ISO 17294-1-2004 Water quality - Application of inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) - Part 1 General guidelines《水质 感应耦合等离子体质谱法(ICP-MS)的应用 第1部分.pdf
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1、 Numro de rfrence ISO 17294-1:2004(F) ISO 2004NORME INTERNATIONALE ISO 17294-1 Premire dition 2004-09-01 Version corrige 2005-03-01Qualit de leau Application de la spectromtrie de masse avec plasma couplage inductif (ICP-MS) Partie 1: Lignes directrices gnrales Water quality Application of inductive
2、ly coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) Part 1: General guidelines ISO 17294-1:2004(F) PDF Exonration de responsabilit Le prsent fichier PDF peut contenir des polices de caractres intgres. Conformment aux conditions de licence dAdobe, ce fichier peut tre imprim ou visualis, mais ne doit pas tre
3、 modifi moins que lordinateur employ cet effet ne bnficie dune licence autorisant lutilisation de ces polices et que celles-ci y soient installes. Lors du tlchargement de ce fichier, les parties concernes acceptent de fait la responsabilit de ne pas enfreindre les conditions de licence dAdobe. Le Se
4、crtariat central de lISO dcline toute responsabilit en la matire. Adobe est une marque dpose dAdobe Systems Incorporated. Les dtails relatifs aux produits logiciels utiliss pour la cration du prsent fichier PDF sont disponibles dans la rubrique General Info du fichier; les paramtres de cration PDF o
5、nt t optimiss pour limpression. Toutes les mesures ont t prises pour garantir lexploitation de ce fichier par les comits membres de lISO. Dans le cas peu probable o surviendrait un problme dutilisation, veuillez en informer le Secrtariat central ladresse donne ci-dessous. ISO 2004 Droits de reproduc
6、tion rservs. Sauf prescription diffrente, aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lISO ladresse ci-aprs ou du comit membre de lISO
7、dans le pays du demandeur. ISO copyright office Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Tel. + 41 22 749 01 11 Fax. + 41 22 749 09 47 E-mail copyrightiso.org Web www.iso.org Version franaise parue en 2005 Publi en Suisse ii ISO 2004 Tous droits rservsISO 17294-1:2004(F) ISO 2004 Tous droits rservs iiiSomm
8、aire Page Avant-propos. iv 1 Domaine dapplication 1 2 Rfrences normatives. 1 3 Termes et dfinitions 2 4 Principe 5 5 Appareillage. 5 6 Interfrences par des lments concomitants. 13 7 Rglage de lappareillage . 20 8 Mise au point de la mthode 22 9 Analyse. 28 Annexe A (informative) Interfrences isobari
9、ques, choix des isotopes et limites de dtection de la mthode pour les instruments dICP-MS quadripolaires 31 Bibliographie 36 ISO 17294-1:2004(F) iv ISO 2004 Tous droits rservsAvant-propos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisa
10、tion (comits membres de lISO). Llaboration des Normes internationales est en gnral confie aux comits techniques de lISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire partie du comit technique cr cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, e
11、n liaison avec lISO participent galement aux travaux. LISO collabore troitement avec la Commission lectrotechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation lectrotechnique. Les Normes internationales sont rdiges conformment aux rgles donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 2. La t
12、che principale des comits techniques est dlaborer les Normes internationales. Les projets de Normes internationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pour vote. Leur publication comme Normes internationales requiert lapprobation de 75 % au moins des comits membres votan
13、ts. Lattention est appele sur le fait que certains des lments du prsent document peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. LISO 17294-1 a
14、t labore par le comit technique ISO/TC 147, Qualit de leau, sous-comit SC 2, Mthodes physiques, chimiques et biochimiques. LISO 17294 comprend les parties suivantes, prsentes sous le titre gnral Qualit de leau Application de la spectromtrie de masse avec plasma couplage inductif (ICP-MS): Partie 1:
15、Lignes directrices gnrales Partie 2: Dosage de 62 lments La prsente version corrige de lISO 17294-1:2004 incorpore des corrections de symboles aux paragraphes 8.3 et 8.4 (lcart-type relatif s rel , au lieu de r ed ), ainsi quau paragraphe 9.2, ligne 6 (L DMau lieu de x DM ). Dautres corrections mine
16、ures dordre ditorial ont galement t faites dans les paragraphes 5.7.2 et 5.7.4. NORME INTERNATIONALE ISO 17294-1:2004(F) ISO 2004 Tous droits rservs 1Qualit de leau Application de la spectromtrie de masse avec plasma couplage inductif (ICP-MS) Partie 1: Lignes directrices gnrales 1 Domaine dapplicat
17、ion La prsente partie de lISO 17294 spcifie les principes de la spectromtrie de masse avec plasma couplage inductif (ICP-MS) et prsente les directives gnrales en vue de lutilisation de cette technique pour la dtermination dlments dans leau. En rgle gnrale, le mesurage est effectu dans leau, mais des
18、 gaz, des vapeurs ou de fines matires particulaires peuvent galement tre introduits. La prsente Norme internationale est axe sur lapplication de lICP-MS pour lanalyse de leau. La dtermination finale des lments est dcrite dans une Norme internationale distincte pour chaque srie dlments et de matrices
19、. Les parties individuelles de la prsente Norme internationale renvoient le lecteur ces lignes directrices en ce qui concerne les principes fondamentaux de la mthode et la configuration de linstrument. 2 Rfrences normatives Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du p
20、rsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document de rfrence sapplique (y compris les ventuels amendements). Guide ISO 30, Termes et dfinitions utiliss en rapport avec les matriaux de rfrence Guide ISO 32, talonnage en c
21、himie analytique et utilisation de matriaux de rfrence certifis Guide ISO 33, Utilisation des matriaux de rfrence certifis ISO 3534-1, Statistique Vocabulaire et symboles Partie 1: Probabilit et termes statistiques gnraux. ISO 3696:1987, Eau pour laboratoire usage analytique Spcification et mthodes
22、dessai ISO 5725-1, Exactitude (justesse et fidlit) des rsultats et mthodes de mesure Partie 1: Principes gnraux et dfinitions ISO 5725-2, Exactitude (justesse et fidlit) des rsultats et mthodes de mesure Partie 2: Mthode de base pour la dtermination de la rptabilit et de la reproductibilit dune mtho
23、de de mesure normalise ISO 6206, Produits chimiques usage industriel chantillonnage Vocabulaire ISO 6955, Mthodes danalyse par spectroscopie mission de flamme, absorption atomique et fluorescence atomique Vocabulaire ISO 17294-1:2004(F) 2 ISO 2004 Tous droits rservs3 Termes et dfinitions Pour les be
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