GB T 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(可供认证用).pdf

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1、中华人民共和标成电路和A如c 成电路分范UDC 6 21. 3. 04 9. 774 L 56 (采用鉴定批GB 11498 89 Sectional specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval pr侃edure(可供认证用)和目的,. , 范围本分规范适用于按标准产品或定制产品和混合膜集成电路。1- 2 目的本规范的目的是为额定值和据本规范制定的膜集成电路和混合膜集成电路参照本分规范制定的详细规

2、范所规定的试性能水平是不允许的。造的，其质以鉴定批准为基础评定的膜集成电路，从总规范中选择合适的试验和测量方法，并且给出根规范使用的总性IUl:SC;. J、。严酷度和要求应等于或高于分规范的性能水平，低的同本规范相联系的有一个或多个空白详细规范，每个空白详细规范均给以编号。按照本规范2.3条规定填写空白详细规范，即构成一个详细规范。按IECQ体系，这样的详细规范可用于膜集成电路和海合膜集成电路鉴定批准的授与和原重-且阻世。2总则，优先特性、额定值和环境试验严酷度2. 1 有关文件GB 2471 电子设备用电阻器的标称阻值系列和固定电容器标称容量系列及其允许偏差系列GB 8976 膜集成电路和

3、混合膜集成电路总规范2.2 优先额定值和特性电压和电流的优先值在IEC747一1中给出s电阻器和电容器的优先值在IEC63中给出z定制电路可以选择任意的值和误差。2.3 详细规范给出的资料详细规范根据有关空白详细规范制订。详细规范规定的严酷度应不低于总规范或分规范规定的严酷度。若包括更严要求时，应列入详细规范，并在试验表中指出，如用星号。注g为了方便起见，尺寸、特性和的每个详细规范应给出以下资料，引用范应规定逐批检验和周期其方法和严酷度.子工业部1989-03-18批准可以采用表格形式。优先从本分规范适用的条款巾选择。要求的各项.至少要包括本规范冲给出的有1990-04-01实施GB 1149

4、8 89 2. 3. 1 外形图和尺寸应当有电路的图解，以便容易识别，并同其他电路比较。详细规范应规定那些影响互换性和安装的尺寸及其关联的公差。所有尺寸用毫米表示。一般情况下，应给出壳体的长、宽和高以及引出端间距的数值F对于圆柱形应给出壳体的直径、长度和引出端的直径。当需要时，例如当一个详细规范含有一种以上的封装时，尺寸及其关联的公差应在图下的一个表中列出。当其结构与上述不同时，详细规范应规定那些能充分描述电路的尺寸数据。2. 3. 2 安装详细规范应规定电路在常规使用及在振动、碰撞或冲击试验中所用的安装方法。在电路使用中有时要求电路设计有特殊的安装夹具，在这种情况下，详细规范应规定安装夹具，

5、并且在进行振动、碰撞或冲击试验时应使用这些夹具。2.3.3 环境试验用的严酷度详细规范应规定从总规范中第4章选择的合适试验方法和严酷度。2.3.4 标志详细规范应规定在电路和外包装上的标志内容。与总规范2.6条不一致处应该明确指出。2. 3- 5 订货资料详细规范应规定订购电路时所要求的下述资料:(1) 电路类型(例如，混合厚膜集成电路)I (2) 详细规范的编号以及品种代号和评定水平适用时)I (3) 电路功能(适用时); (4) 基本功能特性及其偏差(适用时)。2.3.6 附加资料(不作检验用)详细规范可以包括通常不要求按检验程序验证的资料，如为了便于说明所需要的电路图、曲线、图形相注JQ

6、r。3 鉴定批准程序见总规范3.5条和以下细节:3- 1 结构相似性如果电路的一个代表型号的试验对编组在一起的其他型号至少能给出相同的质量水平，则可用结构相似性来进行该项评定试验。总检验长应申报制造厂内实施结构相似性方案的办法，并按每个结构上相似的组确定代表型号，以便使国家监督检查机构(NSI)满意。对于鉴定批准程序而言，当两种或两种以上电路具有相同电路功能类型、采用相同设计规则、材料、工艺和方法(例如，采用同种浆料的一系列T型厚膜衰减器p采用相同膜材料并来源于同一供应单位的相同外贴元器件制作的薄膜D/A转换器)时，就可以认为它们在结构上是相似的。一个试验所要求的样品应从这种组合产品中抽恨。对

