KS C 6111-5-2008 Measurements of the thickness of superconductor films at microwave frequencies《利用微波测定高温超导薄膜的厚度》.pdf
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1、 KSKSKSKSKSKSKSK KSKSKS KSKSK KSKS KSK KS KS C 6111 5 KS C 6111 5:2008 2008 11 28 http:/www.kats.go.krKS C 6111 5:2008 : ( ) ( ) FITI ( ) : (http:/www.standard.go.kr) : : 2008 11 28 2008-0839 : : ( 02-509-7294) (http:/www.kats.go.kr). 10 5 , . KS C 6111 5:2008 i ii iii 1 1 2 1 3 1 4 1 5 2 5.1 .2 5.2
2、 .2 5.3 3 5.4 .4 6 4 6.1 4 6.2 .4 6.3 (tan) .4 6.4 6 6.5 tan 7 6.6 .7 7 8 7.1 .8 7.2 .9 8 .9 8.1 9 8.2 9 8.3 .9 A( ) 10 15 KS C 6111 5:2008 ii , , Nb . , . . (ISO) , (KS) . KS C 6111 5:2008 iii (ZS)(ZS RS iXS) , ZS . , , . Rs 1 5 Rs 2002 (IEC) 6. IEC 3 Rs , (unloaded quality factor) Rs Rs (RSeff) ,
3、RSeff Rs 7. Rs RSeff RSeff Rs 8, . , (SEM) (TEM), (stylus profilometry) . . , 4 9 X- 10, 11 . . , i) ii) . KS C 6111 5:2008 Measurements of the thickness of superconductor films at microwave frequencies 1 . . : 50 GHz : 400 nm 5 % : 15 mm 2 . . ( ) . KS C IEC 60050 815: 2004, 815: 3 ( ) ZS Et Ht . Z
4、S Et/Ht RS j XS (1) RS: XS: 4 (RSeff) TE021 TE012 (Q0) . RSeff RSeff . 30 K 80 KKS C 6111 5:2008 2 5 % . 5 5.1 KS C 6111 3( ) , ( 1 ). (network analyzer), (cryocooler), , . 1 7 2 8 3 9 4 10 5 11 6 12 1 5.2 KS C 6111 3 , ( 2 ). . (opticlean) . , Be-Cu KS C 6111 5:2008 3 . / TE , Z . 2 RS 2 (10 m) . 2
5、 / (on/off) . 2 . 5.3 RS tan (77 K, 10 GHz 10 6 ) (tan 77 K, 10 GHz 10 6). 1 . tan TE012 TE021 Qo 2 . 1 2 tan . 2 f1 tan tan f f2 tan . RS , . Be Cu m KS C 6111 5:2008 4 1 TE012 TE021 mm mm TE012 GHz TE021 GHz 5.00 2.86 40.03 39.93 5.4 , (hollow cylinder) 3 . TE021 , 3 . , 0.1 mm . 2 . 2 mm mm mm 14
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