GB T 9258.3-2000 涂附磨具用磨料 粒度分析 第3部分;微粉P240～P2500粒度组成的测定.pdf

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1、GB/T 9258.3-2000 前言本标准等同采用国际标准ISO6344-3 ,J 998涂附磨具用磨料粒度分析第3部分微粉P240P2 500粒度组成的测定。本标准是对GB/T5344-1985普通磨料微粉粒度沉降管测定方法和GB/T925819881涂附磨具用磨料微粉粒度及其组成的修订。本次修订，增加了P1500，P2000和P2500三个粒度号，从而使标准内容更加完善E技术内容和编写规则与国际标准一致。GB/T 9258-2000在4涂附磨具用磨料粒度分析且标题下，包括以下三个部分.第1部分.粒度组成第2部分:粗磨粒P12-P220粒度组成的测定第3部分，微粉P240-P2500粒度组

2、成的测定本标准从生效之日起.同时代替GB/T5344-1985和GB/T9258-1988. 本标准的附录A是提示的附录。本标准由国家机械工业局提出。本标准由全国磨料磨具标准化技术委员会归口。本标准起草单位z郑州磨料磨具磨削研究所、七砂集团有限责任公司。本标准主要起草人，包华、傅凤理、向祖仁。11ll GB!T 9258.3-2000 ISO前言ISO(国际标准化组织)是由各国家标准团体(JSO成员团体)构成的世界范围的联合机构u国际标准的制定工作通常是通过IS0技术委员会进行的。对某一专业感兴趣的每一个成员团体有权参加该专业的技术委员会。与ISO有联军的政府或非政府性的国际组织也参加其工作o

3、IS0与国际电工委员会。EC)在所有的电工标准化方面有着紧密的联草。技术委员会采用的国际标准草案经成员团体投票。参加投票的成员团体至少75%同意，该标准才能作为国际标准出版a国际标准ISO6344-3是由ISO!TC29C小工具技术委员会)!SC5(磨料磨具分委员会)制定的。ISO 6344在4涂附磨具用磨料也度分析总标题下，包括以下兰个部分2一一第1部分粒度组成试验第2部分s粗磨粒P12P220粒度组成的测定一一第3部分g微粉P240P2500位度组成的测定lSO 6344本部分的附录A和B仅供参考。110 中华人民共和国国家标准涂附磨具用磨料粒度分析第3部分:微粉P240P2500粒度组成

4、的测定Coated abrasives-Grain size analysis Part 3:Determination of grain size distribotion 。fmicrogrits P240阳P2500GB/1 9258. 3 . 2000 idt ISO 6344-3, 1998 fl:替GB/T5344 - 198-5 GB!T 9258- 19R8 1 范围本标准规定了涂附磨具用刚玉和碳化硅磨料横粉P240-P2500粒度组成的测定或试验方法丰标准适用于制造涂附磨具的磨料和为试验目的从涂附磨具上回收的磨粮。2 引用标准下列标准所包含的条文，通过在丰标准中引用而构成为本

5、标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效，所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB!T 2481. 2-)998固结磨具用磨料粒度组成的检测和标记第2部分撇粉F230-F1200GB!T 4676-1984 普通磨料取样方法GB/T 9258. 1-2000除附磨具用磨料粒度分析第1部分:位度组成3 定义丰标准来用GB!T9258.12000中的定义。4 微粉P240-P1200粒度组成的测定4.1 总则微粉P240-P1200用沉降管粒度仪测定其粒度组成E沉降管位度仪见G/T2481. 2-1998 1 6.3, 粒度组成极限值见表l(与GBIT92.8

6、. )-2000中表2相同)。表1微粉P240-P1200的粒度组成国家质量技术监督局2000.02.18批准2000.06 01实施111 GB/T 9258.3-2000 表l(完)d.o值d值粮虚惊记最大最大m m P400 81 53.日P50b 77 48.3 P600 72 43.0 P800 67 38.1 PIOOO 63 33.7 P1200 58 29, 7 4.2 测定方法标记粒度组成1固定应指明所使用仪器，故测定方法应标记为4测定P微粉沉降管粒度议。4.3 测定步骤4.3.1 试样制备中值脏径d.l值d.o置最小m m 35.0士1.525.2 30.2士1.521.5

7、 25.8士1.018.0 21.8士1.。15.1 18.3土1.012.4 15.3:l:1. 0 10.2 按照GB/T4676取具有代表性试祥进行测定。测定前试样应加热至600.C土20.C至少保持10min 测定用试样量应保证其沉降后在收集管中达到2025格的沉降高度，对碳化硅约为1.6g，对刚玉约为2.2 g. 4.3.2试样分散将15mL沉降介质和待沉降试样倒入试管中，滴入三滴EDTA分散剂，摇动试管达到完全分散。并用超声波分散处理5min，以彻底消除团聚。磨料在沉降介质中保留至少30min.此期间用力摇动试管几次。试管中介质温度应与沉降管中介质温度相同E4.3.3 导入沉降管将

