YD T 1183-2013 光纤模拟传输用光接收组件技术条件.pdf

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1、ICS 33.180.01 M33 YD 中华人民共和国通信行业标准YD厅1183-2013代替YD.厅1183-2002光纤模拟传输用光接收组件Receiving optical subassembly for optical fiber analog transmission 2013-10-17发布2014-01-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布YD厅118辛-2013目次前言. . . . . . . . . . . . . . . . . . .11 1 范围. 2 规范性引用文件. . . . . . 3 缩略语. 4 术语和定义. 5 技术要求. . . . . . .

2、. . . . . . . . . . . . . . . .2 6 测试方法. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .3 7 可靠性试验. . . . . . . . . . . . . . . . . . . .4 8 检验规则. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .5 9 标志、包装、运输和储存. . . . . . . . . . . .7 YD，厅1183-2013，._ 目IJ=i 本标准是光纤模拟传输用组件系列标准之一。该系列标准包括z-YD厅1183-2013;-YD厅1247-201

3、30本标准与YD，厅1183-2002相比，除编辑性修改外，主要技术变化如下z一一修改了引用标准，增加了环保要求的标准见2.2002年版的约一一增加了缩略语章节(见3);一一删除了回波损耗，二、三阶失真，频响平坦度的定义见2002年版的3);一一增加了焊接温度和ESD要求，标题名称更改为极限值.(见表1);一一修改了分类的原则见到.2002年版的4.1);一-i摩改了表2中响应波长范围的测试条件见表2，2002年版的表2);一一删除了测试方法栏，将测试方法在第6章中规定见2002年版的表2);一一册j除了频率范围(见2002年版的表2)、频率范围作为频响平坦度的测试条件规定见表2);一一增加了

4、结电容要求(见表队一一删除了暗电流测试条件中温度的要求(见2002年版的表2);一一册j除了光回波损耗测试条件中响应度和光功率的要求见2002年版的表2);一修改了图1(见图1，2002年版的图1);一一增加了电流增益的注见表2);一一增加了光纤规格和环保符合性要求(见5.4和5.5);一一删除了5.3.1、5.3.2、5.3.3条(见2002年版);一一修改了可靠性试验的引用标准和试验条件(见表3，2002年版的表3);一一删除了交变湿热试验(见2002年版的表3);一一增加了可靠性试验的不合格判据(见7.3);一一册j除了表3中的注2、注3、注4(见2002年版的表3);一一修改了常规检验

5、中高温电老化的失效判据见8.2.1c, 2002年版的7.2.1c); 一一修改了常规栓验中温度循环的试验条件和失效判据见8.2.1d, 2002年版的7.2.1d);一一修改了抽样检验中的AQL值(见8.2.2，2002年版的7.2.2);一一将2002年版的7.3.3和7.3.6合并成现在的8.3.4(见8.3.4，2002年版的7.3.3和7.3.仙一一修改了不合格批重新提交的原则(见8.3.6，2002年版的7.3.5);一一增加了型式检验要求(见8.3.2);一一增加了型式检验条款的标题见8.3.1-8.3.8); 一一增加了污染控制标志要求见9.1)0 H YD，厅1183-201

6、3田请注意本文件的某些内容可能涉及专利，本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任.本标准由中国通信标准化协会提出并归口。本标准由深圳新飞通光电子技术有限公司起草。本标准主要起草人z梁泽、镇磊、陈悦、李春芳.本标准于2002年首次发布，本次为第一次修订.YD厅1183-2013光纤模拟传输用光接收组件t 范围本标准规定了光纤模拟传输用光接收组件系列产品的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、储存和运输要求等。本标准适用于PIN结构的光纤模拟传输用光接收组件以下简称光接收组件)。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日

7、期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单适用于本文件。GB厅2828.1-2012计数抽样检查程序第1部分t按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划GB厅9771(所有部分)通信用单模光纤系列GB厅15651-1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分z光电子器件GB厅24365-2009通信用光电探测器组件测试方法GB厅24366-2009通信用光电探测器组件技术要求四厅2001.2-2011用于光纤系统的半导体光电子器件第2部分z测试方法SJ，厅11363-2006电子信息产品中有毒有害物质的限量要求SJ，厅11364-2006电子信息产品污染控制标识要求SJ，厅11365-200

