JJG 56-2000 工具显微镜检定规程.pdf
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1、JJG 56-2000 工具显微镜检定规程Toolmakers Microscope 、电-AUu-A门v-AUv-A门w-AUv-AU明-AUw-A川VP、-00 34咕。如802AOOFA COO-V吨。ov-u)恬阿出GZ刀替均牛代co dy-Auv-AV-Auv-Auv-Auv-Auv-Auv-h Verification Regulation of 本规程经国家质量技术监督局于2000年05月08日批准,并自2000年10月01日起施行。归口单位:全国几何量长度计量技术委员会起草单位:航空工业第三O四研究所中国计量科学研究院本规程委托全国几何量长度计量技术委员会负责解释33 34 本
2、规程主要起草人:张玉文张恒参加起草人:李景芳JJG 56-2000 (航空工业第三O四研究所)(中国计量科学研究院)(航空工业第三O四研究所)JJG 56-2000 工具显微镜检定规程1 范围本规程适用于万能工具显微镜和大、小型工具显微镜的首次检定、后续检定和使用中的检验。2 概述工具显微镜是一种多用途的光学机械式两坐标测量仪器。通常用影像法和轴切法测量精密机械零件的长度和角度;以直角坐标或极坐标方法测量机械零件的形状。3 计量性能要求3.1 金属工作台面与纵横向滑板移动方向的平行度不大于表1的规定。表1万能工具显微镜大型工具显微镜纵向:0.01 mm 在100mm长度上不大于0.02mm 横
3、向:0.005 mm 3.2 玻璃工作台面与纵横向滑板移动的平行度小型工具显微镜在75mm长度上不大于0.02mm 万能工具显微镜不大于0.02mm;大小型工具显微镜不大于0.03mmo 3.3 纵横向滑板移动的直线度和角摆不大于表2的规定。表2型式万能工具显微镜大型工具显微镜小型工具显微镜角摆 5 10 20 垂直方向0.005 0.01 0.01 直线度日1口1水平方向0.002 0.004 0.004 35 JJG 56-2000 3.4 纵横向滑板移动的垂直度万能工具显微镜不大于0.003mm/100 mm。大型工具显微镜不大于o. 005 mm/50 mm。小型工具显微镜不大于0.0
4、04mm/25 mm。3.5 立柱位于零位时,光轴对工作台面的垂直度用量块检定时,量块两工作面的影像应同等清晰。3.6 立柱位于零位时,主显微镜臂架沿立柱导轨移动方向与工作台面的垂直度万能工具显微镜不大于0.06mm/100 mm;大小型工具显微镜不大于0.09mm/ 100 mm。3.7 读数装置放大倍数的正确性不大于0.5m。3.8 主显微镜放大倍数的正确性不大于表3的规定。目镜类型表3测角目镜物镜倍数1X , 1.5X , 3x 5x 正确性0.1 % 0.15% 轮廓目镜1X , 1.5X , 3X 0.15% 3.9 测角显微镜处于零位时,测角目镜的十字线与滑板移动方向的平行度不大于
5、l。3.10 测角显微镜的示值误差不大于l。3.11 读数装置的示值误差不大于0.6m。3.12 读数装置的回程误差万能工具显微镜:不大于0.3mo大、小型工具显微镜:不大于0.002mmo 3.13 仪器的示值误差36 万能工具显微镜应不大于(1+ L/100)m; L为被检刻度尺长度(mm)。大、小型工具显微镜的微分筒,其任意两点间的示值误差不大于0.003mmo 使用量块时的示值误差不大于表4的规定。JJG 56-2000 表4测量范围mm25 50 75 示值误差mm0.002 0.002 0.003 3.14 顶针连同顶针杆的径向跳动外顶针不大于0.005mm;内顶针不大于0.007
