SJ 20786.1-2002 半导体光电组件.CBGS2301微型双向光电定位器.详细规范.pdf

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1、乎也-嘈FL 5980 共行标SJ 20786/1 2002 组CBGS2301 细Semiconductor photoelectric assembly Detail spec谊cationfor miniature duplex photoelec仕iclocalizer for type CBGS 2301 2002-12-12发布2003-05-01实施中华人民共和国信息产业部批准SJ 20786/1-2002 中华人民共和国电子行业军用标准体光电组件型双向光电定位器细规范半们羊句3、1呵/。、uG RU C Semiconduc阳phoelecttic缸semb坊Detail s严

2、cificationfor miniature dup!ex phoe!ectric IocaIizer for type CBGS230! 分别用字1. 1 主题内容本规范规定了适用范国范围CBGS2301型光电双向驱动器(以分类1. 3. 1 t主SJ母ZI和Z表示.1. 4 绝对1. 2 1. 3 位 单值数-25 小最自环境工作温度项1. 5 推荐工作条件推荐工作条件如下:符数值项目号单位最是大电源电压Cd.c.lVcc 4,5 5.5 V 电源电流Cd.c.1 !cc 40 70 mA 2003-05-01实施1 中华人民共和国信息产业部2002-12-12发布一，一SJ 207B6

3、/1-22 引用文件2 军用设备环境试验方法高温试验军用设备环镜试验方法低温试验计数抽样检验程序及表电子及电气元件试验方法微电子器件试验方法和程序半导体光电组件总规范GJB 150.3-86 SJ 20786一1000GJB 150.4-86 GJB360A 96 GJB548A一-96GJB 179A 96 要求3 设计、结构和尺寸3. 1. 1 设计组件的设计应符合SJ20786中3.4.1的规定及性能指标和技术图纸的要求。结构外形尺寸及引出端识别按图1; 电路图按图3.用己独立封装的元器件组成-3. 1. 3 外形尺寸主且件的外形尺寸应符合图1的规定。551时3. 1 3. 1. 2 a

4、. b 巳.2-位深5同呵m【3土0.3。护_.- 1638 (红)+5V i 白地(绿)输出1(绿)输出2图1-一一-一3.1.4 质量(重量)组件的质量不大于60g. 3.1.5 老;陈及稳态寿命试验的电路图电老炼及稳态寿命试验的电路图应符合图2的规定。2 +5V 组地件3. 1. 6 电路图组件的电路图应符合图3的规定。R, 3.2 外观质量 飞、E, D, SJ 2.0786/1-2.2 RLl 图2R, R. 1 D, X, X与图3R, Ru / / E, 输出1输出ZX,+5V X, 地宁组件的外表面应平整光洁、无毛刺凹痕、划伤等影响寿命、使用或外观的缺陷。镀层或涂层应无汽泡、裂

5、纹、起皮、软化、锈蚀等缺陷。3.3 材料和元器件组件所使用的材料和元器件是按军用标准或有关规定检验合格的产品。3.4 制造要求组件的制造按有关工艺文件的规定执行。3.5 标志要求组件上应有下列标志z产品型号和/EX.名称:a. b 承制方商标和名称或代号:c 军用标志:d. 检验批识别代码。3.5. 1 标志的清晰度应符合SJ20786中3.5.9的规定。3.6 光电性能及测试要求3. 6. 1 输出状态的变化 采用光断续器控制状态位置的变化。当状态位置由状态1变化到状态2，或由状态2变化到状态1肘，原为高电平的一路应为低电平，原为!f;电平的一路应为高电平。3.6.2 输出特性输出高电平:h

6、fE对V3 1 SJ 20786/1-22 输出低电平，VOL运0.7V输出电流:10: 5 mA-IOmA 4 质量保证规定4. 1 抽样和检验抽样和检验应按SJ20786和本规范的规定，检验批的大小至少应是B组和C纽所需样品数量的1.5倍.4.2 筛选在提交鉴定检验和质量-致性检验前，组件应按SJ20786的表1和本规范表1的规定进行。不符合要求的组件应剔除，剔除的组件不能作为合格产品交货。表1筛选序号筛选项目试验方法条件1 封前目检GID548A方法2014放大20倍2 高温贮存GID 150.3 2.1 T,.= 100 C. t -24 h 3 温度冲击GID360A方法107空气介

7、质法.-40 C -100 C.试验条件A4 低温工作试验GID 150.4 2.2 TA=-25 C. t =1 h 5 高温工作试验GID 150.3 2.2 h吨5C. t=lh 6 J中击GID360A方法213980 mls. 6 ms 7 电老炼电路原理按图2T町也.=85C. t =96 h 试验方法按附录A(补充件)电源电压:5 V (d.c.) 电源电流:40 mA-70 mA (d.c.) 8 最终特性测试附录A(补充件)附录B(补充件)输出状态的变化符合3.6.1的规定输出特性输出高电平s陀R;同V输出低电平.凡LO.7V输出电流:10: 5mA-lOmA 9 密封(不适

8、用10 外部目检目视符合本规范3.2条的规定4.3 鉴定检验鉴定检验应按SJ20786和本规范表2、表3、表4的规定进行。4.4 质量致性检验质量一致性检验应按SJ20786和本规范的规定进行。质量一致性检验包括逐批进行的A组检验、B纽检验和周期检验的C组检验，c纽检验合格的周期内，A组、B组检验均合格的批可以交货。4.4. 1 A组检验A组检验应按SJ20786和表2的规定进行。4.4.2 B组检验B组检验应按SJ20786和表3的规定进行.4 SJ 20786/12002 C组检验C组检验应按SJ20786和表4的规定进行。4.4.3 A组检验表2抽样要求1)E E 1.0 1I 抽样要求