8、6电子信息产品中有毒有害物质的检测方法MIL-STD-202G 电子和电气元件试验方法标准(Testmethod standard electronic and electrical component p缸饱)MIL-SD-883H微电子器件试验方法标准(Testmethods standard microcircuits) Telcordia GR-468-CO阻:2004用于通信设备的光电器件通用可靠性保证要求(Genericreliability 础S町阻四requirements岛roptoelectronic devices used in telecommunications 3

9、绵略语下列缩略语适用于本文件。DIP ESD PIN RoHS 4 术语和定义Dual In-line Packag Electro-Static Discharge P-type-In创nsic-N-typeThe Restriction ofthe Use ofCertain H但缸dousSubstances in Electrical and Elec位onicEquipment 双列直插静电放电P型本征-N型关于在电气电子设备中限制使用某些有害物质的指令GB厅15651-1995和GB厅24366-2009中界定的以及下列术语和定义适用于本文件。YD厅1183-20134.1 电流增

10、益Current Galn 在规定的频率范围内，接收组件输出电流与光电二极管响应电流的比值，以dB表示.5 技术要求5.1 分类光接收组件按按照封装形式、光口类型和中心波长的不同，分为以下儿类za)封装形式:DIP型、同轴型zb)光口类型z带尾纤、插拔式zc)电路类型z带匹配电路、不带匹配电路。5.2 极眼值极限值见表10表1极限值参数名称符号最小值是大值储存温度T血一40+85 工作温度T啤-40 +85 一260-焊接温度马d360b 一输入光功率Pin 一2 反向偏压VR 20 正向电流IF 一10 尾纤弯曲半径。R 30 一ESD电压500 焊接时间小于1缸，距光接收组件壳体至少2mm

11、lb适用于符合RoHS缩略语增加指令的产品要求，焊接时间小于缸，距光接收组件本体至少2mm;距管壳至少25mm5.3 主要光电特性单位 mW v mA mm v 光接收组件的性能指标应符合表2要求。除非另有规定，工作温度范围为-40C-+8S.C。表2主要光电特性参数名称符号测试条件最小值最大值单位响应波长范围L.H 响应度不小于最大幅值的10%拖围1100 1650 nm 响应度R., p=131 Onm 盹=15VP缸.=OdBm0.85 一AIW 暗电流10 VR=15V, Pin=仇nW，室温一200 nA 结电容C; VR=I5V，产IMHz一0.6 pF 频响平坦度VR=I5V P

12、in=OdBm p=131缸m产到币Iz.I030MHz一0.5+0.5 dB 回披损辑RL 几.=15Vp=1310nm 一一40dB 二阶失真CSO VR=I 5V PIti.呻dBmp=131 Onm 响应度I0.85AIW 一-70 dBc 三阶失真CfB 双频法测试，每路光据调制度40010推荐频率测试点z一-80 dBc 80MHz 450阳王z600Ml也850MHz电流增益G由5 一dB a仅适用于带匹配电路的光接收组件2 YD.厅1183-20135.4 光纤规格光纤规格宜采用符合GB厅9771(所有部分的单模光纤.5.5 环保符合性光接收组件的组成单元分类应符合SJ，厅11

13、363-2006中表1的规定，有毒有害物质的限量要求按Sl厅11365-2006规定检测，应符合SJ，厅11363-2006中表2的要求。6 测试方法6.1 测试环境要求光接收组件的性能测试应在下列规定的标准大气条件下进行za)植度:15.C-35.C; b)相对湿度:45%-75%; c)大气压力:8位Pa-l0位Pao当不能在标准大气条件下进行时，应在试验报告上写明测试和试验的环境条件。6.2 测试仪器测试所用的仪器仪表应在有效校准期内，其精度应高于所测参数精度的一个数量级.6.3 光电性能测试6.3.1 晌应波长范围响应波长范围按GB厅24365-2009中4.3.1规定进行测试。6.3

14、.2 晌应度响应度按GB厅24365-2009中4.3.10规定进行测试。6.3.3 暗电流暗电流按GB厅24365-2009中4.3.11规定进行测试。6.3.4 结电容结电容按YD厅2001.2-2011中6.11规定进行测试。6.3.5 频晌平坦度频响平坦度按GB厅24365-2009中4.3.12规定进行测试.6.3.6 回波损耗回波损耗按GB厅24365-2009中4.3.5规定进行测试。6.3.7 二阶失真二阶失真按GB厅24365-2009中4.3.13规定进行测试。6.3.8 三阶失真三阶失真按GB厅24365-2009中4.3.14规定进行测试。6.3.9 电流增益测试方法如

