GB T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.固体含量测定.pdf
《GB T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.固体含量测定.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《GB T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.固体含量测定.pdf(4页珍藏版)》请在麦多课文档分享上搜索。
1、ICS 7712099H 68 a园中华人民共和国国家标准GBT 1747312008代替GBT 1747311998微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定Test methods of precious metals pastes used formicroelectronics-Determination of solids content2008-03-3 1发布 2008-09-0 1实施宰瞀嬲鬻瓣警辫瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会促111刖 吾GBT 1747312008本标准是对GBT 17473 1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法(所有部分)的整合修订,分为7个部分
2、:GBT 1747312008微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定;GBT 1747322008微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定;GBT 174733 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定;GBT 1747342008微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测试;GBT 174735-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定;GBT 174736 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定;GBT 174737 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定。本部分为GBT 17473 2008的第1部分。本部分代替GBT 174731 199
3、8厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定。本部分与GBT 1747311998相比,主要有如下变动:将原标准名称修改为微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定;删除了引用文件GBT 242l 1989;本部分增加了聚合物低温固化型浆料的固体含量测定内容;对于聚合物低温固化浆料,根据浆料使用温度的不同来确定检测固体含量的温度;浆料平行取样由两份增加为三份;删除了中温烧成浆料的内容,将高温烧成浆料改为烧结型浆料;试料相互之间测试值之差不大于平均值的1测定结果有效。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。本部分主
- 1.请仔细阅读文档,确保文档完整性,对于不预览、不比对内容而直接下载带来的问题本站不予受理。
- 2.下载的文档,不会出现我们的网址水印。
- 3、该文档所得收入(下载+内容+预览)归上传者、原创作者;如果您是本文档原作者,请点此认领!既往收益都归您。
下载文档到电脑,查找使用更方便
5000 积分 0人已下载
下载 | 加入VIP,交流精品资源 |
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- GB 17473.1 2008 微电子技术 贵金属 浆料 测试 方法 固体 含量 测定
