KS D 0078-2008 Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy《硅晶体中混杂物浓度测定方法 光致发光分析测定法》.pdf
《KS D 0078-2008 Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy《硅晶体中混杂物浓度测定方法 光致发光分析测定法》.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《KS D 0078-2008 Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy《硅晶体中混杂物浓度测定方法 光致发光分析测定法》.pdf(16页珍藏版)》请在麦多课文档分享上搜索。
1、 KSKSKSKS SKSKSKS KSKSKS SKSKS KSKS SKS KS S KS D 0078 KS D 0078:2008 (2013 ) 2008 6 30 http:/www.kats.go.kr KS D 0078:2008 : ( ) ( ) ( ) ( ) : (http:/www.standard.go.kr) : : 1998 12 30 : 2008 6 30 : 2013 10 31 : 2013 0584 : ( 02-509-7274) (http:/www.kats.go.kr). 10 5 , . KS D 0078:2008 (2013 ) Test
2、 method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy 1 . (B), (Al), (P) (As) , 11011 51015atoms/cm3(0.002100 ppba) . FZ . 2 . . ( ) . KS D 0256, 4 KS M ISO 6353 2, 2 : 1 KS M ISO 6353 3, 3 : 2 3 . 3.1 (photoluminescence: PL) , . 3.2 (exciton) (Cou
3、lomb) , KS D 0078:2008 2 (free exciton: FE) ( ) (bounded exciton: BE) . (bounded multiple exciton complex:BMEC) . (n 1) BMEC “bn” . BMEC bn b , “bn” . 3.3 (phonon) , . . (trans-verse acoustic: TA) , (longitudinal acoustic: LA) , (transverse optical: TO) , (longitudinal optical: LO) . , (no-pho-non:
4、NP) . 4 4.1 . a) 5 mm10 mm , PL . b) 5 mm5 mm , 1 mm . , KS M ISO 6353 2 (HNO3) KS M ISO 6353 3 (HF) HNO3: HF = 5: 3 12 . , PL . 4.2 . a) FZ 60 mm (191) mm , FZ . FZ , , 1(a) . KS M ISO 6353 3 , HNO3: HF=4: 1 2 2 . b) FZ 1 000 Wcm , (1216 mm)1 mm 1(b) . c) mm . d) , , n . KS D 0256 , (暗 ) 4 KS D 007
5、8:2008 3 , 1) 10 mm , . 2 S1, S2, ., Sn , r0, r1, ., rn . L: a) FZ l: b) 1 FZ 2 (Sn) (Cn) e) (r) n (C)(ppba) 1 350 cm2/V s . r93=C r0, rl rn C0, C1, ., Cn , C0 C1, C1 C2, ., Cn 1 Cn , C1, C2, Cn . 1) l 1 . 121122222121122222112222 )(3)(3)( ldddddlDDDDdLLLdDl +-+-= KS D 0078:2008 4 Cave . n21nn2211av
6、e SSSSCSCSCC+=LL rave . aveave93C=r f) PL d) FZ PL . 5 mm5 mm 1 mm , , HNO3: HF = 5: 3 12 . , PL . 5 3 , ( ), . . a) 514.5 nm 500 mW . b) ( ) 4.2 K PL , , , PL . , , . 3 PL c) , , PL , . PL , . d) . 1) , . 1.076 mm PC ( ) ( ) KS D 0078:2008 5 (1.152 eV, 294 cm 1)2) 1.142 mm(1.086 eV, 8 757 cm 1) , 0
- 1.请仔细阅读文档,确保文档完整性,对于不预览、不比对内容而直接下载带来的问题本站不予受理。
- 2.下载的文档,不会出现我们的网址水印。
- 3、该文档所得收入(下载+内容+预览)归上传者、原创作者;如果您是本文档原作者,请点此认领!既往收益都归您。
下载文档到电脑,查找使用更方便
10000 积分 0人已下载
下载 | 加入VIP,交流精品资源 |
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- KSD00782008TESTMETHODFORDETERMINATIONOFIMPURITYCONCENTRATIONSINSILICONCRYSTALBYPHOTOLUMINESCENCESPECTROSCOPY

链接地址:http://www.mydoc123.com/p-816961.html