IEC 61788-2-2006 Superconductivity - Part 2 Critical current measurement - DC critical current of Nb3Sn composite superconductors《超导性.第2部分 临界电流测量.NbSn复合超导体的直流临界电流》.pdf

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1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61788-2Deuxime ditionSecond edition2006-11Supraconductivit Partie 2: Mesure du courant critique Courant critique continu des supraconducteurs composites Nb3Sn Superconductivity Part 2: Critical current measurement DC critical current of Nb3Sn composi

2、te superconductors Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 61788-2:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publication

3、s de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur l

4、es publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous

5、) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (ww

6、w.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherches textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont ga

7、lement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Servic

8、e client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service clients: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering

9、 As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, res

10、pectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content ref

11、lects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the tec

12、hnical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of crite

13、ria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpu

14、b) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02

15、 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 61788-2Deuxime ditionSecond edition2006-11Supraconductivit Partie 2: Mesure du courant critique Courant critique continu des supraconducteurs composites Nb3Sn Superconductivity Part 2: Critical current measurement DC critic

16、al current of Nb3Sn composite superconductors Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun

17、procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publi

18、sher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE W Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Comm

19、ission 2 61788-2 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS 6 INTRODUCTION.10 1 Domaine dapplication.12 2 Rfrences normatives .12 3 Termes et dfinitions 14 4 Principe 16 5 Exigences.16 6 Appareillage .18 6.1 Matriau du mandrin de raction18 6.2 Construction du mandrin de raction18 6.3 Matriaux du mandrin de mesu

20、rage .20 6.4 Construction du mandrin de mesurage.20 6.5 Ralisation des mesures20 7 Prparation du spcimen 20 7.1 Montage du spcimen pour le traitement thermique de raction .20 7.2 Traitement thermique de raction.22 7.3 Montage du spcimen pour la mesure22 7.4 Fixation du spcimen.22 8 Procdure de mesur

21、e .24 9 Justesse et prcision de la mthode dessai26 9.1 Courant critique .26 9.2 Temprature26 9.3 Champ magntique26 9.4 Structure de support du spcimen26 9.5 Protection du spcimen .26 10 Calcul des rsultats 28 10.1 Critres de courant critique28 10.2 Valeur n (calcul facultatif, se reporter A.7.2)30 1

22、1 Rapport dessai.30 11.1 Identification du spcimen dessai30 11.2 Compte rendu des valeurs Ic.30 11.3 Compte rendu des conditions dessai .32 Annexe A (informative) Informations supplmentaires relatives aux Articles 1 10 .34 Annexe B (informative) Effet de dformation des conducteurs Nb3Sn .58 Annexe C

23、 (informative) Effet du champ induit .62 Annexe D (normative) Mthode un mandrin .66 Bibliographie.72 61788-2 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.7 INTRODUCTION.11 1 Scope.13 2 Normative references .13 3 Terms and definitions .15 4 Principle .17 5 Requirements .17 6 Apparatus.19 6.1 Reaction mandrel materia

24、l.19 6.2 Reaction mandrel construction 19 6.3 Measurement mandrel material .21 6.4 Measurement mandrel construction .21 6.5 Measurement set up21 7 Specimen preparation.21 7.1 Specimen mounting for reaction heat treatment.21 7.2 Reaction heat treatment23 7.3 Specimen mounting for measurement23 7.4 Sp

25、ecimen bonding.23 8 Measurement procedure.25 9 Precision and accuracy of the test method27 9.1 Critical current.27 9.2 Temperature27 9.3 Magnetic field27 9.4 Specimen support structure.27 9.5 Specimen protection27 10 Calculation of results29 10.1 Critical current criteria .29 10.2 n-value (optional

26、calculation, refer to A.7.2) 31 11 Test report31 11.1 Identification of test specimen .31 11.2 Report of Icvalues 31 11.3 Report of test conditions33 Annex A (informative) Additional information relating to Clauses 1 to 1035 Annex B (informative) Strain effect of Nb3Sn conductors .59 Annex C (inform

27、ative) Self-field effect63 Annex D (normative) One-mandrel method 67 Bibliography73 4 61788-2 CEI:2006 Figure 1 Caractristique U-I intrinsque28 Figure 2 Caractristique U-I avec une composante de transfert de courant .28 Figure A.1 Instrumentation du spcimen avec une paire de prises de tension nulle

28、.44 Figure B.1 Variabilit du courant critique avec la dformation uniaxiale (traction) pour un fil composite Nb3Sn typique reprsente avec diffrents champs magntiques 60 Tableau A.1 Donnes concernant la contraction thermique des supraconducteurs Nb3Sn et matriaux choisis 56 61788-2 IEC:2006 5 Figure 1

29、 Intrinsic U-I characteristic 29 Figure 2 U-I characteristic with a current transfer component.29 Figure A.1 Instrumentation of specimen with a null voltage tap pair .45 Figure B.1 Uniaxial (tensile) strain dependence of critical current for a typical Nb3Sn composite wire shown with various magnetic

30、 fields 7 61 Table A.1 Thermal contraction data of Nb3Sn superconductor and selected materials .57 6 61788-2 CEI:2006 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE SUPRACONDUCTIVIT Partie 2: Mesure du courant critique Courant critique continu des supraconducteurs composites Nb3Sn AVANT-PROPOS 1) La Comm

31、ission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domai

32、nes de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms Publication(s) de la CEI). Leur laboration est confie

33、des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale

34、 de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de

35、 la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du

36、contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsable de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesu

37、re possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans leurs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La

38、 CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nengage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit

39、ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandataires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature

40、que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les frais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrence

41、s normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrences est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intelle

42、ctuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 61788-2 a t tablie par le comit dtudes 90 de la CEI: Supraconductivit. Cette deuxime dition annule et

43、remplace la premire dition publie en 1999. Les modifi-cations apportes cette deuxime dition portent essentiellement sur la formulation, sans inclure de modification technique, et sur lajout dune nouvelle annexe (annexe normative D) dans laquelle les spcifications de la mthode un mandrin sont dcrites

44、. 61788-2 IEC:2006 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION _ SUPERCONDUCTIVITY Part 2: Critical current measurement DC critical current of Nb3Sn composite superconductors FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising al

45、l national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Te

46、chnical Specifications, Technical Reports, Publicly Available Specifications (PAS) and Guides (hereafter referred to as “IEC Publication(s)”). Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory w

47、ork. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations.

48、2) The formal decisions or agreements of IEC on technical matters express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the relevant subjects since each technical committee has representation from all interested IEC National Committees. 3) IEC Publications have the form of recommendations for international use and are accepted by IEC National Committees in that sense. While all reasonable efforts are made to ensure that the techn