GB T 15222-1994 表面污染测定 第2部分 氚表面污染.pdf

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1、i 共U配62784. 7 53. 083 F 74 GB/T 15222 94 污= iii, 污面一Evaluation of surface contamination -Part 2: Tritium surface contamination 1995-08-01实施1994-09-24发布发布局监督委主主支才运国 一GB/T 15222-94 ., 中华人民共和国国家标准表面第二部分. 染测定氟表面污染巧 Evaluation of surface contamination-Part 2 Tritium surface contamination , 本标准等效采用国际标准ISO

2、7503-2 1988表面污染测定第2部分氟表面污染。本标准规定了氟表面污染的测定方法和程序。本标准适用于设备、设施、放射性物质容器和密封源表面的氟表面污染测定。本标准不适用于皮肤和工作服氟表面污染的测定。主题内容与适用范围引用标准2 辐射防护规定GB 8703 术语3 3. 1 氟表面污染附着在表面上和被吸收到表面内的氟总活度。3.2可直接测量的氟表面污染可直接测量到的氟表面污染。3. 3可去除的箴表面污染1)在正常工作条件2）下可去除的或可转移的焦表面污染。注1）在一些外部的化学因素例如潮湿、腐蚀等和物理因素（例如，周围气压或温度变化、震动、冲击、膨胀、收缩）的影响下或者由于扩散的结果，全

3、部氟污染可能转化为可去除污染p氟表面将染可能是易挥发的或包含易挥发部分，它们可能在正常条件下挥发从而成为可去除污染，对此应做适当的估计。2）“正常作用条件”是指在此条件下，能够去除表面污染的最大机械作用强度只限于人体与表面之间正常的、非事故性接触或人操作的设备部件与表面之间具有类似强度的非破坏性接触。单次擦拭通常不会除去全部的可去除污染。3. 4 单位面积放射性活度存在于表面的氟污染与该表面面积之比，以Bq/c皿2表示。3.5 可去除氟表面污染的间接测定利用擦拭样品测定可去除的置在表面污染的活度。3. 6擦拭检验用干的或湿的擦拭材料擦拭污染表面以取得可去除的放射性活度祥品，然后对转移到擦拭材料

4、上的放射性活度进行测定。注s为确定氟表面污染，多数采用湿法擦拭。1995-08-0J实施1 厘家技术监督局1994-0924批准气，、, 3吨今GB/T 15222 94 3. 7去除因子（F)擦拭材料从表面擦除的放射性活度与该次取样前可去除的表面污染的活度之比。去除因子由式（1）定义：F丰E”T 式中：AP一擦拭材料从表面上擦除的放射性活度；AT取样前被擦拭的污染表面上总的可去除放射性活度。注g当有大量的污染物和表面材料结合时，去除因子F的值可以采用反复擦拭，彻底去除的方法，由实验确定。逐次去除的放射性活度之和趋近于总的可去除放射性活度。这样利用式（！）由首次擦拭所去除的活度及总的可去除活度

5、值，可得出去除因子。4 测定表面污染的方法4. 1 概述叙的粒子射程即使在空气中也非常短，而且氟又有很大的活动性。官可能渗入到表面下某深度，这使得直接或间接测定总的氟表面污染非常困难。用污染测量仪进行直接测量时，仪器不能测量吸收到表面里面的放射性活度。间接测量法采用湿法擦拭，能对采样时可去除表面污染给出一个适当的估计值。然而，渗入到表面内的氟污染又会扩散到面，成为新的可去除表面污染。为更好地弄清楚在特殊情况下的实际危害，应采用直接测量和间接测量相结合的方法。在大多数情况下，用擦拭法评估由于与氟污染表面接触所造成的实际放射危害，是一种适当的方法。4.2 氟表面污染的直接测量4.2. 1 测量仪器

6、直接探测氟表面污染的仪器可能对表面上的和一部分吸入表面中的活度均能响应。特殊设计的无窗探测器，如正比计数器和闪烁探测器均可用来直接探视！各种形式的焦表面污染。有些仪器，由于在操作时能使污染表面气压，温度发生变化，可用来探测到不稳定佩的存在，即氟的扩散特性。为防止探测器受污染，建议使用间隔板或可去掉的屏蔽罩。4.2.2对仪器的要求仪器应能可靠地测量到低于国家标准GB8703规定的表面污染限值水平的活度，污染测量的结果要与该限值进行比较。4.2.3探测程序在关于距离及探测的气体成分符合操作要求的情况下，使仪器在被测表面上方连续移动或把仪器依次放在被测表面上，同时监听仪器声频的变化。对于数字显示或表

