ISO 17864-2005 Corrosion of metals and alloys - Determination of the critical pitting temperature under potientiostatic control《金属和合金的腐蚀性 静电位控制下的临界点蚀温度测定》.pdf

《ISO 17864-2005 Corrosion of metals and alloys - Determination of the critical pitting temperature under potientiostatic control《金属和合金的腐蚀性 静电位控制下的临界点蚀温度测定》.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《ISO 17864-2005 Corrosion of metals and alloys - Determination of the critical pitting temperature under potientiostatic control《金属和合金的腐蚀性 静电位控制下的临界点蚀温度测定》.pdf（22页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、 Numro de rfrence ISO 17864:2005(F) ISO 2005NORME INTERNATIONALE ISO 17864 Premire dition 2005-08-01 Corrosion des mtaux et alliages Determination de la temprature critique de piqration des aciers inoxydables sous contrle potentiostatique Corrosion of metals and alloys Determination of the critical

2、pitting temperature under potientiostatic control ISO 17864:2005(F) PDF Exonration de responsabilit Le prsent fichier PDF peut contenir des polices de caractres intgres. Conformment aux conditions de licence dAdobe, ce fichier peut tre imprim ou visualis, mais ne doit pas tre modifi moins que lordin

3、ateur employ cet effet ne bnficie dune licence autorisant lutilisation de ces polices et que celles-ci y soient installes. Lors du tlchargement de ce fichier, les parties concernes acceptent de fait la responsabilit de ne pas enfreindre les conditions de licence dAdobe. Le Secrtariat central de lISO

4、 dcline toute responsabilit en la matire. Adobe est une marque dpose dAdobe Systems Incorporated. Les dtails relatifs aux produits logiciels utiliss pour la cration du prsent fichier PDF sont disponibles dans la rubrique General Info du fichier; les paramtres de cration PDF ont t optimiss pour limpr

5、ession. Toutes les mesures ont t prises pour garantir lexploitation de ce fichier par les comits membres de lISO. Dans le cas peu probable o surviendrait un problme dutilisation, veuillez en informer le Secrtariat central ladresse donne ci-dessous. ISO 2005 Droits de reproduction rservs. Sauf prescr

6、iption diffrente, aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lISO ladresse ci-aprs ou du comit membre de lISO dans le pays du demandeu

7、r. ISO copyright office Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Tel. + 41 22 749 01 11 Fax. + 41 22 749 09 47 E-mail copyrightiso.org Web www.iso.org Publi en Suisse ii ISO 2005 Tous droits rservsISO 17864:2005(F) ISO 2005 Tous droits rservs iii Sommaire Page Avant-propos. iv Introduction v 1 Domaine dapp

8、lication 1 2 Rfrences normatives 1 3 Termes et dfinitions 1 4 Principe 2 5 Appareillage 2 6 prouvettes . 4 7 talonnage de la temprature de lprouvette par rapport la temprature de la solution . 4 8 Mode opratoire 4 9 valuation des rsultats 6 10 Rapport dessai . 6 Annexe A (informative) Lignes directr

9、ices pour la slection des paramtres dessai 7 Annexe B (informative) Mthode pour empcher une attaque par crevasse. 10 Annexe C (informative) Potentiel des lectrodes de rfrence slectionnes, 25 C, par rapport llectrode normale hydrogne (ENH) . 14 ISO 17864:2005(F) iv ISO 2005 Tous droits rservsAvant-pr

10、opos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres de lISO). Llaboration des Normes internationales est en gnral confie aux comits techniques de lISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire p

11、artie du comit technique cr cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec lISO participent galement aux travaux. LISO collabore troitement avec la Commission lectrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation lectrotechn

12、ique. Les Normes internationales sont rdiges conformment aux rgles donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 2. La tche principale des comits techniques est dlaborer les Normes internationales. Les projets de Normes internationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pou

13、r vote. Leur publication comme Normes internationales requiert lapprobation de 75 % au moins des comits membres votants. Lattention est appele sur le fait que certains des lments du prsent document peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre t

14、enue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. LISO 17864 a t labore par le comit technique ISO/TC 156, Corrosion des mtaux et alliages. ISO 17864:2005(F) ISO 2005 Tous droits rservs v Introduction Lacier inoxydable est sensible la corrosion par

15、 piqres, la corrosion caverneuse, la corrosion fissurante sous contrainte, etc., bien quil soit utilis comme matriau gnralement rsistant la corrosion. Le phnomne de piqres est normalement de nature alatoire, de ce fait sa mesure ncessite au moins deux valeurs. La temprature critique de piqration dfi

16、nit la temprature la plus basse, indpendante du potentiel, en dessous de laquelle des piqres napparaissent pas. La mthodologie de base a t normalise en premier lieu dans lASTM G150, Mthode dessai normalise pour essai lectrochimique de la temprature critique de piqration des aciers inoxydables. NORME

