GB T 21042-2007 电子设备用固定电容器 第22部分 分规范 表面安装用2类多层瓷介固定电容器.pdf

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1、ICS 3106010L 11 蝠园中华人民共和国国家标准GBT 2 1 042-2007IEC 60384-22：2004电子设备用固定电容器第22部分：分规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器Fixed capacitors for use in electronic equipment-Part 22；Sectional specification：Fixed surface mount multilayer capacitors of ceramic dielectric，class 22007-06-29发布(IEC 60384 22：2004，IDT)20071 101实施宰瞀粥鬻瓣

2、警襻瞥星发布中国国家标准化管理委员会促19目 次GBT 21042-2007IEC 6038422：2004前言1总则-一11范围12 目的I3规范性引用文件14详细规范中应给出的内容15术语和定义一i6标志-2优先额定值和特性一21优先特性一22优先额定值3质量评定程序31初始制造阶段-32结构类似元件33放行批证明记录-34鉴定批准35质量一致性检验-4试验和测量程序41预处理-42测量条件-43安装-44外观和尺寸检查45电气试验46电容量温度特性47附着力-48端面镀层结合强度-49耐焊接热-410可焊性411温度快速变化412气候顺序413稳态湿热414耐久性-41 5引出端强度(仅

3、对带状引出端)416元件耐溶剂(如果适用)417标志耐溶剂(如果适用)418加速稳态湿热(如果要求)附录A(规范性附录) 规范和表面安装2类多层瓷介固定电容器的尺寸代码的导则附录B(资料性附录)2类瓷介电容器电容量的老化，0oooooooooo加n坨M坫坫M他珀加加加加毖船。前 言GBT 2 1 042-2007IEC 6038422：2004电子设备用固定电容器系列国家标准分为如下几个部分：第1部分：总规范；第2部分：分规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器；第2部分：空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平E第3部分：分规范 片状钽固定电容器；第3部分：空

4、白详细规范片状钽固定电容器评定水平E；第4部分：分规范 固体和非固体电解质铝电容器；第41部分：空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E；第zl部分：分规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器；第2l一1部分：空白详细规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器评定水平EZ；第22部分：分规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器；第221部分：空白详细规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器评定水平EZ本标准为电子设备用固定电容器系列国家标准的第22部分。本标准等同采用IEC 6038422：2004电子设备用固定电容器第22部分：分规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器(英文版)。为了便于使用，对IEC 603

5、84221还进行了下列编辑性修改：a)删除了IEC前言；b)表中的脚注采用小写英文字母。电子设备用固定电容器是系列国家标准，下面列出了已发布的这些国家标准及其对应的IEC标准：a)GBT 2693 2001电子设备用固定电容器第1部分总规范(idt IEC 603841：1998)；b) GBT 7332 1996电子设备用固定电容器第2部分 分规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器(idt IEC 60384 2：1982)；c)GBT 7333 1996电子设备用固定电容器第2部分空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平E)(idt IEC 60384

6、2 1：1982)；d)GBT 14121 1993电子设备用固定电容器 第3部分分规范 片状钽固定电容器(idtIEC 603843：1 989)；e)GBT 14122-1993电子设备用固定电容器第3部分空白详细规范片状钽固定电容器评定水平E(idt IEC 60384 3：1989)；f)GBT 5993-2003电子设备用固定电容器 第4部分 分规范 固体和非固体电解质铝电容器(IEC 603844：1989，IDT)；g)GBT 5994-20034电子设备用固定电容器第41部分空白详细规范 非固体电解质铝电容器评定水平E(IEC 603844一l：2000，IDT)；h)GBT

7、21041-2007电子设备用固定电容器第2】部分：分规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器(IEC 60384 21：2004，IDT)；i)GBT 21038 2007电子设备用固定电容器第211部分：空白详细规范表面安装用1类mGBT 21042-2007IEC 60384-22：2004多层瓷介固定电容器评定水平EZ(IEC 6038421一l：2004，IDT)；j)GBT 21042 2007电子设备用固定电容器第22部分：分规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器(IEC 6038422：2004，IDT)；k)GBT 21040 2007电子设备用固定电容器第221部分：空白详细规范

