IEC 60512-15-8-1995 Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 15 Mechanical tests on contacts and terminations -.pdf

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1、NORME CE1 INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD IEC 51 2-1 5-8 Premire dition First edition 1995-1 1 Composants lectromcaniques pour quipements lectroniques - Procdures dessai de base et mthodes de mesure - Partie 15: Essais mcaniques des contacts et des sorties - Section 8: Essai 15h - Rsistance du

2、 systme de rtention des contacts lutilisation des outils Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 15: Mechanical tests on contacts and terminations - Section 8: Test 15h - Contact retention system resistance to tool application Num

3、ro de rfrence Reference number CEIAEC 51 2-1 5-8: 1995 Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est cons- tamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication sont dispon

4、ibles auprs du Bureau Central de la CEI. Les renseignements relatifs ces rvisions, ltablis- sement des ditions rvises et aux amendements peuvent tre obtenus auprs des Comits nationaux de la CE1 et dans les documents ci-dessous: Bulletin de la CE1 Annuaire de la CE1 Publi annuellement Catalogue des p

5、ublications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement Terminologie En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 50: Vocabulaire Electrotechnique lnter- national (VEI), qui se prsente sous forme de chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini. Des dtails com

6、plets sur le VE1 peuvent tre obtenus sur demande. Voir galement le dictionnaire multilingue de la CEI. Les termes et dfinitions figurant dans la prsente publi- cation ont t soit tirs du VEI, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Symboles graphiques et littraux Pour les symboles

7、graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera: - la CE1 27: Symboles littraux a utiliser en lectro-technique; - la CE1 417: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles; - la GEI 61 7:

8、 Symboles graphiques pour schmas; et pour les appareils lectromdicaux, - la CE1 878: Symboles graphiques pour quipements lectriques en pratique mdicale. Les symboles et signes contenus dans la prsente publi- cation ont t soit tirs de la CE1 27, de la CE1 417, de la CE1 617 etlou de la CE1 878, soit

9、spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. Publications de la CE1 tablies par le mme comit dtudes Lattention du lecteur est attire sur les listes figurant a la fin de cette publication, qui numrent les publications de la CE1 prpares par le comit dtudes qui a tabli la prsente publication.

10、Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available from the IEC Central Office. Information

11、 on the revision work, the issue of revised editions and amendments may be obtained from IEC National Committees and from the following IEC sources: IEC Bulletin IEC Yearbook Catalogue of IEC publications Published yearly Published yearly with regular updates Terminology For general terminology, rea

12、ders are referred to IEC 50: International Electrotechnical Vocabulary (I EV), which is issued in the form of separate chapters each dealing with a specific field. Full details of the IEV will be supplied on request. See also the IEC Multilingual Dictionary. The terms and definitions contained in th

13、e present publi- cation have either been taken from the IEV or have been specifically approved for the purpose of this publication. Graphical and letter symbols For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications: - IEC 27: Le

14、tter symbols to be used in electrical technology; - IEC 417: Graphical symbols for use on equipment. index, survey and cornpilation of the single sheets; - IEC 617: Graphical symbols for diagrams; and for medical electrical equipment, - equipment in medical practice. IEC 878: Graphical symbols for e

15、lectromedical The symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC 27, IEC 417, IEC 617 andlor IEC 878, or have been specifically approved for the purpose of this publication. IEC publications prepared by the same technical committee The attention of readers is

16、drawn to the end pages of this publication which list the IEC publications issued by the technical committee which has prepared the present publication. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 51 2-1 5-8 Premire dition First edition 1995-1 1 Composants lectromcaniques pour quipements lec

17、troniques - Procdures dessai de base et mthodes de mesure - Partie 15: Essais mcaniques des contacts et des sorties - Section 8: Essai 15h - Rsistance du systme de rtention des contacts lutilisation des outils Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measu

18、ring methods - Part 15: Mechanical tests on contacts and terminations - Section 8: Test 15h - Contact retention system resistance to tool application 0 CE1 1995 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Auwne partie de lie publication ne peut tre reproduite ni utilise sous queh

19、ue forme que soit et par aucun pro- cd8, lectronique ou mcanique. y compris la photocopie et les microfilms. sans laccord crh de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm. whhout perm

20、ission in writing from the pubsher. Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 3. rue de Varemb Genve. Suisse Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE E k?WYHapo4HaR 3nerpoexecnan KOMHCCHR 0 Pour prix, voir cata/og

