GB T 19436.2-2004 机械电气安全 电敏防护装置 第2部分;使用有源光电防护器件(AOPDs)设备的特殊要求.pdf

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1、GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2,1997 前言GB/T 19436(机械电气安全电敏防护装置共分4个部分g第1部分一般要求和试验g第2部分使用有源光电防护器件(AOPDs)设备的特殊要求;第3部分使用有源光电漫反射器件(AOPDDR)设备的特殊要求，第4部分z基于视觉防护器件的特殊要求。本部分为GB/T19436的第2部分，等同采用IEC61496-2，1997(机械安全电敏防护装置第2部分z使用有源光电防护器件(AOPDs)设备的特殊要求)(第一版，英文版)。本部分中所缺条款见GB/T19436.1，应与GB/T19436. 1一同使用。本部分中OSSD为Out

2、putSignal Switchi吨Device的缩写，见GB/T19436.1的3.190OSSDs或OSSD(价的下标S，表示复数，与IEC标准一致。为便于使用，本部分做了下列编辑性修改a) 将适用于国际标准的表述改为适用于我国标准的表述(包括标点符号hb) 将IEC61496-2，1997标准名称中的机械安全修改为本部分标准名称中的机械电气安全f本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国工业机械电气系统标准化技术委员会(SACjTC231)归口。本部分起草单位:中国九川电器有限公司、北京机床研究所、国家机床质量监督检验中心。本部分主要起草人=陈建国、阐武、黄麟、黄祖广、郑武、马永友。G

3、B/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2 ,1997 冒|言同电敏防护装置(ESPE)适用于对人体存在伤害风险的机械e古能在人处于危险状态前，使机械囚复到安全状态，从而提供保护。GB/T 19436的本部分对广泛应用的ESPE的一般设计和性能要求作出规定。满足本部分要求的设备最基本特征是具有相当的安全性能水平和为保持此性能水平而规定的内置式周期性的功能检查/自检.本部分对GBjT19436. 1的相应条款进行补充和修改。至于第1部分中的特殊条款在第2部分中并未提到也是合理的。本部分所述的补充，修改或替换是替代第1部分的有关内容。本部分具有产品系列标准的地位，可以用作机械安全专

4、用产品标准引用。每种类型的机械都有自己特定的危险，本部分的目的不是推荐ESPE在任何特定机械上使用的方式。ESPE的应用是供方、机械用户和实施机构之间应该协商的事，在这方面，注意国、内外的相关指导，例如GBjT15706(eqv ISOjTR 12100)。1 范围GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 机械电气安全电敏防护装置第2部分:使用有源光电防护器件(AOPDs)设备的特殊要求GB/T 19436的本部分规定了敏感功能使用有源光电防护器件(AOPDs)，用于机械安全防护的电敏防护装置(ESPEJ的设计、制造和试验的特殊要求。要特别注意，保证获得适宜的安

5、全性能的特点。ESPE可能包括一些可供选择的安全功能，对此类功能的要求见GB/T19436. 1附录A，本部分没有规定检测区的尺寸或配置和任何特殊应用中有关危险的布局，也未说明是什么构成任伺机械的危险状态。本部分只限于ESPE的功能及其怎样与机械连接。本部分不包括使用辐射波长在400nm1500 nm范围以外的AOPDs，本部分可能与那些对非人体保护的应用有关，例如:保护机械或产品免于机械损坏。在这些应用中，可能需要附加的要求，例如:必须由敏感功能辨认的材料，具有不同于人的一些特性。本部分不涉及电磁兼容性(EMC)发射要求。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T19436本部分的引用而

6、成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分。然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 19436. 1-2004机械电气安全电敏防护装置第l部分2一般要求和试验。EC61496-1: 1997 ,IDTJ GB/T 7247.1-2001激光产品的安全第1部分z设备分类、要求和用户指南(idtIEC60825-1: 1993) 3 术语和定义注:本章定义的术语和缩略语且指示它们在本部分正文中何处使用，按英文字母的顺序列入索引。GB/T 19436.1确

7、立的以及下列术语和定义适用于本部分。3.201 有源光电防护器件(AOPD) active opto-electronic protective device (AOrD) 这种器件的敏感功能是通过光电发射和接收元件来实现的。元件通过存在于规定检测区内的不透明物体，对器件内生成的光辐射的中断进行检测。注，AOPDs是按照通过射线原理，光射束通过检测区一次，或者是按照反射原理，光射柬通过检测区二次来工作的。3.202 AOPD检测能力AOPD detection capability 在有源光电防护器件(AOPDl中，当光帘置于检测区或光射束装置放在射线的轴线上时，起动敏感器件所显示不透明圆柱的