8、表面安装用2类多层瓷介固定电容器评定水平Ez(IEC 6038422一l：2004，IDT)。本标准的附录A为规范性附录，附录B为资料性附录。本标准由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由全国电子设备用阻容元件标准化技术委员会归口。本标准起草单位：中国电子技术标准化研究所(CESI)、泉洲火炬电子元件厂。本标准主要起草人：李舒平、蔡明通、梁永红。1 总则GBT 2 1 042-2007IEC 60384-22：2004电子设备用固定电容器第22部分：分规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器11范围本标准适用于电子设备中表面安装用无包封2类多层瓷介固定电容器，这些电容器有金属连接片或焊接带，并主要

9、用于印制电路板或在混合电路上直接安装。抑制电磁干扰电容器不包括在本分规范，包括在GBT 144721998。12 目的本标准的目的是对这类电容器规定优先额定值和特性，并从GBT 2693 2001中选择适用的质量评定程序、试验和测量方法，以及给出一般特性要求。在详细规范中规定的试验严酷度和要求，应具有与本规范相同或更高的性能水平，因此，降低的性能水平是不允许的。13规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的

10、引用文件，其最新版本适用于本标准。GBT 24711995 电阻器和电容器的优先数系(idt IEC 63：1963)GBT 2693-2001电子设备用固定电容器第1部分：总规范(idt IEC 3841：1 999)GBT 14472-1998 电子设备用固定电容器第14部分：分规范 抑制射频干扰用固定电容器IEC 600681：1988环境试验第1部分：总则和导则IEC 60068258：1999环境试验第258部分：试验一Td：可焊性，金属化层耐溶蚀性及表面安装元器件(SMD)耐焊接热IEC 604】0：1973计数检查抽样方案和程序IECQQC 001005按IECQ系统体系包括IS

11、O 9000批准的注册厂商、产品和服务机构Is0 3：1 973优先数和优先数系14详细规范中应给出的内容详细规范应按有关空白详细规范来制定。详细规范不应规定低于总规范、分规范或空白详细规范所规定的要求。当包括更严格的要求时，应列在详细规范的19中，并且应在试验一览表中注明，例如，用一星号(*)。注：为了方便起见，1 41的内容可以用表格形式来表示。每个详细规范中应规定下列内容，而且引用的值应优先从本分规范相应的条款所给出的值中选取。141外形图和尺寸为了便于辨认并与其他电容器进行比较，应有电容器的外形图。详细规范中还应规定对互换性和安装有影响的尺寸及其公差。所有尺寸都应优先用毫米标出。如果当

12、原始尺寸给出的是英寸时，应补充毫米换算值。一般应给出电容器主体长度、宽度和高度。当需要时，例如：当一个详细规范中包括若干项目(尺寸和电容量电压范围)，尺寸及其公差应用表格的方式放在图的下面。当外形结构与上述结构不同时，详细规范应规定足以描述这种电容器的尺寸内容。1GBT 21042-2007IEC 6038422：2004142安装详细规范应规定正常使用时所采用的安装方法。对于试验和测量用(当有要求时)应按本规范43的规定进行安装。143额定值和特性额定值和特性应符合本分规范的有关章条及下列规定：1431标称电容量范围见2241。注：当按详细规范批准的产品有不同电容量范围时，应附加下列说明：“

13、每个电压范围内各种电容量值应在鉴定合格产品一览表中给出。”1432特殊特性为设计和应用的目的，认为需要对元件适当地规定特殊的特性时，可以作为附加特性列出。1433焊接详细规范应规定用于可焊性和耐焊接热试验的试验方法、严酷度和要求。144标志详细规范应规定电容器本体上和包装上的标志内容。与本分规范16的差别应专门加以说明。15术语和定义除GBT 2693-2001适用的术语和定义外，还使用下列术语和定义。151表面安装电容器surface mount capacitor尺寸和引出端特性及形状适合于混合电路或印制线路板上表面安装的小型电容器。1522类瓷介固定电容器fixed capacitors