17、 INTERNATIONALE ISO 17864:2005(F) ISO 2005 Tous droits rservs 1 Corrosion des mtaux et alliages Determination de la temprature critique de piqration des aciers inoxydables sous contrle potentiostatique 1 Domaine dapplication La prsente Norme internationale dcrit le mode opratoire permettant de dterm

18、iner la temprature critique de piqration des aciers inoxydables (acier inoxydable austnitique, ferritique/austnitique, ferritique) sous contrle potentiostatique. Le principal avantage de lessai rside dans la rapidit avec laquelle il est possible de mesurer la temprature critique de piqration en un s

19、eul essai. La temprature critique de piqration, dtermine selon la prsente Norme internationale, peut servir dindice relatif de performance, par exemple pour comparer les performances relatives de diffrentes nuances dacier inoxydable. Lessai dcrit dans la prsente Norme internationale nest pas destin

20、dterminer la temprature laquelle des piqres apparatront en service. 2 Rfrences normatives Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document de r

21、frence sapplique (y compris les ventuels amendements). ISO 8044:1999, Corrosion des mtaux et alliages Termes principaux et dfinitions 3 Termes et dfinitions Pour les besoins du prsent document, les termes et dfinitions suivants sappliquent. 3.1 temprature critique de piqration CPT temprature la plus

22、 basse la surface de lprouvette laquelle se produit une piqre se propageant de manire stable, dans des conditions dessai spcifies 3.2 vitesse daugmentation de la temprature vitesse laquelle la temprature de la surface de lprouvette augmente au cours de lessai NOTE La vitesse daugmentation de la temp

23、rature est exprime en degrs Celsius secondes la puissance moins un (C s 1 ). ISO 17864:2005(F) 2 ISO 2005 Tous droits rservs4 Principe 4.1 Lessai implique laugmentation de la temprature de la surface de lprouvette une vitesse spcifie, tout en exposant cette prouvette un milieu spcifi et en maintenan

24、t le potentiel de lprouvette une valeur spcifie. La temprature de la surface de lprouvette est augmente en chauffant la solution. 4.2 La temprature critique de piqration est dfinie comme tant la temprature de lprouvette laquelle la densit du courant dpasse une valeur spcifie pendant 60 s. Ce dlai de

25、 60 s permet de garantir que laugmentation de courant observe est bien due une piqration se propageant de manire stable et quil ne sagit pas de pics de courant transitoires dus une piqration mtastable. 4.3 Le porte-prouvette est conu de manire garantir quil ne se produit pas de corrosion caverneuse

26、au niveau du joint entre lprouvette et le support. 4.4 Il peut y avoir un gradient de temprature entre la masse de la solution et la surface de lprouvette, gradient dont lamplitude dpendra de la gomtrie et des dimensions de lprouvette. Les lignes directrices permettant ltalonnage de la temprature de

27、 la surface de lprouvette par rapport la temprature de la solution sont donnes dans lArticle 7. 4.5 La vitesse daugmentation de la temprature, le milieu et le potentiel appliqu peuvent varier en fonction du matriau. Les lignes directrices pour la slection des paramtres dessai des aciers austnitiques

28、 et duplex sont donnes dans lAnnexe A. 4.6 La temprature critique de piqration est caractristique de la mthode dessai et il convient de ne lutiliser que comme mesure comparative de performance. 5 Appareillage 5.1 Potentiostat Le potentiostat doit pouvoir contrler le potentiel dlectrode 1 mV dune val

29、eur de consigne. 5.2 Appareil de mesure du potentiel dlectrode Il convient que lappareil ait une impdance dentre leve, de lordre de 10 11 10 14, afin de rduire au minimum le courant prlev sur le systme au cours du mesurage. Il convient que la sensibilit et lexactitude de mesure de linstrument soient

30、 suffisantes pour dtecter toute modification de 1,0 mV. 5.3 Appareil de mesure du courant Dans le circuit, le courant est valu partir de la chute de potentiel mesure sur une rsistance connue. Sur de nombreux potentiostats, ce mesurage est interne, mais les mesurages peuvent galement tre externes, en

31、 plaant une rsistance dans la ligne de courant entre llectrode auxiliaire et son raccordement au potentiostat. Lappareil doit pouvoir mesurer un courant 2 % de la valeur relle. 5.4 Rgulateur de temprature Le rgulateur de temprature doit pouvoir porter la temprature de la surface de lprouvette de 0 C

32、 100 C une vitesse contrle, ce quon obtient en chauffant ou en refroidissant la solution. Au-dessus de 10 C, la vitesse moyenne de variation de temprature de lprouvette doit tre contrle 30 % de la valeur recherche, la moyenne tant calcule sur une plage de tempratures de 10 C. Les lignes directrices

33、pour le calcul de la temprature de lprouvette par rapport la temprature de la solution sont donnes dans lArticle 7. ISO 17864:2005(F) ISO 2005 Tous droits rservs 3 5.5 Appareil de mesure de la temprature Lappareil doit pouvoir mesurer la temprature de la solution dessai avec une exactitude de 0,4 C.