7、于电路的目检、标志、反寸、密封、可焊性和引出电气不合格品。3.2 鉴定批准鉴定批准试验和程序在总规范3.5条中给出。空白详细规范应按表2和表3中给出以逐批和表1给出了以固定样本大小表为基础的鉴定批，仅要求相同的外壳，可采用空封装和(或)期试验为的鉴定表。GB 11498 89 鉴定批准表(固定样本大小表)和质量一致性检查(逐批和周期试验)共同规定了对成品电路的最少试验程序。制造单位可以自愿选择采用评定水平K、L或M，但仅能按以下规定放行产品:评定水平放行评定水平K K、L或ML L或MM M 制造单位可以通过完成有关试验来改变其已经批准的评定水平。如果直到试验间隔日期期满为止，尚没有继续作周期

8、试验时，经NSI同意制造单位可以降级。为了特定的应用所需要的附加试验，应在详细规范中规定。有关环境试验的试验后电气极限值应在详细规范中规定。3- 2. 1 鉴定批准(固定样品大小程序)3. 2. 1. 1 抽样样本应能代表寻求批准的电路范围。样本大小及合格判定数取决于所规定的评定水平，并在表2中予以详细规定。当试验表中引入附加组时，0组要求的电路数也应增加，增加的数量等于附加组所要求的数量。3. 2. 1. 2 试验为了一个详细规范所包括的电路的鉴定批准，需要进行表1规定的全部试验。每组试验应按给出的顺序进行。全部样品都应经受0组试验，然后分配给其他组。在0组试验里发现不合格的电路不能用于其他

9、组。当一个电路不能满足一个组的全部或部分试验时，就计为一个不合格品。当不合格品数未超过规定的每组(或分组)允许不合格品数和允许不合格品总数时，则给予批准。表1鉴定批准在表2中，按评定水平详细规定了样本大小和合格判定数。条款号引自总规范第4章。条款号、试验和试验程序D/ND 试。组01分组4. 3. 1 封盖前的目检02a分组ND 4.3.2 外部目检和标志检查02b分组4. 3. 3 尺寸03分组h4.5.16 易燃性D (仅供参考)条件性能要求条款号、试验和序04分组4. 5. 9 密封05分组4. 4. 11 室温下主要静态和动态电特性06分组4. 4. 11 极限工作温度下主要态和动态|

10、电特性1组序1、2)初始测4.5. 6 振动、扫频率和4.5.7 稳态加速度或3)4.5.5 冲击和4.5.7稳态速度最后测GB 11498 89 续表1D/ND I试条件ND ND ND D/ND D 4.4.11:05分组4. 5. 9 :密封4. 4. 11 : 05分组4.4.11:05分组4. 5. 9 :密封4.4.11: 05分组4. 3. 2 :外部目检和标志检查3组l阳席I D 4.5.10 可焊性4.5.12.1 拉力4.5.12.3 弯曲(圆引线或带状引线)最后测量I I 4. 5. 9:密封1)或3)4. 5. 10 可焊性4. 5. 12. 1 拉力4. 5. 12.

11、 3 弯曲(整排)4.5.12.2 推力性能求GB 11498 89 条款号、试验和试验程序件条验试蜘配性要求最一咱初4. 5. 9 :密封1)ND 4.5.11:05 分组4. 5. 2 4. 5. 1 高温贮存最后测: oc : oc 4.4.11:05 分组5组初始4. 5. 14 耐久性1000h D 4. 4. 11 : 05 分组久性:2000h6l 最4.4.11 :05 分组表1和表3B中的注z1)队对空封装电路;2)安装条件皮详细规范规定s3按详细规范规定选择4)对非密封电路详细规范可以略去温热试验:5)允许使用经过全部加工后的电性能不合格晶$6)在评定水平K中:lOOOh后

12、，暂时批准s2000h后，正式批准$7)适用于有机材料密封的产品.3- 2. 2 质量一致性检验3- 2. 2. 1 检验批的组成一个检验批应由结构相似的电路组成(见3.1条。当有要求时，应对欲放行给用户的全部电路。对于A组和B组试验，其样品应从一周之内生产的产品中抽取，或者从制造厂申报的其他周造的产品中抽取，但周期最长不超过一个月。当一个不合格品3.3 评定水平3.2.2.2 试验逐批试验和周期试验表应在有关的空白详细规范中规定。为了一个详细规范所包括电路的鉴定批准的维持，需要进行所规定的的顺序进行。当一个电路不能满足一个组的全部或部分试验时，就计为一个不合格品。未超过规定的每组允许不合格品

13、数和允许不合格品总数时，则批准可以维持。每组试验应按给出用于鉴定批准(见表1)和质量一致性检验(见有关空白详细规范)的评定水平应从下列表2和表3中选取。GB 11498 89 表2鉴定批准的评定水平和合格判定数表中:n-样本大小;c一一合格判定数(允许不合格品数)。评定水平表l的检验组或分组K L n c n c n Ol. 要求02a 75 1) 2 641) 2 43 02b 8 1 8 1 8 03C仅供参考)2 2 2 十04 39 1 26 I 13 05 71 1) 1 2 60日I 2 39 06 26 1 13 1 8 1 10 l 8 1 22) 13 1 10 1 8 3

