SJ 20884-2003 相控阵天线测试方法.pdf

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1、2004-03-01实施SJ 20884 2003 批准用中华人民共和国信息产业部法Testing method for phased缸rayantenna民共和国电2003-12-15发布FL 5800 SJ 20884-2003 k 古目本标准由信息产业部电子第四研究所归口.本标准起草单位g中国电子科技集团公司第十四研究所。本标准主要起草人z束成荣、孙兆军、何炳发。前2 相控阵天线测试方法范围本标准规定了相控阵天线方向图、增益等本标准适用于相控阵天线的测试。引用文件测试方法和测试步骤.SJ 20884 2003 下列文件中的有关条款通过引用而成为本标准的条款。凡注目期或版次的引用文件，其后

2、的任何修改单(不包括勘误的内容或修订版本都不适用于本标准，但提倡使用本标准的各方探讨使用其最新版本的可能性.凡不注日期或版次的引用文件，其最新版本适用于本标准.3 GB 3784 霄达名词术语GJB74A军用地面雷达通用规范GJB 3262 雷达天线分系统性能测试方法GJB 3310 雷达天线分系统性能测试方法术语和定义增益方向图GB3784、GJB74A、GJB3262、GJB3310确立的以及下列术语和l定义适用于本标准.3. 1 有源相控阵天线active phased array antenna 由天线辐射单元(或子阵)与发射功率放大器、低噪声接收放大器TIR模块)和移相器等有源部件所

3、构成的相控阵列天线。3.2 元源相控阵天线passive phased array antenna 白天线辐射单元(或子阵)与无源(或光学)馈电网络和移相器等部件所构成的相控阵列天线.3.3 多波宋阵51J天线multi-beam array antenna 利用波束形成网络，在空间不同方向同时并独立地形成多个波束的阵列天线.3.4子陈sub array 阵列天线孔径如分成若干个较小的阵列，这样的小阵列称为子阵。3.5 自IJ瓣电平sideJobe JeveJ 副瓣最大值相对于主瓣最大值的比值。1 -二3.6 远区副瓣remote sidelobe 方向图中离主瓣较远的指定角域内的副瓣，也称为

4、宽角副瓣。3. 7 和方向图sum pattern 即天线方向图.是天线辐射特性(功率通量密度、场强、相位和极化)作为空间坐标函数的图形表巧王.3.8 差方向图difference pattern 由单个低电平零值分隔的一对反相主瓣和一簇副瓣表征的辐射方向图。3. 9 零值深度nu 11 depth 差方向图零值位置电平与其较大一个主瓣电平的比值。3. 10 零值飘移drift of nul 1 position 差方向图零值位置因工作频率等因素产生的偏移。3. 11 差斜率sl。口eof difference pattern 差方向阁零值位置附近的值对角度的变化率。SJ 20884-2003

5、 3. 12极化polarization在垂直于传播方向的平面内，电场矢量端点随时间变化的轨迹。3. 13 线极化linear polarization 电场矢量端点随时间变化的轨迹为直线时称为线极化。3. 14 困极化circular polarization 电场矢量端点随时间变化的轨迹为团时称为困极化。子的拇指顺着泼的传播方向，若左(右)手的四个手指与合成电场矢量的旋向吻合，就是左(右)旋圆极化。3. 15轴比axisratio 电场矢量端点随时间变化的轨迹为椭圆时，3.16 交叉极化cross polarization 的长轴与短轴之比。在一个含有参考极化椭圆的指定平面内，与参考极化正

6、交的极化。3. 17功率容量power carrying capacity 在规定条件下天线正常工作时所能承受的最大功率。3. 18 扫描范围scan coverage 保证方向图性能的波束最大值在空间扫括的角域。3. 19 阵中单元方向图element pattern in an aray 阵列天线中的单个辐射单元在其它辐射单元端接匹配负载时所辐射的方向3.20 电压驻波比voltagestanding wave ratio 指定测试端口的电压最大值与最小值之比。3.21 电轴electronic boresight 天线的和方向图最大值方向。通常采用3dB、-lOdB、-20dB点的平均值