8、直径尺寸。3.203 光束中心线beam center-line 四月19436.2-2004jIEC 61496-2: 1997 在有源光电防护器件(AOPD)中，连接发射元件光心和接收元件光心的光程，指在正常操作时，响应发射元件的光。注1，光束的光轴不总是在射束中心线上。注2，正常操作可能出现光束中心线的物理位移(例如通过使用电动机驱动的反射镜)。3.204 有效孔径角(EAA)effeclive aperture angle (EAA) 是有源光电防护器件(AOPD)正常工作时，发射元件和接收元件光学中心线的最大偏差角。3.205 光束装置light beam device 包含个发射元

9、件和一个接收元件的有源光电防护器件(AOPD)，供方不规定检测区。注，AOPD能包含一个以上光束装置的配置。3.206 光帘Iight curtain 有源光电防护器件(AOPD)包含一个或多个发射元件集成组合和一个或多个接收元件，形成有检测能力的检测区，由供方规定。3.207 试件test piece 不透明圆柱形元件，用于检测有源光电防护器件(AOPD)的检测能力。3.208 脱扣装置trip device 当人或人体的某部位被敏感功能探测到时，引起机械或机械单元停止(或保证处于非危险状态)的装置。3.209 脱扣装置试件trip device test piece 试件用于检验用作脱扣装

10、置的有源光电防护器件(AOPD)的检测能力。4 功能、设计和环境的要求GB/T 19436.1此章按下列替换和补充后都适用于本部分34.1 功能要求4. 1. 2 敏感功能替换-4. 1. 2.1 概述敏感功能在供方规定的检测区或定义的信号范围内都应有效。应使用钥匙、关键字或工具，方可对检测区或定义的信号范围进行调整。当试件根据4.2.13的要求以任何角度安放在检测区内任何地方静止或以下列任何速度运动，光帘的敏感器件应被起动:AOPD的检测能力:;40mm，速度应为om/s2. 5 m/s; 一-AOPD的检测能力40mm，速度应为om/sL 6 m/s, 供方表明光帘装置能用作脱扣装置时，敏

11、感器件应被起动，OSSDs处于断开状态的时间应至少100 ms，当脱扣装置试件，其直径与所表明的AOPD的检测能力相当，且长度为150mm 时，以L6 m/s 的速度通过检测区，在检测区内任点，运动方向是沿着圆柱体的轴线方向并垂直于检测区。当光束中的试件符合4.2.13要求时，在动作距离的任一点，圆柱体的轴垂直于光束轴，光束装置的敏感器件应被起动。GBjT 19436. 2-2004jIEC 61496-2: 1997 供方表明光束装置能用作脱扣装置时，敏感器件应被起动，OSSDs处于断开状态的时间应至少100 ms，当脱扣装置试件的直径与所表明的AOPD的检测能力相当，且长度为150mm时，

12、以1.6 m/s 的速度穿过光束，在整个动作距离的任一点，运动方向是沿着圆柱体轴线并垂直于光束袖。供方注明的AOPD能用来检测移动速度大于上述规定值的物体时，以任何速度直至规定的最高速度移动，都应符合上述要求。4. 1. 2. 2 AOPD运用反射技术的补充要求运用反射技术的光束装置应监控发射/接收元件和反射元件之间的动作距离，准确度为士0.5m。当动作距离变动超过土。.5m时，OSSDs输出信号开关电器应达到并保持断开状态。当大小等于试件直径和长度的反射平面物(见4.2.13)，被放在距反射元件大于0.5m的光束任何位置，光束装置的敏感器件应被起动。在正常工作条件下，当相同的反射器的放置与发

13、射/接收元件的敏感表面相接触时，装有使用反射技术的AOPD的类型4ESPE的OSSDs应达到并保持断开状态。下列情况，AOPD的敏感器件应起动:当尺寸和形状与试件相同的高反射圆柱物体，被放置在检测区内任何一位置;或当尺寸与试件的直径和长度相同的高反射平面物，被放置在与光轴相垂直的检测l区内任一位置。高反射表面应由镜型反射表面组成，表面的反射系数大于或等于工作波长的90%，例如抛光镀铭或抛光铝。4.2 设计要求4.2.2 故障检测要求4.2.2.3 类型2ESPE的特殊要求替换z类型2ESPE应有定期试验措施以暴露失效危险(如敏感装置失去检测能力，响应时间超过规定值)。试验信号应模拟敏感器件的起