14、 ceramic dielectric，class 2适用于旁路或耦合或用在对损耗和电容量稳定性要求不高的电路中的具有高介电常数的一种电容器。该类陶瓷介质是以在类别温度范围内电容量非线性变化来表征。163等级 subclass等级是由在类别温度范围内，电容量相对于20。C的电容量的允许最大变化来确定的。等级可以用代码的形式来表示(见表3)。154类别温度范围category temperature rang电容器被设计能连续工作的环境温度范围；给出了上限和下限类别温度。155额定温度rated temperature能够连续施加额定电压的最高环境温度。156额定电压(DC)rated volt

15、age(DC)额定电压是在下限类别温度和额定温度之间，可以连续施加在电容器引出端上的最大直流电压或峰值脉冲电压。注：加在电容器上的直流电压和交流峰值电压之和或交流峰峰值电压(取其较大者)不应超过额定电压。交流峰值电压不应超过允许无功功率所确定的值。157类别电压category voltage类别电压是在上限类别温度下，可以连续施加在电容器上的最大电压。，GBT 21042-20071EC 6038422：200416标志按GBT 2693 200l的24和下列细则。161标志中给出的内容通常从下列项目中选取。每项的相对重要性由它在项目顺序中的位置来表示：a)标称电容量；b) 额定电压6 3

16、V 1 kHz 1 00，2 1 00 02100 pF10 pF 100 Hz或120 HZ 0502 0 5土002a所有额定电压Ua。4512要求非安装状态下测量的电容量应符合不考虑规定允许偏差的额定值。12GBT 21042-2007IEC 60384-22：2004按第3组规定的安装状态下测量的电容量，只是作为下一步试验的基准值。452损耗角正切(tan6)按GBT 2693 2001的48和下列细则。4521测量条件与451相同。测量仪器的准确度应等于或优于0001。4522要求在非安装状态下测量的损耗角正切应不超过表8规定的极限值。表8损耗角正切极限值额定电压UR 等级 损耗角正

17、切L，。lO V 所有等级代码 不超过0035或详细规范的规定值2B，2C，2R O1UR1 000 V，仲裁电压为1 000 V。绝缘电阻(R)应在施加电压后(60土5)s时进行测量。对于逐批检验(A组)，如果绝缘电阻达到要求值时，试验可以在更短的时间内结束。除非详细规范另有规定，电源的内阻与标称电容量的乘积应小于1 s。充电电流不应超过005 A。对于u。1 000 V时，详细规范中应给出一个较小的极限值。4533要求CR25 nF： R，4 000 M0CR25 nF： RCR100 s454耐电压按GBT 2693 2001的46和下列细则。4541试验条件R，和标称电容量c。的乘积小

18、于或等于l s。充电电流不超过005 A。对于u。1 000 V时，详细规范中应给出一个较小的极限值。为防止对电容器产生飞弧，试验可以在适当绝缘的媒介中进行。4542试验电压按GBT 2693 2001的453表3规定的测量点之间施加符合表9的试验电压。对于鉴定批准试验和周期检验施加电压的时间为1 min，对于质量一致性检验的逐批检验施加电压的时间为1 s。1 3GBT 21042-2007IEC 6038422：2004表9试验电压额定电压v 试验电压VU*i00 25UR100500 1 3UR4543要求电容器在试验期间应无击穿或飞弧。4，55阻抗(如果详细规范有要求)按GBT 2693

19、2001的410和下列细则。4551测量条件测量频率：100(110)kHz。4552要求阻抗在详细规范中规定。456等效串联电阻(ESR)(如果详细规范有要求)按GBT 2693-2001的482和下列细则。4561测量条件测量频率：100(110)kHz。4562要求等效串联电阻在详细规范中规定。46电容量温度特性461预处理按41。4，62测量条件按GBT 2693-2001的42412和42413和下列细则电容器应按表lo的条件在非安装状态下进行测量。表10测量条件温度 温度标记 施加直流电压叽20土2 a 口。“=3 b 202 d 巩“士2 f 岛2 f 202 g 只3 h 20

