IEC 61290-3-1-2003 Optical amplifiers - Test methods - Part 3-1 Noise figure parameters Optical spectrum analyzer method《光学放大器.试验方法.第3-1部分 噪音数字参数.光谱分析仪法》.pdf

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1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD61290-3-1Premire ditionFirst edition2003-08Amplificateurs optiques Mthodes dessai Partie 3-1:Paramtres du facteur de bruit Mthode danalyseur du spectre optiqueOptical amplifiers Test methods Part 3-1:Noise figure parameters Optical spectrum analyzer meth

2、odNumro de rfrenceReference numberCEI/IEC 61290-3-1:2003Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publications de laCEI incorporant

3、les amendements sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEILe co

4、ntenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions,am

5、endements et corrigenda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de

6、 la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) vous permetde faire des recherches en utilisant de nombreuxcritres, comprenant des recherches textuelles, parcomit dtudes ou date de publication. Desinformations en ligne sont galement disponibles surles n

7、ouvelles publications, les publications rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)est aussi disponible par courrier lectronique.Veuillez prendre contact avec le Service client(voir

8、 ci-dessous) pour plus dinformations. Service clientsSi vous avez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997

9、 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series. Forexample, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edition numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respectively, to the base public

10、ation,the base publication incorporating amendment 1 andthe base publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, thus ensuring thatthe content reflects current technology. Informatio

11、nrelating to this publication, including its validity, isavailable in the IEC Catalogue of publications(see below) in addition to new editions, amendmentsand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispu

12、blication, as well as the list of publications issued,is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm) enablesyou to search by a variety of criteria including textsearches, t

13、echnical committees and date ofpublication. On-line information is also availableon recently issued publications, withdrawn andreplaced publications, as well as corrigenda. IEC Just PublishedThis summary of recently issued publications(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)is also availa

14、ble by email. Please contact theCustomer Service Centre (see below) for furtherinformation. Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, pleasecontact the Customer Service Centre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00

15、.NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD61290-3-1Premire ditionFirst edition2003-08Amplificateurs optiques Mthodes dessai Partie 3-1:Paramtres du facteur de bruit Mthode danalyseur du spectre optiqueOptical amplifiers Test methods Part 3-1:Noise figure parameters Optical spectrum analyzer met

16、hodPour prix, voir catalogue en vigueurFor price, see current catalogue IEC 2003 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la ph

17、otocopie et lesmicrofilms, sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized in anyform or by any means, electronic or mechanical, includingphotocopying and microfilm, without permission in writing fromthe publisher.International Electrotechnical Commission, 3, r

18、ue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.chCODE PRIXPRICE CODE QCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 61290-3-1 CEI:2003SOMMAIREAVANT-PROPOS . 4INTRO

19、DUCTION 81 Domaine dapplication et objet.102 Rfrences normatives .103 Abrviations124 Appareillage125 Echantillon dessai 166 Procdure .166.1 Etalonnage 186.1.1 Etalonnage de largeur de bande optique.186.1.2 Etalonnage de la perte dinsertion de ltape zro .206.1.3 Etalonnage du facteur de correction de

20、 puissance dASO .206.2 Mesure 226.2.1 Technique de DI voie unique .226.2.2 Technique de PN .247 Calcul .248 Rsultats dessai.26Annexe A (normative) Limite des techniques dinterpolation directe due lmission desource spontane28Bibliographie .32Figure 1 Deux dispositions types de lappareillage dessai da

21、nalyseur de spectreoptique pour les mesures de paramtres de facteurs de bruit.14Figure A.1 Erreur de soustraction DI en fonction du niveau dmission de sourcespontane .3061290-3-1 IEC:2003 3 CONTENTSFOREWORD 5INTRODUCTION 91 Scope and object . 112 Normative references . 113 Abbreviations . 134 Appara

22、tus 135 Test sample . 176 Procedure 176.1 Calibration 196.1.1 Calibration of optical bandwidth . 196.1.2 Calibration of nulling stage insertion loss . 216.1.3 Calibration of OSA power correction factor 216.2 Measurement 236.2.1 Single channel DI technique 236.2.2 PN technique 257 Calculation. 258 Te

23、st results 27Annex A (normative) Limitation of direct interpolation techniques due to sourcespontaneous emission 29Bibliography . 33Figure 1 Two typical arrangements of the optical spectrum analyzer test apparatusfor noise figure parameter measurements. 15Figure A.1 DI subtraction error as a functio