14、动，定期试验的持续时间不应超过150ms。此试验应检验每一光束按供方规定的方式运行。采用外部(如机械)安全控制系统引发定期试验的地方.ESPE应配备适当的输入装置(如端子)。补充设计要求:4.2.12 AOPD检测能力的完整性当AOPD按下列任一和全部的组合条件工作时，AOPD的设计应使AOPD的检测能力保持低于或等于供方所指定的值.一一说明书里的任何条件;在4.3(GB/T 19436. 1和本部分)中规定的环境条件，排列和/或调整的限制。如果单一故障(如GB/T19436.1-24附录B的规定)，在正常工作条件下(见GB/T19436.1-2004的5. 1. 2. 1)，将不会导致AOP

15、D丧失检测能力。但是当上述故障组合出现时，将会导致丧失检测能力。故障与多种条件的组合，应被认为是单一故障并且AOPD应对这类单一故障，按4.2.2的要求响应。4.2.13 试件试件应是圆柱形和不透明的，最短有效长度为200mm，试件直径应不超过供方所述的AOPD检测能力。对检测能力不超过40mm的AOPD.光帘用试件应由供方提供，并应标志如下:用mm标明直径，型号标记及带试件的AOPD的说明。应通过检查来检验GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2 , 1997 4.2.14 外部反射和偏离4.2.14.1 外部反射ESPE根据供方说明排列，当反射表面放置在图1所说明的任何

16、位置时，ESPE应不发生危险。在供方说明的所有其他条件下，此要求应适用于每种光束。注2在反射表面邻近检测区时，或由于安装时偏离方向时，此要求用来防止旱统发生危险。4.2.14.2偏离偏离角度超过图2、类型2ESPE的表1及类型4ESPE的表2所示的角度时，0SSO(s)应处于断开状态。光帘的工作范围(长度尺寸l/m表1取决于光帘尺寸的类型2ESPE最大允许偏离角最外部光束中心线之间的距离(侧面尺寸)/mm300 8.3 11. 2 14.0 16.8 0000 3456 1800 51. 8 71. 4 93.6 122.1 光帘的工作范围(长度尺寸l/m表2取决于光帘尺寸的类型4ESPE最大

17、允许偏离角最外部光束中心线之间的距离(侧面尺寸)/mm300 2603 4578 0000 3456 1 800 25.2 33.8 42.7 51. 8 4.2.14.3 检验这些要求应用图3所提供的选择程序来检验，符合5.2. 9. 2的试验和要求，或符合5.2. 9. 3和5.2.9.4的试验。4.2.15 波长AOPO应在波长400nm1500 nm范围内工作。4.2.16 辐射强度由AOPO产生和发射的辐射强度在任何时候都不应超过GB7247. 1-2001的9.3、9.4和表I规定的1类激光器的最大功率或能量等级。4.3 环境要求补充24.3.5 光干扰ESPE经受下列光干扰时，应

18、能继续正常工作z臼炽光:用高频电子电源激发的荧光。ESPE经受下列光干扰时，不应发生失效危险高强度白炽光(用石英灯模拟的日光);GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 频闪光;对于类型4的ESPE.来自相同设计的发射元件的辐射。当ESPE符合5.4.6的试验时，这些要求应被满足。注1，不包括红外线遥控装置(如用于控制起重机的辐射效应的要求。注2.为保证系统不发生失效危险，对在特殊使用时可能存在的其他形式的辐射效应(例如来自焊接飞溅物的辐射).有必要采取其他安全措施5 试验GB/T 19436. 1此章按下列补充和替换后都适用于本部分。5.1 概述5. 1. 1

19、 型式试验5. 1. 1. 2 工作条件补充z由于试验的目的，光帘检测区的平面可以是垂直的或是水平的。5. 1. 2 试验条件5. 1. 2. 2 测量精度对GB/T19436.1的本条补充如下:角度测量土o.l。5.2 功能试验5.2.1 敏感功能和检测能力替换35.2. 1. 1 敏感功能应检验敏感器件起动，适当场合OSSD(s)按下述达到断开状态，要考虑到AOPD操作的原则，尤其是用于保证耐受环境干扰的技术。对于光帘z以45。角和90角(见图4和图5)在检测区每端和两端中间，慢移检测区内的试件穿过光束g把试件静止放在检测区的任何位置上和/或放在5.2.1.2分析所得的临界角度上;将检测区

