DIN 54180-1-2015 Non-destructive testing - Shearography - Part 1 General principles《无损检测 剪切图解 第1部分 一般原理》.pdf
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1、Januar 2015DEUTSCHE NORM DIN-Normenausschuss Materialprfung (NMP)Preisgruppe 8DIN Deutsches Institut fr Normung e. V. Jede Art der Vervielfltigung, auch auszugsweise, nur mit Genehmigung des DIN Deutsches Institut fr Normung e. V., Berlin, gestattet.ICS 19.100!%“2270498www.din.deDDIN 54180-1Zerstrun
2、gsfreie Prfung Shearografie Teil 1: Allgemeine GrundlagenNon-destructive testing Shearography Part 1: General principlesEssais non destructifs Shearographie Partie 1: Principes gnrauxAlleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 BerlinErsatz frDIN 54180-1:1997-01www.beuth.deGesamtumfang 12
3、 SeitenDIN 54180-1:2015-01 2 Inhalt Seite Vorwort 3 1 Anwendungsbereich .4 2 Normative Verweisungen 4 3 Begriffe .4 4 Grundlagen .8 4.1 Allgemeines 8 4.2 Erzeugung der Oberflchenverformung 9 4.3 Aufzeichnung der Oberflchenverformung .9 5 Prfausrstung 9 6 Anforderungen an das Prfpersonal 10 7 Vorbere
4、itung der Prfung 10 7.1 Allgemeines . 10 7.2 Vorbehandlung der Oberflche des Prfgegenstandes . 10 7.3 Einstellen der optischen Parameter 10 7.4 Wahl der Belastungsart 10 7.5 Vermeiden von strenden Einflssen 11 7.6 Funktionsprfung . 11 8 Durchfhrung der Prfung 11 9 Auswertung der Prfergebnisse . 11 1
5、0 Prfbericht . 11 Literaturhinweise . 12 DIN 54180-1:2015-01 3 Vorwort Dieses Dokument wurde vom Arbeitskreis Shearografie“ des Arbeitsausschusses NA 062-08-20 AA Zerstrungsfreie Prfung, Obleuteausschuss“ im DIN-Normenausschuss Materialprfung (NMP) ausgearbeitet. Es wird auf die Mglichkeit hingewies
6、en, dass einige Elemente dieses Dokuments Patentrechte berhren knnen. DIN und/oder die DKE sind nicht dafr verantwortlich, einige oder alle diesbezglichen Patentrechte zu identifizieren. DIN 54180 Zerstrungsfreie Prfung Shearografie besteht aus: Teil 1: Allgemeine Grundlagen Teil 2: Gerte nderungen
7、Gegenber DIN 54180-1:1997-01 wurden folgende nderungen vorgenommen: a) Anpassung an den Stand der Technik; b) Aktualisierung der Bilder. Frhere Ausgaben DIN 54180-1: 1997-01 DIN 54180-1:2015-01 4 1 Anwendungsbereich Dieses Dokument legt die allgemeinen Grundlagen der shearografischen Prfung fest und
8、 definiert bzw. erlutert Grundbegriffe, die fr die Beschreibung und Durchfhrung shearografischer Prfungen bentigt werden. Zweck dieses Dokuments ist es, die Grundlagen fr die Verwendung der Prfgerte und fr die Durchfhrung der Prfung festzulegen. Die besonderen Bedingungen der Anwendung und Durchfhru
9、ng shearografischer Prfungen, die von der Art des Prfgegenstandes abhngen, sind in Dokumenten beschrieben wie: Produktnormen; Ausfhrungsbestimmungen; Regeln; schriftlichen Vereinbarungen; schriftlichen Prfanweisungen. 2 Normative Verweisungen Die folgenden Dokumente, die in diesem Dokument teilweise
10、 oder als Ganzes zitiert werden, sind fr die Anwendung dieses Dokuments erforderlich. Bei datierten Verweisungen gilt nur die in Bezug genommene Ausgabe. Bei undatierten Verweisungen gilt die letzte Ausgabe des in Bezug genommenen Dokuments (einschlielich aller nderungen). DIN 54180-2, Zerstrungsfre
11、ie Prfung Shearografie Teil 2: Gerte DIN EN 1330-1, Zerstrungsfreie Prfung Terminologie Teil 1: Allgemeine Begriffe DIN EN 1330-2, Zerstrungsfreie Prfung Terminologie Teil 2: Begriffe, die von allen zerstrungsfreien Prfverfahren benutzt werden DIN EN ISO 11145, Optik und optische Instrumente Laser u
12、nd Laseranlagen Begriffe, Formelzeichen VDI/VDE 2632 Blatt 1, Industrielle Bildverarbeitung Grundlagen und Begriffe 3 Begriffe Fr die Anwendung dieses Dokuments gelten die Begriffe nach DIN EN ISO 11145, DIN EN 1330-1, DIN EN 1330-2, VDI/VDE 2632 Blatt 1 und die folgenden Begriffe: 3.1 Empfindlichke
