DIN 50451-4-2007 de 3234 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4 Determination of 34 elements in ultra pure water by.pdf
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1、Februar 2007DEUTSCHE NORM Normenausschuss Materialprfung (NMP) im DINPreisgruppe 9DIN Deutsches Institut fr Normung e.V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e.V., Berlin, gestattet.ICS 29.045!,v8“9832921www.din.deDDIN 50451-4Prfu
2、ng von Materialien fr die Halbleitertechnologie Bestimmung von Elementspuren in Flssigkeiten Teil 4: Bestimmung von 34 Elementen in hochreinem Wasser durchMassenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS)Testing of materials for semiconductor technology Determination of trace elements in
3、liquids Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry withinductively coupled plasma (ICP-MS)Essais des matriaux pour la technologie des semi-conducteurs Dtermination des lments en traces dans les liquides Partie 4: Dtermination de 34 lments dans leau de grande puret
4、par spectromtrie demasse avec plasma couplage inductifAlleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.beuth.deGesamtumfang 13 SeitenDIN 50451-4:2007-02 2 Inhalt Seite Vorwort . 3 1 Anwendungsbereich 3 2 Normative Verweisungen. 3 3 Begriffe 4 4 Einheiten 4 5 Kurzbeschreibung des Ve
5、rfahrens .4 6 Reagenzien 4 7 Gerte und Reinigung 5 8 Probenahme 5 9 Vorbehandlung der Proben . 6 10 Durchfhrung 6 11 Berechnung und Angabe der Ergebnisse 7 12 Przision und Richtigkeit des Verfahrens und der Prfergebnisse 7 13 Prfbericht. 8 Anhang A (informativ) Ergebnisse der Ringversuche 9 Literatu
6、rhinweise . 13 Tabellen Tabelle A.1 Przision und Richtigkeit der an einer mit 20 ng/kg dotierten Wasserprobe nach Probenanreicherung ermittelten Daten 9 Tabelle A.2 Przision und Richtigkeit der an einer mit 20 ng/kg dotierten Wasserprobe ermittelten Daten bei Direktmessung ohne Probenanreicherung. 1
7、1 DIN 50451-4:2007-02 3 Vorwort Diese Norm wurde vom Normenausschuss NA 062-02-21 AA Prfung von Prozesschemikalien fr die Halbleitertechnologie im Normenausschuss Materialprfung (NMP) erarbeitet. Eine entsprechende Norm der American Society for Testing and Materials (ASTM) existiert fr diesen Anwend
8、ungsbereich zurzeit nicht. DIN 50451 Prfung von Materialien fr die Halbleitertechnologie Bestimmung von Elementspuren in Flssigkeiten besteht aus: Teil 1: Silber (Ag), Gold (Au), Calcium (Ca), Kupfer (Cu), Eisen (Fe), Kalium (K) und Natrium (Na) in Salpetersure mittels AAS Teil 2: Calcium (Ca), Coba
9、lt (Co), Chrom (Cr), Kupfer (Cu), Eisen (Fe), Nickel (Ni) und Zink (Zn) in Flusssure mittels Plasma-angeregter Emissionsspektrometrie Teil 3: Aluminium (Al), Cobalt (Co), Kupfer (Cu), Natrium (Na), Nickel (Ni) und Zink (Zn) in Salpeter-sure mittels ICP-MS Teil 4: Bestimmung von 34 Elementen in hochr
10、einem Wasser durch Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS) 1 Anwendungsbereich Diese Norm legt ein Verfahren zur Bestimmung der Massenanteile der Elemente Ag (Silber), Al (Aluminium), As (Arsen), B (Bor), Ba (Barium), Be (Beryllium), Bi (Bismut), Ca (Calcium), Cd (Cadmium), Co (
11、Cobalt), Cr (Chrom), Cu (Kupfer), Fe (Eisen), Ga (Gallium), Ge (Germanium), In (Indium), K (Kalium), Li (Lithium), Mg (Magnesium), Mn (Mangan), Mo (Molybdn), Na (Natrium), Ni (Nickel), Pb (Blei), Pd (Palladium), Pt (Platin), Sb (Antimon), Sn (Zinn), Sr (Strontium), Ti (Titan), Tl (Thallium), V (Vana
12、dium), Zn (Zink) und Zr (Zirkonium) im extremen Spurenbereich in Reinstwasser fest, wobei als Bestimmungs-verfahren die Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-MS) eingesetzt wird. ANMERKUNG Bei Bor gibt es sehr hufig erhhte Null- und Blindwerte aus Gertschaften und Laborumfeld, die