20、内的试件，以4.1.2.1规定的最快速度，或经5.2. 1. 2分析所得的极限速度范围内的任何其他速度移动，穿过光束;供方表明光帘能用作脱扣装置时，以1.6 m/s的速度移动脱扣装置试件通过检测区，在检测区末端(如在每个角落和经5.2. 1. 2分析所得极限内的任何其他位置，移动方向和脱扣装置试件的轴垂直于检测平面。光束装置:一-通过把光束中的试件放在光束的每端和沿光束的中间，使试件轴与光束垂直;-一供方表明光束装置能用作脱扣装置时，以1.6 m/s速度移动脱扣装置试件通过光束区，位于光束各端，沿光束中间及经分析所得极限动作距离的任一点上，移动方向和脱扣装置试件的轴与光束轴垂直。上述试验应以A

21、OPD工作在规定的最小动作距离或0.5m及在规定的最大动作距离时进行。5.2. 1. 2 AOPD检测能力的完整性应通过对AOPD设计的系统性分析，适当时用试验来检验AOPD检测能力的保持或ESPE没有发生危险，此试验应考虑到4.1. 2和4.2.12规定的条件的所有组合，及5.3表示的故障。注.如果AOPD的检测能力，是通过基于在检测区内任何地方，至少种光束完全被掩遮的几何学获得的话，则没有必要进步分析和试验。GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2 ,1997 系统性分析结果应与5.4中要求的试验相同，另外还与响应时间的测量相同。5. 2. 1. 3 使用反射技术的AO

22、PD补充试验对于使用反射技术的光束装置，OSSD(s)应达到断开状态。在此期间，反射器应沿着光轴方向从指示位置移至小于或等于0.5m的距离，并保持此状态为从指示位置进一步移动。当尺寸等于试件直径和长度的反射平面物体，被安置在光束装置光抽上并互相垂直，距反射平面为0.55 m时，对敏感器件的起动应进行检验。对于使用反射技术的光帘，当相同的反射器与发射/接收元件的敏感表面相接触时，类型4的ESPE的OSSD(s)，应达到断开状态。敏感器件被起动在下列情况应检验:1) 当大小等于试件的高反射圆柱体，被安放在光帘检测区内任何位置，或光束装置的光束中时;2) 当大于等于试件的直径和长度的高反射平面物体，

23、被插人到光帘检测区内任何位置，或与光轴垂直的光束装置的光束中时。补充功能试验:5.2.9 外部反射和偏离5.2.9.1 光电系统分析和试验方法的选择5.2.9. 1. 1 分析应进行光电系统的分析以确定:1) 发射和接收元件的绝对和相对光轴s2) 发射和接收元件在所有方向离轴相对强度和敏感度;3) 使用的过滤技术及其特性的证明;4) 确定敏感功能的状态所使用的标准;5) 多光束装置中的光束相对敏感度;6) 根据图2及表l和表2(见4.2.14.幻，在供方允许的工作条件范围内正常操作条件下，偏离的限定;7) 上述参数的公差。通过分析所得出与之相关的其他信息;依据4.22，未检测出的故障对光电特性

24、的影响。此分析结果应通过适当实际试验加以检验。注:采用下列设备可以进行试验，例如2对发射波长响应的视频照相机;补充或替换的发射元件5补充或替换的接收元件;中性密度过滤器g补充或替换过滤器，一一具有其他特殊特性的补充过滤器(需要时)。应通过分析结果确定能否满足4.2.14的要求如果能满足4.2.14要求，那么分析结果应用于确定EAA试验方法是否适用于检验(见图3)。5.2.9. 1. 2 用图3选择试验方法当AOPD的设计和安装(在常规批量可达到的制造公差内)，能使检测平面和/或光束中心线达到光学对称，并且使用相同光学参数，等同设计的发送和接收元件时，EAA测试方法是合适的(见5.2.9.2)。

25、应考虑下列因素一一光束轴上及离铀的强度，轴上及离轴的敏感度;GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 在类似元件之间光束的方向和定位(如个发射配置和另一配置之间.或一个接收配置和另一配置之间)。如果不满足这些条件，应采用5.2.9.3和5.2.9.4的试验进行检验。5.2.9.2 有效孔径角(EAA)试验方法对于类型2ESPE的AOPD，在发射和接收元件之间，或在发射器/接收器元件和反射器之间的距离超过3m时，各光束的EAA与光轴应不超过5对于距离从O.5 m3. 0 m(包括3.0m)，各光束的EAA应不超过图6所给的值。对于类型4ESPE的AOPD，在发射和