7、作为电轴方向.单脉冲体制的天线电轴为该天线差方向图的零值方向。3.22 天线罩功率传输系数power transmitted factor of radome 电磁波通过天线罩后的功率与该电磁波入射到天线罩上的功率之比。3.23 天线罩波束瞄准误差boresight error of radome 天线辐射同样电磁波在有、无天线罩时电轴之间的角偏差。3.24 天线罩方向图畸变pattern distortion from radome 因天线罩影响造成的较之无天线罩时原天线的方向图变化的现象。3.25 天线测试场antenna measurement range 具有测试天线辐射特性所需的专用

8、设各和满足天线测试要求的场地。3.26 自由空间测试*wfree space measurement range 周围环域的影响小到容许天线测试的天线测试场。3.27等高架测试场equal high placed measurement range 被测天线和辅助天线架设在同一高度的自由空间测试场。3.28 斜式测试场slant measurement range 被测天线和辅助天线架设在不同高度的自由空间测试场。3.29 近场测试near field measurement 用特性己知的探头在距离天线口径3-10个波长的某一个表面上进行采样，得到天线口径幅相分布，获得天线性能的测试。3.30

9、微波暗室anechoic chamber 在特定的频段内，内jlN壁能充分吸收散射回波，形成准自由空间场条件而特殊设计的房室。3.31 缩距场测试compactrange measurement 用聚柬器件在较短距离上产生一个均匀照射被测天线 2 SJ 20884-2003 -般试验要求4 4. 1 测试中使用的常用坐标系如图I所示。4.2测试设备的精度应优于被测参数允许误差的二分之一。所有仪表设备都应在计量检定的有效期内.4. 3 测试线极化天线主极化方向图时，辅助天线的极化应和被测天线的极化相同t测试交叉极化方向图时，辅助天线的极化应和被测天线的极化正交。4.4 避免或尽量减少外界电磁干扰

10、(银河系辐射、大气静电干扰、地球热辐射以及人为机电干扰等对测试的影响。4.5 被测天线、测试仪表和l设各应良好接地，严格按照规程操作。4. 6 高功率测试时，要确保环挠(包括暗宝吸波材料)、仪表、设备和l人员的安全。4. 7 测试在夭线王作!带内的高、中、低三个频点或技术条件规定的频点进行。z y (1 =叹，.90 , , , , , , , , , , , 二=X叫司av o o =900 270 o = 180 常用坐标系图1试验方法5 5. 1 方向图测试l广啼，相控阵天线方向图测试有下列四种方法:二a) 等高架远场测试:b) 斜式远场测试:c) 近场测试:d) 缩MIi:场测试。其中

11、a)、b)、d)可获得被测天线在转台旋转平面内的方向图，。可获得被测天线全空域方向臼信息。四种方法等同有效，应根据被视l天线的工作频率、类型、尺寸以及测试设备进行具体选驭。5. 1. 1 等高架远场测试5 1. 1. 1 几何关系几何关系如图2所示。3 被测天线一一丁且|-i 轴助天线SJ 20884 2003 / J / / / / J / , / J J /PI J / / / / / / Illi-(yl z h一一检测天线或辅助天线的相位中心高度.D一一被世天线口径(等效口径的最大线尺寸:R一一-被测天线和辅助天线相位中心之间的水平距离.图2等高架远场那IJ试几何关系5.1.1.2环境

12、要求测试地面应平坦(由于地面不平而引起的误差应在允许的范围内)。可采取下述措施抑制地面及周影响:a) 选择方向图合适的辅助天线:b) 排除测试区域内的有害障碍物:c) 将照射到无法移开的障碍物土的能量改变方向或吸收(设置金属反射屏或吸波材料): 0 采用特殊的信号处理技术(如对所需要的信号加调制标记或使用时域方法)。5. 1.1. 3 测试lk黯测试距离按公式(1 )计算:w-A 式中zR一一被测天线和辅助天线相位中心之间的水平距离，m; k一一根据天线副瓣电平等性能指标及具体测试精度要求而定的系数，K二ELD一一被测天线口径(等效口径)的最大线尺寸，m; -一-工作频带内最短王作波长，m,

