GB T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法.pdf

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1、前言GB/T 19421(层状结晶二硅酸纳试验方法分为12个部分=一一GB/T19421. 1 a相层状结晶二硅酸纳定性分析X射线衍射仪法g一-GB/T19421. 2 白度的测定pGB/T 19421. 3 pH值的测定;GB/T 19421. 4 EDTA容量法测定钙交换能力;GB/T 19421. 5 EDTA容量法测定续交换能力;一一-GB/T19421. 6 重量法测定灼烧失量;一-GB/T19421. 7 重量法测定湿存水量;一-GB/T19421. 8 邻菲罗琳比色法测定三氧化二铁含量:一-GB/T19421. 9 容量法测定氧化纳含量;一-GB/T19421. 10 氟硅酸饵容

2、量法测定二氧化硅含量;一GB/T19421. 11 原子吸收分光光度法测定氧化钙含量;GB/T 19421. 12 原子吸收分光光度法测定氧化侯含量。本部分为GB/T19421的第1部分。本部分的附录A是资料性附录。本部分由中国轻工业联合会提出。本部分由全国表面活性剂洗涤用品标准化中心归口。本部分起草单位z山东铝业股份有限公司研究院、中国日用化学工业研究院。本部分主要起草人z王云霞、苏献瑞。GB/T 1942 1. 1-2003 1 范围层状结晶二硅酸铀试验方法8相层状结晶二硅酸铀定性分析X射线衍射仪法GB/T 19421.1-2003 GB/T 19421的本部分规定了层状结晶二硅酸锅中X射

3、线衍射仪法定性分析B相层状结晶二硅酸俐的方法。本部分适用于层状结晶二硅酸锅中B相层状结晶二硅酸纳的定性分析。2 原理任何一种晶体物质，都具有特定的结构参数，在给定波长的X射线辐射下，呈现出该物质特有的多晶体衍射谱图。各相的衍射谱图表明了该相中各元素的化学结合状态，根据多晶体衍射谱图与晶体物质这种独有的对应关系，便可将待测物质的衍射数据与各种己知物质的衍射数据对比，借以对物相做定性分析。3 仪器普通实验室仪器和3.1 X射线衍射仪。3.2 玛淄研钵。3.3 制样装置。4 试验程序4.1 试样制备称取约2g试样，于洁净干燥的玛瑶研钵中研磨至5m以下，以用手捻搓元颗粒感即可。将研磨好的样品放入样品架

4、内，填实后轻压制片，压力以样片竖起不塌落为宜。4.2 测定打开设备冷却系统，开启X射线衍射仪，预热30mno启动X射线衍射仪测控系统，对衍射仪进行基准校正。在CuK.辐射下，对试样(4.1)在28为100500的范围内进行扫描测量。4.3 数据处理使用数据处理程序，得出样品的X射线衍射谱图，在衍射峰位上标明晶面间距(d值)。将得到的d值与表l中的d值对比，凡符合表l中数据的即为B相层状结晶三硅酸纳的衍射线，否则即为其他杂相。当样品中B相层状结晶二硅酸纳含量较低时，弱线可能不显示，由三条主强线即可确定有无B相层状结晶二硅酸纳的存在。GB/T 19421. 1-2003 表1Ii相层状结晶二硅酸锅

5、X射线衍射数据编号d(A) 相对强度编号d(A) 相对强度编号d(A) 相对强度1 6.88士0.10非常弱11 2.90士0.05非常弱21 3.01士0.05弱2 6.02士0.10弱12 2.84土0.05弱22 2.09土0.03弱3 4.89土0.10弱13 2.72 :1: 0.05 非常弱23 2.06土0.03非常弱4 4.49士0.10非常弱14 2.56士0.05非常弱24 2.01士0.03非常弱5 4.19土0.10弱15 2.54土0.05非常弱25 1. 98土0.02非常弱6 3.95士0.08强16 2.49 :1: 0.03 弱26 1. 92士0.02非常弱

6、7 3.78士0.08中17 2.42 :1: 0.03 中27 1. 89 :1: 0. 02 非常弱B 3.62士0.07弱18 2.37士0.03非常弱28 1. 86 :1: 0. 02 非常弱9 3.44士0.07非常弱19 2.29士0.03非常弱29 1. 83士0.02非常弱| 10 3.09士0.05非常弱20 2.25土0.03非常弱注:强(80%100%的相对强度h中(30%80%的相对强度h弱(lO%30%的相对强度h非常弱(低于10%的相对强度。GB/T 1942 1. 1-2003 附录A(资料性附录)8相层状结晶二硅酸铺X射线衍射谱圈。a嚣的也6000 的NdTON扎咀dvNmwham、5000 4000 mwm 00 32 SLUvbHES-1000 50 45 40 35 30 29( ) 25 20 15 0 10