GB T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.粘度测定.pdf
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1、ICS 7712099H 68 圆园中华人民共和国国家标准GBT 1 747352008代替GBT 174735-1998微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of viscosity2008033 1发布 2008-0901实施丰瞀徽紫瓣譬糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会“”。刖 蟊GBT 1747352008本标准是对GBT 17473 1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法(所有部分)的整合修订,分为7个部分:GBT 1747
2、312008微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定;GBT 1747322008微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定;GBT 1747332008微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定;一一GBT 1747342008微电子技术用贵金属浆料谢试方法 附着力测试;GBT 1747352008微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定;GBT 1747362008微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定;GBT 174737-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定。本部分为GBT 17473-2008的第5部分。本部分代替GBT 174735 1998厚膜微电子技术用贵金属
3、浆料测试方法粘度测定。本部分与GBT 1747351998相比,主要有如下变化:将原标准名称修改为:微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定;将原标准中范围去除“非贵金属电子浆料粘度测定也可参照本标准执行”内容;增加了采用锥板粘度计测定内容,适用于样品较少时的情况下使用。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。本部分主要起草人:马晓峰、李文琳、张桂珍、陈伏生、朱武勋、李晋。本部分代替版本的发布情况为:一一GBT 174735-1998。微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定1范围本部分规定了微电子技术用贵金属浆料粘度的测定
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