GB T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.细度测定.pdf

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1、ICS 77120。99H 68 蝠雪中华人民共和国国家标准GBT 1747322008代替GBT 1747321998微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of fineness2008-03-31发布 2008090 1实施丰瞀髁紫瓣訾糌瞥霎发布中国国家标准化管理委员会仪1”前 言GBT 1747322008本标准是对GBT 174731998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法(所有部分)的整合修订，分为7个部分：GBT 174731

2、 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定；GBT 1747322008微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定；GBT 1747332008微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定；GBT 174734 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测试；GBT 174735 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定；GBT 1747362008微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定；GBT 174737 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定。本部分为GBT 1 7473-2008的第2部分。本部分代替GBT 174732 1998厚膜微电子技术用贵金属

3、浆料测试方法 细度测定。本部分与GBT 174732 1998相比，主要有如下变动：将原标准名称修改为：微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定；删除了范围中“非贵金属浆料亦可参照本标准执行”的内容；对检测试样“不少于5份，每份2 g”的要求取消，只要求试样充分搅拌均匀。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。本部分主要起草人：武新荣、罗云、陈伏生、李文琳、马晓峰、朱武勋、李晋。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：GBT 174732 1998。1范围微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定本部分规定了微电子技术用贵金属浆

4、料细度的刮板测定方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。2规范性引用文件GBT 1747322008下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GBT 8170数值修约规则3方法原理浆料置于细度计上，用刮板从上至下刮动，根据槽中纵向条纹出现位置，目测确定颗粒的大小。4设备与仪器41 刮板细度计：测量范围为0zm25“m，精度为1 pm，检定周期为半年。42调浆刀：镶有木柄的厚度

5、为1 mm不锈钢材质刀。43刮板。5试样将送检浆料搅拌均匀。6测定步骤测试在温度1535，相对湿度4575，大气压力86 kPa106 kPa环境下进行。61 用相应的化学纯级清洗剂洗净刮板细度计。62取试料均匀地放置于细度计沟槽最深处。63用双手持刮板于细度计沟槽最深处，使刮板与细度计表面垂直，并以均匀的速度从沟槽最深处将试料刮过细度计表面，使试料充满沟槽，平板上不留有余的试样。整个操作过程在3 S内完成。64在3 s内横握刮过的细度计并使其倾斜，使视线与沟槽平面成20。30。角，对着光线进行观察，找出沟槽中开始出现两条纵向条纹显示的位置，并记下颗粒读数。65用相同的操作方法对于不小于5份试样进行测量。7测定结果表述71对于不少于5份的测量试样读数取平均值，作为测量结果。72若不少于5份的测试试样的读数中有一个读数与其平均值之差大于其标准偏差的3倍，则应重新取双倍试样进行测试，测试步骤按第6章的规定进行。73若双倍试样的测试读数中没有出现72的情况，可舍去72中出现的异常读数，取其余全部读数lGBT 1747322008的算术平均值作为测试结果。74数值修约按GBT 8170的规定进行，测试结果取两位有效数字。8检测报告报告应包括以下主要内容：a)浆料名称、牌号、规格；b)试样编号；c)浆料批号；d)测试结果及检测部门印章e)本标准编号；f)测试人和测试日期。