24、n of source spontaneous emission level 31 4 61290-3-1 CEI:2003COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_AMPLIFICATEURS OPTIQUES MTHODES DESSAI Partie 3-1: Paramtres du facteur de bruit Mthode danalyseur du spectre optiqueAVANT-PROPOS1) La CEI (Commission Electrotechnique Internationale) est une orga

25、nisation mondiale de normalisationcompose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI apour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans lesdomaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI en

26、tre autres activits publie des Normesinternationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques et des Guides (ci-aprs dnomms“Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels toutComit national intress par le sujet trait peut participer. Les

27、organisations internationales,gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEIcollabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes paraccord entre les deux organisations.2) Les dcisions ou

28、accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEIintresss sont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme

29、de recommandations internationales et sont agrescomme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEIsassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsablede lventuelle mauvaise utilisation ou

30、interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final.4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute lamesure possible, appliquer de faon transparente, les Publications de la CEI dans leurs publicationsnationales et rgionales.

31、Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publicationsnationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires.5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas saresponsabilit pour les quipements

32、 dclars conformes une de ses Publications.6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication.7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires oumandataires, y compris ses experts particuliers et les

33、 membres de ses comits dtudes et des Comitsnationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autredommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les fraisde justice) et les dpenses dcoulant de la publ

34、ication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou detoute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord.8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publicationsrfrences est obligatoire pour une application correcte de la

35、 prsente publication.La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) attire lattention sur le fait quil est dclar que la conformitaux dispositions de la prsente Norme internationale peut impliquer lutilisation dun brevet concernant la techniquede polarisation zro donne dans le paragraphe 6.2.2.L

36、a CEI ne prend pas position quant la preuve, la validit et la porte de ces droits de proprit.Le dtenteur de ces droits de proprit a donn lassurance la CEI quil consent ngocier des licences avecdes demandeurs du monde entier, en des termes et des conditions raisonnables et non discriminatoires. A cep

37、ropos, la dclaration du dtenteur des droits de proprit est enregistre la CEI. Des informations peuvent treobtenues auprs de:Lucent600 Mountain AvenueMurray Hill, NJ 07974USALattention est par ailleurs attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuventfaire lobjet d

38、e droits de proprit autres que ceux qui ont t mentionns ci-dessus. La CEI ne saurait tre tenuepour responsable de ne pas avoir dment signal tout ou partie de ces droits de proprit.La Norme internationale CEI 61290-3-1 a t tablie par le sous-comit 86C: Systmes etdispositifs actifs fibres optiques, du

39、 comit dtudes 86 de la CEI: Fibres optiques.61290-3-1 IEC:2003 5 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION_OPTICAL AMPLIFIERS TEST METHODSPart 3-1: Noise figure parameters Optical spectrum analyzer methodFOREWORD1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for s

40、tandardization comprisingall national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition to other activities, IEC publishes In

41、ternational Standards, Technical Specifications,Technical Reports, and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted totechnical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in thispreparatory work. International

42、, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC alsoparticipate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization(ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.2) The formal decisio

43、ns or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an internationalconsensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from allinterested IEC National Committees.3) IEC Publications have the form of recommendations for internation

44、al use and are accepted by IEC NationalCommittees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the technical content of IECPublications is accurate, IEC cannot be held responsible for the way in which they are used or for anymisinterpretation by any end user.4) In order to pro

45、mote international uniformity, IEC National Committees undertake to apply IEC Publicationstransparently to the maximum extent possible in their national and regional publications. Any divergencebetween any IEC Publication and the corresponding national or regional publication shall be clearly indica

46、ted inthe latter.5) IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for anyequipment declared to be in conformity with an IEC Publication.6) All users should ensure that they have the latest edition of this publication.7) No liability shall attach to IEC

47、 or its directors, employees, servants or agents including individual experts andmembers of its technical committees and IEC National Committees for any personal injury, property damage orother damage of any nature whatsoever, whether direct or indirect, or for costs (including legal fees) andexpens

48、es arising out of the publication, use of, or reliance upon, this IEC Publication or any other IECPublications.8) Attention is drawn to the Normative references cited in this publication. Use of the referenced publications isindispensable for the correct application of this publication.The International Electrotechnical Commission (IEC) draws attention to the fact that it is claimed that compliancewith this International Standard may involve the use of a patent concerning