SJ 20859-2002 军用毫米波.微波管陶瓷金属化膜层规范.pdf
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1、f也-. . FL 5971 圭K.;、l 行SJ 20859 2002 Semiconductor photoelectric assembly Detail specification for miniature duplex photoelectric localizer for type CBGS 2301 2002-12-12发布2003-05-01实施中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准SJ 2.0859-2.002 规范军用毫米波微波管金Specification for ceram;c metallization layer for military mi
2、llimeter-wave microwave tubes 范围材料膜层所周尺寸、外观膜层厚度公3.3.2 膜层表面应平整、3.3.3 其它要求对膜层形状尺寸、公交货准备等。主题内容本规范规定了适用范围本规范适用GJB507-88 引用文件GBrr24 GBrr 要求3.3. 1 3.2 3.3 1. 1 1. 2 2 3 3. 1 IllIlli-llIlli-llil-代(见6.2)中规定。质量保证规定4 检验责任除合同或订单中另有规定外,承制方应负责完成本规范规定的所有检验。必要时,订购方或上级鉴定机构有权对本规范所述的任一检验项目进行检查。4. 1 2003-05-01实施中华人民共和
3、图信息产业部2002-12-12发布1 一一卫生一一一一一一一一SJ 20859-2002 4. 1. t 合格责任所有产品必须符合本规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制方整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规fE未规定的检验要求,承制方还应保证所提交验收的产品符合合同要求。质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品,也不能要求订购方接受有缺陷的产品。4.2 4.3 4.4 表1项自TiO,杂质含量% 体lR密度g!cm 平均线膨胀系数(25-500) C JrC 介电常数.30GHz 介质损耗角正切值.30GHz 为参考指标.检验分类本规范规定的检验分为:
4、a 鉴定检验:b 质量一致性检验。环境条件除另有规定外,各项检验均应在下列环境条件下进行。温度:J5C35C : 相对湿度:20%-80%: 大气气压:86 kPa-J 06 kPa。鉴定检验性指标军主0.055.56.5 (6.57.5) X JO 8JO (8J6) X JO 鉴定检验应在产品正式投产前进行。当原材料或生产工艺发生重大变化时,也应进行鉴定检验。鉴定检验还用于验证鉴定合格资格的保持。4. 4. J 检验样品进行材料性能鉴定检验的样品应与产品样品同种原料、同炉次、在同一工艺条件下制成。Ti02化学分析的试样,按GJB507规定,密度和线膨胀系数的试样按GB厅5593规定,介电常
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