GB T 18910.1-2002 液晶和固态显示器件 第1部分;总规范.pdf

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1、L ICS 31. 120 L 40 f岳2一岳AiI二、|、日G/T 18910.1 2002/IEC 61747-1: 1998 QC 720000 刁之:总规范Liquid crystal and solid-state display devices一Part 1: Generic specification CIEC 61747-1:199S ,IDD 2002-12-04发布2003-05-01实4. 叮. . ,oIj, ._- . .队-，午.:IU一丘 羊毛王F，. . . j. . 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布GB/T 18910.1一2002月EC61747

2、-1 2 1998 目次前言. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . E 范围. . . . ., . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 2 规范性引用文件. . . . . . . . . . . . . 1 3 术语和义. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .,. . . . . . . . . . . .,. 1 3. 1 物理概念. . . . . . . . . .

3、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1 3. 2 基本术语. . ., . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4 3. 3 关于参数和特性方面的术语. . . . . . . . . . . . . . . . . . 5 4 总则. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6 4. 1 优先顺序. . . . . . . . . . . . . . . . . .

4、 . . . . . . . . .国. .,. . 6 4 2 单位、符号和名词术语. 6 4. 3 温度、湿度和压力优选值. . 6 4. 4 标志. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .,. 6 4. 5 质量评定类别. . . . . . . . . . . . . . .,. . 7 4. 6 筛选. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ., 7 4. 7 操作J . . . . . . . . . . 7 5 质量评定程序. . . .

5、. . . 7 5. 1 鉴定批准的资格. . ., . . . ., . . . . . . 7 5. 2 商业保密信息. . . 7 5. 3 检验批的构成. . . 7 5 4 结构相似器件. . . . . . . . . . . . 7 5. 5 鉴定批准的授予. . 7 5. 6 质量一致性检验. . . . 8 5 7 统计抽样程序10 5. 8 耐久性试验. 10 5. 9 规定失效率时的耐久性试验10 5. 10 加速试验程序. . 11 5. 11 能力批准. . . . . . . 11 6 试验和测试程序. . 11 6. 1 电光测试标准的大气条件. 11 6. 2

6、物理检查11 6. 3 电光测试. 11 6. 4 环境试验. . 12 附录AC资料性附录)液晶显示盒外形图的示例. . . . . . 13 附录BC规范性附录)液晶显示模块的取向. . . . . . . . 15 附录C(规范性附录)批允许不合格品率CLTPDl抽样方案. . . 16 c. 1 总则. . . . . . . 16 c . 2 单批抽样方法E . . . . . 16 c. 3 追加的样品. . . . . . 16 c. 4 多重判据. . . . . 16 c. 5 100%检验. . . . . . . . . . . . . . . 16 c. 6 加严检验.

7、 . . . . . . . 17 I GBjT 18910.1-2002jIEC 61747-1: 1998 GBjT 18910. 1是GBjT18910(液晶和团态显示器件的一部分。下面列出GBjT18910的预计结-=同前构第1部分g总规范第2部分液晶显示模块分规范第2-1部分z单色液晶显示模块元源矩阵空白详细规范第3部分:液晶显示屏分规范第3-1部分:液晶显示屏空白详细规范第4部分=液晶显示模块和显示屏基本额定值和特性第5部分z环境、电耐久性和机械试验方法GBjT 18910的本部分等同采用国际电工委员会IEC61747- ,J 998(QC 720000)(液品和固态显示器件第1部

8、分z总规范)(英文版)。本部分对IEC61747-1 ,J998(QC 720000)的附录做了编辑性修改:-一删除了资料性附录A，一一将附录重新按顺序编号。本部分的附录A、附录B为资料性附录，附录C为规范性附录。本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所(CESl)归口。本部分起草单位z中国电子技术标准化研究所(CESI)。本部分主要起草人z赵英、常和i民。四范围GB/T 18910.1一2002月EC61747-1: 1998 液晶和固态显示器件第1部分:总规范GB/T 18910的本部分是液晶和固态显示器件的总规范。它规定了IECQ体系质量评定的通用程序，并给

9、出了电光特性测试方法的通用要求，给出了机械、环境和耐久性试验方法。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T18910的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T 2421-1999 电工电子产品环境试验第1部分z总则。dtIEC 60068-1 :1 988) GB/T 15651-1995 5:1992) 半导体器件分立器件和集成电路第5部分z光电子器件(idtIEC60747一3 3.

