GB T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定.pdf

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1、中ICS n 040. 01 H 21 华1998-08-19发布险/、GB/T 17473. 2 1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics 一Determinationof fineness 1999- 03 -01实施国质技术监督局发布广1.-.电1GB/T 17473.2-1998 前, 去王仨二贵金属浆料是厚膜微电子技术领域的一种重要材料，浆料细度是浆料的主要参数之一。目前我国尚未制定出浆料细度测试方法标准，也没有检索到该测试方法的国际标准或国外先进标准。本标准主要参照

2、GB1724一79.结合我国的实际应用情况而制定的。本标准由中国有色金属工业总公司提出。本标准由中国有色金属工业总公司标准计量研究所归口。本标准由昆明贵金属研究所负责起草。本标准主要起草人s朱晓云、玉昆福。一二二一一二千二一I 铲二中华人民共和家准子技术用贵试方法细度测定GB/T 17473.2 1998 2 范围Tesl melhods of precious melal pastes used for thlck film microelectronics 一Determnationof fineness 本标准规定了贵金属浆料细度的刮板试验方法。本标准适用于贵金属浆料细度测定。非贵金属浆

3、料的细度测定亦可参照使用。引用标准下列标准所包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有的标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性.GB/T 817 1987 数值修约规则3 方法原理浆料置于细度计上，用刮板从上至下刮动，根据槽中纵向条纹出现的位置，日测确定颗粒的大小.4 4. 1 4.2 4.3 刮极细度计2范围为0-25户m.精度为1m.检定周期为半年。调浆刀g镶有木柄的厚度为1mm不锈钢材质刀.刮板.5 试样5.1 5.2 6 将送检试样充分搅拌均匀。试样不少于5份，每份2go 到试步骤6. 1 测试环挠温度为15-3

4、5C.相对湿度为45%-75%.大气压力为86-106kPao 6.2 用相应的化学纯级清洗剂洗净刮板细度计。6.3 将试样均匀地放置于细度计沟槽最深处.6.4 用双手持刮板子细度计沟槽最深处，使刮板与细度计表团垂直，并以均匀的速度从沟槽最深处将试样刮过细度计表面，使试样充满沟槽，平板上不留有多余的试样。整个操作过程在3s内完成。6.5 在3s内横握刮过的细度计并使其倾斜，使视线与沟槽平面成200-30。角，对着光线进行观察，找国家质量技术监督局1998-08-19批准1999 - 03 -01实施l L唔-毛卢1二，G/T 17473.2-1998 出沟槽中开始出现两条纵向条纹显示的位置，记

5、下颗粒读数e6.6 用相同的操作方法对不少于5份的试样进行测量。7 测试结果表述7. 1 对于不少于5个的测试试样读数取其n术平均值，作为测试结果e7.2若不少于5个的测试试样的读数中有一个读数与其算术平均值之差大于其标准偏差的3倍，则应重新取双倍试样进行测试，测试步骤按第6萃的规定进行。7.3 若双倍试样的测试读数中没出现7.2条的情况，可舍去7.2条中出现的异常读数，取其余全部读数的算术平均值作为测试结果。7.4 数值修约按GB/T8170的规定进行，测试结果取两位有效数字。8 2 试验报告试验报告应包括下列内容ga)样品编号gb)浆料名称、牌号、规格gc)浆料批号，d)测试结果及检测部门印章，e)本标准号，。测试人及测试日期。l _ _ ._ 一一-一一一一一一gglN，口EFH阁。华人民共和国家标准厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定GB/T 17473.2-1998 国中句良中国标准出版社出版北京复兴门外三里河北街16号邮政编码，100045电话，68522112中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售版权专有不得翻印 开本880X1230 1/16 印张1/2字数4千字1999年2月第版1999年2月第一次印刷印数1-800善书号，155066. 1-15490 骨364-54 标目