13、5. 1. 1. 4被)j!lJ天线和辅助天线的架设高度被扭lJ天线和辅助天线的架设高度一般应满足公式。或公式(3)的要求:位于t叫EF)HH-HH-.，. . h;:4Dt ,. . . ., (3) 式中zh-一-被测天线和辅助天线的架设高度.m; 1-一被测天线垂直面口径尺寸，m; B阶-一辅助天线垂直面零功率点波束宽度，。:-一工作频带内最短工作波长，m, 5, 1. 1. 5 发射方向图和接收方向图的测试系统框图分别如图3和图4所示.如果相控阵夭线发射支路中的移相器和其它元器件都是互易的，则可只测接收方向图。4 SJ 20884 2003 计算机波控装置!二-一一-7广一-南去17;

14、国毕li 巴罕到l| 阳军百军1i | 接口II !陪苟!lX1,1 t _t1 I ，1百J百几J王三:r?|计算机1;占h:训，;，IIl计算机Ii U主立JL.!且且啤里U!;四里坐J.，旦旦华.JI 田。发射方向图泯IJ式怪图测射线被发天一轴助天线计算机波控装置测射线被发天厂二二二二_.-二五二_._._._寸_._.，l阳步信号I. I转台及i I接口同步系统l l 调制i l旦旦4, l 接收机或功率计轴助天线ND -一制制一一调刷一句?一源一-一一刷一，rinHVEBIll-E- -一借一一团一-图4接收方向图测，!啊?5.1. 1. 6 测试方法相控阵天线远场方向图的测试通常在

15、水平面和垂直面两个相互正交的主平面内进行.测试接收方向图时，首先使被测天线与辅助天线极化-致并使被测天线的电轴对准辅助天线。固定天线方位，转动天线俯仰，测试系统画出俯仰方向图三再将被测天线的电轴对l!E辅助天线，固定天线俯仰，转动天线方位，测试系统画出方位方向民w J 测试发射方向图时，被测相控阵天线发射信号，测试系统从辅助天线接收信号。使被测天线与辅助天线极化一致并使被测天线的电轴对准辅助天线。固定天线方位，转动天线俯仰，测试系统画出俯仰方向图。再将被测天线的电轴对准辅助天线，固定天线俯仰，转动天线方位，测试系统画出方位方向图.利用波控装置，完成被m天线主平面发射和接收扫描方向图的测试。5.

16、 1. 2 斜式远w测试5. 1. 2.1 几何关系斜式远场测试的几何关系如图5所示.一般辅助天线架设在高处，被测天线及转台架设在地面上.转台适当倾斜，使得自E切割天线主平面。5. 1. 2. 2 环境要求同5.1.1.2.5. 1. 2. 3 被测天线与辅助天线的斜:被抓l天线与辅助天线之间的斜距R应满足公式(1 )的要求。一5 一SJ 20884-2003 被测天线B h-一被测天线相位中心高度，H-一辅助天线相位中心高度:中R一一被测夭线与辅助天线相位中心之间的斜距:R一一被测天线与辅助天线相位中心之间的水平距窝:R -一被测天线与辅助天线相位中心之间的连线与水平面之间的夹角:1fI-一

17、地面几何反射点A和辅助天线相位中心之间的连线与水平面之间的夹角.图5斜式远场测试几何关系5.1.2.4斜式远场测试反射点位置zl 斜式远场测试时，辅助天线垂直面方向图的第一零点应指向地面几何反射点A。在点A处应铺设面积适当的吸波材料或反射屏。点A与被测天线的水平距离按公式(4)计算式中zBA = h R H . . . . . . (4) k斗目BA一一地面儿何反射点A与被测天线的水平距离，m:h一一被狈q天线相位中心高度，m; R一一被测天线与辅助天线之间的水平距离Im: H-一辅助天线相位中心高度.m. 5. 1. 2. 5 j9!1式系町叶山同图3和图4.5. 1. 2. 6 l!1式方

18、法同5.1.1.6.5.1.3近场测试近场测试分为平面近场、柱面近场和球面近场扭q试。本标准适用平面近场测试。5. 1. 3. 1 环境要求近场测试应在微波暗室进行。测试高功率发射方向图时，日击室的吸汲材料和设备耐功率应符合功率容量要求，测试仪表和参试人员应有可靠的安全防护措施。5. 1. 3. 2探头要求6 近场测试时，探头应满足za) 探头及连接装置引起的场失真应在测试精度允许的范围内:b) 探头是低散射的:c) 采样间隔应小于半波长。对窄波柬天线，如果只要计算一个小角域内的方向图，采样间隔可以增大至接近半波长。对宽波束天线，取样间隔应比半波长小得多:d) e) 探头到阵列单元的距离d一般