10、1 GB/T 17573-1998半导体器件分立器件和集成电路IEC 60027(所有部分)电工技术用文字符号第1部分g总则(idtIEC60747-1:1983) IEC 60050(所有部分国际电工术语IEC 60068-2(所有部分)环境试验一一第2部分=试验IEC 60191 (所有部分)半导体器件机械标准化IEC 60191-1:1966半导体器件机械标准化第1部分g半导体器件外形图绘制IEC 60191-2:1966半导体器件机械标准化第2部分g尺寸IEC 60191-3:1974 半导体器件机械标准化一-第3部分:集成电路外形图绘制总则IEC 60410: 1973 计数检查抽样

11、方案和程序IEC 60617(所有部分图用图形符号IEC 60747-10:1991 半导体器件第10部分z分立器件和集成电路总规范IEC 60748(所有部分)半导体器件一集成电路IEC 60749:1996 半导体器件机械和气候试验方法IEC 61747-5 液晶和固态显示器件一一第5部分.环境、耐久性和机械试验方法QC 001002: 1986 IECQ电子元器件质量评定体系的程序规则ISO 1000: 1992 国际单位制及其倍数单位和一些其他单位的应用推荐ISO 1101 :1983技术创图几何公差形状、位置和偏差公差总则、定义、符号和图样表示法ISO 2859(所有部分)计数检查抽

12、样程序ISO 8601: 1988 数据元和交换格式信息交换日期和时间表示方法术语和定义下列术语和定义适用于GB/T18910所有部分。物理概念1 GB/T 18910.1-2002/IEC 61747-1: 1998 3. 1. 1 定向层alignment layer 为确定表面指向矢方向而覆盖在图形电极上的一个薄层。该层使液晶分子产生期望的排序。受局部表面力的影响液晶分子互相作用形成了垂面排列(见3.1.14)或沿西排列(见3.1. 1日的排序。定向层产生了预倾角(见3.1. 20)。3. 1. 2 芋征相chiral phase 呈现自然扭曲的液晶相。3. 1. 3 胆笛相choles

13、teric phase 呈现平面相列相结构的液晶相，各层指向矢形成一个螺旋轴垂直于自然排序平丽的螺旋体。3. 1. 4 清亮点c1earing point 液晶转为各向同性相时的相变温度。3. 1. 5 二色性波晶dichroic Iiquid crystal 液晶具有二色性，即对光线的吸收各向异性。3. 1. 6 指向矢director 为任意液晶分子轴的取向分布函数而描述的局部轴的对称性的轴单位矢量，指向矢坐标定义局部液晶的定向。3. 1. 7 向错disclination 在具有不同定向状态的区域边界形成的局部定向缺陷(一般以闭合线或非闭合线的形式出现) 3. 1. 8 盘状中介相dis

14、cotic m咽。phase具有盘状分子形状的液晶相，相对于短分子轴方向呈现长程有序排列。3. 1. 9 动态散射dynamic scattering 一种电光效应，由电流引起的液晶层浦流而导致的光散射。3. 1. 10 电控双折射electrically controlled birefringence 由电场调制(改变)液晶层的双折射引起的电光效应，也叫可调双折射。3. 1. 11 电极层electrode layer 覆在基极上的导电层(如由氧化钢锡制成，ITO勺，通常是透明的，并能实现图形显示和加电功能的结构。3. 1. 12 铁电液晶ferroelectric liquid c叮st

15、al具有白发电极化的液晶相。注:这种效应一般存在于手征性近品相液晶。3. 1. 13 宾主效应guest-hosteffect 在含有二色性染料的液晶中发生的各向异性光吸收效应。2 GB!T 18910.1-2002!IEC 61747-1: 1998 3. 1. 14 垂面排列homeotropic alignment 液晶层的一种定向状态，指向矢垂直于基板表面，3. 1. 15 ifl面排列planar alignment 液晶层的一种定向状态，指向矢平行于基板表面。3. 1. 16 液晶.Iiquid crystaI 液晶是一种由棒状和盘状分子组成的中介相的材料，至少相对于一个分子轴具有

