GB T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定.pdf
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1、ICS 77. 040. 01 H 15 EJ 手共G/T 17473.1 1998 Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics Determination of solids content 1998-08-19发布1999-03-01实国家质技术监督局发布(GM174叶1mi前言i 1 浆料中固体含量是浆料品质的一项重要指标,浆料固体含量的变化直接影响到厚膜微电子电路的( 膜厚和电性能的变化。目前我国尚未制定出该测试方法标准。经对IEC、ASTM、DIN、BS国外标准的检索,也未检索到
2、该方法的相应标准。本标准的制定参照了GB2793一阳胶粘剂不挥发物含量的测定、美国材料与实验协会标准l ASTM F66一1984.ASTMD2369-1995涂料挥发物含量测试方法儿i ASTM D4713-1992热回性和液体印刷油墨系统的非挥发物含量测试方法机并结合我国实际应用情i 况而制定的oI 本标准由中国有色金属工业总公司提出o1 本标准由中国有色金属工业总公司标准计量研究所归口。!本标准由昆明贵金属研究所负责起草。1本标准主要起草人z张晓民。l 中华人民共和国国家标准子技术用贵固体含定GB/T 17473.1-1998 范围Test methods of precious met
3、al pastes used Cor thick film microelectronics-Determination of solids content 本标准规定了贵金属浆料中固体含量的测试方法。本标准适用于各种贵金属浆料中国体含量的测定。非贵金属浆料中固体含量的测定亦可参照使用。2 引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文.本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性.3 4 4. 1 4.2 5 5.1 6 GB/T 2421-1989 电工电子产品基本环境试验规程总则GB/T 8170一1987数
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