19、为3IO个波长;探头在天线口径切向移动范围应满足公式(5)要求s一SJ 20884-2003 L?:D+2dt皿. (5) 式中:L-一探头在天线口径切向移动范围，m; D一一被天线口径，m; d一一辅助天线口径，m; 21一一可信角域，。探头对天线口径法向与切向位置误差A凡、，jRx、y应分别小于天线阵面平整度的山，当d小于D/12时，t. Rz. t. Rx. y分别按公式(6)和公式(7)计算2(d . ，运-=1.:. 1 . . (6) ，.5Dj阳变飞.，_，R、v乒运土f豆引且.H. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

20、. . . . . 门. 10 D 式中:A几一-探头对天线口径法向位置误差，m; d一一探头与阵面之间的距离，m; -一工作频带内最短工作波长，m; D-一被测天线口径(等效口径)的是大几何尺寸，m:A几y一一探头对天线口径切向位置误差，m. 5. 1. 3. 3 系统框图接收方向图和发射方向图测试系统框图分别如图6和图7所示.计算机波控装置被测天线头探信号源采样装置幅相接收机计算机测试软件参考信号近场jJ!1飞飞计算机波控装置户被测天线头探选通控制计算机幅相接收机来样装置测试软件近场测试发射方向图7参考信号5. 1. 3. 4 测试方法测试接收方向图时，按图6连接设备。利用波控装宜，设置天

21、线扫描角。移动探头，采集天线口径场幅相分布，通过经确认的近一远场变换，获得天线在该扫描角的远场接收方向图及相关参数(波束指7 SJ 20884 2003 向、波束宽度、副瓣电平、增益、差方向图零深、差方向图分离角、差斜率等)。测试发射方向图时，按图7连接设备.利用波控装置，设置天线扫描角。移动探头，采集天线口径场幅相分布，通过经确认的近-远场变换，获得天线在该扫描角的远场发射方向图及相关参数(波束指向、波束宽度、副瓣电平、增益等) 5. 1. 4 缩g场测试缩RI!场测试通常在微波暗室进行。被测天线宏装于H音室的静区处，接收来自波源天线的平面波照射。5. 1. 4. 1 测试示意图缩距场测试示

22、意图如图8所示.波源天线惯源吸波材料被测天线吸波材料国8被)l!IJ天线位置放在缩I!场的有效工作区内.5. 1. 4.3 被i则天线口径尺寸被测天线口径应小于波源天线形成均匀平面波口径的三分之一。5. 1. 4. 4 )l!IJ式方法同5.1.1.6.5.2 增益测试相控阵天线增益测试有等高架远场测试、斜式远场测试、缩距场测试和近场测试等四种方法。四种方法等问有效，应根据被测天线的工作频率、类型、尺寸以及测试设备进行具体选取，一般应选择与方向图测试相同的测试方法。相控阵天线增益通常采用比较法在接收状态测试，即在相同测试条件下，把接收状态的被测天线与标准增益天线两者增益进行比较.标准增益夭线的

23、选用与被测天线两者的增益差应小于20dB.两者与测试传输线具有相近的阻抗匹配.5. 2. 1 等高架远场测试5. 2. 1. 1 几何关系同图2.5. 2. 1. 2环境要求同5.1.1.2。5.2. 1. 3 测试距离同5.1.1.3 5.2. 1. 4 被加l天线和辅助天线架设高度同5.1.1.4.5. 2. 1. 5 测试方法5. 2. 1. 5. 1 线极化天线增益测试a) 测试框一一一一5.1.4.2 8 一一9 式中zG一一被测天线增益.dB; Gs-一标准增益天线增益.dB; 11一一被割天线接收功率算术平均值，W:写一一标准增益天线接收功率算术平均值，W; G，-一接收迢迢中有

24、源器件总增益.dB; L，一一接收通道总指损.dB. 若测试场地存在反射，需对主进行如下修正2将标准培益天线以原架设高度为中心，保持电轴对准辅助天线，连续改变架设高度h.记录如图10所示的接收信号.写的修正值为瓦按公式(9)计算z.= (l+兀)/2. . . (9) SJ 20884 2003 线极化天线培益测试框图测试步骤如下:f 闻、1) 按图9连接仪表、被测天线和辅助天线:2) 调整被测天线和辅助天线，保证两者电轴相互对准，极化取向一致:3) 信号源输出稳定后，测出被测天线的接收功率Pn4) 保持测试条件不变，用标准增益天线替换被测天线，调整标准增益天线和辅助天线，保证两者电轴相互对准

