEC-CENELEC ParallelenAbstimmung unterworfen und von CENELEC am 2002-05-01 als EN 61967-1 angenommen.Nachstehende Daten wurden festgelegt: spt

18、estes Datum, zu dem die EN auf nationaler Ebenedurch Verffentlichung einer identischen nationalenNorm oder durch Anerkennung bernommen werdenmuss (dop): 2003-02-01 sptestes Datum, zu dem nationale Normen, dieder EN entgegenstehen, zurckgezogen werdenmssen (dow): 2005-05-01Anhnge, die als normativ be

19、zeichnet sind, gehren zum Norminhalt.Anhnge, die als informativ bezeichnet sind, enthalten nur Informationen.In dieser Norm ist Anhang ZA normativ und sind die Anhnge A, B und C informativ.Der Anhang ZA wurde von CENELEC hinzugefgt.AnerkennungsnotizDer Text der Internationalen Norm IEC 61967-1:2002

20、wurde von CENELEC ohne irgendeine Abnderung alsEuropische Norm angenommen.In der offiziellen Fassung sind unter Literaturhinweise zu den aufgelisteten Normen die nachstehendenAnmerkungen einzutragen:IEC 61000-4-3 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61000-4-3:1996 (modifiziert).IEC 61000-4-6 ANMERKUNG Harm

21、onisiert als EN 61000-4-6:1996 (nicht modifiziert).IEC 61967-4 ANMERKUNG Harmonisiert als EN 61967-4:2002 (nicht modifiziert).EN 61967-1:20023InhaltSeiteVorwort. 21 Anwendungsbereich 52 Normative Verweisungen. 53 Begriffe 54 Prfbedingungen . 94.1 Allgemeines . 94.2 Umgebungsbedingungen. 95 Prfeinric

22、htung. 105.1 Allgemeines . 105.2 Schirmung 105.3 HF-Messgerte 105.4 Frequenzbereich 115.5 Vorverstrker oder Dmpfungsglied 115.6 Systemverstrkung 115.7 Weitere Bauteile 116 Prfaufbau . 126.1 Allgemeines . 126.2 Prfleiterplatte 126.3 IC-Anschlussbelastung 126.4 Anforderungen an die Stromversorgung Str

23、omversorgung der Prfleiterplatte. 136.5 Spezielle berlegungen zum IC 137 Prfverfahren . 147.1 Umgebungsberprfung 147.2 Betriebsmige berprfung 147.3 Spezielle Verfahren . 148 Prfbericht . 148.1 Allgemeines . 148.2 Umgebung . 158.3 Bauelementebeschreibung 158.4 Beschreibung des Prfaufbaus . 158.5 Soft

24、ware-Beschreibung . 158.6 Darstellung der Daten 158.7 Grenzwerte der HF-Aussendung. 158.8 Auswertung der Prfergebnisse 159 Allgemeine Grundspezifikation der Prfleiterplatte . 169.1 Beschreibung der Leiterplatte mechanisch 169.2 Beschreibung der Leiterplatte elektrisch 169.3 Masseflchen. 16EN 61967-1

25、:20024Seite9.4 Anschlusspins 179.5 Ausfhrung der Durchkontaktierungen 179.6 Abstand der Durchkontaktierungen . 179.7 Zustzliche Bauelemente. 18Anhang A (informativ) Vergleich der Prfverfahren 20Anhang B (informativ) Ablaufdiagramm eines Zhler-Prfprogramms. 21Anhang C (informativ) Beschreibung der So

26、ftware fr den ungnstigsten Fall 22Literaturhinweise 23Anhang ZA (normativ) Normative Verweisungen auf internationale Publikationen mit ihrenentsprechenden europischen Publikationen 24EN 61967-1:200251 AnwendungsbereichDieser Teil von IEC 61967 liefert allgemeine Informationen und Definitionen zur Me

