GB T 13541-1992 电气用塑料薄膜 试验方法.pdf
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1、中华人民共和国国家标准电气用塑试验方法Test methods of pl瞄ticfilms f or electrical purposes G8/T 13541 92 本标准参照采用国际标准IEC674-2(1988)(电气用塑料薄膜规范第三部分试验方法儿1 主题内容与适用范围本标准规定了电气用塑料薄膜的试验方法。本标准适用于电气用塑料薄膜。2 引用标准GB 1033 塑料密度和相对密度试验方法GB 1408 固体绝缘材料工频电气强度的试验方法GB 1409 固体绝缘材料在工频、音频、高频包括米波长在内下相对介电常数和介质损耗因数的试验方法GB 1410 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率
2、试验方法GB 7196 用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法GB 10006 塑料薄膜和薄片摩擦系数测定方法GB 10582 测定因绝缘材料而引起的电解腐蚀的试验方法GB 11026.1 确定电气绝缘材料耐热性的导则制订老化试验方法和评价试验结果的总规程GB 11999 塑料薄膜和薄片耐撕裂性试验方法埃莱门多夫法JB 3282 团体绝缘材料相对耐表面放电击穿性能试验方法3 取样、预处理条件和试验条件3. 1 取样从薄膜卷上取样时,应至少先去掉其最外三层薄膜,然后,再接性能的要求取样及制祥。取样时的环境条件同试验条件。3. 2 预处理条件除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,作为样品
3、的薄膜卷应在温度23士20C、相对湿度50%士5%下至少放置Z4h,取好的试样应在该条件下处理1h , 3. 3 试验条件除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,试验应在温度23士ZC、相对湿度50%土5%、环境洁净度不大于3000级的条件下进行。国家技术监督局1992-07-03批准1992-03-01实施115 G/T 13541-92 4 厚度薄膜厚度的测量应由产品标准规定选择下述中任一方法进行。4. 1 机械法4. 1. 1 单层法4.1.1.1 试验仪器薄膜厚度小于100m时,用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2mm的平面测帽或曲率半径为25mm50 mm的球面测帽。测
4、量压力为o.51 N。薄膜厚度大子或等于100m时.可用杠杆千分尺测量。仪器精度:薄膜厚度小于15m时,精度不低于0.2m,薄膜厚度等于及大于15m但小于100m时,精度不低于1m,薄膜厚度大于及等于100m时,精度不低于Zm,4.1. 1. 2 试验步骤沿薄膜卷横向取三条100mm宽的薄膜作为试样(当薄膜卷宽度小于400mm时,可适当多取几条试祥)。在试祥上近似均匀地共测量27点厚度。两个测量点之间的距离不少于50mm,对于未切边的试样,测量点应离薄膜边缘50mm.,对已切边的试样,测量点应离薄膜边缘2mm。对于薄膜带,应在带宽的中间位置每隔50mm测量一点,共测量27点.4.1.1.3结果
5、取27个测量值的中值作为试验结果,并报告最大值和最小值。4. 1. 2 叠层法4.1.2.1 试验仪器杠杆千分尺精度1m,采用直径6mm的平面测帽。4.1.2.2 试验步骤沿薄膜卷纵向取600800mmt主宽为薄膜宽度)的薄膜,顺纵向缠于宽度为50mm、厚度为3mm的标准片上,共缠五层(标准片的每面五层)。取出标准片,用千分尺沿薄膜横向均匀间隔地测量10层薄膜厚度。测量点数按表1规定。表1薄膜宽度毛主5050-70 70-100 100-150 150-200 200-350 350 mm 测量点数1 2 3 4 5 7 10 4. 1. 2. 3 试验结果各点测量值除以10,得各点的单张薄膜