20、2 a表10(续)GBT 21042-2007IEC 60384-22：2004温度 温度标记 施加直流电压un注1：一表示不施加直流电压。表示施加直流电压。注2：应在每个中间温度下进行测量，以保证符合225的要求。注3：在“d”点测得的电容量作为基准电容量。注4：由于在41注中所叙述的效应，在温度标记“f”、“g”和“b”上施加直流电压时测得的电容量是与时间有关的。这种时间的关系包含在电容量变化极限内。在第一个和最后一个温度标记“a”之间所测得的电容量变化，也包括了老化的关系。在施加直流电压测量的结果有争议的情况下，可在温度记“f和“b”两次测量之间商定一个固定的时间间隔。a B下限类别温度

21、。b 岛一上限类别温度。463要求温度特性不应超过表3的规定值。47附着力按GBT 2693 2001的434。48端面镀层结合强度按GBT 2693-2001的435。弯曲直径和弯曲次数应在详细规范中规定。481初始测量电容量：相关见表5，2组。482最后测量电容量(基板在弯曲位置)：相关见表5，2组。外观检查：相关见表5，2组。49耐焊接热按IEC 60088 258：1999和下列细则。491预处理按41。492初始测量电容量测量应符合451。493试验条件4931焊槽法(适用于1 608 M，2 012 M和3 216 M)注：尺寸代码说明见表A1。如果详细规范中无其他规定，见IEC

22、60068 2 58：1999的第5章和第6章及下列细则样品应在110140下进行预加热并维持30 s60 s。温度：2605；浸渍时间：10 s士1 S；浸渍深度：10 mrll；浸渍次数：1。4932回流焊接系统按IEC 60068 258：1999的第7和8章及下列细则：a)适用于试验基片的焊料；b)详细规范中应规定焊料沉淀的厚度；GBT 21042-2007IEC 60384-22：2004c)样品的引出端应固定在焊剂上；d)除非详细规范另有规定，在回流焊接系统中，样品和试验基片应(150土i0)下预热60 s120 s；e) 回流系统的温度应迅速升至使样品达到(2355)，并在这个温

23、度维持(10土1)S。试验次数：2；f)温度曲线应在详细规范中规定。494恢复电容器应恢复24 h2 h。流出的残余物应用适当的溶剂清除。495最后检查、测量和要求恢复后，电容器应进行外观检查和测量，并应符合下列要求：在一般光照下和10倍放大镜下，应无损伤迹象，如裂纹。末端镀层剥离不超过相关边缘长度的25。详细规范应作出更详细的规定。测量电容量应符合461，变化不超过表ll中的值。表11最大电容量变化等级 要求2B和2C lO2D和2R 1 52E和ZF 00注；等级代号的说明见225。410可焊性按IEC 60068 258：1999和下列细则。4101试验条件41011焊槽法(适用于1 6

24、08 M，2 012 M和3 216 M)注：尺寸代码说明见表A1。如果详细规范中无其他规定，见IEC 60068258：1999的第5和6章及下列细则：样品应在80。C140下进行预加热并维持30 s60 s。温度：2355；浸渍时间：2 s02 s；浸渍深度：10 m“；浸渍次数：1。41012回流焊接系统按IEC 60068258：1999的第7和8章及下列细则：a)适用于试验基片的焊料；b) 详细规范中应规定焊料沉积的厚度；c)样品的引出端应固定在焊剂上；d)除非详细规范另有规定，在红外线和气压转换焊接系统中，样品和试验基片应(15010)下预热60 s120 S；e) 回流系统的温度

25、应迅速升至使样品达到(2153)，并在这个温度维持(101)s。f)温度曲线应在详细规范中规定。4102恢复流出的残余物应用适当的溶剂清除。16GBT 2 1 042-2007IEC 60381422：200144103最后检查，测量和要求电容器应进行外观检查和测量，并应符合下列要求：在一般光照下和10倍放大镜下，应无损伤迹象。端头和连接区域均应覆盖上平滑、光亮的焊料层，允许有少量分散的缺陷，如针孔或未润湿或润湿不良的缺陷，这些缺陷不应集中在一个区域。详细规范应作出更详细的规定。411温度快速变化(仅适用于类别温度高于110的电容器)按GBT 2693 2001的416和下列细则。电容器应按本