6、mmo 3.15 两顶针轴线与纵向滑板移动方向的平行度万能工具显微镜在垂直和水平方向上均不大于0.015mm; 大小型工具显微镜在垂直方向上不大于0.04mmo 3.16 两顶针的重合性100 125 0.004 0.005 两顶针在水平方向上的重合性,对于万能工具显微镜,当两顶针相距20mm时不大于0.01mm;相距200mm时不大于0.02mm。对于大、小型工具显微镜,当两顶针在量程内相距任意尺寸时不大于0.02mm。3.17 测量刀垫板的上表面与顶针轴线的高度差不大于0.015mmo 3.18 主显微镜光轴、立柱回转轴线与顶针轴线的相对位置当立柱自零位向左右各侧转12。时,引起瞄准点的位
7、移,在左右方向上不大于0.01 mm。在前后方向上不大于0.002mm (万能工具显微镜),0.003 mm (大、小型工具显微镜)。3.19 技影装置放大倍数的正确性放大倍数误差不大于0.6%。3.20 轮廓目镜零位的正确性不大于30 3.21 光学定位器3.21. 1 测量杆与工作台面的垂直度当测量杆与工作台面相垂直时,定位器的三段双线影像应处于测角目镜视场中间距最大的两虚线之间。3.21. 2 定位的变动性不大于0.001mm。3.22 光学分度头3.22.1 度刻度和分刻度的相对位置和相符性度、分刻线应平行且元目力可见的视差。度刻线应对称于分刻线。分刻线与度刻度的相符性应不大于12。3
8、.22.2 顶针连同主轴的径向跳动37 JJG 56-2000 不大于0.007mmo 3.22.3 顶针轴线与纵向滑板移动方向的平行度不大于0.015mmo 3.22.4 示值误差应不大于30。3.23 光学分度台3.23.1 度刻度和分刻度刻线相对位置和相符性分、度刻线应平行且无目力可见的视差,分刻线应对称于度刻线。度刻度和分刻度的相符性应不大于12飞3.23.2 玻璃工作台面与纵横向滑板移动方向的平行度不大于0.03mmo 3.23.3 工作台定中心器中心与回转中心的重合性不大于0.005mmo 3.23.4 示值误差分度值为30的,不大于30气分度值为10的,不大于20。4 通用技术要
9、求外观和各部分的相互作用:a)在仪器上应注有制造厂名或厂标、出厂编号以及主标志。b)在各工作面上,应无锈蚀、碰伤、明显划痕及影响使用准确度的缺陷。c)光学系统的成像应清晰。视场内应无显著的和影响测量的灰尘、水渍、油迹,亮度要均匀。d)附件的安装应可靠。e)各活动部分的作用应平稳,元松动和卡住现象;制动螺钉的作用应切实可靠。f)当测角目镜的十字线交点与顶针轴线重合时,横向读数装置的示值为(50士。.5)mmo g)毫米刻线尺在全长上均应清晰,应元目力可见的倾斜。h)读数装置的指标线与微米刻线、0.1毫米刻线和螺旋线应元倾斜和视差。i)使用中和修理后的仪器,应无影响使用准确度的缺陷。j)数显式计数
10、器和微机数显式计数器应具有清零功能,其最小分辨力应不大于0.5mo k)数显式计数器,在移动中不丢数,其示值稳定性4h内,变化量应不大于0.5mo 5 计量器具控制包括:首次检定、后续检定和使用中的检验。5.1 检定条件5. 1. 1 环境条件见表50JJG 56-2000 表57土工万能工具显微镜仪器室的温度20 :t 1 室温每小时变化三三0.5仪器与标准器具的温度差三二0.5仪器在室内平衡温度的时间h24 标准器具在室内平衡温度的时间h4 5. 1.2 检定用设备a)自准直仪分度值1 b)测微表分度值0.001mm c)专用平尺平行度0.002mm,平面度运0.5md)二等玻璃刻度尺:t
11、 0.5m e)刀口直角尺100 x 63 (200 x 100) mm 900:t 3 f)宽座角尺100 x 60 一级g)三等量块、二级量块h) 12面棱体:t 1 i)专用心轴、刻线心轴j)电感测微仪分辨力0.1m5.2 检定项目工具显微镜检定项目列于表6。序号检定项目1 外观及各部分相互作用金属工作台面与纵横向滑板移动方2 向的平行度玻璃工作台面与纵横向滑板的移动3 方向的平行度表6首次检定+ 十+ 大、小型工具显微镜20 :t 3 三三1三三124 4 后续检定使用中检验+ 十+ 39 JJG 56一-2000表6(续)序号检定项目首次检定后续检定使用中检验4 纵横向滑板移动的直线