25、，极化取向一致，坝出标准增益天线接收功率Ps;重复步骤3)和4).操作3-5次，得到算术平均值Fr和Fs:按公式(8)计算出被测天线增益zG =G, +10 Ig (茸/R)-(GrFLF)-HH-HH-u. . (8) PS 信号源标准增益天线接收功率随架设高度变化曲线辅助天线式中zRt一一标准增益天线高度改变时，接收功率最大值的平均值，W:1:2一一-标准增益天线高度改变时，接收功率最小值的平均值，w. F百被测天线准益线标增天写三图910 h 。因极化7) 5) 6) 5. 2. 1. 5_ 2 b) 用圆极化标准增益天线进行测试用旋向相同的困极化标准增益天线进行测试时，测试框图用图9，

26、测试步骤同5.2.1.5.1b) : 用两个线极化增益分量合成测试z在无法获得纯圆极化标准增益天线时，可采用两个线极化增益分量合成的方法进行测试。用两个线极化增益分量合成的方法进行测试时，测试框图同图9，测试步骤如下:1) 将线极化标准增益天线和辅助天线都调整到垂直极化状态，按5.2.1.5.1b)测出G的垂直分量增益Grv:将线极化标准增益天线和辅助天线都调整到水平极化状态，孩5.2.1.5.1b)测出G的水平分量增益OTH:按公式(10)求出被测天线的圆极化增益:G=101g (10G. 1I0+10GTff II0) -(O, -L,) . . . . . (10) 测试步骤:1) 按5

27、.2.1.5.1或5.2.1.5.2所述的方法测出天线法向最大接收功率Po和增益值00:2) 保持测试条件不变，调整扫描状态，转动被则天线，使方向图扫描的最大值方向(命，向)对准辅助天线，读出接收功率p(码，伪); 重复1)、2)步骤3-5次，并计算其平均值11和p(饨，伊。); 按公式(11 )计算方向图扫描状态下的天线增益值2G俑，仿)= 00+ 101g( P (8百JF，)-(G，- L,) . .( 11 ) 信号源辅助天线式中zo (命，何)一一被测天线扫描状态增益.dB; GO一一被测天线法向增益，dB; p(矶，伊。)一一被测天线扫描状态功率算术平均值，W; 再一被测天线法向功

28、率算术平均值，W; 0，一接收迢迢中有源器件总增益.dB; L，一一接收通道总插损.dB。ltFftjfittxttl 被测天线式中zG一一被测天线增益，dB: Orv一一被测天线垂直分量增益.dB: OTH-一一被测天线水平分量增益，dB: 0，-一-接收通道中有源器件总增益.dB: L，一一接收通过总插损，dB. 5. 2. 1. 5. 3 天线扫描状态下培益测试a) 测试框图如图11所示g波控装置 图11接收机计算机SJ 2088牛-20032) 3) 3) 4) b) b) a) 10 5. 2. 1. 5. 4 多波束天线各波束增益测试a) 测试框图同图9;的测试步骤t1) 按5.2

29、.1.5.1或5.2.1.5.2所述方法测出第一波束的接收功率P，和增益值G，;SJ 20884 2003 2) 保持测试条件不变，改变到第;j(j=2、3、4. )个波束上，测出第j个波束的功率马:3) 重复1)、2)步骤3-5次，并计算出其平均值哥和骂:4) 技公式(12)计算第j个汲束的增益值:Gj =G, + 101g(乓/写)-(G，-L,) . . . . (12) 式中zEE一一被测多波束天线第j波束的增益值，dB;叩町hkhG，一一被割多波束天线第1波束的增益值.dB; 骂一被测多汲束天线到汲束接收功率的算术平均值，W; R一被测多波束天线第1波束接收功率的算术平均值W; G，