7、头显示的仪表，应密切观察其数字及表头指针的变化。一旦探测到污染区，探测器应该置在这个区域上方不动，并保持足够的时间，以便进行可靠的探测。实际探测时，应先检查低活度区再到高活度区，以减少交叉污染。4.2.4 测量程序当进行测量时，必须遵守测量仪说明书规定的操作规程以及下述要求：a. 必须测定待测区域上具有代表性地点的本底计数率。为此，可在待检表面盖上一张清洁的纸3b. 因探测器易被污染，必须经常检查本底计数率；c. 应该用个合适的检验源检验仪器功能是否正常。经常用的仪器检验频度为每日校验一次$不常用的在使用之前进行校验。仪器对检验源的读数变化超过土20%时必须重新校准，d. 有时可能需要一个可移

8、去的定位架。4. 3可去除表面污染的间接测定4. 3. 1 总则2 b叫民GB/T 15222-94 间接测量法尤其适合于下列表面污染sa. 不允许直接测量（例如，由于轮廓位置等原因hb. 直接测量受辐射场干扰的位置pc. 表面上有其他材料，减少了可直接测量的辐射强度。然而，间接测量法不能给出存在表面下不稳定氛的危害。4. 3. 2探测限目前，所采用的液体闪烁计数器和无窗计数器分别能测到0.4 Bq和40间。依据这些较低的探测限值，当擦拭面积100cm2而去除因子F值采用。.1时，可去除的氟表面污染测量下限分别可达0.04 Bq/cm2和4Bq/cm2。4.3.3采样可去除氟表面污染的探测和测

9、定应采用湿的擦拭样品。注2膨体聚苯乙烯即使没有润湿剂也是一种有效的擦拭材料。其优点是它能完全洛解于某些液态闪烁体中，因此能确保高的计数效率。以特殊形式存在的不溶于液态闪烁体中的镜污染例如金属的氟化物），可用干擦拭法取样。当从大面积上取擦拭样品时，下面几点必须考虑，以便确定污染的分布sa. 如果可能，被擦拭的面积必须是100cm2; b. 在规程允许更大面积上擦拭的地方，必须在更大面积上取样，这时在按4.3. 4计算结果时须用实际擦拭面积进行。如果取样面积非常大，应避免用一个拭子，因为去除因子随面积增加而减小，c. 擦拭材料的选择应根据待检查的表面性质和计数要求而定，例如对平滑表面用滤纸，对粗糙

10、表面用棉织品；d. 必须选用一种适当的擦拭材料润湿剂，一般可采用甘泊。润湿剂不得从擦拭材料中渗出； 擦拭时必须适度地压着拭子，最好用一个为保证均匀和稳定压力而设计的夹具；f. 必须擦拭整个100c旷的面积；g. 在用液体闪烁计数以外的其他计数法时，探测器灵敏面积必须大于擦拭的样品面积5h. 用液闪计数法测量拭子，应直接放入含有适量闪烁液的样品瓶中；i. 为了使氟活度接近平衡分布，在计数前湿擦拭样品在闪烁液里必须放置约20min; j. 不用的擦拭材料应储存在无佩的场所；k. 对高污染表面进行擦拭检验时，为避免样品的交叉污染需更换手套。4. 3. 4 擦拭样品测量虽然使用正比探测器（无窗或内流气

11、型）对干法擦拭更适合，但一致采用总是有效的测量氟擦拭样品的方法是用液闪计数。在考虑放入闪烁液中擦拭样品时，必须注意如下两点za. 不要由于擦拭材料量大或浮灭效应引起闪烁光的过量损失；b. 不要由于发光剂引起假闪烁计数。被擦拭表面以Bq/cm2表示的单位面积氟表面污染活度A.与擦拭样品的活度的关系由式（2）给出A A - -F丁Es . ( 2 ) 式中：A用标准液体闪烁计数技术测定的擦拭样品的活度，Bq;F一一去除因子gS一一擦拭面积，cm2。在测量时，去除因子最好通过实验确定，否则jF取0.10 5污染测量的记录污染检验报告应包括下述内容z3 4 GB/T 15222-94 a. 日期gb.

12、 位置和局部位置gc. 表面类型（对间接测量法）; d. 擦拭材料（干或湿）；e. 润湿剂gf. 间接测量的去除因子（测量的或假定的）; g. 所用的仪器；b. 校准日期；i. 本底读数$j. 污染（表面或拭子）测量时，仪器读数$k. 根据直接或间接测量的结果，it算出单位面积上的焦活度或可去除的氟活度gI. 污染范围的说明pm. 其他一些观察结果（不稳定性放射性氟的存在等），或必要的说明pn. 操作者姓名。附加说明：本标准由中国核工业总公司提出。本标准由中国辐射防护研究院负责起草。本标准主要起草人陈慧莉、张延生。（京）新登字023号电司。、NNN町FH阁。华人民共和国家标准表面污染测定第二部分氟表面污染GB/T 15222 94 国中 中国标准出版社出版北京复兴门外三里河北街16号邮政编码，100045电话，8522112中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售版权专有不得翻印等开本88012301/16 印张1/2字数8千字1995年6月第一版1995年6月第一次印刷印数11 000 祷书号：155066 I 11478 晤264 29 标目