CISPR 19-1983 Guidance on the use of the substitution method for measurements of radiation from microwave ovens for frequencies above 1 GHz.pdf

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1、COMMISSION INTERNATIONALE LECTROTECHNIQUE CISPR I9 Premire dition First edition INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION 1983-01 COMIT INTERNATIONAL SPCIAL DES PERTURBATIONS RADIOLECTRIQUES INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE Lignes directrices relatives lutilisation de la mthode

2、de substitution pour la mesure du rayonnement mis par des fours micro-ondes pour des frquences au-dessus de I GHz Guidance on the use of the substitution method for measurements of radiation from microwave ovens for frequencies above 1 GHz Numro de rfrence Reference number CISPR 19: 1983 Copyright I

3、nternational Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-Rvision de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 et du CISPR est constamment revu par la Commission et pa

4、r le CISPR afin quil reflte bien ltat actuel de la technique. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci-dessous: Site web, de l

5、a CEI“ Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bulletin de la CE1 Disponible la fois au 4te web, de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie utilise dans la prsente publication Seuls sont dfinis ici les termes spciaux se rapportant

6、la prsente publication. En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electrotechnique International (VEI), qui est tablie sous forme de chapitres spars traitant chacun dun sujet dfini, lIndex gnral tant publi sparment. Des dtails complets sur le VE1 pe

7、uvent tre obtenus sur demande. Pour les termes concernant les perturbations radio- lectriques, voir le chapitre 902. Symboles graphiques et littraux Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera: - la CE1 60027: Symboles lit

8、traux 2 utiliser en lectrotechnique; - la CE1 6061 7: Symboles graphiquespourschmas; Les symboles et signes contenus dans la prsente publication ont t soit tirs de la CE1 60027 ou CE1 60617, soit spcifiquement approuvs aux fins de cette publication. * - IEC 6061 7: Graphical symbols for diagrams; Th

9、e symbols and signs contained in the present publication have either been taken from IEC 60027 or IEC 60617, or have been specifically approved for the purpose of this publication. * IEC web site http: l/www.iec.ch Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license wit

10、h IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL CISPR I9 Premire dition First edition 1983-01 COMMISSION COMITE INTERNATIONAL SPECIAL DES PERTURBATIONS RADIOELECTRIQUES INTERNATIONAL SPEC

11、IAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE Lignes directrices relatives lutilisation de la mthode de substitution pour la mesure du rayonnement mis par des fours micro-ondes pour des frquences au-dessus de 1 GHz Guidance on the use of the substitution method for measurements of radiation from microwave ove

12、ns for frequencies above 1 GHz O IEC 1983 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique. y mmpris la photocopie et les microfilms. sans la

13、ccord crit de Iedteur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical. including photocopying and microfilm. without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission Telefax: i41 22 919 0300 3, rue de

14、 Varemb Geneva, Switzerland IEC web site http: /www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch E Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE MemnvHaponHan 3newTpoTexHwecHan HOMHCCHR Pourprix. voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue O

15、Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-2- Document C.I.S.P.R./B (Secrtariat) . Statut Article ou paragraphe 1,2et3 Rapport no 55 25 C.I.S.P.R. 19 O CE1 1983 Notes: ap

16、prouv Stockholm, 1982 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE COMIT INTERNATIONAL SPCIAL DES PERTURBATIONS RADIOLECTRIQUES LIGNES DIRECTRICES RELATIVES LUTILISATION DE LA MTHODE DE SUBSTITUTION POUR LA MESURE DU RAYONNEMENT MIS PAR DES FOURS MICRO-ONDES POUR DES FRQUENCES AU-DESSUS DE 1 GHz PRAMBU

17、LE 1) Les dcisions ou accords officiels du C.I.S.P.R. en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des sous-comits OU sont reprsents tous les Comits nationaux et les autres organisations membres du C.I.S.P.R. sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un acco

18、rd international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux et les autres organisations membres du C.S.I.P.R. 3) Dans le but dencourager lunification internationale, le C.I.S.P.R. exprime le vu que tous

19、les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le texte des recommandations du C.I.S.P.R., dans la mesure OU les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre les recommandations du C.I.S.P.R. et la rgle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, tre indique

