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    GB T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.粘度测定.pdf

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    GB T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法.粘度测定.pdf

    1、ICS 7712099H 68 圆园中华人民共和国国家标准GBT 1 747352008代替GBT 174735-1998微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of viscosity2008033 1发布 2008-0901实施丰瞀徽紫瓣譬糌瞥星发布中国国家标准化管理委员会“”。刖 蟊GBT 1747352008本标准是对GBT 17473 1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法(所有部分)的整合修订,分为7个部分:GBT 1747

    2、312008微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定;GBT 1747322008微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定;GBT 1747332008微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定;一一GBT 1747342008微电子技术用贵金属浆料谢试方法 附着力测试;GBT 1747352008微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定;GBT 1747362008微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定;GBT 174737-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法可焊性、耐焊性测定。本部分为GBT 17473-2008的第5部分。本部分代替GBT 174735 1998厚膜微电子技术用贵金属

    3、浆料测试方法粘度测定。本部分与GBT 1747351998相比,主要有如下变化:将原标准名称修改为:微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定;将原标准中范围去除“非贵金属电子浆料粘度测定也可参照本标准执行”内容;增加了采用锥板粘度计测定内容,适用于样品较少时的情况下使用。本部分由中国有色金属工业协会提出。本部分由全国有色金属标准化技术委员会归口。本部分由贵研铂业股份有限公司负责起草。本部分主要起草人:马晓峰、李文琳、张桂珍、陈伏生、朱武勋、李晋。本部分代替版本的发布情况为:一一GBT 174735-1998。微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定1范围本部分规定了微电子技术用贵金属浆料粘度的测定

    4、方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料粘度的测定。2规范性引用文件GBT 1747352008下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。GBT 8170数值修约规则3方法原理旋转粘度计的测试轴以一定的转速在恒温的浆料中旋转,通过测量粘滞阻力引起的扭矩,对浆料牯度进行测定。样品较少时采用锥板粘度计,测量恒温状态浆料粘滞阻力引起的扭矩及剪切应力,对浆料粘度进行测定。4仪器与设备41 旋转

    5、粘度计:测量误差在2之内。42锥板粘度计:测量误差在土2之内。43温度计:分度值为01。44恒温槽:能保持温度25士05。5试样51将送检浆料样品搅拌均匀。52平行取试料2份。6测定步骤61用旋转粘度计测定:611 将试料放入测试杯中,用恒温槽使试料温度均匀保持在2jo5。C;612根据被测浆料的粘度范围选择测试轴;613将测试轴缓慢沉人试料中心,达到预定深度;614根据被测浆料粘度范围选择转速,从较慢转速逐档增加进行选择,不允许先从高档转速选择和测试;615按下列方法选择读数时间:a) 当转速不小于10 rmin时,读数时间为1 min;b) 当转速在1 rmin10 rmin时,读数时间为

    6、2 min;c) 当转速小于1 rrain时,读数时间为10 rain。】GBT 174735200862用锥板粘度计测定:621将05 mL2 mL的试料放人盛样器中;622将盛样器安装在粘度仪上;调整好锥与盛样器之间的间隙623用恒温槽控制试料的温度在2505;624其他仪器相关参数设定。7测定结果表述71按仪器要求计算。72若两个平行试样测定值之差不大于平均值的3时取两次平行测试数值的平均值作为测定结果两个平行试样测定值之差大于平均值的3时重新进行测定。73数值修约取三位有效位数,按GBT 8l 70的规定进行修约。8试验报告报告应包括以下主要内容:a)浆料名称、牌号、规格;b)浆料批号;c)试样编号;d)浆料生产日期;e)旋转粘度计名称、型号;f)测试条件;g)测试结果及检测部门印章h)本标准编号;i)测试人和测试日期。


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