26、分规范43进行安装。4111预处理按41。4112初始测量应按451测量电容量。4113循环次数5次。在极限温度下放置时间为30 rain。4114恢复24 h士2 h。4115最后检查、测量和要求电容器应进行外观检查，无可见损伤。应按451测量电容量，电容量变化应不超过表12的规定值。表12最大电容量变化等级 要求2B和2C 土lO2D和2R 1 52E和2F 20注：等级代号的说明见225。412气候顺序按GBT 2693 2001的421和下列细则。4121预处理按41。4122初始测量应按451测量电容量。4123千热按GBT 2693 2001的4212。4124循环湿热，试验Db，

27、第一个循环按GBT 2693-2001的4213。4125寒冷按GBT 2693-2001的4214和下列细则。41251最后检查和要求电容器应进行外观检查，无可见损伤。GBT 21042-2007IEC 60384-22：20044126循环湿热，试验Db，其余循环按GBT 2693 2001的4216和下列细则。41261试验条件不施加电压。见表13。表13循环湿热的次数类 别 循环次数(一次循环为24 h)L幅6 5一21 1nq l04 O41262恢复(24士2)h。4127最后检查、测量和要求电容器应进行外观检查。应无可见损伤。应测量电容器并符合下列要求：如果电容量小于允许最小值时

28、，则在其他的测量之后电容器按41进行预处理并应符合表14的要求。表14最后检查、测量和要求要 求测量项目 测量和条件2B和2C等级 2D和2R等级 2E等级 2F等级电容量 451 CC10 ACC15 ACC士20 ACC土30损耗角正切 4。52 2452的值绝缘电阻 453 R1 000 MQ或RcR25 s(取较小者)注：等级代码的说明见225。413稳态湿热按GBT 2693-2001的422和下列细则。电容器应按43的规定进行安装。4131预处理按41。4132初始测量应按451测量电容量。4133试验条件详细规范除非另有规定，不施加电压。当规定施加电压时，样本的一半施加额定电压而

29、样本的另一半不施加电压。稳态湿热完成后1 5 rain内按454的规定进行耐电压试验，但施加额定电压。注：鉴于安全原因，详细规范中应给出额定电压太于或等于1kV时施加的不同电压条件。4134恢复电容器应恢复24 h土2 h。4135最后检查、测量和要求电容器应进行外观检查，无可见损伤。应测量电容器并符合下列要求：1 8GBT 21042-2007IEC 6038422：2004如果电容量小于允许最小值时，则在其他的测量之后电容器按4I进行预处理并应符合表15的要求。表15最后检查、测量和要求要 求测量项目 测量和条件2B和2C等级 2D和2R等级 2E等级 2F等级电容量 45 1 cc10

30、cc15 cc士20 cyo士30损耗角正切 452 2452的值绝缘电阻 4 5 3 R1 000 Mn或RcR25 s(取较小者)注：等级代码的说明见225。414耐久性按GBT 2693-2001的423和下列细则。电容器应按43的规定进行安装。4141预处理按41。4142初始测量应按451测量电容量。4143试验条件电容器应按下列进行试验：如果额定电压等于类别电压，电容器应按表16进行试验。表16耐久性试验条件(u。=Un)URV UR200 200500温度 上限类别温度电压(DC) 1 5UR 13UR 12UR持续时间 l 000 h 1 500 h 2 000 h如果额定电压