16、一个长程有序排列.3. 1. 17 波昂盒Iiquid cstaI ceII 具有一定间隔的两基板之间充满液晶的平板结构，两板通常间隔几微米。3. 1. 18 中介相mesophase(mesomorphic phase) 一种存在于品相和液相之间的有序态，具有相邻相的某些特点.例如流动性和双折射特性。3. 1. 19 向列相nematic phase 在液晶相中的分子，具有一个分子轴(单轴向列液晶)或两个分子轴(双轴向列液晶)的长程有序排列。3. 1. 20 预倾角pretiIt angle 基板的平面和相邻液晶指向矢之间的夹角。3. 1. 21 密封层seaIing Iayer 在两基板之

17、间围绕液晶的以保证液晶盒的密封与完整的层。3. 1. 22 近晶相smectic phase 分子至少在一个方向呈层状有序排列，并且相对于一个分子轴有长程有序排列的液晶相。3. 1. 23 衬垫spacer 一种为控制两基板之间的距离，而在液晶盒内所垫用的材料(如球形或圆形)。3. 1. 24 基板support plate 一种由玻璃或塑料制成的平板，通常是透明的，覆盖几层膜(电极、密封层、表面定向层)，是构成液晶盒的基本结构。3. 1. 25 扭曲角twist angle 在扭曲向列相液晶盒中，临近两个基板表面的液晶分子指向矢在基板上的投影之间的夹角.3. 1. 26 扭曲向列相结构twi

18、sted nematic structure 具有扭曲结构特征的向列相液晶态。3 G/T 18910.1-2002月EC61747-1: 1998 3.2 基本术语3. 2. 1 显示区active area 显示屏上由图形像素限定的区域。3.2.2 有源短阵寻址显示active matrix-addressed display 每个像素至少有一个开关(例如二极管或晶体管)的矩阵寻址显示。3.2.3 字母数字显示alphanumeric display 显示器件能显示有限的字符包括字母和数字。3.2.4 发光显示ernissive display 包含有自己的光源的显示，这个光可以由转换器本身

19、产生或转换器调制一个或多个内部光源提供。3.2.5 灰度级grey scale 表征显示具有两个以上亮度级别的图像的能力，称为灰皮级。3.2.6 液晶显示盒Iiquid crystal display cell 通过调制光显示信息的液晶盒。3.2.7 液晶显示模块Iiquid crystal display module 由带有驱动电路的液晶显示盒组成的显示单元。还可含有背光源、安装附件等。3.2.8 矩阵显示matrix display 由含有规则分布的行和列的像素组成显示器件。3.2.9 单色显示monochrome display 只有单色或黑白色的显示。3. 2. 10 像素pixel

20、 能实现全部显示功能的最小的单元。3.2. 11 反射型显示reflective display 显示器采用反射式调制外部光源。3.2. 12 字段segment 是一个特定的像素。例如字码数字符号的一部分或其本身。3. 2. 13 记忆效应storage effect 图形元素的特性。当驱动取消后可视信息能够继续保持。3. 2. 14 透反射显示transflective display 显示器通过一个半透式反射板，采用反射和(或)透射调制外部光源。4 L G/T 18910.1-2002月EC61747-1: 1998 3. 2. 15 透射显示transmissive display 显

21、示器采用透射式调制外部光源。3.2. 16 视角范围viewing angle range 达到视觉规范要求的可视范围。3.2. 17 可视区viewing area 显示区(见3.2. 1)和邻近的一些显示永久信息或显示背景的区域。3.3 3. 3. 1 关于参数和特性方面的术语寻址addressing 为了驱动或消除驱动，在空间和(或)时间选择像素。3.3.2 对比contrastIEV 45-25-265J 同时或持续观看视场的两部分的表观差异。3.3.3 对比度contrast ratio 高亮度LH和低亮度LL的比率定义为对比度CR公式为z(见ISO9241-3的2.22条) 3.3

22、.4 直接寻址direct addressing 四=号旦L 直接在与一个像素关联的电极上施加信号的一种寻址方法，从而所有的像素可以分别、成组或同时被寻址。3.3.5 驱动器driver 把寻址信息转换成驱动信号的器件，该信号可以选择一个像素也可以驱动这个像素。3.3.6 占空比duty ratio 在多路寻址方式中寻址的像素组数的倒数。(例如矩阵寻址中逐行扫描的行数的倒数。)3.3.7 电光特性electro-optic characteristic 光特性(例如亮度或对比度等)随电驱动量变化(电压或电流)的函数.3.3.8 图像极性image polarity 背景亮度和图像亮度之间的关系