21、ue en vigueur For price, see currenf caialogue -2- 512-15-8 O CEI:1995 COMPOSANTS LECTROMCANIQUES POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES - PROCDURES DESSAI DE BASE ET MTHODES DE MESURE - Partie 15: Essais mcaniques des contacts et des sorties - Section 8: Essai 15h - Rsistance du systme de rtention des contac

22、ts lutilisation des outils AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toute

23、s les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes Internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les o

24、rganisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lorganisation Internationale de Normalisation (EO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou a

25、ccords officiels de la GEI concernant les questions techniques, reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandati

26、ons internationales. Ils sont publis comme normes, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes Intern

27、ationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la norme nationale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa respon

28、sabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CE1 ne saurait tre tenue pour responsable d

29、e ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CE1 512-15-8 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, du comit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pour quipements lectroniques. Le texte de c

30、ette norme est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. La prsente norme sera utilise conjointement avec la partie 1: Gnralits, parue comme CE1 51 2-1. La publication complte compren

31、dra dautres essais qui paraitront au fur et mesure de leur mise au point. 512-15-8 O IEC:1995 -3- DIS 4881421/DIS ELECTROMECHANICAL COMPONENTS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - BASIC TESTING PROCEDURES AND MEASURING METHODS - Report on voting 48 B/450/RV D Part 15: Mechanical tests on contacts and terminat

32、ions - Section 8: Test 15h - Contact retention system resistance to tool application FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is

33、 to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee i

34、nterested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accor

35、dance with conditions determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, express as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all in

36、terested National Committees. The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, IEC Natio

37、nal Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 2) 3) 4) 5) The I

38、EC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subject of patent rights. I

39、EC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. 6) International standard IEC 51 2-1 5-8 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors, of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures for electronic equipment. Full information

40、 on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. This standard is to be used in conjunction with Part 1 : General, issued as IEC 51 2-1. The complete publication will include other tests which will be issued as they become available.

41、 -4- 512-15-8 O CEI:1995 COMPOSANTS LECTROMCANIQUES POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES - PROCDURES DESSAI DE BASE ET MTHODES DE MESURE - Partie 15: Essais mcaniques des contacts et des sorties - Section 8: Essai 15h - Rsistance du systme de rtention des contacts lutilisation des outils 1 Domaine dapplicat

42、ion et objet La prsente section de la CE1 512-15 tablit une mthode dessai normalise pour vrifier laptitude des connecteurs rsister lutilisation doutils normaliss pour linsertion et lextraction des contacts. 2 Rfrences normatives Les documents normatifs suivants contiennent des dispositions qui, par

43、suite de la rfrence qui y est faite, constituent des dispositions valables pour la prsente section de la CE1 512-15. Au moment de la publication, les ditions indiques taient en vigueur. Tout document normatif est sujet rvision et les parties prenantes aux accords fonds sur la prsente section de la C

44、E1 512-15 sont invites rechercher la possibilit dappliquer les ditions les plus rcentes des documents normatifs indiqus ci-aprs. Les membres de la CE1 et de IISO possdent le registre des Normes internationales en vigueur. CE1 51 2-2: 1 985, Composants lectromcaniques pour quipements lectroniques; pr

45、ocdures dessai de base et mthodes de mesure - Deuxime partie: Examen gnral, essais de continuit lectrique et de rsistance de contact, essais disolement et essais de contrainfe dilectrique Amendement 1 (1994) CE1 51 2-8: 1 993, Composants lectromcaniques pour quipements lectroniques; procdures dessai

46、 de base et mthodes de mesure - Partie 8: Essais mcaniques des connecteurs, des contacts et des sorties NOTE - Cette srie de documents est en cours de rvision; la numrotation a venir est donne entre crochets dans la suite de cette norme. 3 Prparation des spcimens Les spcimens doivent tre quips de la

47、 totalit de leurs contacts cbls conformment la spcification particulire. 4 Mthode dessai Pour chaque mthode dessai prcise, cinq alvoles de contacts doivent tre essayes. Des alvoles de contacts diffrentes doivent tre utilises pour la mthode 1 et la mthode 2. 512-15-8 O IEC:1995 -5- ELECTROMECHANICAL

48、COMPONENTS FOR ELECTRONIC EQUIPMENT - BASIC TESTING PROCEDURES AND MEASURING METHODS - Part 15: Mechanical tests on contacts and terminations - Section 8: Test 15h - Contact retention system resistance to tool application 1 Scope and object This section of IEC 512-15 defines standard test method to check the ability of connectors to withstand the use of standardised tooling for insertion and extraction of contacts. 2 Normative references The following normative documents contain provisions which, through reference in