31、不等于类别电压，电容器应按表17进行试验。表17耐久性试验条件(u。U。)URV UR200 200500温度 岛 岛 01 岛 B 岛电压(DC) 15UR 1 5U 13UR 137c 12UR 12Ur持续时间 1 000 h l 500 h 2 000 h样本 分成两部分 分成两部分 分成两部分鼠一额定温度。岛一上限类别温度大于85，如100。4144恢复电容器应恢复24 hi2 h。4145最后检查、测量和要求电容器应进行外观检查，无可见损伤。应测量电容器并符合下列要求：如果电容量小于允许最小值时，则在其他的测量之后电容器按41进行预处理并应符合表18的】9GBT 21042-200

32、71EC 6038422：2004要求。表18最后检查、测和要求要 求测量项目 测量和条件2B和2C等级 2D和2R等级 2E等级 2F等级电容量 4 5 l CC士10 CC土15 aCC20 CC士30损耗角正切 452 24，52的值绝缘电阻 453 R2 000 Mfl或RCR50 s(取较小者)注：等级代码的说明见2 2 5。415引出端强度(仅对带状引出端)按GBT 2693 2001的413和下列细则。4151试验条件除非详细规范另有规定，试验条件如下：试验Ua：力：25 N；试验Ub方法l：力：25 N；弯曲次数；1。4152最后检验和要求电容器应进行外观检查，无可见损伤。41

33、6元件耐溶剂(如果适用)按GBT 2693-2001的431。417标志耐溶剂(如果适用)按GBT 2693-2001的432。418加速稳态湿热(如果要求)按GBT 2693-2001的437和下列细则：电容器应按43的规定进行安装。一半数量的电容器应与100(1士10)kll的电阻器串联，另一半数量的电容器应与68(1lo)kn的电阻器串联。418。1初始测量在电容器一电阻器串联的两端施加15 V01 V的电压，测量电容器的绝缘电阻。绝缘电阻应符合表19的规定。表19初始测量测量项目 测量条件 要 求绝缘电阻 (150 1)V 与100 kn电阻连接 cR25 nF撼4 000 Mn或cR

34、25 nF：(R一100 kn)cRi00 S与68 kn电阻连接 CR25 nF：尺4 000 Mfl或CR25 nF：(R一68 kn)Ck100 s4182试验条件连接有电阻器的电容器在(852)、(85土3)相对湿度的环境下的试验时间如表20。与100 kfl电阻器连接的电容器和与68 kn电阻器连接的电容器分别应施加的电压如表19。在两种情况下，均应在电容器电阻器跨接的两端施加电压。试验时应注意防止电容器或基片凝露。如果试验时在温度降低前门始终开着，就极有可能发生凝露。20表20条件GBT 21042-2007IEC 60384-22：2004连接电阻 施加电压 持续时间100 kn

35、 (1 5士01)V或详细规范中规定的电压168 h、500 h或l 000 h；按详细规范的(50+0，1)V或ua，取较低者。或详细规范中规6 8 kCl 规定定的电压4183恢复断开施加的电压，电容器和电阻器从试验箱中取出，允许在试验用标准大气条件下恢复22 h26 h。4184最后测量电容器应按4181测量绝缘电阻。绝缘电阻应大于4181的lo。GBT 21042-2007IEC 6038422：2004附录A(规范性附录)规范和表面安装2类多层瓷介固定电容器的尺寸代码的导则图A1和表A1中给出的原理图应包括表面安装电容器的尺寸。尺寸w不应超过Lt；尺寸H不应超过W；如果需要，应规定镀

36、锡厚度。图A1尺寸表A1 尺寸外形代码 长mm 宽mm L2和厶 L。0603M 06士003 03003 0 i mln 02rain1005M l 0土0 05 0 5士0 05 0 1 mill 03 mln1608M 1601 0801 0 2 mIn 05 rain2012M 200 1 1 2501 02mln 07 rain3216M 3 2士02 1 6士015 03rain 14mlll3225M 3202 250，2 05rain 14 rain4532M 45士03 3202 03rain 2 0 mln5750M 57土04 5 004 03 rilin 25 min注