23、，暗底亮图像的型式称为负性，亮底暗图像的型式称为正性.3.3.9 矩阵寻址matrix addressing 一种寻址的方法，通过施加在连接着列和行的电极上的信号选择像素，从而在时间上和空间上一个单独像素被寻址。注E典型例子是具有行和列电极相互垂直的平板显示器。5 GB/T 18910.1-2002/IEC 61747-1: 1998 3. 3. 10 多路驱动multiplex driving 时间分割驱动方法。根据要显示的图形，第一组像素在一个时间段内被选择，同时，第二组垂直的像素组也被选择。注2典型的例于是具有行和列电极垂直的液晶盒，其中一行在同一时间被选择。3.3.11 静态驱动sta

24、tic driving 所有像素同时且持续地被寻址的驱动方式。4 总则4. 1 优先顺序如有争议，各种文件应按以下权限顺序执行ga) 详细规范;b) 空白详细规范;c) 族规范(如有时); d) 分规范;总规范;基础规范ge) f) g) IECQ程序规则IJ; hl 需要参考的任何其他国际文件(例如IEC); i) 国家文件.相同的优先顺序适用于等效的国家文件。4.2 单位、符号和名词术语如有可能，术语均来自本部分第3章或IEC60050。如有可能，单位、图或字符均来自下列标准zIEC 60027 IEC60617 ISO 1000 执行GB/T18910.1的一种器件所特有的任何其他单位、

25、符号或术语，应取自有关的IEC或ISO标准(见2)或根据上述所列标准的原则导出。4.3 温度、湿度和压力优选值特性测试、试验和工作条件的温度、湿度和压力的优选值按GB/T15651-1995的规定。4. 4 标志4. 4. 1 器件iUllj器件上的标志应能清楚地被识别。4.4.2 器件可追溯性器件应有可追溯性代码，能够追溯到器件确切的生产批和检验批。4.4.3 包装6 包装上应有下列标志za) 器件的识别代码;b) 包装内器件的可追溯性代码30 包装内器件的数量;d) 如需要，其他注意的事项。以上标志可以按照惯例调整。甲GB/T 18910.1-2002/IEC 61747-1: 1998

26、注z其他增加的要求可以在有关详细规范中规定.4.5 质量评定类别本规范规定了三个质量评定类别。有识别代码和日期代码的同一检验批内的器件，按规定的质量类别进行检验。与同一检验分组对应的AQL或LTPD可依不同的质量类别而异，并应符合详细规范的规定。对各类别的最低要求如下gI类该类器件符合E类或皿类鉴定批准要求。各批都符合包括功能试验在内的A组检验要求。每三个月对一批进行相互连接能力检验，应符合要求。每年进行一次B组和C组检验，均应符合要求。E类该类的批符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。E类-一该类的批需进行100%筛选，并符合A组和B组逐批检验要求以及C组周期检验要求。分规范和空白

27、详细规范应规定对以上各类的最低要求.详细规范可以包括在总规范、分规范或空白详细规范中没有的，包括筛选在内的补充要求。4.6 筛选筛选是对批中所有器件进行的检验和试验。当详细规范有要求时，应按分规范或空白详细规范的有关表中所给出的序列之一种，对提交批中的全部器件进行筛选，并剔除全部有缺陷的器件。只有当上述筛选的序列与公认的失效机理无关或有矛盾时，才采用未规定的其他筛选序列。当分规范或空白详细规范的有关表中给出的筛选程序的一部分构成了制造工序的部分时，则不必重复这些过程。就本规范而言，老炼定义为在规定的时间内对批中所有器件施加热应力和电应力，进行检验并剔除潜在的早期失效产品。4.7 操作见GB/T