15、下za)目的在规定条件下，测试光接收组件的电流增益。b)测试框图测试框图如图1所示。3 YD厅1183-2013c)规定条件光接收组件偏置电压:lSV; 峰值波长:131伽m;输入光功率:OdBm; 网络分析仪阻抗:750; 环境温度z室温。d)测试步骤被测光接收组件固1电流精益现)J试框固1)光开关打向1，预热测试系统，用标准光接收组件进行系统校准:网络分析仪2)光开关打向2，接入被测光接收组件，由网络分析仪读出被测光接收组件的电流增益。注E标准光接收组件不带匹配电路.7 可靠性试验7.1 试验环境要求试验环境要求同5.107.2 可靠性试验可靠性试验见表30表3可靠性试验试验试验项目引用标

16、准试验条件抽样要求类别LTPO SS. 可焊性b如皿.-SfD.883H不要求蒸汽老化，焊槽法，温度245C士5C，浸入时间58物理方法2003.920 11 特性静电放电MIL-SfD.883H 试验人体鼠电模型，至少5v一6 敏感度方法3015.8机械神击MIL-SfD.883日加速度5g.脉冲持续时间:0.5ms. 中击次数z每方向方法2002.55次，方向X1、石、Y1、Y2、马、马20 11 机如皿.-SfD.883H加速度I20g.频率z却Hz-2000日Z.扫频速率:4minl 械变频振动方法2007.3循环，循环次数:4循环/轴向，方向X、Y、Z20 11 完MIL-SfD.8

17、83H .T-=100C OC-I00C 循环次数:15次，转换时间rl缸，整热冲击。方法1011.9极限温度下的停留时间不小于2m画20 11 性涂覆层或紧套、松套光纤E负载:4.9N.扭转角度I900-试验光纤扭转eTelcordia -900-00循环次数:10次，扭折点离器件3cm增强型光纤z负载9.8N.扭转角度I900-900-00，循20 11 GR-468-CORE: 环次数:10次，扭折点离器件3cm4 。A f 表3(缉试验试验项目引用标准试验条件类别机涂覆层或紧套光纤z拉力2.45N.900，离光纤保护套Telcordia 械光纤侧拉力22cm-28cm 完GR-468-

18、CORE: 松套或增强型光纤z拉力4.9N.900离光纤保护套2004 3.3. 1.3.2 整22cm-28cm 性Telrdia 涂覆层或紧套光纤z拉力4.9N.保持时间lmin.距光纤尾试光纤拉力GR-468-CORE: 验端10cm处2004 3.3. 1.3.3 机械Telrdia 完整光纤拉力松套或增强性光纤z拉力9.8N.保持时间lmin.距光纤尾GR-468-CORE: 性端10cm处2004 3.3. 1.3.3 试验Telcordia 非高温储存GR-468-CORE: 储存瘟度:85C.时间2000h2004 3.3.2.1 工Telcordia 作低温储存GR-468-

19、CORE: 储存温度:-40C.时间72h环境2004 3.3.2.1 试温度循环MIL-STD-883日温度范围-40C-+85 c .温度变化速率lOC/min.极限温度下的停留时间不小于10min.循环次数:500次验方法1010.8恒定湿热MIL-SD-202G 温度:85C.相对湿度:85%.时间:500h 方法103B工作Tel，rdia 环境高温工作GR-468-CORE: 工作温度:85C.正常工作条件下，时间:2000h 试验2004 3.3.3.1 1:?岳批允许不合格品率.SS-一最少样品数.C一允许失效数.b不要求参数测试，可用参数不合格的产品进行.g仅适用于气密性封装

20、的产品7.3 不合格判据各项试验完成后，光接收组件出现下列任意一种情况即判定为不合格za)外壳破裂或有裂纹:YD厅1183-2013抽样要求LTPD SS. | 20 11 。20 11 。10 20 11 。20 11 。20 11 。20 11 。b)在相同测试条件下，试验前后，暗电流相对初始值变化大于50%、响应度相对初始值变化大于10%;c)参数不满足表2的要求。8检验规则8.1 检验分类光接收组件分为出厂检验和型式检验。5 YD厅1183-20138.2 出厂检验出厂检验分为常规检验和抽样检验。8.2.1 常规检验常规检验应百分之百进行，检验项目如下za)外观目测，表面无明显划痕，无