13、 die Bestimmung im hier beschriebenen Arbeitsbereich schwierig machen. Das Verfahren gilt fr Elementspuren-Massenanteile von 10 ng/kg bis 1 000 ng/kg. 2 Normative Verweisungen Die folgenden zitierten Dokumente sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur d
14、ie in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). DIN 32645, Chemische Analytik Nachweis-, Erfassungs- und Bestimmungsgrenze Ermittlung unter Wiederholbedingungen Begriffe, Verfahren, Auswertung DIN
15、51401-1, Atomabsorptionsspektrometrie (AAS) Teil 1: Begriffe DIN EN ISO 8655-2, Volumenmessgerte mit Hubkolben Teil 2: Kolbenhubpipetten DIN EN ISO 14644-1, Reinrume und zugehrige Reinraumbereiche Teil 1: Klassifizierung der Luft-reinheit DIN 50451-4:2007-02 4 3 Begriffe Fr die Anwendung dieses Doku
16、ments gelten die folgenden Begriffe. 3.1 Nullwertlsung angesuertes Wasser, in dem die Massenanteile der zu bestimmenden Elemente, dividiert durch den Anreicherungsfaktor, jeweils 1 ng/kg nicht berschreiten und das die gleichen Sureanteile wie die Bezugs-lsungen und die Messlsungen enthlt 3.2 Ausgang
17、slsung fr die Blindwertbestimmung Wasser wie unter 3.1, aber nicht angesuert 4 Einheiten Die Massenanteile der Elementspuren werden in Nanogramm je Kilogramm (ng/kg) angegeben. 5 Kurzbeschreibung des Verfahrens Teilproben aus der zu analysierenden Reinstwasserprobe werden nach Zugabe einer kleinen M
18、enge von Salpetersure zur Anreicherung eingedampft. Ebenso wird mit Teilproben der Ausgangslsung fr die Blindwertbestimmung verfahren. Dieser Verfahrenschritt wird unter staubgeschtzten Bedingungen in einer Reinen Werkbank durchgefhrt. Die Rckstnde werden gegebenenfalls mit Nullwertlsung auf das vor
19、-gesehene Messvolumen aufgefllt. Mittels Massenspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma werden die Konzentrationen der Elementspuren in den angereicherten Teilproben bestimmt. Aus dem Verhltnis der Teilprobenmassen und der Massen der zugehrigen Messlsungen nach der Anreicherung ergeben sich die
20、 Anreicherungsfaktoren, die zur Endauswertung hinzugezogen werden. Die Auswertung erfolgt unter Einbeziehung einer Blindwertberichtigung. ANMERKUNG 1 Der normgerechte Begriff Blindwertberichtigung ist auch unter dem Begriff Blindwertkorrektur bekannt. ANMERKUNG 2 Viele Elemente knnen ohne Anreicheru
21、ng mittels Direktmessung bestimmt werden, wenn mit den Analysengerten und dem Laborumfeld Bestimmungsgrenzen kleiner 1 ng/kg realisiert werden. Auch in diesem Falle werden die Proben angesuert. 6 Reagenzien 6.1 Salpetersure, mit einem Massenanteil w(HNO3) 65 %, wobei die Massenanteile der einzelnen
22、zu bestimmenden Elementspuren mglichst 10 ng/kg nicht berschreiten. Zur Erreichung des unteren Anwendungsbereiches sind im Fall der berschreitung von 10 ng/kg der zu bestimmenden Elementspuren in der Salpetersure besonders sorgfltige Blindwertberichtigungen durch-zufhren. Keinesfalls darf der Massen
23、anteil der zu bestimmenden Elementspuren in der Salpetersure 100 ng/kg berschreiten. 6.2 Nullwertlsung, nach 3.1. 6.3 Bezugslsungen, sureangepasste Bezugslsungen der in diesem Dokument angegebenen Elemente mit ausreichender Genauigkeit der Konzentrationsangaben. Bei der Herstellung der Bezugs-lsunge
24、n ist darauf zu achten, dass die Chloridionen aus den Stammlsungen bestimmter Elemente nicht zu Strungen bei der Bestimmung von, zum Beispiel, Arsen, Chrom, Gallium, Germanium, Vanadium fhren. Bei der Herstellung drfen die Elemente nur entsprechend ihrer gegenseitigen chemischen Vertrg-lichkeit zu g
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