28、17573-1998的第lX章。对含有有害物质的情况下应有警示作用的标识(例如:BeOl。5 质量评定程序质量评定包括5.5条中规定的为获得鉴定批准的程序以及之后按详细规范规定的逐批(如要求时也包括筛选)以及周期的质量一致性检验。质量评定试验分为按4.5条规定的逐批或周期进行的A组、B组和C组试验。在某些情况下也可以规定D组试验，例如为了进行鉴定批准。5. 1 鉴定批准的资格只有当IECQQC 001002中第11章得以满足时，某个型号的器件即有资格进行鉴定批准。5. 1. 1 初始制造阶段初始制造阶段在分规范或空白详细规范中规定。5.2 商业保密信息如果制造过程的某部分是商业机密时，贝tl应

29、加以适当地标注，而总检查员应当证明已经遵循了IECQ QC 001002的10.2.2的要求，使国家监督检查机构(NSD满意。5.3 检验批的构成见IECQQC 001002中12.2的规定。5.4 结构相似器件几IECQQC 001002中的8.5.3的规定。有关分组的细节在相关的分规范或空白详细规范中规定。5.5 鉴定批准的授予见IECQQC 001002中的11.3. 1。7 GB/T 18910.1-2002/IEC 61747-1: 1998 lIlli-lIll-llljllj 制造商可以按分规范或空白详细规范中给出的检验要求，选用方法a)或方法怡。样品可由适当的结构相似的器件组成

30、。在某些情况下，鉴定批准要求有D且试验。详细规范中作为试验结束后进行终点测试的所有变化量测试，应记录变化量数据。鉴定报告应包括一份各组和各分组所进行的所有试验结果的摘要，包括被试器件数和失效器件数。根据变化量和(或)计数数据得出这份摘要。制造商应保留所有数据，以提供NSI要求时使用。5.6 质量一致性检验质量一致性检验应由A组、B组、C组和当有规定时的D组检验和试验组成。对于B组和C组检验，其样品可由结构相似器件组成。周期检验的样品应从通过A组和B1且检验的一批或几批中抽取。每个器件都应通过按详细规范要求的A组测试。5. 6. 1 组和分组的划分制定详细规范时要遵循以下准则。5. 6. 1.

31、1 A组检验(逐批)本组规定了逐批进行的为评定器件主要特性的目检和测试。除非另有规定，不允许按结构相似分组。A组检验分为以下各分组:Al分组z本分组由6.2. 1规定的外部目检组成。A2分组z本分组由对器件主要特性的测试组成。A3和A4分组g可不要求这些分组，它们由对器件次要特性的测试组成。对每个器件类别的恰当要求应在有关的分规范或空白详细规范中规定。测试项目列入A3分组还是A4分组取决于需要在哪一个质量水平上进行这些测试。5.6. 1.2 B组检验(逐批.1类除外，见4.5)本组规定了用以评定器件某些其他特性所要采用的程序，包括正常情况下在一周内能够完成的或按有关的分规范或空白详细规范规定的

32、机械、气候、电光耐久性试验。5.6. 1. 3 C组检验(周期)本组规定了周期进行的用以评定器件某些其他特性所要采用的程序，包括适合于每问隔三个月(!I类和E类)或间隔一年(1类)的或按有关分规范或空白详细规范规定的电光测试，机械、气候和耐久性试验。5. 6. 1. 4 B组和C组的划分为了能够便于在必要时(见5.6.3)比较从BE且到UC组及相反的变化.B组和C组中相应的试验列入具有相同编号的分组。划分如下zB1/Cl分组z包括控制器件互换性尺寸的测量。B2a/C2a分组z包括评定器件设计特征的电光性能测试。B2b/C2b分组:包括在不同电压、电流、温度和光学条件下对器件在A组中己测试过的某

33、些电光特性进一步评定的测试。B2c/C2c分组g适用时，包括对器件额定值的验证.B3/C3分组z包括对器件机械强度进行评定的试验。B4/C4分组=包括对器件可焊性进行评定的试验。B5/C5分组z包括对器件经受气候应力能力进行评定的试验，例如z温度的变化、密封等试验。B6/C6分组z包括对器件经受机械应力能力进行评定的试验.例如z振动、冲击。B7/C7分组s包括对器件经受长时间潮湿能力进行评定的试验。8 GB!T 18910.1-2002/IEC 61747-1 ,1998 B8/C8分组z包括对器件在耐久性试验条件下失效特征进行评定的试验。B9/C9分组:包括对器件在极限贮存温度条件下的电光性