21、各种污点，产品标识清晰牢固b)光电性能检测按本标准6.3的规定进行检测，检测项目见表2，其结果符合表2要求。c)高温电老化工作温度Top=85C，光接收组件处于正常工作状态，时间至少2仙。恢复z在标准大气条件下恢复出后进行测试.失效判据z1)暗电流相对初始值变化大于50%、响应度相对初始值变化大于10%;2)参数不满足表2要求。d)温度循环非工作状态，温度范围-40C+85C，温度变化速率10C/min，极限温度下的停留时间不小于10min，循环次数:20次。恢复z在标准大气条件下恢复lh后进行测试。失效判据z1)暗电流变化50%、响应度变化1仍仇2)参数不满足表2要求。8.2.2抽样检验按G

22、B厅2828.1-2012规定，取一般检查水平n，合格质量水平(AQL)和检验项目规定如下za)外观AQL取1.50检验方法z目测，表面无明显划痕，无各种污点，产品标识清晰牢固b)外形只寸AQL取1.50用满足精度要求的量度工具测量，应符合产品技术条件规定.c)光电性能检测AQL取0.40按本标准6.3规定的对表2项目进行检测，其结果符合表2要求.8.3型式检验8.3.1 型式检验条件6 光接收组件有下列情况之一时，应进行型式检验a)产品定型或转厂时:b)正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时zc)产品长期停产后，恢复生产时zd)出厂检验结果与产品定型时的型式检验有较大差

23、别时ze)正常生产24个月后:YD厅刊83-2013。国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。8.3.2检验要求在进行型式检验前，对样品的光电特性进行测试，并记录测试结果，然后按表3规定进行可靠性试验。8.3.3 检验项目及抽样要求型式检验的检验项目及抽样方案见表308.3.4 样晶的使用规则8.3.4.1 凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用.8.3.4.2在不影响检验和试验结果的条件下，一组样品可用于其他分组的检验和试验。8.3.5 产品不合格的判定各项试验完成后，不合格的判定按7.3条规定执行，若其中任何一项试验不符合要求时，则判该批不合格。8.3.6 不合格批的重新提交当

24、提交型式检验的任一检验批不符合表3中规定的任一分组要求时，应根据不合格原因，采取纠正措施后，对不合格的检验分组重新提交检验。重新检验应采用加严抽样方案。若重新检验仍有失效，则该批拒收。如通过检验，判为合格。但重新检验不得超过2次，并应清楚标明为重新检验批。8.3.7 检验批的构成提交检验的批，可由一个生产批构成，或由符合下述条件的几个生产批构成z一一这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的:一若干个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。9 标志、包装、运输和储存9.1 标志9.1.1 标志内容每个光接收组件应打印上极性、产品型号、规格、编号等标志。9.1.2 污染控制标志产品的市

25、染控制标识要求应按SJ，厅11364嗣2006第5章的规定，在产品包装盒或产品上打印电子信息产品将染控制标志。9.1.3 标志要求进行全部试验后，标志应保持清晰。标志损伤了的产品必须重新打印标志，以保证发货之前标志的清晰。9.2 包装产品应有良好的包装及防静电措施避免在运输过程中受到损坏。包装盒上应标有产品名称、型号和规格、生产厂家、生产日期、防静电标识、产品执行标准号等。包装盒内应有产品说明书。说明书内容包括z产品名称、型号，简要工作原理和主要技术指标，极限工作条件，安装只寸和管脚排列，使用注意事项等。9.3 运输包装好的产品可用常规的交通工具运输，运输中避免雨、雪的直接淋袭，烈日曝晒和猛烈

26、撞击.7 YD厅1183-20139.4储存产品应储存在环境温度为一10C-叫5C，相对湿度不大于80%，且无腐蚀性气体、液体的仓库里.储存期超过一年的产品，出库前，应按6.3的规定进行光电特性测试，测试结果符合表2要求方可出库.8 电回的FONtgFFKO中华人民共和国通信行业标准光纤模拟传输用光接收组件目YD厅1183-2013人民邮电出版社出版发行北京市丰台区成寿寺路11号邮电出版大厦邮政编码:14 宝隆元(北京)印刷技术有限公司印刷版板所有不得翻印* 2014年2月第1版2014年2月北京第1次印刷* 1/16 开本:880x 1230 印张:1 字数:23千字15115 390 定价I15元本书如有即提质量问题，请与本社联系电话:(010)81055492