34、 5.6 Porte-prouvette 5.6.1 Toutes les parties du porte-prouvette entrant en contact avec la solution dessai doivent tre en matriau inerte. 5.6.2 Le porte-prouvette doit tre conu de manire garantir quil napparat aucune corrosion caverneuse dans la zone de contact entre le porte-prouvette et lprouvett

35、e. LAnnexe B esquisse une mthode permettant dempcher une telle attaque par crevasse, en utilisant une cellule avec circulation sous joint ou un porte-prouvette soumis un rinage. 5.7 Cellule dessai 5.7.1 La cellule dessai doit contenir lprouvette, une sonde capillaire du type Luggin relie une lectrod

36、e de rfrence externe pour la mesure du potentiel dlectrode, une lectrode auxiliaire, un orifice pour linsertion dun appareil de mesure de la temprature et un dispositif pour agiter la solution de manire rptable. Pour ce faire, il est possible dutiliser un agitateur mcanique ou simplement dinsuffler

37、des bulles de gaz dans la solution une vitesse contrle. 5.7.2 Une cellule double paroi est couramment utilise pour permettre de refroidir ou de rchauffer la solution par recyclage dans lenceinte externe de la cellule dun liquide provenant dun bain chauffant externe. 5.7.3 Lextrmit de la sonde capill

38、aire du type Luggin doit tre place de manire se trouver une distance de lprouvette gale environ deux fois le diamtre de lextrmit, mais pas plus prs. 5.7.4 Toutes les parties de la cellule dessai ou du porte-prouvette entrant en contact avec la solution doivent tre ralises dans un matriau inerte. Le

39、polycarbonate, le verre et le polyttrafluorthylne (PTFE) conviennent. 5.7.5 Le rapport du volume de solution dans la cellule dessai la surface de lprouvette doit tre au moins de 100 ml/cm 2 . 5.8 lectrode auxiliaire Llectrode auxiliaire est gnralement prpare partir de platine de grande puret. Dautre

40、s matriaux peuvent tre utiliss condition dtre inertes. Llectrode auxiliaire peut se prsenter sous forme de feuille ou de tige ou bien de gaze sur cadre en verre. Il convient que laire de llectrode auxiliaire soit au moins gale celle de lprouvette. NOTE Du graphite peut tre utilis comme lectrode auxi

41、liaire mais il faut veiller viter toute contamination; la dsorption despces retenues dans le graphite peut savrer ncessaire avant usage. 5.9 lectrode de rfrence 5.9.1 Llectrode de rfrence doit tre maintenue temprature ambiante lextrieur de la cellule dessai et relie cette dernire par lintermdiaire d

42、une sonde capillaire de type Luggin. 5.9.2 Les lectrodes couramment utilises comportent llectrode largent/chlorure dargent et llectrode au calomel satur. Les potentiels de ces lectrodes 25 C par rapport llectrode normale hydrogne 25 C sont donns dans lAnnexe C. ISO 17864:2005(F) 4 ISO 2005 Tous droi

43、ts rservs6 prouvettes 6.1 Toute gomtrie dprouvette compatible avec le porte-prouvette peut tre utilise. 6.2 La surface soumise essai doit tre au minimum de 1 cm 2 . 6.3 Le fini de surface doit tre reproductible. 7 talonnage de la temprature de lprouvette par rapport la temprature de la solution 7.1

44、Il peut y avoir un gradient de temprature entre la masse de la solution et la surface de lprouvette. Un essai doit tre ralis pour talonner la temprature de lprouvette par rapport la temprature de la solution. Ltalonnage doit tre ralis selon le mode opratoire mis en uvre pour lessai de temprature cri

45、tique de piqration dcrit dans lArticle 8, lexception du fait quaucun contrle ou mesurage du potentiel dlectrode de lprouvette nest requis. 7.2 Les dimensions et la gomtrie de lprouvette, le volume de solution, la vitesse dagitation et la vitesse daugmentation de la temprature doivent tre les mmes po

46、ur lessai dtalonnage que pour lessai de temprature critique de piqration. 7.3 La temprature de lprouvette doit tre mesure en installant lintrieur un dispositif appropri de mesure de la temprature, aussi prs que possible ( 1 mm) de la surface de lprouvette en contact avec la solution. Le dispositif d

47、e mesure doit tre plac au centre de lprouvette. 7.4 Ltalonnage de la temprature de lprouvette par rapport la temprature de la solution doit tre ralis en procdant des mesurages de la temprature de la solution et de la temprature correspondante de lprouvette, tout en augmentant la temprature de la solution principale la vitesse daugmen