8、一合适漏斗放在沉降管上回用力摇动含有分散试样和沉降液的试管30，。随之将试管中的棍合物沿着漏斗斜壁倒入沉降管中回迅速拿掉漏斗，以防止沉降开始后残留物落入管中而影响测定结果。4. 3- 4 测量起始点倒入的同时开始计时。4. 3- 5 d的测定记录第一个颗粒到达收集管底部所用的时间，用mm表示，精确到0.01min。根据沉降时间计算其等效粒径。第一个颗粒的等效粒径称为d刊，即为试样的最大粒径。4.3.6粒度组成曲线测量值的记录观察沉降的颗粒，并按如下方式记录所用时间(单位ml，精确到0.01mino): 连续颗位流开始到达收集管底部(曲线的起始点);沉降颗粒柱到达收集管的每个刻度;沉降颗粒柱不再

9、上升曲线的终点)。可使用附录A(提示的附录)的表格形式记录。沉降期间，应轻敲收集管底部的橡皮塞，以使沉降柱的上表面平齐，便于准确读取沉降柱高度。但平得敲击收集管。沉降过程中，若观察到颗粒团聚或絮凝，则表明试样制备和分散不合适，应重新进行测定。4.4 评价112 GB!T 9258.3-2000 根据测量结果绘制粒度组成曲线。从曲线f读出d.3.d巾和d.因值，并与在1中的允许值比较。若d川d.Hd削和d响值均符合表1.国J试样符合本标准。由于测试技本差异，测量结果可以有偏差。表Z列出的检验测量结果的允许偏差，是根据IS()循环试验的标准偏差确定的。对于微粉产品，表1中的克许值应加上在2中的对应

10、偏差值。位度标记表2嗷粉P240P1200粒Ii!组成因测试技术差异的允许偏差d. m 允许偏差d协十1.5工1.5十1.5士1.0十1.5士0.85 徽粉P1500-P2500位度组成的测定5.1 总则1. 5 -1. 5 嗷粉P1500P250日的粒度组成，依据F微粉标准砂P1500、P20C和P2500用沉阵法测定。每份P徽粉标准砂均附有告格证，标明其d盼和d.切基准值。粒度组成极限值见茬3(与GBiT9258. )-2000中表3相同人5.2 测定方法标记粒度组成测定应指明所使用仪器，故测定方法应标记为测定一P微粉沉降骨粒度仪;测定f辙粉一光电沉降仪;二测定一F徽粉库尔特计数器E型及其

11、他。在3微粉P1500-P2500对应沉阵营粒度仪的粒度组成5.3 测定步骤用同一台仪器分别对试样和F微粉标准砂进行粒度组成测定。若用沉降管粒度仪，测定步骤阿4.3。若用其它仪器，应根据所用仪器的说明书进行测定。if!iF同类型仪器的樱度结果可能存在偏差。5.4 测定结果的计算测定完成后，应计算P徽粉标准彤、d.o和d5的基准值与测定值的差值，并将d刊的差值加到试样测寇的d.o值上，凹的差值分别加到试样测定的d、d明和d咐值上，从而得出试样的校正测定结果。累加时应注意正、负号。113 GB/T 9258.3 2000 具体方法如下计算F微粉标准砂合格证上标明的d.o值与测定的相应值之差。将此差

12、值加到试样测定的d.o值上，得出试样的d.o校正值;计算P微粉标准砂合格证上标明的民。值与测定的相应值之差5将此差值加到试样测定的d.3，d川和d.创值上，得出试样的d.d，和5校正值。校正后的测定结果与表3允许值进行比较.示例SiC-P2000的d.oo值F微粉标准砂z合格证k标明的仇。基准值10.0m 测定的d。值9.5m 差十0.5m-试样z测定的d刷值9.4m 加菜值+0.5严m试样的d刷楼正值9.9m 对照表3.此值在P20的d，so允许范围内。5.5评价若试样的d川d，nd，和d9;校正值符合表3.则其符合本标准。由于测试技术差异，测量结果可以有偏差。表4列出的检验测量结果的允许偏

13、也是根据ISO循环试验的标准偏差确定的。对于徽粉产品，表3中的允许值应加上表4中的对应允许偏差值。表4微粉P1500P2500粒度组成因测试技术差异的允许偏差(沉降管位度仪)6标记符合本标准要求的刚玉和碳化硅微粉的标记包括ga)磨料种类(名称或代号)，b)磨粒标记一由代表涂附磨具用磨料的字母.P后跟表征粒度的数码组成q示伊j严7标志吗包装用作涂附磨具的刚玉和碳化硅磨料时，应将磨粒标记如P800标志在每个最小的包装袋上。114 GB/T 9258.3-2000 附录A(提示的附录)P微粉利用沉降管粒度仪分析的记录表格曙料种类选样者:阻E选样日期l 2 3 4 r、沉降高度沉睡时间粒怪h 试样的体租分散d 备f主恪)mm m 第个沉降颗粒(d.)。连攫脑世撞开始到达属部1 卜一:f 4 5 6 一寸卜7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 卜2122 23 24 25 试验日期t试验员s1l:J