20、en termes clairs dans cette dernire. PRFACE Cette publication fait rfrence a la Publication 1 1 du C.I.S.P.R. : Limites et mthodes de mesure des Caractristiques des appareils industriels, scientifiques et mdicaux (ISM) haute frquence ( lexclusion des appareils de diathermie chirurgicale) relatives a

21、ux perturbations radiolectriques. Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-C.I.S.P.R. 19 O IEC 1983 -3- Clause or sub-clause 1, 2 and 3 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL C

22、OMMISSION INTERNATIONAL SPECIAL COMMITTEE ON RADIO INTERFERENCE Document Notes: C.I.S.P.R./B (Secretariat) . Approved Status Report No. 55 25 Stockholm, 1982 GUIDANCE ON THE USE OF THE SUBSTITUTION METHOD FOR MEASUREMENTS OF RADIATION FROM MICROWAVE OVENS FOR FREQUENCIES ABOVE 1 GHz FOREWORD 1) The

23、formal decisions or agreements of the C.I.S.P.R. on technical matters, prepared by Sub-committees on which all the National Committees and other Member Organizations of the C.I.S.P.R. having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opi

24、nion on the subjects dealt with 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees and other Member Organizations of the C.I.S.P.R. in that sense. 3) In order to promote international unification, the C.I.S.P.R. expresses the wish that all

25、 National Committees should adopt the text of the C.I.S.P.R. recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the C.I.S.P.R. recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter.

26、 PREFACE This publication was prepared by C.I.S.P.R. Sub-committee B: Interference from Industrial, Scientific and Medical Radio Frequency Apparatus, and was given the status of a C.I.S.P.R. Report which accord- ing to the definitions of C.I.S.P.R. Publication 10 is “A statement issued for informati

27、on giving results of studies on technical matters relating to the C.I.S.P.R.”. Consequently this publication is C.I.S.P.R. Report No. 55. This publication makes reference to C.I.S.P.R. Publication 1 1 : Limits and Methods of Measurement of Radio Interference Characteristics of Industrial, Scientific

28、 and Medical (ISM) Radio-frequency Equip- ment (Excluding Surgical Diathermy Apparatus). Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-4- C.I.S.P.R. 19 O CE1 1983 LIGNES DIR

29、ECTRICES RELATIVES LUTILISATION DE LA MTHODE DE SUBSTITUTION POUR LA MESURE DU RAYONNEMENT MIS PAR DES FOURS MICRO-ONDES POUR DES FRQUENCES AU-DESSUS DE 1 GHz 1. Gnralits 1.1 De nombreux fours micro-ondes mnagers et commerciaux sont de petite taille, leur plus grande dimension ne dpassant pas 1 m. L

30、a mthode de mesure pour ces appareils est dcrite dans lar- ticle 2 et la mthode utiliser pour les fours plus grands est dcrite dans larticle 3. Dans chaque cas, lessai du four micro-ondes doit tre effectu conformment au paragraphe 5.3.4 de la Publica- tion 1 1 du C.I.S.P.R.: Limites et mthodes de me

31、sure des caractristiques des appareils industriels, scientifiques et mdicaux (ISM) haute frquence ( lexclusion des appareils de diathermie chi- rurgicale) relatives aux perturbations radiolectriques. 1.2 Les mesures dcrites dans les articles 2 et 3 doivent tre rptes en polarisation horizontale de mm

32、e quen polarisation verticale pour chaque frquence dessai. A noter que la distance du coude de dcroissance dfini dans larticle 3 est habituellement fonction de la frquence et doit donc tre dtermine pour chaque frquence dessai. Si la frquence fondamentale utilise dans le four micro-ondes se situe lin

33、trieur de la plage de frquences du comet rcepteur, prendre les prcautions ncessaires pour sassurer que la frquence fondamentale naffecte pas les lectures. 1.4 Les mesures dcrites dans larticle 2 et, si possible, celles qui sont dcrites dans larticle 3 doivent tre effectues un emplacement dessai plat

34、, qui ne comporte pas de fil suspendu ni de structure rflectrice rapproche, et suffisamment tendu pour permettre la disposition de lantenne la distance spcifie tout en permettant de garder une sparation adquate entre lantenne, le four micro-ondes lessai et les structures rflectrices. La figure 3, pa

