IEC 60115-5-2-1992 Fixed resistors for use in electronic equipment part 5 blank detail specification fixed precision resistors assessment level F《电子设备用固定电阻器 第5-2部分 空白详细规范 精密固定电阻器 评定水平F》.pdf
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1、NORME CE1 INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD IEC 11 54-2 QC 400302 Premire dition First edition 1992-04 Rsistances fixes utilises dans les quipements lectroniques Partie 5: S pcif cat ion particu I re-cad re: Rsistances fixes de prcision Niveau dassurance F Fixed resistors for use in electronic e
2、quipment Part 5: Blank detail specification: Fixed precision resistors Assessment level F Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 1 15-5-2: 1992 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without l
3、icense from IHS-,-,-Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1
4、 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte
5、ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de ia publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la list
6、e des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site web de la CEI“ Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au site web de la CEI* et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Terminologie, symbo
7、les graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symb
8、oles littraux cependant les exigences concernant les variations de rsistance sont a choisir dans les tableaux I et II de la spcification intermdiaire. 2. -Les niveaux de contrle et les NQA sont extraits de la Publication 410 de la CEI: Plans et rgles dchantillonnage pour les contrles par attributs.
9、3. -Dans ce tableau: p = priodicit (en mois) n = effectif de lchantillon c = critre dacceptation (nombre admissible de dfectueux) D = destructif ND = non-destructif NC = niveau de contrle NQA = niveau de qualit acceptable 1 Publication 410 de la CE1 Numro de paragraphe et essai (voir note 1) CONTROL
10、E DU GROUPE A (lot par lot) Sous-groupe Al 4.4.1 Examen visuel 4.4.2 Dimensions (au calibre) Sous-Eroupe A2 4.5 Rsistance - D ND ou ND ND Conditions dessai (voir note i) Ut ser une plaque de . mm dpaisseur (si applicable) II II ,O% 0,25% Ex g e nc e s (voir note i) Selon 4.4.1 Marquage lisible et se
11、lon 1.4 de la pr- sente spcification Selon tableau I de la prsente spcif- cation Selon 4.5.2 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-115-5-2 O IEC -13- 2.1.2 - For Qua
12、lity Conformance Inspection the test schedule (Table 11) in- cludes sampling, periodicity, severities and requirements. The for- mation of inspection lots is covered by Sub-clause 3.3.1 of the Sec- tional Specification. Note. -When drying is called for, Procedure I of Sub-clause 4.3 of the Generic S
13、pecification, IEC Publication 115-1, shall be used. TABLE II Notes 1. -Sub-clause numbers of test and performance requirements refer to the Generic Specification, IEC Publication 115-1, except for resistance change requirements, which shall be selected from the Tables I and II of the sectional speci
14、fication, as appropriate. 2. -Inspection Levels and AQLs are selected from IEC Publication 410: Sampling Plans and Procedures for Inspection by Attributes. 3. -In this table: p = periodicity (in months) n = sample size c = acceptance criterion (permitted number of defectives) D = destructive ND = no
15、n-destructive IL = inspection level AQL = acceptable quality level 1 IEC 410 Sub-clause number and Test (see Note i) GROUP A INSPECTION (lot-by-lot) Sub-group Al 4.4.1 Visual exami- nation 4.4.2 Dimensions (gauging 1 4.5 Resistance Conditions of test (see Note 1) A gauge-plate of . mm shall be used
16、(if applicable) I” see Note 2) II II 1,0% O , 25% Performance requirements (see Note i) As in 4.4.1 Legible marking and as specified in 1.4 of this specification As specified in Ta- ble I of this speci- f icat ion As in 4.5.2 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under
17、license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,- 14- N C 115-5-2 O CE1 N A Q Numro de paragraphe et essai (voir note i) CONTROLE DU GROUPE B (lot par lot) Sous-groupe B1 4.7 Tension de tenue (rsis- tances isoles seulement) 4.6 Rsistance disolement (
18、rsistances isoles seulement) 4.17 Soudabilit 4.13 Surcharge marquage aux solvants (si applicable) md it ions d essai voir note i) thode: . ans vieillissement, thode: . ension applique: ,5 fois la tension ominale ou 2 fois la ension limite nominale, a moins svre des deux aleurs kamen visuel .s ist an
19、ce iolvant: . . . emprature du ,olvant: . . . ithode 1 iatriau de frottement: :oton hydrophile Leprise: . s-3 1,0% Ix ig enc e s voir note i) as de claquage, ni .e contournement ;on tamage mis en !vidente par 1 oudabilit (. s) ?as de dommage risible larquage lisible LR 5 f( . %R + . 52: larquage lis
20、ible Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-115-5-2 O IEC - 15 - ;ub-clause number ind Test see Note 1) ;ROUP B INSPECTION : 1 ot -by- 1 ot ) ;ub-group B1 1.7 Voltage
21、 proof (Insulated re- sistors only) c.6 Insulation resistance (Insulated resistors only) i. 17 Solderability L. 13 Overload 4. Solvent resistance of the marking (if applicable) nditions of test pee Note 1) 2thod: . ithout ageing ethod: . Rated dura- dissipation t ion pplied voltage: ,5 times the rat
22、ed oltage or twice he limiting element oltage, whichever is he less severe isual examination .es ist ance olvent: . olvent temperature: ;ethod 1 .ubbing material: cottc cool iecovery: . . . q-T L see Note 2) 5-3 1,0% e r f o rmanc e -equi rement s see Note 1) lo breakdown or : 1 ashove r 121 GS ;ood
23、 tinning as evi- lenced by free flow- ing of the solder uith wetting of :he terminations or ;older shall flow uithin . . . s, as applicable !lo visible damage Legible marking hR 5 I( . XR + . 0) Legible marking Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IE
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