GB T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.附着力测定.pdf
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1、lCS 7712099H 68 囝酉中华人民共和国国家标准GBT 1747342008代替GBT 174734 1998微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of adhesion200803-3 1发布 2008090 1实施车瞀徽鬻瓣譬糍瞥霎发布中国国家标准化管理委员会仅111刖 舌GBT 1747342008本标准是对GBT 17473 1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法(所有部分)的整合修订,分为7个部分:GBT 174
2、731 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定;GBT 1 74732 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定;GBT 174733 2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定;GBT 174734 2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测试;GBT 174735 2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定;GBT 174736 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定;GBT 174737 2008微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定。本部分为GBT 17473 2008的第4部分。本部分代替GBT 174734 1998厚
3、膜微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定。本部分与GBT 174734 1998相比,主要有如下变动:将原标准名称修改为:微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定;将原标准中去除“非贵金属电子浆料附着力测定也可参照本标准执行”内容;增加了SnA930Cu05焊料用于无铅导体焊接;用隧道烧结炉取代原标准中的带式炉;增加了无铅焊料的温度控制。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。本部分主要起草人:刘继松、陈峤、赵玲、陈伏生、刘成、朱武勋、李晋。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:GBT 174734 1998。1范围
4、微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定本部分规定了微电子技术用贵金属浆料附着力的测试方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料附着力的测定。GBT 17473420082规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。GBT 8170数值修约规则3方法原理将铜线焊接在陶瓷基片上印烧好的贵金属浆料膜层图形上,铜线垂直于基片表面弯折90。后,置于拉力试验机上,以一定的速度均匀地从基
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