IEC 60512-25-2-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-2 Test 25b - Attenuation (insertion loss)《电子设备连接器.试验和测量.第25-2部分 试验25b.衰减(介入损耗)》.pdf

《IEC 60512-25-2-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-2 Test 25b - Attenuation (insertion loss)《电子设备连接器.试验和测量.第25-2部分 试验25b.衰减(介入损耗)》.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《IEC 60512-25-2-2002 Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 25-2 Test 25b - Attenuation (insertion loss)《电子设备连接器.试验和测量.第25-2部分 试验25b.衰减(介入损耗)》.pdf（36页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60512-25-2Premire ditionFirst edition2002-03Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 25-2:Essai 25b Attnuation (perte dinsertion)Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-2:Test 25b Attenuation (insertion

2、 loss)Numro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60512-25-2:2002Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publications de laCEI incorpo

3、rant les amendements sont disponibles. Parexemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base, la publication debase incorporant lamendement 1, et la publication debase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEI

4、Le contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditio

5、ns,amendements et corrigenda. Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues, sontgalement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publicatio

6、ns de la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(www.iec.ch/catlg-f.htm) vous permet de faire desrecherches en utilisant de nombreux critres,comprenant des recherches textuelles, par comitdtudes ou date de publication. Des informationsen ligne sont galement disponibles sur lesnouvelles pu

7、blications, les publications rempla-ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible parcourrier lectronique. Veuillez prendre contactavec le Service client (voir ci-dessous) pour plusdinformations. Servi

8、ce clientsSi vous avez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires, prenez contact avec le Serviceclients:Email: custserviec.chTl: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a desi

9、gnation in the 60000 series. Forexample, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications. For example, edition numbers 1.0, 1.1and 1.2 refer, respectively, to the base publication,the base publication incorporating am

10、endment 1 andthe base publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC, thus ensuring thatthe content reflects current technology. Informationrelating to this publication, including it

11、s validity, isavailable in the IEC Catalogue of publications(see below) in addition to new editions, amendmentsand corrigenda. Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublication, as well as the list of publicati

12、ons issued,is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(www.iec.ch/catlg-e.htm) enables you to searchby a variety of criteria including text searches,technical committees and date of publication. On-line inform

13、ation is also available on recentlyissued publications, withdrawn and replacedpublications, as well as corrigenda. IEC Just PublishedThis summary of recently issued publications(www.iec.ch/JP.htm) is also available by email.Please contact the Customer Service Centre (seebelow) for further informatio

14、n. Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance, pleasecontact the Customer Service Centre:Email: custserviec.chTel: +41 22 919 02 11Fax: +41 22 919 03 00.NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60512-25-2Premire ditionFirst edition2002-

15、03Connecteurs pour quipements lectroniques Essais et mesures Partie 25-2:Essai 25b Attnuation (perte dinsertion)Connectors for electronic equipment Tests and measurements Part 25-2:Test 25b Attenuation (insertion loss)Pour prix, voir catalogue en vigueurFor price, see current catalogue IEC 2002 Droi

16、ts de reproduction rservs Copyright - all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et lesmicrofilms, sans laccord crit de lditeur.No part of this publication m

17、ay be reproduced or utilized in anyform or by any means, electronic or mechanical, includingphotocopying and microfilm, without permission in writing fromthe publisher.International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 T

18、elefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.chCODE PRIXPRICE CODE NCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 60512-25-2 CEI:2002SOMMAIREAVANT-PROPOS 41 Gnralits.61.1 Domaine dapplication et objet .61.2 Dfinitions .62 Moyens dessai.62.1 Equip

19、ement .62.2 Montage 83 Echantillon dessai103.1 Description 104 Procdure dessai.104.1 Attnuation du montage.104.2 Mesure dattnuation de lchantillon .124.3 Analyseur dimpdance (mthode du circuit ouvert/court-circuit).144.4 Mesures additionnelles 144.5 Mthode dans le domaine temporel145 Dtails spcifier

20、 .166 Documentation dessai16Annexe A (normative) Diagrammes et schmas pour les montages et lquipement.18Annexe B (informative) Guide pratique .26Figure A.1 Diagrammes techniques 18Figure A.2 Adaptations asymtriques20Figure A.3 Adaptations diffrentielles (symtriques)22Figure A.4 Exemple dun chantillo

21、n dans un montage pour attnuation2460512-25-2 IEC:2002 3 CONTENTSFOREWORD.51 General 71.1 Scope71.2 Definitions .72 Test resources .72.1 Equipment.72.2 Fixture.93 Test specimen 113.1 Description114 Test procedure .114.1 Fixture attenuation 114.2 Specimen attenuation measurement134.3 Impedance analyz

22、er (open/short method)154.4 Additional measurements 154.5 Time domain method.155 Details to be specified 176 Test documentation 17Annex A (normative) Diagrams and schematics of fixtures and equipment19Annex B (informative) Practical guidance27Figure A.1 Technical diagrams.19Figure A.2 Single-ended t

23、erminations 21Figure A.3 Differential (balanced) terminations 23Figure A.4 Example of specimen in fixture for attenuation25 4 60512-25-2 CEI:2002COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE_CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 25-2: Essai 25b Attnuation (perte dinsertion)AV