35、ge 9, illustre un emplacement dessai convenable. 1.3 2. Mthode de mesure pour les petits fours micro-ondes 2.1 Dans le cas des fours micro-ondes dont la plus grande dimension physique ne dpasse pas 1 m, utiliser la mthode de mesure qui suit. Mettre le four micro-ondes lessai sur un plateau tournant

36、non mtallique; le bras du four micro-ondes doit se situer a 1 m au-dessus du sol. Installer le comet rcepteur a une hauteur gale a 1 m plus la moiti de la hauteur du four micro-ondes a lessai (voir figure 1, page 8). Afin que les effets de champ rapproch associs au rayonnement provenant du four micr

37、o-ondes naffectent pas la mesure, placer le cornet rcepteur une distance R gale 3 m de la plus proche surface du four micro-ondes a lessai ( condition que la dimension maximale de louverture D du comet rcepteur soit telle que D vm, o A est la longueur donde de la frquence dessai et o D et A sont tou

38、tes deux exprimes en mtres. Si cette exigence nest pas respecte, placer le comet rcepteur une distance R = 2 D2/A de la plus proche surface du four micro-ondes lessai. Faire varier lgrement la position du comet rcepteur afin de sassurer quil nest pas situ sur un maximum ou sur un minimum produit par

39、 des combinaisons spciales de diagrammes de rayonnement et de rflexions. Soumettre le four micro-ondes une rotation com- plte de 360” dans le plan horizontal; la mesure la plus leve Y est considre comme le niveau de la perturbation rayonne cette frquence dessai. Copyright International Electrotechni

40、cal Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-C.I.S.P.R. 19 O IEC 1983 -5- GUIDANCE ON THE USE OF THE SUBSTITUTION METHOD FOR MEASUREMENTS OF RADIATION FROM MICROWAVE OVENS FOR FREQUENCIES ABOVE 1 GHz 1. Genera

41、l 1.1 1.2 1.3 1.4 Many household and commercial microwave ovens are small, their largest dimension being less than 1 m. The measurement procedure for such equipment is detailed in Clause 2, and the pro- cedure for other equipment in Clause 3. In either case, test loading of the oven is to be carried

42、 out according to Sub-clause 5.3.4 of C.I.S.P.R. Publication 11 : Limits and Methods of Measurement of Radio Interference Characteristics of Industrial, Scientific and Medical (ISM) Radio-Frequency Equipment (Excluding Surgical Diathermy Apparatus). The measurement procedures contained in Clauses 2

43、and 3 are to be repeated for both horizontal and vertical polarization at each test frequency. It should be noted that the turning point distance defined in Clause 3 is normally a function of frequency, and therefore it should be determined at each test frequency. If the frequency range of the recei

44、ving horn aerial includes the fundamental frequency used in the microwave oven, precautions must be taken to ensure that the fundamental frequency does not affect the readings. The measurements detailed in Clause 2, and where possible those detailed in Clause 3, should be carried out on a test site

45、which is flat, free of overhead wires and nearby reflecting structures as well as sufficiently large to permit aerial placement at the specified distance while providing adequate separation between the aerial, the microwave oven under test and reflecting structures. A suitable test site is depicted

46、in Figure 3, page 9. 2. Measurement procedures for small microwave ovens 2.1 For microwave ovens whose largest physical dimension is less than 1 m, the following measurement procedure is to be employed. The microwave oven under test is placed on a non-metallic turntable, the height of the bottom of

47、the microwave oven being 1 m above the ground. The receiving horn aerial is mounted at a height equal to 1 m plus half of the height of the microwave oven under test (see Figure 1, page 8). In order that the near-field effects associated with the radiation from the microwave oven do not affect the m

48、easurement, the receiving horn aerial must be located at a distance of R = 3 m from the nearest surface of the microwave oven under testxovided that the maximum aperture dimension D of the receiving horn aerial is such that D 63A/2, where A is the wavelength of the test frequency and where D and 3, are both expressed in metres. If this condition is not satisfied, the receiving horn aerial must be placed at a distance ofR = 2 D2/A from the nearest surface of