30、一-接收迢迢中有源器件总增益.dB; L，一接收迢迢总插损.dB. 5.2.2斜式远场测试5.2.2.1 几何关系同图5.5.2.2.2环境要求同5.1.1.2.5.2.2.3 被测天线和辅助天线斜l!:同5.1.2.3，5.2.2.4 测试方法5.2.2.4.1 线极化天线增益测试的测试框图同图9，b) 测试步骤同5.2.1.5.1b), 5.2.2.4.2 困极化天线增益测试a) 用圆极化标准增益天线进行测试，b) 用两个线极化增益分量合成测试，5.2.2.4.3 天线扫描状态下增益测试a) 测试框图同图11; b) 测试步骤同5.2.1.5.3b)。5.2.2.4.4 多波束天线各波束增

31、益汲IJt式a) 测试框图同图9;b) 测试步骤同5.2.1.5.4b). 5.2.3近场测试5.2.3.1 环境要求同5.1.3.1.5.2.3.2 系统框图同图VTH凶I, 5.2.3.3 测试方法同5.2.1.5.2a); 同5.2.1.5.2b) , 同5.1.3.4，测出天线口径上的幅度和相位分布，5.2.4缩距场测试获得增益.11 5.3.2测试步骤a) 按图12连接测试设备和被测天线，被调l天线周围必须无遮挡，或置于微波暗宝:b) 按天线工作频带调整网络分析仪的频率范围:c) 分别对仪表进行(开路、短路和标准负载校准:d) 连接被测天线，利用波控装置，设定扫描角，进行扫频或点频电

32、压驻波比测试;e) 打印测试结果.5.4功率容量测试5.4. 1 测试要求测试前应仔细清洁天线系统，清除可能存在的毛束IJ、脏物、金属碎屑、水膜、锈蚀物等。5.4.2 对天线系统加上产品规范所要求的功率，在规定时间内监视关键部位的温升和发生的击穿和电晕等现象，监测产生击穿、打火现象时所加的功率电平.温升可用热电偶或涂贴在关键部位表面上的温度敏感器测试。击穿可通过外部观察或检测监视器信号的变化.5.5 天线罩特性测试天线罩特性包括天线加罩后功率传输系数、波束宽度、最大副瓣电平、波柬瞄准误差、零值深度、交叉极化电平以及电压驻波比等参数.天线罩特性的测试通常采用比较法，即比较有罩和无罩时，上述电气参

33、数的变化.5. 5. 1 天线罩特性的测试场通常采用等高架测试场或斜式测试场，5. 5. 2 jj!I式方法5.5.2.1 功率传输系数a) 按测试框图连接仪表设备，无罩时测出某一状态(频率、扫描角)接收端收到的方向图峰值功率Po;加入天线罩，以下述方法测试与a)相同的参数PS:波控装置计算机同图3和天线输入电压驻波比测试框图被测天线5.2.4.2 被jj!IJ天线位置同5.1.4.2.5.2.4.3 被到j夫线口径尺寸同5.1.4.3.5. 2. 4. 4 jj!IJ试方法同5.2.1.5.5.3 电压驻波比测试在指定的通道端口或产品规范规定的端口进行.5. 3. 1 2目l测试框图如图12

34、所示。图12矢量网络分析仪或标量网络分析仪缩E场j9!IJ试示意图SJ 20884 2003 5.2.4.1 b) 12 SJ 20884-2003 对于球形天线罩，在方位上转动间隔为20-40的三个角度位置，每个位置测试离、中、低三个频点，每个频点在方位上各扫五个波束位置;2) 对于平板形天线罩，汲束分别在方位扫描区域内等角域扫五个位置，每个位置测试高、中、低三个频点。按公式(13)计算出功率传输系数z|T|2Ef阳(式中2|2一一天线罩功率传输系数gPS一一加罩后天线罩接收端收到的17向图峪宦功率;LW;飞hp。一一无罩时天线罩接收端收到的方向图峰值功率，W 也可用插损表示天线罩的传输特性

35、，它与功率传输系数的关系技公式.(14)计算z毛f，JGloss=IOlE(|n2)山7hu-HH-飞. .,. (14) 式中zG/o:rj一一天线罩插损.dB 1712一一天线罩功率传输系数o-_ -r-、飞飞d) 测试过程较长时，应反复对Po进行监测，便于校准.1 TJ 5.5.2.2 波束宽度11 a) 无军时，即出某一状态(频率、扫描角)天线方向图的波束宽度Bo:irt i b) 有罩时，&以5.5.2.1b)方法测出与a)相同状态天线方向图的波束宽度平均值Bstc) 按公式(15)计算出波束宽度的变化ABW,r ; 甲:?1? 飞L-v4ABWA主1.100%.HH-1huin-i