24、ANT-PROPOS1) La CEI (Commission lectrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation composede lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet defavoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisati

25、on dans les domaines dellectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales.Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par lesujet trait peut participer. Les organisations internationales, gou

26、vernementales et non gouvernementales, enliaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisationInternationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations.2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI conce

27、rnant les questions techniques reprsentent, dans la mesuredu possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intressssont reprsents dans chaque comit dtudes.3) Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont pu

28、bliscomme normes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comitsnationaux.4) Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent appliquer defaon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes international

29、es de la CEI dans leurs normesnationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CEI et la norme nationale ou rgionalecorrespondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire.5) La CEI na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabi

30、litnest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes.6) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent fairelobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pourresponsable de ne

31、pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence.La Norme internationale CEI 60512-25-2 a t tablie par le sous-comit 48B: Connecteurs, ducomit dtudes 48 de la CEI: Composants lectromcaniques et structures mcaniques pourquipements lectroniques.Le texte de cette no

32、rme est issu des documents suivants:FDIS Rapport de vote48B/1154/FDIS 48B/1208/RVDLe rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobation de cette norme.Cette publication a t rdige selon les Directives ISO/CEI, Partie 3.Lannexe A fait partie i

33、ntgrante de cette norme.Lannexe B est donne uniquement titre dinformation.Le comit a dcid que le contenu de cette publication ne sera pas modifi avant 2006. A cettedate, la publication sera reconduite; supprime; remplace par une dition rvise, ou amende.60512-25-2 IEC:2002 5 CONNECTORS FOR ELECTRONIC

34、 EQUIPMENT TESTS AND MEASUREMENTS Part 25-2: Test 25b Attenuation (insertion loss)FOREWORD1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprisingall national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to p

35、romoteinternational co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. Tothis end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation isentrusted to technical committees; any IEC National Committee intereste

36、d in the subject dealt with mayparticipate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaisingwith the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the InternationalOrganization for Standardization (ISO) in accordance with

37、conditions determined by agreement between thetwo organizations.2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters express, as nearly as possible, aninternational consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representationfrom all interested Nat

38、ional Committees.3) The documents produced have the form of recommendations for international use and are published in the formof standards, technical specifications, technical reports or guides and they are accepted by the NationalCommittees in that sense.4) In order to promote international unific

39、ation, IEC National Committees undertake to apply IEC InternationalStandards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Anydivergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearlyindicated in the latter.5) Th

40、e IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for anyequipment declared to be in conformity with one of its standards.6) Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this International Standard may be the subjectof patent rights

41、. The IEC shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.International Standard IEC 60512-25-2 has been prepared by subcommittee 48B: Connectors,of IEC technical committee 48: Electromechanical components and mechanical structures forelectronic equipment.The text of this

42、 standard is based on the following documents:FDIS Report on voting48B/1154/FDIS 48B/1208/RVDFull information on the voting for the approval of this standard can be found in the report onvoting indicated in the above table.This publication has been drafted in accordance with the ISO/IEC Directives,

43、Part 3.Annex A forms an integral part of this standard.Annex B is for information only.The committee has decided that the contents of this publication will remain unchanged until2006. At this date, the publication will be reconfirmed; withdrawn; replaced by a revised edition, or amended. 6 60512-25-

44、2 CEI:2002CONNECTEURS POUR QUIPEMENTS LECTRONIQUES ESSAIS ET MESURES Partie 25-2: Essai 25b Attnuation (perte dinsertion)1 Gnralits1.1 Domaine dapplication et objetCette partie de la CEI 60512 sapplique aux systmes dinterconnexion, tels que les connec-teurs lectriques, les embases et les cordons.Cet

45、te norme dcrit des mthodes en temporelle et en frquence pour mesurer lattnuation/perte dinsertion en fonction de la frquence.NOTE Dans cette norme, il est fait rfrence lattnuation. Il faut que les techniciens dessai utilisent le termeappropri (attnuation ou perte dinsertion) lorsquils rendent compte

46、 et rsument les rsultats des essais selon letype dchantillon et la ligne de transmission soumis la mesure.1.2 DfinitionsPour les besoins de la prsente partie de la CEI 60512, les dfinitions suivantes sappliquent.1.2.1 attnuationrduction de la puissance pendant la transmission entre lentre et la sort

47、ie de lchantillon, engnral exprime en dcibels (dB)1.2.2 perte dinsertionla perte de puissance rsultant de linsertion dun connecteur ou dun dispositif similaire dansune ligne de transmission, en gnral exprime en dB1.2.3 impdance denvironnement de lchantillonlimpdance prsente par le montage aux conduc

48、teurs signaux. Cette impdance est lersultat des lignes de transmission, des rsistances de charge, des sources et rcepteurs designaux branchs et des lments de montage perturbateurs2 Moyens dessai2.1 Equipement2.1.1 Mesure en frquenceOn utilise de prfrence un analyseur de rseau. Lorsquune plus grande gamme dynamiqueest dsire, on peut utiliser en alternative un gnrateur de signaux et un analyseur de spectreou un analyseur de rseau vectori