27、ssung der leitungsgefhr-ten und abgestrahlten elektromagnetischen Strungen von integrierten Schaltungen. Weiterhin werden Mess-bedingungen, Prfeinrichtungen, Prfaufbau und Prfverfahren sowie der Inhalt des Prfberichts beschrie-ben. Im Anhang A ist eine Vergleichstabelle zu Prfverfahren enthalten, um

28、 die Auswahl des (der) geeigne-ten Messverfahren(s) zu untersttzen.Die Zielstellung der vorliegenden Norm ist, allgemeine Bedingungen zu beschreiben, um eine einheitlichePrfumgebung festzulegen und eine quantitative Messgre fr die hochfrequenten (HF-)Aussendungen vonintegrierten Schaltungen (IC inte

29、grated circuits) zu erhalten. Weiterhin werden kritische Parameter be-schrieben, von denen erwartet wird, dass sie die Prfergebnisse beeinflussen. Abweichungen von dervorliegenden Norm mssen ausdrcklich im einzelnen Prfbericht angegeben werden. Die Messergebnisseknnen zum Vergleich fr andere Zwecke

30、herangezogen werden.Messung der Spannung und des Stromes von leitungsgefhrten oder abgestrahlten HF-Aussendungen, dievon einer integrierten Schaltung unter kontrollierten Bedingungen ausgehen, fhren zu Angaben ber dasPotential fr HF-Aussendungen bei einer Anwendung der integrierten Schaltung.2 Norma

31、tive VerweisungenDie nachfolgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datiertenVerweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzteAusgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen).IEC 600

32、50(161), International Electrotechnical Vocabulary (IEV) Chapter 161: Electromagnetic compatibilityCISPR 16-1:1999, Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods Part 1: Radio disturbance and immunity measuring apparatusCISPR 25:1995, Limits and methods of measurem

33、ent of radio disturbance characteristics for the protection ofreceivers used on board vehiclesANSI C63.2:1996, American Standard for Electromagnetic Noise and Field Strength Instrumentation, 10 Hzto 40 GHz Specifications3 BegriffeFr die Anwendung dieses Teils von IEC 61967 gelten die folgenden Defin

34、itionen, die berwiegend ausIEC 60050(161) entnommen wurden.3.1NetzwerknachbildungAN (en: Artifical Network)vereinbarte Referenz-Lastimpedanz (nachgebildet), die sich der zu prfenden Einrichtung (EUT, en: Equip-ment Under Test) durch Netzwerke darstellen (z. B. ausgedehnte Starkstrom- oder Kommunikat

35、ionsleitun-gen), ber denen die HF-Strspannungen gemessen werden und die das Prfgert von der Stromversorgungoder von Lasten in diesem Frequenzbereich trennenIEV 161-04-05, modifiziert3.2zugehrige EinrichtungMesswandler (z. B. Tastkpfe, Netzwerke und Antennen), die mit einem Messempfnger oder Prfgener

36、atorverbunden sind; ebenfalls Messwandler (z. B. Tastkpfe, Netzwerke und Antennen), die im bertragungswegvon Signal- oder Strgren zwischen einer EUT und der Messeinrichtung oder einem (Prf-) Signalgenera-tor verwendet werdenEN 61967-1:200263.3automatischer Frequenzdurchlaufschnellster kalibrierter F

37、requenzdurchlauf, den ein Spektralanalysator auf der Grundlage von Anfangs-frequenz, Endfrequenz, Auflsungsbandbreite und Videobandbreite auswhlt3.4Breitband-AussendungAussendung, die eine grere Bandbreite als die eines bestimmten Messgertes oder Messempfngers hatIEV 161-06-13, modifiziert3.5Gleicht

38、aktspannungasymmetrische StrspannungMittelwert der Zeiger der Spannungen zwischen jedem Leiter und einem festgelegten Bezugspunkt,blicherweise Bezugserde oder BezugschassisIEV 161-04-093.6GleichtaktstromBetrag der Summe der Zeiger der elektrischen Stromstrken in jedem Leiter und in eventuell vorhand

