SJ T 10567-1994 电子元器件详细规范 CC2型瓷介固定电容器评定水平E.pdf

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1、L 11 ，、口8J /T 10567- 94 口口口口Detail specification for electronic components fixed ceramic dieleclric capacitors , type CC2 Assessment level E 1994-08-08发布1994斗2-01实施中华人民共和国电子工业部发布, 中华人民共和国电子行业标准电子元器件详细规范CC2型瓷介固定电容器评定水平EDetait speciCication Cor electronic COmpftnents Cixed ceramic dielectric capacitor

2、s , type CC2 Assessment level E GB 5967 SJ /T 10567 94 代替SJ2390-83 本标准适用于CC2型固定怪介电容器t它是按照IEC384 8-1(1988)制定的。符合GB 2693 GB 5966 IEC 384 1 (1989月电子设备用固定电容器第一部分:总规范和IEC384 8(1988)士10%土lpFE12 士5%土o5pF 一-一.士2%土O.25pFE24 _. 土1%士O.lpF位:CR;:;:10pF(20pF以下)的士2%、土1%和C民10mm的电容器); C. 棚定电压电压为50V的电容器在标称电下面划一横线表示z定

3、电压为160V的电容器不进行标志;额定电压为250V的电容器在标称电容量上面划一横线表示;额定电压为500V的电容器在标称电容量上面划一表示Fd. 程度系数。1. 5. 2 包装标志电容器包装在包装盒内，每盒内只能装有同一品种，同一额定电压，同一温度系数，同一标柏:电容量和允许偏差的电容器。盒上贴有检验部门盖章的封条或标签，封条或标签上应标明ga. 制造厂商标;一4一SJ /T 10567 94 2 2. 1 程序2. 1. 1 鉴定批准程序应按GB5966第3.4条的规定。2. 1. 2 质量一致性检验的试验一览表表2)包括抽样、周期、严酷度和要求.GB 5966第3.5.1条包括了检验批的

4、构成。表2注:试验项目和性能要求的条款号是引自GB5966和本规植的第1章.检查水平和合格质量水平选自lEC410(SJ /Z9007)。在本表中P一周期(月), n一样本大tl，c一合格判定数(允许不合格品数), D一破坏性的sND一非破坏性的glL一俭查水平; _ . _ )IEC 410(SJ/Z9007) AQL一合格质量水平.1)介质材料的每一制造批已进行过相应的试验，本试验组可以省略.-5一SJ /T 10567 94 条款号和目D或阳击我一续一件条验试(见注AQL IL % (见注性能要求(见注见注A组检验逐批Al分4. 1外观检查ND S 4 1 2.5 4.1条.范1.5条规

5、尼按本规范表1和外形图的规定.4. 1尺寸(规检的)A2分组ND Il 1. 0 4.2.1电容量z按4.2.1条在允范围内测试电压z按4.2. 1条4.2.2损耗角正切频率和测试电压与4.2. 1 按4.2. 2. 2条条相同4.2.3绝缘电阻按4.2. 3条规定.按4.2. 3. 2条试验A4.2.4耐电压按4.2.4条定.|无击穿或飞弧试验AB组检验逐批Bl分组4. 6可焊性D S 3 1 2.5 不预先于燥焊槽法湿润引出端的焊料自由流动说明包锡良好.B2分组ID 川3温度系数和电容量循II预先干燥1川4手移多j)S 2 1 2. 5 t:.C/C按4.3条。试验条件条款号和试验项目性(

6、见注ND 见注见注)见注C 周期CIA分组Cl分组样品的一部分4. 1尺寸详细的)4.4引出端强度4. 5. 1初始测量4.5耐焊接热D 6 1 911 4.5.3最后测量外观检查电容量不预先干燥;再槽法，方法18浸溃时间为58.外观检查接本规范表1和外形图的定.无可见损伤无可见损伤标志清晰一6一SJ IT 10567 94 一续表2品数和合格l判定数(见注)性能要求条款号和自、，一注一见r飞F?量?容-吧。或阳一见注n c (见注flC/C按4.5.3条CIB分组1 D 1 1 6 118 1 1 Cl分组样品的另4.川初始测量I I电容量4.7温度缺速噎化I I 8A:下限类别温度。8:上

7、限类别5次循环持续时间:t=30min恢复:24士2h外观橙查安装方法见本规范1.1无可见损伤4.8振动程序B4率范围:10-500Hz : Q. 75mm或加速度98m/s2，取较小者总持续时间:6h方向z相互垂直的三个方向外观检查安装方法见本规范1.1 次数:4000次加速度:390m/52 脉冲持续时间:6mS方向2相互垂直的三个方向外观检查电容量4.8.2中间检查4. 9碰撞无可见损伤4. 9. 3最后检密和测量无可见损伤标志清晰.c/C按4.10. 3条Cl分组CIA和CIB分组样品的总和4.11气候顺序4. 11. 2干热D 6 I 27 I 2 z上限类别温度持续时间:l6h4.

8、 11. 3循环湿热，Db，第一个循环4. 11. 4寒冷4. 11. 5低气压温度g下限类别温度持续时间:2h 外观检查气压:8.5kpa(85mbar)无可见损伤一7一SJ/T 10567 94 见注D或阳表一续一件条验试f见注品数和合格判定数见注)性能要求条款号和试验项目(见注n I C 4. 11. 5. 3中量!无击穿或飞弧4. 11. 6 热.恢复，6-24hDb. 环按适用4. 11. 6. 3最后量外观检查无可见损伤标志清晰电容量t:.c/c按4.11. 6. 3条角正切按4.11. 6. 3条电阻按4.11. 6. 3条C2分组I D I I 6 I 15 I 1 4.12

9、稳态4. 12. 1 初始测量l电容量恢复，6-24h4. 12. 5 最后测量|外观检查无可见损伤标志晰电容量t:.c/c按4.12. 5条损耗角正切按4.12.5条电阻按4.12. 5条C3分组D I 3 I 15 I 1 4.13 耐久性持续时, 1000h 4.13.1 初始量电容量恢复，24土2h4. 13. 4检查、量|外观检查无可见损伤标志清晰电容量t:.c/c按4.13.4条损耗角正切按4.13.4条绝电按4.13.4条C4分组4. 3温度系数和循环漂移D 12 I 9 I 1 条件:预先干燥16-24ht:.c/c按4.3.3条附加说明:本标准由电子工业部标准化研究所归口。本特准由电子工业部际准化研究所起干。本蝇范主要起草:霍光张昌仁张榴帧本规范于1983年11月25日首次发布.1994年8月第一次修订。-8一