36、HH-I5)也仇FEQ户个h式中.飞llBW一一波束宽度变化，egJ Bs一有罩时天线方向图的波束宽度平均值，门/r/JJ /-f Bo一一无章时天线对向图的波束宽度，./Jej/ d) 测试过程较长时，应Ef复对fo进行监测，便于校准。4川/?frf5，5.2.3最大副瓣电平飞函、f川句】二JTy/均无罩时，测出在某一状态频率、扫描品引买主的最关ilIJ那也平S乌:b) 有罩时，以5.5.2，1b)方法测出;与)吃相同状态天线的最大副瓣电平SLs:c) 按公式(16)计算出最大副瓣电平的变化l1SL:l1SLISLo-SLsl. (16) 式中tl1SL一一最大副瓣电平的变化l1SL.dB:

37、 SLo-一无罩时天线的最大副瓣电平.dB SLs一一有罩时天线的最大副瓣电平JdBo 5.5, 2.4 波束瞄准误差a) 无罩时，测出某一状态(频率、扫描角)天线方向图的波束最大点位置或零深位置Mo;b) 有罩时，以5.5.2.1b)方法测出与a)相同状态天线方向图的波束最大点位置或零深位置Msc) 按公式(17)计算出波束瞄准误差/dJ:!J. B= Ms-j.命. (17) 式中213 h一SJ 20884-2003 !iB一一波束瞄准误差，。:Ms一一有罩时天线方向图的波束最大点位置或零深位置，。:蝇一一无罩时天线方向图的波束最大点位置或零深位置，。5.5.2.5 零值深度a) 无罩时

38、，测出某一状态(频率、扫描角)天线的零值深度Po;b) 有罩时，以5.5.2.1b)方法测出与a)相同状态天线的零值深度PS:0 按公式(18)计算出零值深度的变化&1:&1 =1 Ps-Pol. . . (18) 式中z&1一一零值深度变化.dB: PS一一有罩时天线的零值深度dB: P。一一无罩时天线的零值深度.dB。5.5.2.6 困极化轴比a) 无罩时，测出某一状态(频率、扫描角)天线的圆极化轴bl:ARo:b) 有罩时，以5.5.2.1b)方法测出与a)相同状态天线的圆极化轴bl:ARc) 按公式(19)计算出困极化轴比的变化e:式中=e- e=巴c坐4100%HH-HHHH-HH-

39、HH-(19)ARo ARo一一无罩时天线的圆极化轴比:ARs一一有罩时天线的圆极化轴比.5.5.2.7 交叉极化电平a) 无罩时，测出某一状态频率、扫描角)天线波束最大值方向主极化的功率值Pm;b) 有罩时，以5.5.2.1b)方法测出与a)相同状态天线波束最大值方向交叉极化的功率Pdc) 按公式(20)计算出交叉极化电平SL，SLcr=10lg (PJPm) . . (20) 式中zSLcr一一交叉极化电平.dB: Pc一一有罩时天线波束最大值方向交叉极化的功率.W, Pm一一无罩时天线波束最大值方向主极化的功率值.W。5.5.2.8 电压驻波比a) 按图12连接仪表设备:b) 无罩时，测

40、出某一状态(频率、扫描角)天线的电压驻波比so:。有罩肘，以5.5.2.lb)方法测出与a)相同状态天线的电压驻波比ss:d) 按公式(21)计算出电压驻波比的变化Sv:IS. -Sol S., =巳二二二且.100%. .,. (21) , So 式中zSv一一电压驻波比的变化:&一一有罩时天线的电压驻波比:SO一一无罩时天线的电压驻波比.14 凹OON守。Nd中华人民共和国电子行业军用标准相控阵天线测试方法SJ 20884-2003 版刷行出印发* 中国电子技术标准化研究所中国电子技术标准化研究所中国电于技术标准化研究所电话，(010) 84029065 传真，(010) 64007812 地址:北京市安定门东大街1号邮编，1007 网址:阿wcesi 字数，34干字* -E 张印1/16 开本，880X 1230 2004年8月第一次印刷2004年8月第一版