26、接收元件之间，或在发射器/接收器元件和反射器之间的距离超过3m时，各光束的EAA与光轴应不超过2.5对于距离从O.5 m3. 0 m(包括3.0m)，各光束的EAA不超过图6所给的值。作为发射器和接收器组件的光轴，或发射器/接收器组件和反射器的光轴，脱离光中心线旋转，AOPD从接通状态转换到断开状态再回复到接通状态.应由以下试验确定该元件的EAA的极限值(见图7和图8)。当反射器组件或发射器/接收器组件，与接收器组件或回射器固定于光中心线上时，接收器组件或回射器的偏离角度应被测量。当接收器组件或回射器，与发射器组件或发射器/接收器组件固定于光中心线上时，发射元件或发射器/接收器元件的偏离角度应

27、被自由l量。应按以下方式进行测量2应通过把组件从中心线位置旋转90来确定EAA，OSSD(s)应处于断开状态。然后此组件应旋转返国中心线位置，直到OSSD(s)处于接通状态的位置，此位置和中心线位置之间的角度就是EAA。注1:在0到90位置之间旋转期间，当OSSD(到在断开状态和接通状态之间转换不止一次时，要检查边凸角。以图6所规定的动作距离，对于图7和图8所给定的旋转方向应进行试验。如果规定的最短动作距离超过3m，应进行类似试验来确定在最短动作距离的EAA(见图们。注2:对于制造厂规定的可进行长距离操作的AOPD，当显示出所获得结果与在所规定动作距离获得的结果相一致时.可以采用中性密度过滤器

28、进行超短距离试验。注3在光帘或不止一种光束装置构成的AOPD上测得的EAA，就是高最小EAA的光束。个别光束或接收元件特性之间的差异，和/或它们定位中差别，使测量的EAA不能形成典型的外部反射功能，当怀疑能否满足4.2.14要求时，应进行补充试验。当有必要进行补充试验时(见图3)，应施加5.2.9.3和5.2.9.4中的所有或部分试验，以确定是否满足4.2.14要求。注4当光束横断面(用于发射器)或接收圆锥的横断面(用于接收器)，为蛋形、椭圆形、长方形或是一种并不朝垂直丑不在水平方向延伸而形成的形状时，建议特别注意其设计。5.2.9.3 外部反射应将光轴中的AOPD调整至供方指定的最佳对光0.

29、1。以内，例如在规定范围的中点。按照图1中指示的每个位置，依次放置反射器并将其倾斜，以获得从发射器到接收器的最大光传输，应进行C试验。反射器应扁平，平面的尺寸为50mmX50 mm，对应于发射波长时应有0.95的最小反射比。由供方规定的每个动作距离即0.5m , O. 75 m、1.5m和3.0m，都应进行试验。规定的最小动作距离超过3.0m时，应进行最小动作距离试验。各光束中心线应在各个位置进行试验，除非通过5.2.9.1的分析能准确预测试验结果(如有匹配特性的多光束系统的光束);如分析指示可减少试验数时，应在各动作距离进行试验(最少试验数):多光束的两条光束中心线或移动光束AOPD在各可行

30、的反射器位置进行试验。有反射器试验位置最多的光束中心线应至少试验一条(如矩形光帘的最外部光束中心线)。当认为临界值为5.2.9.1中分析的结果时，试验应在图1的表中用c和d较大值的反射器试验位置进行。当进行C试验时，在发射器和接收器之间的直接光路，应被试件完全阻断。但是通过反射器的间GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2 ,1997 接光路，不应对其横断面任何部分加以阻断。注2在短动作范围内，试件的定位是很关键的。应采用5.2.9.2中所述技术来检测在发射器或接收器上存在的边凸角。在检测到边凸角的地方，在适当位置应用反射器进行补充试验。如有必要，将此元件偏离以保证这个边凸

31、角不会妨碍4.2.14的要求。5.2.9.4 偏离根据供方说明，AOPO应在光学上成直线，并且OSSO(s)应处于接通状态。按图2所示，偏离角度应从0增加到OSSO(s)达到并保持断开状态时的角度。这种情况在角度不超过表1或表2所给的适当值时应发生。在OSSO(s)仍保持断开状态时，此角度应逐渐增加到180。在y(见图2)大于160的地方，此试验不需进行。5.2.10 波长传输波长应通过检查装置数据表或通过测量进行检验。5.2.11 辐射强度应按GB7247. 1-2001规定的测量和供方声明的检查来检验辐射强度。5.4 环境试验补充环境试验-5.4.6 光干扰5.4.6.1 概述每项试验应在