12、度+ + 5 纵、横向滑板的垂直度+ + 立柱位于零位时光轴对工作台面的6 十+ 十垂直度立柱位于零位时,主显微镜臂架沿7 立柱导轨移动方向与工作台面的垂+ 直度8 读数装置放大倍数的正确性十+ 9 主显微镜放大倍数的正确性十+ 测角目镜处于零位时,其十字线与10 十+ 十滑板移动方向的平行度11 测角目镜的示值误差+ 12 读数装置的示值误差+ 13 读数装置的回程误差十14 仪器的示值误差+ + + 15 顶针连同顶针杆的径向跳动+ 十+ 两顶针轴线与纵向滑板移动方向的16 十+ 平行度17 两顶尖的重合性+ 十测量刀垫板的上表面与顶针轴线的18 十高度差主显微镜光轴,立柱回转轴线与顶19
13、 + + 针轴线的相对位置40 JJG 56-2000 表6(续)序号检定项目首次检定后续检定使用中检验20 投影装置放大倍数的正确性十21 轮廓目镜零位的正确性十十十22 光学定位器(1) 测量杆与工作台的垂直度十十(2) 定位的变动性+ + 十23 光学分度头(1) 分刻度与度刻度的相对位置和相符十十+ 性(2) 顶针连同主轴的径向跳动十十(3) 顶针轴线与纵向滑板移动方向的平+ 十行度(4) 示值误差+ + + 24 光学分度台(1) 分刻度与度刻度的相对位置和相符+ + 十性(2) 玻璃工作台面与纵横向滑板移动方十+ 向的平行度(3) 工作台定中心器中心与回转中心的十重合性(4) 示值
14、误差十十+ 注:表中+表示应检定;一表示可不检定41 JJG 56-2000 5.3 检定方法5.3.1 外观及各部件相互作用以观察和试验的方法检定。5.3.2 金属工作台面与纵横向滑板移动方向的平行度用表架将测微表固定在仪器的主显微镜上。调整测微表,使其测量轴线垂直于工作台面。升降主显微镜臂架,使测微表的测量头与放置在工作台面上的专用平尺测量面相接触,并使表的示值于零位或邻近的某一值。移动纵向或横向滑板,观看测微表的示值变化。检定万能工具显微镜时,专用平尺放置的位置:检纵向时,将平尺按纵向行程放置在工作台的前后二个位置;检横向时,将平尺按横向行程放置在工作台左中右三个位置。所有位置上测得的示
15、值变化均不大于要求。检定大、小型工具显微镜时,在工作台的前后和左右四个方位上进行。对于大型工具显微镜,还应将回转工作台每转900方位时按上述方法检定。上述检定结果应不大于3.1的要求。5.3.3 玻璃工作台面与纵横向滑板移动的平行度检定时,先将测微表用表架固定在主显微镜上,并调整其测量轴线垂直于工作台面。升降主显微镜臂架,使表的测量头与工作台面相接触,并使表的示值于零位或邻近的某一值。然后移动纵向或横向滑板,观看测微表的示值变化。检定万能工具显微镜时,当测微表测量头分别与工作台面的前后和中间三个纵向方位以及左中右三个横向方位接触情况下进行。检定大、小型工具显微镜时,是在测微表测量头分别与工作台
16、面的平行于纵横向的直径位置上接触时进行。对于大型工具显微镜,还应在回转工作台每转900方位时进行检定,上述检定结果应不大于3.2的要求。5.3.4 纵横向滑板移动的直线度用自准直仪检定角摆时:将平面反射镜安置在仪器的滑板或工作台面上,自准直仪安装在仪器的基座上。检大、小型工具显微镜时,应将仪器和自准直仪安装在同一基体(如平板)上。调整自准直仪和反射镜,使其平行于滑板行程方向。将滑板以正向和反向移动全行程,按自准直仪读数。最大与最小读数的差值即为滑板移动的直线度。纵向和横向滑板移动的角摆,在水平和垂直两个方向上应不大于3.3的要求。用测微表和平尺检定直线度时:将测微表用表架固定在仪器的主显微镜上
17、。平尺安装在仪器的工作台上,并调整至与滑板移动方向平行。调整测微表,使其测量轴线垂直于平尺测量面。升降主显微镜臂架或移动滑板,使测微表的测量头与平尺测量面接触,同时使表的示值于零位或其邻近的某一值。以正向和反向移动滑板全行程,观看测微表上示值的变化。用测微表和平尺检定纵横向滑板移动的直线度,也应在水平和垂直两个方向上进行,应不大于3.3的要求。5.3.5 纵横向滑板移动的垂直度检定时,将200mmX 100 mm宽面直角尺安装在仪器的工作台上。测微表借助表42 JJG 56-2000 架安装在主显微镜上,并调整表的测量轴线使其处于水平状态,且与横向滑板移动方向平行。移动横向滑板,使测微表的测量
