DIN 51457-2017 de 4860 Testing of ceramic raw and basic materials - Direct determination of mass fractions of trace impurities in powders granules and lumps of graphite by optical .pdf
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1、Mai 2017DEUTSCHE NORM Preisgruppe 13DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 81.060.10!%_“2609699www.din.deDIN 51457Prfung keramischer Roh- und Werkstoffe Direkte Be
2、stimmung der Massenanteile von Spurenverunreinigungen in pulver-, kornfrmigem und stckigem Graphit mittels optischer Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV) unter Einwirkung eines halogenierenden Reaktionsgases (Modifiers)Testing of c
3、eramic raw and basic materials Direct determination of mass fractions of trace impurities in powders, granules and lumps of graphite by optical emission spectroscopy by inductively coupled plasma (ICP OES) and by electrothermal vaporization (ETV) under the action of a halogenated reaction gas (modif
4、iers)Essai des matires premires et matriaux de base cramiques Dtermination directe des fractions massiques de traces dimpurets dans les poudres, granuls et morceaux de graphite par spectromtrie dmission optique dun plasma par couplage inductif (ICP OES) et par vaporisation lectrothermique (ETV) sous
5、 laction dun gaz de raction halogn (modificateurs)Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 25 SeitenDDIN-Normenausschuss Materialprfung (NMP)DIN 51457:2017-05 2 Inhalt Seite Vorwort 3 1 Anwendungsbereich . 4 2 Normative Verweisungen . 4 3 Kurzbeschreibu
6、ng . 4 4 Grundlagen. 5 5 Gerte . 7 6 Reagenzien und Hilfsmittel 8 7 Probenahme und Probenvorbereitung . 9 8 Vorbereitende Schritte 9 9 Kalibrierung 9 10 Durchfhrung 10 11 Wellenlngen, Bestimmungsgrenzen und Arbeitsbereich . 11 12 Berechnung der Ergebnisse und Auswertung . 11 13 Angabe der Ergebnisse
7、 11 14 Przision des Verfahrens 11 15 Prfbericht . 12 (informativ) Przisionsdaten 13 Anhang AA.1 Allgemeines . 13 A.2 Ermittelte Przisionsdaten der Ringversuchsergebnisse fr die Graphit Probe 14 (informativ) Wellenlngen und Bestimmungsgrenzen . 15 Anhang B(informativ) Mgliche Strungen 17 Anhang CC.1
8、Allgemeines . 17 C.2 Spektrale Strungen . 17 C.2.1 Linienkoinzidenzen 17 C.2.2 Bandenkoinzidenzen 17 C.2.3 Untergrundbeeinflussung 18 C.2.4 Linienumkehr, Selbstabsorption . 18 C.2.5 Fehlstrahlung 18 C.3 Nicht-spektrale Strungen . 18 C.3.1 Strung durch die physikalischen Eigenschaften der Probe . 18
9、C.3.2 Strung durch Ablagerungen 18 C.3.3 Strung durch Verschleppen . 18 C.3.4 Ionisationsinterferenzen 19 C.3.5 nderung der elektrischen Einkopplungseffizienz 19 C.4 Schlussfolgerung 19 (informativ) Anwendung der Norm auf organische Proben . 20 Anhang D(informativ) Hinweise zur Ermittlung der Unsich
10、erheit des Mittelwertes 21 Anhang E(informativ) Handelsbliche Referenzmaterialien. 22 Anhang F(informativ) Kalibrierung mit wssrigen Lsungen. 23 Anhang GLiteraturhinweise . 24 DIN 51457:2017-05 3 Vorwort Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 062-02-64 AA Chemische Analyse von nichtoxidischen
11、 keramischen Roh- und Werkstoffen“ im DIN-Normenausschusses Materialprfung (NMP) erarbeitet. Es wird auf die Mglichkeit hingewiesen, dass einige Elemente dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen. DIN ist nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. DI
12、N 51457:2017-05 4 1 Anwendungsbereich Diese Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Verunreinigungen Ag, Al, As, B, Ba, Be, Bi, Ca, Cd, Co, Cr, Cu, Fe, K, Li, Mg, Mn, Mo, Na, Ni, P, Pb, S, Sb, Si, Sn, Sr, Ti, V, W, Y, Zn, Zr in pulver-, kornfrmigem und stckigem Graphit fest. Die