32、供方规定的AOPO最大和最小动作距离进行，并把所述条件作为最低要求。如下情况下，补充试验应在动作距离和环境条件的不同组合下进行。供方规定较高抗扰度水平时，应用适当光源通过试验来检验;和/或一-5.2.1.2或5.2.9.1的分析表明这样的试验是必要的。在B试验和C试验期间，试件应以于涉光没有被中断的方式下引人检测区。5.4.6.4、5.4.6.5和5.4.6.6的试验要求干涉光沿着接收元件的光轴方向。所使用的试验配置应与试验中的AOPO的特性相适应，通过5.2. 9. 1和5.2. 9. 2的分析，和任何进一步的分析及特性来确定。注1作为设计多样性的结果，没有适合所有型号AOPD的单一试验配置

33、。图9、图10和图11是试验结构的三个例子，并指出一些优缺点。注2在试验期间，只要结果不受影响，可以通过密度过滤器模拟最大范围的动作，如图9、图10和图11所示。注3如果接收元件有窄接收度.5.4.6的试验使用的密度过滤器可能使己选择的角度达不到，此时，可以不使用密度过滤器，试验配置不应改变到达AOPO接收元件的光的特性，光特性影响AOPO的工作。反射器、镜片、滤光器、光束器、窗等被使用的地方，应检验光特性任何变化不产生有效影响(如光谱分配、极化)。5.4.6.2 光源光源应是下列几种2a) 白炽光源=线性鸽卤素(石英)灯，有以下特性.色温3000K-3 200 K; 输入功率500W-1 k

34、W(额定功率);一一额定电压100 V-250 V范围内的任何值;电源电压z额定电压土2%, 48 Hz-62 Hz正弦交流;长度，150 mm-250 mm, 此灯应安装在抛物面反射器中，最小尺寸为150mmX 200 mm，经漫射抛光和有均匀的反射系数，GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 波长400nmX 1 500 nm范围内，误差为土5%。注1:这种光源产生已知光谱分布的接近均匀强度的光束，此光束在两倍电源频率内可作预测性调制。可用于模拟日光和工广的白炽光。b) 荧光源g线性荧光管，有以下特性:尺寸T8Xl200 mm(标称直径25mm) , 一一

35、额定功率:30 W40 W , 色温5000 K6 000 K: 同具有下列特性的电子镇流器一起使用:一一工作频率30kHz40 kHz , 与荧光管对应的功率额定值;在其额定电源电压土2%时工作，无反射器或漫射器。c) 频闪光源使用具有下列特性的一种i.闪管的频闪观测器:闪光时间2S20S(半强度点测量)，闪光频率5Hz200 Hz , 一一色温5500 K6 500 K , 试验配置应确保由频闪光源产生的平均照度(在接收元件平面上测量)在50Hz的闪光频率时为2 000 lux土200lux。在试验期间，闪光管的位置应固定。注2当测量平均照度时多加小心，因为峰值远超过平均值。在某些条件下(

36、如籍位、饱和).如使用呈现非线性特性的测量仪器时，将产生严重错误。如果在离1li放电管不同距离进行测量，且测量结果不符合平方反比律时，这种影响可被检测到。5.4.6.3 试验顺序试验顺序l，1-ESPE正常操作;2 接通干涉光，3一-B试验P4一一断开ESPE5 s.恢复电源，如果合适，复位起动联锁装置;5-B试验s6 断开干涉光;7一一B试验。试验顺序2:1-ESPE正常操作g2 接通干涉光;3-C试验室复进行1min; 4 断开ESPE5 s.恢复电源，如果合适，复位起动联锁装置;5一-c试验重复进行1min; 6 断开干涉光;7-C试验重复进行1min。试验顺序3，1一-ESPE正常操作

37、;2 接通于涉光;3-C试验重复3mino 5.4.6.4 正常操作ESPE使用下列各种类型的干涉光，沿着一个或多个接收元件的光轴，贯穿5.3. 6. 3的试验顺序1时应继续正常操作z5.4.6.2的白炽光源，在接收元件平面上测得此光源产生的光强度为6001x土601x;GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 -5.4.6.2的自炽光源，在接收元件平面上产生的光强度为1500lx土150lx。这项试验应随着三处变化进行，使用来自中心的光和来自灯管各端(阳极和阴极区域)的光。注:使用荧光光源试验的个目的是检查AOPD对于高频光辐射的敏感度。5.4.6.5 失效危