9、样本大小21(0) 2/(0) 件条检验和试验方法检验攻目AQL 1.0 3.5 3.2、3.1.2、3.1.4、符合3.6.表3件A分组附录A(补充件附录B(补充件)Bffi检验, 1=24h 1=1 h 4.8.1 SJ 20786 A2分组输出状态的变化输出特性GJB 179A. 终点特性测试输出状态的变化输出特性检验项目1) B1分组低温试验B2分组高温试验l|Ili-llliilili-lil-Jtll 的规定.贮存，h=OO .c , 1=48h 作，TA= 85 C, 1=1 h 终点特性测试输出状态的变化输出特性5 6 SJ 20786/1-22 表4C组检验检验项目试验方法条

10、件判据抽样要求样本大小I(接收数)Cl分组2耐。)温度神击Gill3A方法107空气介质法.-40 C-lC. ZI级循环5次.Z级循环10次.Gill3A方法103ZI级g试验条件BZ级2试验条件A稳态温热密封(不适用)附录A(补充件)终点特性测试附录B(补充件)输出状态的变化直流电源电压，5V符合3.6.1的规定.输出特性直流电流，40mA-70mA符合3.6.2的规定自C2分组2/(0) 扫频振动Gill548A方法98 rnJs 2007 冲击试验GJB 360A方法213半正弦冲击脉冲.980 rnIs. 6mso 终点特性测试附录A(补充件)输出状态的变化附录B(补充件)符合3.6

11、.1的规定.输出特性直流电源电压，5 V 符合3.6.2的规定。E主流电流，40皿A-70mAC3分组1)耐溶剂性试验Gill3A方法2153/(0) GJB360A方法211引出端强度试验试验条件A.10N 2/(0)2) 可焊性试验(不适用)c4分组5尺。)稳态寿命电路原理按图2.T =b=25 C. t =500 h 试验方法按附录A直流电源电压，5 V 补充件直流电流，40 mA-70mA 终点特性测试输出状态的变化附录A(补充件)符合3.6.1的规定.输出特性附录B(补充件)直流电源电压，5 V 符合3.6.2的规定。直流电流，40 mA-70mA C5分组.-C9分组不要求注，1)

12、可用同一检验批中特性不合格的产品e本试验抽样方案均指组件数。通过耐溶剂性试验的样品可用于C3分组其余各项试验.2) 2/(0)指按试产品数.SJ 20786/1-22 4.5 检验和试验方法检验和试验方法应按本规范相应表中规定的方法进行。5 交货准备5. 1 包装要求包装要求应符合SJ20786中5.1的规定。5. 2. 贮存要求贮存要求应符合SJ20786中5.2的规定。5.3 运输要求运输要求应符合SJ20786中5.3的规定。6 说明事项6. 1 预定用途符合本规范的组件供新设备设计用和供现有设备的后勤用。6.2 订货文件内容订货文件应规定下列内容:a. 组件的型号、名称:b. 承制方名

13、称和!I!J.商标;。.本规范的编号和发布日期:d. 质量保证等级:e. 结构要求:f. 其它有关要求和特殊要求，6.3 缩写、符号和定义所使用的缩写、符号和定义应按SJ20786及本规范的规定。状态l一一指输出l为高电平，输出2为低电平的状态。状态2一一指输出2为高电平，输出1为低电平的状态。6.4 替代性本规范规定的组件其功能可替代普通工业用组件，普通工业用组件在军用温度范围内不具有与军用组件等效的特性和性能，因此，不允许用普通工业用组件替代军用组件。7 Al A2. A3 目的SJ 20786/1-2002 附录A输出状态变化的检验(补充件)在规定条件下，检验组件输出状态的变化是否符合本

14、规范3丘2的要求。电路电路见图Alo按规定接入电源。移动滑动槽内的档板只遮住其中一个光断续器的光窗使输出1为高电平，输出2为低电平e然后再移动滑动槽内的档板只遮住另外一个光断续器的光窗，检验输出1是杏变为低电平，输出2是否变为高电平。5V (红)输出1(绿组件输出2(蓝地(自)图AlA4 规定条件组件工作环境温度:25 c 电源要求:5V, 40mA70mA 8 81 目的检验组件的输出特性是否符合要求。82 输出电庄的测试82. 1 测试电路图(见图A1)82.2测试步骤按规定接入电源，出1和输出2的输出83 83. 1 (见图B3.2 84 组件工电源要求:5V, 40mA70mA 附加说

15、明zSJ 20786/1-2002 附录B 输出特性的测试(补充件)h 幅明本规范由信息产业部电子第四研究所归口。木规范由华禹光谷股份有限公司半导体厂负责起草。本规范主要起草人:陈兰。计划项目代号:BO lO120 11电源上，测试输吨， 9 NOON-F阳。N，的中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电组件GBGS2301微型双向光电定位器详细规范SJ 20786月2002版刷行出印发* 中国电子技术标准化研究所中国电子技术标准化研究所中国电于技术标准化研究所电话，(010) 84029065 传真，(010) 64007812 地址z北京市安定门东大街l号邮编，100007 网址:www.ceS 拿字数，22千字11 印张z-16 2003年4月第一次印刷版权专有不得翻印举报电话:(010) 64007804 1116 开本，880X 1230 23年4月第一版