13、ses Verfahren ist mit Einschrnkungen in den Kalibriermglichkeiten fr Bor und Silizium anwendbar. Die Richtigkeit der Bor- und Siliziumbestimmungen im Graphit nach diesem Verfahren ist abhngig von dem jeweiligen Graphit-Material (Rohstoffe, Herstellung und Morphologie) und muss fr jeden Graphit-Typ m
14、it einem unabhngigen Verfahren validiert werden. Das Verfahren gilt, in Abhngigkeit von den Haupteinflussgren Element, Wellenlnge, Plasmabedingungen und Einwaage, fr Massenanteile der o. g. Verunreinigungen von etwa 0,001 mg/kg bis etwa 10 000 mg/kg, wobei abhngig von Element und Wellenlnge der Bere
15、ich eingeschrnkt sein kann. ANMERKUNG In der Regel gilt fr die optische Emissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (en: inductively coupled plasma optical emission spectrometry, ICP OES) und elektrothermischer Verdampfung (ETV) ein linearer Arbeitsbereich von bis zu vier Grenordnungen. D
16、ieser Bereich kann fr die einzelnen Elemente erweitert werden durch Variation der Einwaage oder durch die Wahl verschieden empfindlicher Linien. Diese Norm ist auch fr Ru, Koks, Kohle bis zu einem Massenanteil an Asche von 1 % anwendbar. Fr sonstige kohlenstoffhaltige Probengemische und Rckstnde nac
17、h Veraschung der Probe ist die Anwendung der Norm nach vorheriger Prfung mglich. Es liegen positive Erfahrungen zu veraschten organischen Materialien vor (1, 23 und Anhang D). 2 Normative Verweisungen Die folgenden Dokumente, die in diesem Dokument teilweise oder als Ganzes zitiert werden, sind fr d
18、ie Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). DIN 1333, Zahlenangaben 3 Kurzbeschreibung Das Probenmaterial wird i
19、n einem Probenschiffchen im Graphitrohrofen der ETV-Einheit im Argon-Trgergasstrom erhitzt, und die Analyten, unter Einwirkung eines halogenierenden Reaktionsgases verdampft. Die die Elementspuren enthaltenden Verdampfungsprodukte werden in Form eines Feststoff-Aerosols in das induktiv gekoppelte Pl
20、asma (ICP) transportiert und dort zur Emission von optischer Strahlung angeregt. In einem simultanen Emissionsspektrometer wird die optische Strahlung spektral zerlegt. Mit geeigneten Detektoren werden die Intensitten geeigneter Spektrallinien und Untergrundmess-stellen gemessen. Durch Vergleich der
21、 Intensitten der elementspezifischen Spektrallinien der Probe mit Kalibrierproben bekannter Zusammensetzung werden die Massenanteile der Elemente in der Probe ermittelt. DIN 51457:2017-05 5 4 Grundlagen Die optische Emissionsspektrometrie beruht auf der Entstehung von Linienspektren angeregter Atome
22、 oder Ionen, wobei jeder Spektrallinie eindeutig ein Element zugeordnet werden kann und die Linienintensitten den Massenanteilen der Elemente in der geprften Probe proportional sind. Im Gegensatz zu den nasschemischen lsungsanalytischen Verfahren der ICP OES wird der klassische Probenaufschluss durc
23、h die elektrothermische Verdampfung bei hoher Temperatur in einem Graphitrohr-ofen ersetzt. Durch geeignete Konstruktion des Ofens (siehe Bilder 1 und 2) und geeignete Gaszufhrung im ber-gangsbereich Graphitrohr/Transportrohr (siehe Bild 3) wird sichergestellt, dass die entstandenen gasfrmigen Produ
24、kte in eine effizient transportierbare Form berfhrt werden 4. Durch Einsatz eines gasfrmigen halogenhaltigen Reaktionsgases werden die Verdampfungstemperaturen durch Halogenbildung gesenkt bzw. deren Verdampfung speziell bei carbidbildenden Elementen erst ermglicht 5. Die Verdampfung erfordert bei G
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