38、险一臼炽光在5.3.6.3试验顺序2期间，不应发生失效危险。试验使用5.4.6.2的白炽光源沿着一个或多个接收元件的光轴方向，此光源产生的光强度在接收元件平面上测量为3000 Ix土300lx，5.4.6.6 失效危险一频闪光在5.3.6.3试验顺序3期间，不应发生失效危险。试验使用5.4.6.2的频闪光源沿着一个或多个接收元件的光轴方向，频闪率应在3min内从5Hz到200Hz线性增加，此期间C试验应继续重复进行。5.4.6.7 失效危险一等同设计的发射元件的干涉光等同设计的AOPD的发射元件从任何距离和任何角度朝试验中的AOPD的接收元件直接或通过反射器发射时，类型4ESPE应不产生失效危

39、险。应至少选择6个位置和角度，以代表5.2. 1. 2和5.2.9.1分析确定的最差条件。AOPD在供方规定的最大工作距离工作。应使用5.4.6.3的试验顺序2。6 识别标志和安全使用标志GIl/T 19436. 1的此章按下列补充后都适用于本部分。6.1 概述补充2加到b)当AOPD各独立部件具有不同的检测能力时，应在AOPD外部标明这些部件及其检测能力。不可行时，如缺少空间，此信息应包括在随同文件中;宜标上最小和最大动作距离;当接收元件和发射元件被错误安装，例如偏差180，055D能够达到接通状态，AOPD应清晰标明彼此相关的正确安装位置;对于光帘，应清晰标明限定的检测区，一应提供指示光束

40、中心线的标志。注.光束中心线是确定AOPD位置的因素之一。7 随同文件GB/T 19436.1的此章按下列补充后都适用于本部分。补充z加到Uf): 当AOPD不同部分有不同检测能力时，应一同提供适用于不同检测能力的各不同部分试件的尺寸及用于检查、检测能力和视觉指示器运作的相应程序a力UUi)在安装AOPD时，采取的任何预防措施的细节包括指定装置的EAA，以及其他相关安装图，图中详细说明机械上或靠近机械或所加工的材料上的任何反射表面是如何影响AOPD的检测能力的。加j1Jv) : 试件进入检测区的穿透细节对确保敏感器件起动是必要的，适用于所有可接近的方向，以及有关AOPD可识别数据(如光束中心线

41、)。试件最大运动速度或相当于保持检测能力的速度。当AOPD配备调整光帘空间位置的方式时，调整范围和检测区相应位置应以图表的形式在随同文10 GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2 , 1997 件中表明。对于光帘，应提供清楚易读图形以确保发射元件和接收元件相互间的正确安装，尤其是避免18旷的偏离。加Jff), 注.附加的安全措施可能是需要的，以确保在特殊使用时可能存在的其他形式的光辐射，不会导致ESPE发生危险性故障(例如用于对起重机的无线控制装置及焊接飞溅辐射。动作距离1m 0.5 0.75 1. 5 3.0 3.0 反射器茬面在Y轴垂直于光束中心线位置1i丘丘L14时

42、k/&.卢反剧射z轴植置2排除要靠丘射察也置在撞测E内的试验反射器X轴倾度调整绕反射器中心线匾辑反射器位置表类型2ESPE类型4ESPEc/mm d/mm c/mm d/mm 29.8 21. 8 14.9 不试验39.0 32.4 19.5 16.2 58.4 64.0 29.2 .12.0 65.4 123.6 32.7 61. 8 a tan 1. 250 atan2.30 a tan O. 6250 a tan 1. 150 图1外部反射11 GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2 ,1997 12 a 动作范围p.-/ ./1 .-/ ./ b一一最外光束的光束

43、中心线间距离zR一一-光点半径，y 旋转角度数。Y=2 arcsin Type 2 AOPD Type 4 AOPD R 2b a3 m R=260 mm a3 m R=atan5. O a3 m R= 130 mm a3 m R=atan2. 50 IEC 1243/97 图2AOPD偏离.边凸角试验根据5.2.9.2程序进行.各光直光电结构卦析光束几何分析合格的AOPDGB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 图3AOPDs分析和试验一一流程图13 GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 光束垂直于页面的光市植测区图445。