14、13 1 2 10 l 2 8 4 13 l 10 1 8 5(lOOOh) 20 1 13 C2000h) 20 l 注:1)当不要求作1组试验时，此电路可减掉那些不需要试验的相应的电路数。2)对每种规定的糟剂最小试验4支咀阳。表3用于质量一致性检验的评定水平和合格判定数(见表3A和表3B)表3A以抽样为基础所进行的逐批试验表中:IL一一检查水平FAQL一一合格质量水平z条款号引自总规班第4章。检验组或分组(见表4)A1分组4.3.2 外部目检和标志检查A2分组4. 4. 11 室温下的主要静态和动态电特性A3分组4.4. 11 极限工作温度F的主要静态和动态电特性K 要-r IL E 十E

15、 S4 评定水平L 求不要求AQL IL AQL E 2.5 0.25 E 0.4 1 M c 2 1 1 1 2 1 1 1 2 1 1 M 不求IL AQL 2.5 E GB 11498 89 续表3A评定检验组或分组K B1分组4. 5. 10 可焊性S3 2.5 S3 B2分组4. 3. 3 尺寸S4 1 S4 表3B以抽样为基础所进行的周期试验表中:p一一周期(月); n一一样本大小;c 合格判定数(允许不合格品数。条款号引自总规范第4章。检验组或分组C1分组4. 4. 11 极工作温度下的主要静态和动态电特性C2 2)4. 5. 6 动、扫频率和4. 5. 7 稳tti加速度或3)

16、4. 5. 5 冲击和4. 5. 7 稳态加速度C3 4. 5. 11 耐焊接热4.5.15.2 抗溶性7)4. 5. 8 温度变化4. 5. 3 稳态湿热4)C4分组序4.5.2 低温4. 5. 1 局温贮存D1分组4.5. 14 耐久性:1000h 2000h 评定K p n c p n 6 13 6 10 1 12 8 2 6 13 1 12 10 6 13 1 2 12 10 6 20 3 20 1 水平L 岛f2. 5 S3 2. 5 1 S4 1 水平L M C P n C 1 6 8 1 1 2 1 12 8 1 2 1 2 12 8 1 2 1 6 13 1 GB 11498

17、89 续表3B评定检验组或分组K p n c p n D2分组序5)12 13 1 12 10 4. 5. 12. 1 拉力4. 5. 12. 3 曲(圆引状引线)或3)4.5.12.3 弯曲(排)4.5.12.2 推力4. 5. 16 12 2 12 2 (仅供参考)7) 本表注见表1注。序应按表4。表4筛选步检查或试验总规范详细规范和条件条款号11) :前的目检4. 3. 1 在考虑中2 高温贮存4. 5. 1 高贮存温度下24h3 温度变化4. 5. 8 10次循环Tstgmin Tstgmax 41) 稳态加速度4.5.7 在最严格的方向上，加速度等级按详细规范规定51) 密封4. 5

18、. 9 6 电测选择参数(老化前)剔除不合格品7 老化按详细规范规定h , 8 电测按6的规定剔除不合格品，如虹缺(筛选前)陷数超过10%为拒收批注:1)筛选一般在A组、B组和C组检验前进行。当A组、B组和C组焊性、密封和A组试验。按空白详细规范的规定。可以要求附加的筛选后试验。a.除非详细规范中另有规定，一般不适用于非空封器件。b.除推详细规范中另有规定，应记录测量结果。水平L M C p n c 1 12 8 1 12 2 )1顶序A B C D E 2) 168 72 48 求以后进行时，必须重作可GB 11498 89 3- 4 拒收批的再提交(用于逐批检验)电气试验后的任何拒收批应退

19、回到生产线，针对鉴别出的缺陷进行再加工或再筛选，在该批中不应该含有新的电路。然后，应将该批再提交并在加严检验的条件下进行检验。该批应保持相同的批号，并且记录再提交的细节。同一批的提交不应超过三次。3.5 非IEC成员国中已批准的制造厂的制造阶段如果符合总规范中3.2条的条件时，对于本规范中包括的膜集成电路和混合膜集成电路允许申请扩展制造厂批准。4 本章包括典型应用于膜集成电路和混合内没有规定。成电路的所有试验和序，而这些在总规范第4每个详细规范应规定逐批检验和周期给出的有关试验及规定的方法和严酷度。要求的所有试验和测量程序，最少它应该.包括本规范所附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由机械电子工业部第四十三研究所负责起干。本标准主要起草人冯佑民。