34、能进行评定的试验。B10/C10分组g包括对器件在气压变化时的性能进行评定的试验。Bll/C11分组2包括标志耐久性试验。CRRL分组2选择并列出上述各分组中己做过的部分试验和(或)测试，将其结果在放行批证明记录(CRRU中给出。这些分组可以不全部要求。5.6. 1. 5 D组检验本组规定了每隔12个月或仅供鉴定批准时所要执行的程序。5.6.2 检验要求应采用5.7中叙述的统计抽样程序。5. 6. 2. 1 批拒收判据不符合A组或B组质量)致性检验的批，不得接收。如果在质量一致性检验过程中，器件未能通过某个分组的一项试验将导致该批被拒收，质量一致性检验应立即终止，并将该批视作A组和B组的拒收批

35、。如果一个检验批不符合质量一致性要求又未被重新提交，则应被认为是拒收批。5. 6. 2. 2 重新提交的批在技术上可能的条件下，经过返工并重新提交质量一致性检验的失效批，应只包含原来批中的器件，并且每个检验组(A组和B组)只能重新提交一次。重新提交的批应与新的各批分开，并应清楚地标识为重新提交的批。重新提交的批应随机地重新抽取样品，并对A组所有的检验进行检验。5.6.2.3 试验设备故障或操作人员失误情况下的程序如果确认器件失效是由于试验设备的故障或操作人员失误而导致的，则应将失效记入试验记录中(如果NSI同意可不记人CRRL中)连同为什么确认不汁作失效的一份完整的说明提交给NSI.总检查员应

36、决定是否将同一检查批中替代器件补充到样品中。替代器件应经受失效器件在失效之前已经受过的同样的试验，还应经受失效器件按规定将要进行的试验。5.6.2.4 周期检验失效时的程序当B组失效时，则相应C组检验(见5.6.1.4)也同时无效。如果周期检验失效不是由于设备故障或操作人员失误引起的，则执行IECQQC 001002中12.6.并作如下修改212.6.1第a项=暂停该结构相似组内的所有器件在本体系内放行.一一12.6.4第a项z在改正了制造错误之后，对己改正的各批产品立即恢复在本体系内放行的程序。12.6.8，如果鉴定批准是按12.6.7撤消的，则可按NSI的意见采用一种简化程序(主要针对引起

37、失效的那些特性的试验)恢复鉴定批准。5.6.3 放宽检验的附加程序5. 6. 3. 1 B组可采用一种特殊的放宽检验程序，允许制造商在最长三个月的问隔时间内对B组检验的所有分组每隔三批检验一批来代替逐批进行的B组的正常检验。当某一分组符合要求条件时，这种特殊程序即适用于该分组。采用这种程序的条件是连续十批通过B组检验。在放宽检验程序下，当某组样品不符合某分组检验时，该分组应恢复为B组的正常检验。5.6.3.2 C组当周期检验的问隔时间规定为三个月时，如果按三个月的问限时间连续三次通过了周期检验，则试验周期可延长为六个月.在延长间隔时间程序下，当某个样品不符合某分组检验时，应恢复为正常的三个月间

38、阳时间(也见5.6.2.4)。9 GB/T 18910.1-2002月EC61747-1: 1998 5.6.4 小批量抽样要求当批量很小时，可按照lEC60747-10中3.6.4或IEC60410中3.5的规定执行。5.6.5 放行批的证明记录(CRRL)见IECQQC 001002中的第14章。5.6.6 经受过破坏性或非破坏性试验的器件的交货在分规范或空白详细规范中标记(D)的试验被认为是破坏性的。经受过破坏性试验的器件，不得包括在交货批中。经受过非破坏性环境试验的器件，只要它们按A组要求重新检验且合格则可交货。5.6.7 延期交货在交货之前超过一定期限的器件，在整批或部分要交货时，应

39、经受有关的分规范或空白详细规范规定的A组检验和B组的可焊性试验。在整个批都完成了这种检验和试验之后，在以后的相同期限内可不再要求重新检验。5.6.8 交货的附加程序制造商可提供比指定的质量评定水平高的器件代替质量评定水平较低的器件.5.7 统计抽样程序对A、B和C组检验，应采用AQL或LTPD抽样程序，详细规范应规定采用哪种程序。5.7.1 AQL抽样方案见IEC60410的4.5. 有三种类型的抽样方案，一次、二次和多次。当几种类型的抽样方案都适用于某个给定AQL和代码字母时，则可采用任何一种。5.7.2 LPD抽样方案见附录C。5.8 耐久性试验耐久性试验应在详细规范中规定.5.9 规定失