44、试件光束垂直于页面的光帘检测区固590。试件14 GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2 ,1997 一_I_I_I一一一一-l一, 二-T一-一-一-牛一-1. 5m ! 光束中心线3.0m(或当3.0m时的最小功作距离MP-测量点。注.有效孔径角应根据5.Z. 9. 2的决定。注2应在MP到M凹的每个测量点上进行测量。固6有效孔径角(EAA)的测量。接收器组件固定，发射器组件旋转遭镜平面盎射器或盎射器/接收器组件I/ D.U.T . I 0 . 旋转轴1 二正光市=辑撞测区的中心结!ll可F光JI装置:绕光束中心鳞!l1 :. X 接收器组件或回射器1 按照EAA圄表

45、的动作距离2)发射器组件固定，接收器组件旋转盎酣器或盎射器/接收器组件(注1】内门门U遭镜平面 I撞收器组件或且向反射器注2)、6、D.U.T(1;飞，-1Ii转轴. X .1 (光馆、绕栓割区的巾心线、LJC光束装置，绕光束中，t，、线)接照EAA图表的动作距离提D.U. T. 受试装置。注l显示光帘。注2，对使用直角回射技术的光帘，此试验应仅在固定反射器的敏感单元上进行。固7EAA测量方法(倾斜)15 GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 16 O.U.T.-一受试装置.1) 发射器组件旋转，接收器组件固定量键平面所喜量镜平面上的监转轴2)接收器组件旋转

46、，发射器组件固定光束中心线或光束中，r.，线平面盎射器组件或监射器/接收器组件注葫作距离注z对使用了直角囚射技术的光帘，此试验应仅在固定反射器的敏感单元上进行。图8EAA的测量方法(方向)注接收器或发射器/接收器组件应在最大可能偏离度进行操作。优点对AOPD光径没有干扰并适合于极化灵敏的AOPD。缺点:如果孔径角度小就不可能达到所要求的照明度。试件H一一1盎射器组件1-任直啻度过撞器干涉光叫:;跚干涉光圈9光干涉试验一一直接方法GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2: 1997 /任章曹度过法器干涉光注:根据光柬分割器的光传输率，要求对动作距离进行调整。干涉光的密度直接测

47、量得出。优点易达到所要求的光密度。缺点光束分割器对极化产生影响，并要求对动作距离进行校正。图10光干涉试验一一光束分割器方法试件接收器组件E 4一一镜片/任意密度过油器干涉光1各接收器装置区的50%没有接收到发射器的光线。2:在各接收装置区的50%以上的区域里，待测接收元件应由两倍的特定光密度加以照明。3 :也可适用于反射设计的发射器/接收器。优点2对极化不会产生影响，并且适合孔径角度小的接收器。缺点，时要求双倍的特定干扰光强度。bJ 要求对距离进行调整。c) 微光接收区接收器组件很难达到准确性。d) 依靠接收器附近场域灵敏度的对称性，并且必须进行核查。圈11光干涉试验-一镜片和防护罩方法17

48、 GB/T 19436. 2-2004/IEC 61496-2 ,1997 索引本索引对第3章定义的术语和缩略语按字母顺序排列并指出用于本部分正文的章节号。A Active opto-electronic protective device (AOPD) 3.201全文使用有源光电保护器件(AOPDlAOPD detection capability AOPD检测能力3.202、3.206、3.207、3.209、4.1. 2. 1、4.2. 2. 3、4.2.12、4.2.13、5.2. 1. 2、6.lb) 7f)、7v)Beam centre-lne光束中心线Effective aper

49、ture angle (EAA) 有效孔径角(EAA)Light beam device光束装置Lghtcurtain光帘Test piece试件Trip devce脱扣装置Trip device test piece脱扣装置试件18 B 3.203、4.1.2.1、4.2.14.2、5.2.9.1.2、5.2.9.3、6.1b)、7v)E 3.204、4.2.14.3、5.2.9.1.1、5.2.9.1.2、5.2.9.2、7i)图3、图6、图7和图8L 3.205、3.202、4.1. 2. 1、4.1. 2. 2、5.2.1.1、5.2.1.3、3. 206、3.202、4.1. 2. 1、4.2. 1. 3、4.2. 1. 4. 2、5.1.1.2、5.2.1.1、5.2. 1. 3、5.2.9.3、6.1b)、7v)T 3.207、3.209、4.1