KS C 6111-3-2007 Electronic characteristic measurements-Intrinsic surface impedance of high-TC superconductor films at microwave frequencies《超导电子特性的测量 高温超导薄膜的高频固有表面阻抗测量方法》.pdf
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1、 KS C 6111 3KSKSKSKS SKSKSKS KSKSKS SKSKS KSKS SKS KS KS C 6111 3: 2007(2012 ) 2007 7 6 http:/www.kats.go.krKS C 6111 3: 2007 : ( ) ( ) ( ) : (http:/www.standard.go.kr) : :2007 7 6 :2012 12 31 2012-0854 : : ( 02-509-7294) (http:/www.kats.go.kr). 10 5 , . KS C 6111 3: 2007 i , . , (77 K, PCS 1/500 )
2、. KS C 6111 3: 2007 ii . (SQUID) , YBa2Cu3O7-(YBCO) , YBCO . , , , i) ii) , (Rs) () . (ZS) ZS Rs, 0( , 0 .) . Rs 77 K, 10 GHz (oxygen-free high-purity copper, OFHC .) 1/100 1/50 . Nb , 3 Nb (resonant cavity) (quality factor, Q) Nb Rs Nb Rs . , 3 . Rs , , , , Rs . 2002 IEC Rs . ZS , IEC 3 Rs . ZS . K
3、S C 6111 3: 2007 (2012 ) Electronic characteristic measurements Intrinsic surface impedance of high-TC superconductor films at microwave frequencies 1 (two-tone) , . . : 8 50 GHz : 10 GHz 0.01 m 2 . . ( ) . KS C IEC 60050 815, 3 ( ) ZS Et Ht . ZS Et/Ht RS j XS(1) RS: XS: 4 KS C 6111 3: 2007 2 ZS Q .
4、 10 80 K 10 % . 5 5.1 1 . (network analyzer), (cryocooler), . (scalar network analyzer) (vector network analyzer) . 1 5.2 2 (open-ended) . . (Opticlean) . , Be-Cu . / TE , XYZ GM KS C 6111 3: 2007 3 . 2 5.3 3 (10 m) . 3 (10 m) 5.4 RS tan (77 K, 10 GHz 10 6) (tan 77 K, 10 GHz 10 6). 1 . TE012 TE021 Q
5、 , Q , . TE012 TE021 1 . Q , . Be-Cu KS C 6111 3: 2007 4 RS . 1 TE012 TE021 (mm) (mm)TE012 (GHz) TE021 (GHz) 5 2.86 40.06 39.97 3.9 2.2 15.17 15.29 6 6.1 3 , 3 . , . 0.1 mm . 2 40 GHz 15 GHz . 2 : mm 5 2.86 15 2.96 16 3.9 2.2 9 2.3 10 6.2 1 . Q , . . . . , , . 6.3 RS TE012 TE021 f0 Q0 , . a) ( 1). ,
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