39、enenAbtrennungen und Schirmen einer Leitung, die mehr als einen Leiter besitztIEV 161-04-393.7leitungsgefhrte AussendungenTransienten und/oder andere Strgren, die an den ueren Anschlussklemmen eines Bauelementeswhrend seines bestimmungsgemen Betriebes beobachtet werden3.8kontinuierliche StrgreHF-Str

40、gre mit einer Dauer von mehr als 200 ms am ZF-Ausgang eines Messempfngers, die einen Aus-schlag am Messinstrument eines Messempfngers in der Quasispitzenwert-Detektor-Betriebsart verursachtund die nicht sofort abklingtIEV 161-02-11, modifiziert3.9zu prfendes BauelementDUT (en: Device Under Test)Baue

41、lement, Einrichtung oder System, das (die) bewertet wirdANMERKUNG Wenn der Begriff in der vorliegenden Norm verwendet wird, bezieht er sich auf ein zu prfendes Halb-leiter-Bauelement.3.10Chip-Shrink/Die-ShrinkBetrag der Verkleinerung (en: shrink) der fr die Herstellung der integrierten Schaltung (IC

42、, en: integratedcircuit) verwendeten Maske, angegeben als Prozentwert oder durch Mae relativ zur ursprnglichen Fotovor-lage des Layouts (Zeichnungsgre)3.11GegentaktstromHlfte des Betrags der Differenz der Zeiger der elektrischen Stromstrken in jedem Leiter einer Zweileiter-leitung oder in jeweils zw

43、ei Leitern einer MehrleiterleitungIEV 161-04-38EN 61967-1:200273.12GegentaktspannungSpannung zwischen jeweils zwei aktiven Leitern aus einer festgelegten GruppeIEV 161-04-083.13diskontinuierliche Strgrebei gezhlten Knackstrungen Strgre mit einer Dauer von weniger als 200 ms am ZF-Ausgang einesMessem

44、pfngers, die einen vorbergehenden Ausschlag des Messinstrumentes eines Messempfngers inder Quasispitzenwert-Detektor-Betriebsart verursachtIEV 161-02-08, modifiziert3.14elektrisch kleine LeiterplatteLeiterplatte, deren Mae kleiner als /2 sind, z. B. 100 mm bis 150 mm bei 1 GHz3.15elektromagnetische

45、VertrglichkeitEMVFhigkeit einer Einrichtung oder eines Systems, in ihrer/seiner elektromagnetischen Umgebung zufriedenstellend zu funktionieren, ohne in diese Umgebung, zu der auch andere Einrichtungen gehren, unzulssigeelektromagnetische Strgren einzubringenIEV 161-01-073.16elektromagnetische Ausse

46、ndungErscheinung, bei der elektromagnetische Energie aus einer Quelle ausgestrahlt wird3.17elektromagnetische Strahlung1. Erscheinung, bei der Energie in Form von elektromagnetischen Wellen von einer Quelle in den Raumaustritt2. Energie, die in Form von elektromagnetischen Wellen im Raum bertragen w

47、irdIEV 161-01-103.18Aussendungsgrenzwert (fr eine Strquelle)festgelegter grter Aussendungspegel einer elektromagnetischen StrgreIEV 161-03-123.19quipotentialbezugsebeneebene leitfhige Oberflche, deren elektrisches Potential als gemeinsamer Bezugswert benutzt wirdIEV 161-04-363.20Trgerstreifen (en: l

48、ead frame)Trgeraufbau fr den Siliziumchip, der die ueren Anschlusspins mit dem Chip verbindet3.21MessempfngerEmpfnger fr die Messung von Strgren mit unterschiedlichen DetektorenANMERKUNG Die Bandbreite des Empfngers sollte der Festlegung in CISPR 16-1 entsprechen.EN 61967-1:200283.22Multichip-ModulM

49、CMintegrierte Schaltung, deren Funktionselemente auf oder in zwei oder mehreren Halbleiterchips gebildetwerden, die in einem einzigen Gehuse untergebracht sind3.23ChipsatzSatz aus mehreren IC, der als eine Einheit funktioniert; bei einer hheren Integrationsstufe knnte der Satzein einzelner IC sein3.24