GB T 18696.1-2004 声学 阻抗管中吸声系数和声阻抗的测量 第1部分;驻波比法.pdf
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1、ICS 17.140.01 A 59 1部 G/T 18696. 1 2004 Acoustics Determination of sound absorption coefficient and impedance in impedance tubes一Part 1: Method using standing wave ratio CISO 10534-1: 1996. MOD) 2004-05-13发布2004-12-01实/町町、 、中华人民共和国国家质量监中国国家标准化检验检菇总局理委员会发布GB/T 18696. 1一2004目次前言.引言. l 范自.,. 2 规范性引用文件3
2、 定义和符号. ., 4 原理.5 基础-6 测试设备皿凹1113367 预备测试. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10 8 试件安装9 测试方法.10 反射因数和声阻抗率的换算. . . . . . . . . 11 测试报告. . . .,. 附录A(规范性附录预备测试.附录B(规范性附录)测试设备的校验附录C(规范性附录测试试件的压力释放末端. . . . 附录D(资料性附录)局部反应吸声材料的扩散吸声系数岛的确定A向49臼AanOAA-1-11122
3、 I GB/T 18696(声学阻抗管中吸声系数和声阻扰的测量分为两个部分g一一第1部分E驻波比法,一一第2部分s传递函数法.GB(T 18696. 1-2004 本部分为GB/T18696的第1部分,修改采用国际标准ISO10534-1: 1996(Acoustics-Determina tion of sound absorption coefficient and impedance in impedance tubes-Part 1 : Method using standing wave ratio 0 在修改采用的过程中,对ISO原文作了几点必要的修改s一一根据定义,在标准正文中,
4、将声阻抗(acousticmpedance)改为声阻抗率(specificacoustic impedance) ,但又为了与ISO对应起见,标准名称未作改动;删除了原3.5条impedancein the reference plane和3.8条surfaceadmittance,因为这两条术语以后再未出现g一一本部分附录A.2啃速、波长和特性阻抗的测量采用ISO10534-2: 1998文本7.2条(即GB/T 18696.2-2002中8.2条)的方法,一-一式(29)中的常数250是由O.75co得来的,用O.75co较好,一-原6.5条涉及到声级计.声级计标准的新旧版本正处于替代阶段
5、,0级声级计的规定已不用,而本条只是附带性的提到声级计,所以删去。一一一增加了引言。本部分的附录A、附录B和附录C为规范性附录.本部分的附录D为资料性附录.本部分由中国科学院提出.本部分由全国声学标准化技术委员会(CSBTS/TC17)归口.本部分主要起草单位g中国科学院声学研究所、同济大学声学研究所.本部分主要起草人s李晓东、戴根华、毛东兴、徐欣.本部分委托全国声学标准化技术委员会声学基础分委员会负责解释.E GB/T 18696. 1-2004 冒|驻波比法用于在阻抗管中测定法向入射条件下吸声材料和结构的吸声系数、反射因数和表面声阻抗率或表面声导纳率.由于本部分所用的仪器可以都是模拟仪器,
6、而且只需少量吸声材料作试件,所以广为商家和检测单位所采用.本部分与GB/T18696.2 -2002组成阻抗管中吸声系数和声阻抗的测量系列标准.本系列标准规定的方法,与ISO354规定的混响室吸声测量方法比较,有重要差别.阻扰管法仅限于法向人射参数的测试,试件面积应与阻抗管的横截面一样大.混响室法测得的是无规人射吸声系数,它能用于测试横向和法向有明显不同结构的材料,要求较大面积的测试试件.对于局部反应的材料,无规入射吸芦系数能从阻抗管法的测量结果换算得到.凹声学阻抗管中眼声系数和声阻抗的第1部分:驻波比法GB/T 18696. 1-2004 1 范围1. 1 GB/T 18696的本部分规定了
7、测定法向人射时吸声材料和结构的吸声系数、反射因数和表面声阻抗率或表面声导纳率的方法,这些数据是根据阻抗管中法向人射条件下人射正弦平面波和从试件反射回来的平面波叠加后产生的驻波图测定的。由于只需少量的吸声材料作试件,所以它对于吸声材料的参数研究和设计特别适合.1.2 本部分的方法,与混响室测量吸声系数的方法(见ISO354)比较.有一些重要差别.阻抗管法既可用来测定吸声系数,也可用来测定声阻抗率或声导纳E札本方法规定声波法向人射到试件表团.混响室法(在理想条件下测定无规人射吸声系数.阻抗管法的根据是存在一个人射平面声泼,这种条件下它能给出准确的测量值(测量误差和安装误差除外).混晌室中吸声系数的
8、测定,建立在对声场和试件大小的一些简化和近似的假设的基础之上,因此,有时会得到大于1的吸声系数.阻抗管法要求试件与阻抗臂的横截面一样大。?昆呐室法要求相当大的试件,同时混响室法还可用于在横向和/或表面的垂直方向有明显不均勾结构的试件.在阻抗管中对这种不均匀试件所作的测量必须小心地解释(见9.1条).把阻抗管法法向人射)的测试结果换算为无规入射条件的计算方法参见附录D.1.3 因为现在实验室都备有计算机,所以本部分采用数值计算方法,而不采用图表查找法.本部分公式中的某些量是复数.三角函数的宗量用弧度表示.2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款.凡是注日期的引用文何,
