JB T 3890-2008 碳化硅特种制品.硅碳棒.pdf
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1、ICS 25 10070J43备案号:24639 2008 J雷中华人民共和国机械行业标准JBT 389D一2008代替JBT 3890-1999碳化硅特种制品硅碳棒Special products of silicon carbide-Silicon carbide heating elements20080604发布 20081 101实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布目 次前言1范围。2规范性引用文件3产品分类4技术要求5试验方法51外观检验52尺寸偏差。53形位公差54电气性能。55发热部表面发热温度偏差56发热部体积密度57抗折强度58化学成分:6检验规则一61出厂检验62型
2、式检验7标志和包装图1抚折强度试验示意图附录A(规范性附录)等直径硅碳棒系列规格尺寸附录B(规范性附录)粗端硅碳棒系列规格尺寸附录C(资料性附录)硅碳棒常用电阻范围JJJ4jjjj石石一一一一舟一9nB刖 置本标准代替JBT 389t)-1999硅碳棒。本标准与m,r 3890-1999相比,主要变化如下:对产品进行了重新命名(JBT3890-1999的31;本标准的31);增列了GC、GD Ib、GDII-c、GDII-d、GDIII型硅碳棒(本标准的31)将JB,r 3890-1999中的外径极限偏差由外径一20ram两档调整为14ram、14ram35mm四档(JBfr 389(-199
3、9的421;本标准的421);删除了冷端部极限偏差要求(JB,rr 3890-1999的422;本标准的422);将分支间中心距由形位公差修改为尺寸极限偏差,并将偏差值由+5mm调整为+4mm(JBtr3890-1999的424;本标准的423):将“弯曲度”改为“直线度”(JBT 3890-1999的423、55;本标准的431、524);将U型硅碳棒分支间平行度公差修改为平面度公差,并将公差由10mm调整为5mm。(JBT 38901999的424;本标准的432);增加了I型硅碳棒平面度公差的要求(本标准的432)及发热部与冷端部单位长度电阻比要求(本标准的442);修改了标称电阻值的极
4、限偏差,将偏差值由15调整为标称电阻值2Q时偏差为02O、标称电阻值35 15422长度尺寸极限偏差应符合表3规定。表3单位:mill类 别 极限偏差1000 5发热部l1000 8其他长度b、13、4 31600 lO全 长1600 15423分支闻中心距偏差应不大于_+4ram。43形位公差:431 直线度:硅碳棒直线度公差为总长度的03。432平面度:II型硅碳棒平面度公差为5mm;HI型硅碳棒平面度公差为4mm。44电气性能:441标称电阻值允许偏差应符合表4规定。表4单位:nI 电阻分类 标称电阻值允许偏差l 2 O20铂 015442发热部与冷端部单位长度电阻比应符合表5规定。表5
5、产品类别 发热部与冷端部单位长度电阻比GDI、GDII、GcI 12:1GCI、GCII 5:lGD III 15:145发热部表面发热温度偏差445 1 发热部表面发热温度偏差应符合表6规定。表6温度偏差发热部长度范围 发热部向冷端部温度递降mm 尺寸与其标称直径的比例高温均温区沿长度任意两点间 同一圆周上f500 505001500 80452 GD Ib型、II型、I型硅碳棒各发热部表面发热温度偏差应不大于150。C。46物理性能:461体积密度发热部体积密度应不小于2359cm3。462抗折强度发热部常温抗折强度应不小于400MPa。47化学成分:未经特殊处理的发热部碳化硅含量应不小于
6、985。5试验方法51外观检验目测。52尺寸偏差521 外径:用分度值为002ram的游标卡尺检测。522长度:用分度值为05mm的钢卷尺或直尺检测。523分支间中心距:用分度值为05mm的钢卷尺、直尺或用分度值为002ram的游标卡尺测量各分支间内侧或外侧距、分支直径。分支间的中心距为分支间内侧距与分支直径之和或分支间外侧距与分支直径之差。53形位公差531直线度:5311主要工器具:a)检验平台;b)V形支架;c)分度值为002mm的高度尺。5312试验方法:a)将两个相同高度的V形支架置于检验平台上,根据被检棒的长度调整两支架间的距离,该距离应大于被检产品全长的98。b)将被检产品的两端
7、置于两支架的V形槽内,使最大弯曲点向下与平台距离最小,用高度尺测量最大弯曲凹面至平台间的高度值日。,然后将棒体旋转180。,使最大弯曲点向上与平台距离最大,在同一位置用同样的方法测量最大弯曲凸面至平台问的高度值趣,根据式(1)计算出直线度。壮丝2=里!100(1)式中:6直线度;啦最大弯曲点向上时的高度值,单位为mill;日t最大弯瞳点向下时的高度值,单位为mm;两支点间的距离,单位为帆。532平面度:把II型或I型硅碳棒置于检验平台上,将其中一侧分支紧贴于平面上,用塞规或塞尺测其另外分支与平面之间的最大间隙。54电气性能541主要设备及技术要求a)调压器:容量视硅碳棒规格不同选定;b)电压表
8、:0450V,精度为05级;c)电流表:0300A,精度为05级;d)电流互感器:300:5精度为05级;e)光学高温计或远红外测温仪:精度为10级。542检验方法5421标称电阻值54211将I型或II型硅碳棒水平放置于两电极之间,接通电源,调整电压,待发热部表面温度达到1050。C50后,稳定电压、电流,根据欧姆定律计算各支棒的标称电阻。硅碳棒常用电阻范围参见附录C。5421_2将I型硅碳棒水平放置于检验台上,接入三相电源,各相分别接入一块电流表,线间接人电压表,通电后,调整电压,待发热部表面温度达到1050C50后,稳定线电压(线电压=5相电压)、相电流,将线电压换算为相电压,根据欧姆定
9、律计算各分支电阻值,标定电阻(亦可标定为电压和电流值)。542-2发热部与冷端部单位长度电阻比I型硅碳棒发热部与冷端部单位长度电阻比的测定与5321检验同时进行。待发热部表面温度达到1050。C+50。C后,用电压表分别测量发热部和整支棒的电压,并根据式(2)计算电阻比值。K:蔓!一(2) (v2一v0玛II型及I型硅碳棒发热部与冷端部单位长度电阻比的测定与5321同时进行。待发热部表面温度达到1050。C+50C后,用电压表分别测量各分支发热部和各分支的电压,并根据式(3)计算电阻比值。,一 Hl(v2一K)4式中:置、置发热部与冷端部单位长度电阻比:H发热部实测电压,单位为V;U整支棒实测
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