18、头与直角尺工作面接触。调整直角尺使其长工作面平行于纵向滑板移动方向。然后改变测微表的测量方向,使表的测量轴线垂直于直角尺的短工作面。移动纵向滑板,使测微表的测量头与直角尺的短工作面接触,并使表的示值于零位或邻近的某一值。移动横向滑板,观看测微表上的示值变化。对所用直角尺的直角偏差加以修正后,即为纵横向滑板移动的垂直度的测得值。使用中和修理后的大、小型工具显微镜纵横向滑板移动的垂直度可以用尺寸为100 mm x63 mm或200mm X 100 mm的刀口直角尺检定。均应不大于3.4的要求。检定时,将刀口直角尺固定在工作台上,升降主显微镜臂架,直至看到清晰的直角尺的刀口影像。借助工作台,使直角尺
19、的长边平行于纵向滑板移动方向。移动纵向滑板,使直角尺的短边离端部5mm处刀口影像与测角目镜中的十字线交点对准,记下纵向读数装置的示值alO移动横向滑板全行程后,移动纵向滑板,使直角尺刀口影像再次与测角目镜中的十字线交点对准,同样记下纵向读数装置的示值句。将刀口直角尺翻转1800,按上述方法再次检定,得纵向读数装置的示值b1和b20纵横向滑板移动的垂直度4按(1)式求得:4二二(a2-al)十(b2- b1) (mm) 、B,tEA /1、5.3.6 立柱位于零位时,光轴对工作台面的垂直度将尺寸为(23)mm的量块研合在尺寸为(2050)mm的量块上,如图1所示。然后把研合量块平放在仪器的工作台
20、上,调节可变光阑至最小孔径。升降主显微镜臂架,直至在主显微镜中见到量块的影像为止,这时观察量块两工作面的影像是否同等清晰。再将量块调转1800,观察量块两工作面的影像是否也同等清晰。这一检定应在仪器的纵向和横向两个方位上进行且应符合3.5的要求。图15.3.7 立柱位于零位时,主显微镜臂架沿立柱导轨移动方向与工作台面的垂直度万能工具显微镜和大型工具显微镜用尺寸为160mm X 100 mm的1级宽座直角尺和分度值为0.001mm的千分表检定。检定时,将千分表用表架固定在主显微镜上。直角尺分别按仪器的纵向和横向行程JJG 56-2000 安装在工作台上。调整千分表,使其测量轴线处于水平状态,且垂
21、直于直角尺工作面,并使表的测量头与直角尺工作面接触。升降主显微镜臂架100mm,记下千分表示值的变化量工和y。主显微镜臂架沿立柱导轨移动方向与工作台的垂直度4按(2)式求得:b=,j三+y2 (m) (2) 小型工具显微镜的主显微镜臂架沿立柱导轨移动方向与工作台面的垂直度,用平行平晶和十字线分划板检定。上述检定结果应不大于3.6的要求。5.3.8 读数装置放大倍数的正确性读数装置与毫米刻线尺的相符性检定,应先使微米刻度示值于零位,移动滑板,使毫米刻度尺的任一毫米线与0.1mm刻度尺零线位置的螺旋线对准,然后观看相邻的一条毫米刻线是否与螺旋线也对准时,转动螺旋线使其对准,并按微米刻度读出其差值r
22、iQ这一检定应至少分布于毫米刻度尺5个不同位置上进行。放大倍数误差按下式求得,应不大于3.7的要求。8二艺r;l5(3) 5.3.9 主显微镜放大倍数的正确性在主显微镜上安装测角目镜检定时,分别装上各倍物镜。专用刻度尺放置在玻璃工作台上。升降主显微镜臂架,使在主显微镜视场内见到清晰的刻度尺刻线影像。调整工作台,使刻度尺平行于纵向滑板的移动方向,转动测角度盘,使测角目镜的示值于零位。移动纵向滑板,使刻度尺的零线与测角目镜中相距最远的两条刻线中的一条刻线对准,然后观察另一条刻线与刻度尺上相应的刻线是否重合,若不重合时,则从纵向读数装置中读出其偏差.1(f-lm)。主显微镜放大倍数误差A卢按(4)式
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