37、：尺寸用毫米。其他外壳号和尺寸应在详细规范中规定。GBT 21042-20071EC 60384-22：2004附录B(资料性附录)2类瓷介电容器电容量的老化B1 引言瓷介电容器所采用大多数2类陶瓷介质，都具有铁电特性并呈现出一个居里温度。介质在这个温度以上具有高度对称的立方晶体结构，而低于居里温度时，立方晶体结构的对称性就降低。即使在单晶体内这种状态的转变也是很明显的。在实际陶瓷中通常被扩大到一个有限的温度范围之内，但在所有的情况下，它是电容量温度曲线上的某一个峰值。在热波动的影响下，在介质冷却至居里温度之后，在一段很长的时间内，晶体点阵中的离子会连续运动到热能较小的位置，这就引起了电容量老

38、化现象。从此电容器的电容量不断地减小。如果将电容器加热至高于居里温度的某一个温度，则就会起到消除老化作用，即通过老化而使电容量减小的部分恢复，而在电容器再次冷却时，会重新开始老化。B2电容量老化规律从冷却至居里温度之后的第1 h内，电容量的减小是不好确定的。但从这时间之后它按对数规律减小(见KWplessner，phys，SOCv0169B，p1261，1956)这个规律可用一个老化常数表示。老化常数k用介质老化过程中引起的电容量减小的百分比来表示。其介质的老化过程是以“10倍”的变化方式进行的，即是在某一个时问内，例如1 h到10 h，电容器的老化增加10倍。由于电容量减小的规律呈对数的，在

39、1 h到100 h之间老化，则电容量减小的百分比将是2，在1 h到1 000 h之间老化将是3 k。这可以用下列数字方程表示：Cr=C1(卜盎lg)式中：G老化过程开始后f(h)的电容量；c，老化过程开始后1 h的电容量；女老化常数用每10倍的(与上述定义相同)百分比表示；r从老化过程开始起经过的时间，h。对于一种具体的陶瓷介质，其老化常数可由制造者给出或可以由电容器消除老化并在两个已知的时间之后测量的电容量来确定。k由下列方程算出：， 100(GlG2)“Cllgf2一G2Igtl如果电容量进行过三次或多次测量的话，则它可以从c，与19的关系图中给出的斜率推导出k值。它也可以是lgC与Ig所

40、绘出的图。在电容量老化期内的测量应保持在一个恒定的温度下。由温度特性而引起的电容量的变化不致掩盖由于老化所引起的变化。B3 电容量的测量和电容量允许偏差因为老化，必须规定电容量在允许偏差范围内的老化标准。这是固定在l 000 h，因为在实用中，在23GBT 21042-2007IEC 60384-22：2004此时间以后，电容量再进一步减小是不多的。为了推算10 000 h后的电容量c。，老化常数必须知道或上述条款测定时，可以采用下列公式：r k 1c100Pcr 1南“3_lg曲J对于工厂测量，从测量时问老化到1 000 h电容量减小将是知道的，并可以采用不对称的检验偏差来补偿。例如：如果知

41、道电容量的减小为5，那么电容器可以按+25一15的极限检验而不是按土20检验。电容量通常是以20下的值标示的，而且必须在这个温度下测量或必须将结果校正到这个温度下的值。误差可能是由于手上的热引起的，因此电容器必须用夹子取放。B4预处理(见41)在本分规范内许多试验中要求测量电容量变化，电容量变化是由个给定的条件(如气候顺序)引起的，为了避免老化干扰的作用，在这些试验之前应进行专门预处理，在上限类别温度下保持1 h，接着在试验用标准大气条件下保持24 h。对居里温度低于上限类别温度的电容器，这就会导致消除老化，随后使电容器进行24 h老化。如果可能使电容器进行24 h老化，还要安排试验之后的恢复，使老化引起的电容量变化减至最小。如果介质的居里温度高于上限类别温度，那么专门预处理不会完全使电容器消除老化，但是将仍然会使电容器变成种状态，在这种状态下，它的电容量与它以前的历史无关并将达到仍然是完全消除老化同样的效果。为了使电容器完全消除老化，可以要求温度升高达160，在这个温度可能对包封层有损伤。因此，在要求这种电容器完全消除老化的少数情况下，各种必要措施的细节应在详细规范中考虑。24