40、效率时的耐久性试验本部分所采用的失效率定义为以每1000 h的百分数表示的LTPD.5.9. 1 总则耐久性试验应按规定的程序进行。器件在最大额定值或额定值范围内完成的耐久性试验，应认为是非破坏性的。5.9.2 样品的抽取耐久性试验的样品应从检验批中随机抽取见附录。，对于1000h试验的样品量应由制造商从规定失效率栏(见表C.ll或实际批量栏(见表C.2)中选择。合格判定数应与所选择的特定样品量相对应。5.9.3 失效一个器件在任何规定的读出时间，未能符合为耐久性试验规定的一个或更多的终点极限值，则应认为是一个失效。而且在之后的任何读出时间也认为是失效的。如果一组样品已不能符合耐久性试验的要求

41、，制造商可自行停止试验。5.9.4 耐久性试验时间和样品量无论是否规定了失效率，初次耐久性试验时间应是1000 h.一旦一批通过了1000 h的耐久性试验，可以在详细规范中规定耐久性试验时间减少到一定周期。5.9.5 发现的失效数超过合格判定数时采用的程序若在耐久性试验中发现的失效数超过合格判定数，制造商应选择下列方案的一种2a) 撤回整批$b) 按照5.9.5.1追加样品F10 GBjT 18910.1-2002jIEC 61747-1 ,1998 c) 如果最初选择的试验时间小于1000 h，贝IJ按照5.9.5.2将试验时间延长至1000 h; d) 按照5.6.2.2筛选该批并重新提交

42、。采用以上其中-个方案后，如果试验不合格，则执行5.6.2.4的程序。5. 9. 5. 1 追加样品对于每次提交，该方案只能采用一次。当选择该种方案时，新的总样品数(最初的加上追加的)应由制造商从表C.1规定的失效率或表C.2实际批量栏中选取。应从原批中抽取足以使样品增加到新选择的总样品量的追加量。新的合格判定数应与所选择的新的总样品量相当。追加的样品应经受与最初样品相同的耐久性试验条件和时间。如果发现总的不合格品数(最初的加上增加的)不超过总样品对应的合格判定数.I)!IJ 1主项试验合格，如果发现不合格品数超过了新的合格判定数，则判定该项试验不合格。5.9.5.2 耐久性试验时间的延长如果

43、采用的耐久性试验时间小于1000 h，而且在最初的样品中发现不合格品数超过了合格判定数，制造商可不追加样品而将整个最初样品的试验时间延长至1000 h，并依据表C.1和表C.2确定一个新的合格判定数。新的合格判定数应与规定栏内小于或等于试验样品量的最大抽样量相当。在最初读出时间失效的器件，在1000h读出时间应仍认为是失效的;如果发现的不合格品数超过这个合格判定数，则认为该项试验不合格。5. 10 加速试验程序考虑中。5. 11 能力批准考虑中。试验和测试程序6 电光测试标准的大气条件除非另有规定，所有的电光测试应在IEC60749和IEC61747-6中规定的大气环境条件下进行。环境温度，2

44、5c土5oC。相对湿度，45%75%。大气压力，86kPa106 kPa(860 mbar1 060 rnbar) 0 制造商也可以在其他温度条件下测试，只要能使NSI确信在环境温度为25c土1oC、相对湿度在48%52%之间(若相对湿度是重要的)测试时器件仍能符合详细规范的规定。6.2 物理检查6. 2. 1 目检除非另有规定，目检应在正常照明条件下和标准目视条件下进行。应检查下列各项的E确性sa) 标志及清晰度;引出端识别pc) 器件外观，依据IEC61747-5检查。6.2.2 尺寸应按规定的图纸检查尺寸。典型的LCD模块图参见附录Ao6.2.3 标志耐久性这项试验的目的是检查在对器件处理和使用常规清洗剂时标志的耐久性。6.2.3.1 条件溶剂、磨擦条件和材料应在分规范或空白详