13、itsvektor Vektor, der die Richtung der grten Messempfindlichkeit angibt Anmerkung 1 zum Begriff: Der Empfindlichkeitsvektor zeigt in Richtung der Winkelhalbierenden zwischen Beleuchtungsrichtung und Beobachtungsrichtung. DIN 54180-1:2015-01 5 3.2 Inhomogenitt knstliche oder natrliche nachweisbare nd
14、erung im Werkstoff QUELLE: DIN EN 1330-2:1998-12, 2.9 3.3 In-Plane-Verformung Verformungsanteil der Gesamtverformung rechtwinklig zur Oberflchennormalen des Prfgegenstandes 3.4 Interferenz-Specklemuster kohrente berlagerung zweier Specklemuster Anmerkung 1 zum Begriff: Siehe auch 3.14. 3.5 kohrente
15、Lichtquelle Lichtquelle, die monochromatisches Licht mit einer geringen spektralen Halbwertsbreite aussendet und eine feste Phasenbeziehung ber eine bestimmte Mindestlnge (Kohrenzlnge) aufweist 3.6 optischer Messkopf Gerteeinheit bestehend aus mindestens einer Abbildungsoptik, einem Scherelement ode
16、r Schersystem und einem Bildsensor 3.7 Out-of-Plane-Verformung Verformungsanteil der Gesamtverformung in Richtung der Oberflchennormalen des Prfgegenstandes 3.8 Phasenverschiebung definierte Vernderung der Phasenlage einer Welle 3.9 Schervektor Abstand nach Betrag (Scherbetrag) und Richtung (Scherri
17、chtung), um die zwei Punkte auf der Prfgegenstandsoberflche versetzt sind, die auf denselben Bildpunkt abgebildet werden 3.10 Scherelement optische Vorrichtung zur Scherung bestehend aus einem Element oder mehreren Komponenten 3.11 Scherung Erzeugung eines Doppelbildes aus zwei lateral gegeneinander
18、 um den Schervektor verschobenen Einzelbildern eines Prfgegenstandes 3.12 Shearografie berhrungslose Erfassung, Aufbereitung und bildhafte Darstellung der flchenhaften Verteilung des Verformungsgradienten aus der arithmetischen Kombination zweier Interferenz-Specklemuster Anmerkung 1 zum Begriff: Di
19、e hier verwendeten Anglizismen (Shearografie, Shearogramm, Specklemuster) sind historisch eingefhrte Benennungen. DIN 54180-1:2015-01 6 3.13 Shearogramm Ergebnisbild einer shearografischen Messung Anmerkung 1 zum Begriff: Dieses Ergebnisbild kann durch verschiedene Verarbeitungsschritte entstehen, z
20、. B. direkt nach der Subtraktion der Interferenz-Specklemuster als Korrelationsstreifenbild (siehe Bild 1), als Phasenverteilung (siehe Bild 2) oder demodulierte Phasenverteilung (siehe Bild 3). Bild 1 Korrelationsstreifen mit horizontalem Schervektor Bild 2 Phasenverteilung mit horizontalem Scherve
21、ktor DIN 54180-1:2015-01 7 Bild 3 Demodulierte Phasenverteilung mit horizontalem Schervektor 3.14 Specklemuster auf Interferenz beruhende granulare Intensittsverteilung, die entsteht, wenn kohrentes Licht von einer diffus streuenden Oberflche reflektiert und eine solche Oberflche abgebildet wird 3.1
22、5 Streifenkontrast Gre zur Charakterisierung der Sichtbarkeit des Streifenmusters, definiert als Differenz aus maximaler und minimaler Intensitt der beobachteten Streifen normiert auf die Summe aus maximaler und minimaler Intensitt 3.16 Streifenmuster Linien in einem Shearogramm die den Ort gleicher
23、 Verformungsgradienten darstellen 3.17 Verformungsgradient Differenz der Verformungskomponenten in Richtung des Empfindlichkeitsvektors zweier sich in einem Bildpunkt berlagernder Objektpunkte (P1, P2in Bild 4) DIN 54180-1:2015-01 8 Legende A Beleuchtungsvorrichtung 5 Prfgegenstand B Optischer Messk
24、opf 6 Beobachtungsrichtung C Rechner, Software 7 Empfindlichkeitsvektor 1 kohrente Lichtquelle 8 Scherelement zur berlagerung der Objektpunkte P1und P2in einem gemeinsamen Bildpunkt 2 Spiegel 9 Abbildungsoptik 3 Beleuchtungsoptik 10 Bildebene/Bildsensor 4 Beleuchtungsrichtung Bild 4 Prinzipieller op
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