9、其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的摄新版本.凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分.GB/T 3240-1982 声学测量中的常用频率(neqISO 266: 1975) ISO 354声学混响室中声吸收的测量3 定义和符号3. 1 3.2 3.3 本部分采用以下定义和符号法向入射眼声系蚊()normal Incidence (sound) absorption coefficient 法向人射平面波进入试件表面的声功率与人射声功率的比值。法向入射声压反射因数(,)normallncidence (
10、sound) pressure renection factor 基准丽上法向人射平面泼的反射波振帽与入射波振帽的复数比值.基准茵reference plane 用来测定声压反射因数r或表面声阻抗率Z,或表面声导纳率G,的阻抗管横戳面.如果试件表面GB/T 18696. 1-2004 是平面,则通常就取它为基准面.基准面假设在x=0处,见图1.3.4 3.5 3.6 3. 7 3.8 3.9 声阻抗率(Z,(X) ) specific acoustic impedaoce 声场中某点z处的声压p(x)与(指向试件表面的)质点速度v(x)的比值.表面法向声阻:率(Z,)oorlllal surf
11、ace specific acoustic impedaoce 基准面上某一频率声波的复声压p(O)与复数声质点速度训。)的法向分量的比值.表面法向声导纳率(G,)oorlllal surface specific acoustic admittaoce 基准面上某一频率声波的复数声质点速度v(O)的法向分量与复声压p(O)的比值。(声)特性阻抗(Z,)(acoustic) characterlstic impedance 平面自由行波在媒质中某一点的有效声压与通过该点的有效声质点速度的比值,为2 Zo = po Co 式中zpo一一媒质(空气)密度.kg!m; Co 媒质空气)中声速,m/s
12、o 比声阻扰率(%)oormalized speciflc acoustlc impedance 表面法向声阻抗率Z,与(媒质)声特性阻抗Z,之比Ez = Z.!Zo 比声导纳率(g)Dotmalized sp配ificacouslic admlttance 表面法向声导纳率G,与(然质)声特性阻抗Z。之积Eg = G. Zo 3. 10 3. 11 驻波比(s)staodingwave ralio 无衰减的驻波图上,声压极大值的振帽Ip. I .与声压极小值的振幅Ip,;.1之比zs = I p军I! I Pm, I (计及衰载的驻波比(s.)staoding wave ratio (wit
13、h atteoualion) 有衰减的驻波图上,第n个声压极大值处的声压振幅|户(X_.)I与第n个声压极小值处的声压振领Ip(Xmi,.) I (参见图1)之比,S. = I户(X.)I ! I p(xm.) I 显见,不同时S.取不同的值.3. 12 2 自由杨)波敖忱。)(fl时e-field)wave number 定义为g式中zr一声波角频率sf一一声波频率,C,一一空气中声速.ko =!c, = 2f!co 通常波数是复数,所以h。可记为2ko = k - j k 式中g是;一-ko的实部;=2/.o),即相位常数,.o-一声波波长,k ko的虚部,即衰减常数,单位Np!m.注E以
14、下凡复变量右上角加.表示取其实部,加.表示取其虚部.3.13 3. 14 反射(因数相角ph田eor ren四t10n(raclor) 复反射因数r用其振幅1r 1和相角表示为g式中,1 rl = /7丐7Er = 1 rl COS r= I rl sin世=町ctan(r!r) r = r + jr = 1 r 1 ,;+ = 1叫.(cos+ jsin向工作频率范国(/)working rrequency range 在阻抗管中进行有效测量的声波频率的范围2J, O)则吸声系数保持不变,而反射因数r和声阻抗率Z,将变成为称刊移了一个距离(即基准丽与试件表面之间距离)的量.这个概念常常用于特
15、殊结构的试件(见9.1条和第10章).5.4 驻波当在(x)和p,(x)同相位时,驻波图上出现极大值,即1 p_. 1=1 p, l 0+1 r 1) 而当户i(X)和p,(x)反相时,贝出现极小值,即1 P., 1 = 1 p, 1. (1 -1 r 1 ) 采用驻波比s = 1 P叩1j 1户minI 则5.5 吸声系数. ( 10 ) .( 11 ) . ( 12 ) . .H3 ) ( 14 ) 给定频率的吸声系数由测定该驻波的声压极大值|户.1和极小值Ipmi,l.按式(9)、式(12)和式(4)计算而得.如阻抗管中的声压用对数(分贝)计量,声压极大值和极小值之间的级差为AL.单位为
16、分贝(dB) 那么这样,吸声系数就为5.6 反射因鼓复反射因数s = 10L!20 4 X 10-/20 a= - .,_-丁00-/20 + 1) ( 15 ) . ( 16 ) r=lrl eJ. . . . . . . ( 17 ) 其中1r 1为振帽.1为相角.对于基准面前(指向声源计数)的第n个声压极小值臼=192,3,)9其相角条件为由此得对于第1个极小值(n=I).有这样,复反射因数为5.7 比声阻扰率1+ (2n-1)= 2k,x酬.1=(丐旦-2n十1) 世=(丐-1)r=r+Jrm r = 1 r 1 C081 rn = 1 r l 8in1 由式(7).可得比声阻抗率z=
17、Z,jZ,z=乏+jJ. ( 18 ) . ( 19 ) . ( 20 ) ( 21 ) . ( 22 ) ( 23 ) ( 24 ) 5 GB/18696. 1一20045.8 波长频率为f的声泼泼长。可由式给出1 12 2 I l-r-r 二二(1-r+r怡 2卢Z二(1-r+r ( 25 ) ( 26 ) o=col! .(27) 式中:Co为声速(c,的测定见附录A).。也可从(JiJrJ性末端的阻抗管中的驻波的第m个和第n个两个声压极小值之间的距离,按式(12)计算得到,为. ( 28 ) m-n 6 测试设备测试设备由阻扰管、试件筒、探管传声器、移动和定位探管传声器的装置、传声器信
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