6、厚度,取各点的单张薄膜厚度的中值作为试验结果,并报告单张厚度的最大值和最小值。4.2 质量密度法4.2.1 试验器具分析天平感量。.1mg, 铜板尺分度值0.5mm。4.2.2 试验步骤在薄膜卷上取兰片长方形试样,每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积,用分析天平测量试样的质量。按本标准第5章规定测量试样的密度。4.2.3 试验结果116 每个测量值的结果按式(1)计算g式中.h一一试样的厚度,111,m 试样的质量,g,5 试样的面积.cm2; d 试样的实测密度,g/cm3。GB/T 13541-92 h = 10 .oOO m 一d.S一取三个计算值的中值作为测量结果,结果取三位有效
7、数字5 密度按GB1033进行e具体选择何种试验方法,由产品标准规定.6 宽度6.1 试验仪器钢板尺分度值1mm,长度大子薄膜宽度。6.2 试验步骤沿薄膜纵向取5m试样于松弛状态下放置1h后,沿纵向等距测量薄膜宽度五次。6.3 试验结果取五次测量值的中值作为薄膜的宽度e7 卷绕性7. 1 定义与原理薄膜的卷绕性用于评定成卷薄膜的变形情况,可由偏斜和下垂两方面来衡量。偏斜:当薄膜平整地展开时,其边缘不呈直线偏移或弧形)。. ( 1 ) 下垂z当一段薄膜由两个呈水平位置的平行辘支撑并在承受一定张力的情况下,其中有部分薄膜会低于总的水平面。对于宽度小于150mm的薄膜或很厚的薄膜测定其卷绕性时,用7
8、.2条方法1分别测定其储斜和下垂。对于宽度大于等于150mm的薄膜测定其卷绕性肘,用7.3条方法2次测定偏斜和下垂的总和。7.2方法I7.2.1 偏斜的测量7.2.1.1 方法要点将一段薄膜自然地平铺在-平面上,测量其边缘与直线的偏离值,如图1所示。117 7.2.1.2 试验设备G/T 13541-92 d , -1500 1 图l卷绕性测定示意图方法1测定偏斜)1 直边;2一试样;3 试验平台2 3 平整的水平台长1500士15mm,宽度大于被试薄膜宽度,平台长方向的两端平行度应小于0.1mm。长钢尺长度大于1525mm , 钢直尺长度为150mm,分度值1mmo 软刷子。7.2.1.3
9、试样取一段长度大于1525mm的薄膜作为一个试样,共取三个试祥。取样时应缓慢放卷,其速度约300mm/s。7.2.1.4 试验步骤将试样铺到试验平台上,用软刷子从一端起轻压试样,使之与试验平台紧密接触,尽可能赶掉里面的空气。然后将长钢尺压在薄膜的边相距1500士15mm的两个点上,测量薄膜该边缘与长钢尺之间的最大距离4。再将长钢尺压在薄膜另一边缘相距1500士15mm的两个点上,测量薄膜该边缘与长钢尺之间的最大距离d2,如图l所示。7.2.1.5 试验结果试样的偏斜为d,和马之和,单位为mm,取三个试样测量值的中值作为试验结果。结果取二位有效数字。7.2.2 下垂的测量7.2.2.1 方法要点
10、取一长条薄膜试样,在规定的条件下放在两个呈水平位置的平行锦上,使薄膜的纵向与辘轴乖直,在薄膜的一端施加定的张力。测量薄膜因重力而下垂的值。7.2.2.2 试验设备在一个坚固的机架上支撑两个平行的、能自由转动的金属寝。辑的直径为100士Q.lmm,长度应大于被测薄膜的最大宽度。平行辘的轴线应在同一水平上,公差为Q.lmmo两轴线的平行度为0.1mm。两辘间距离为1500土15mm,辘表面的圆柱度为Q.lmm,表面粗糙度R.为1.60m(见图2)。机架t:118 GB/T 13541一的设有一个装置壁,能将被试薄膜卷固定在其中一金属辘的lE下方,使薄膜卷的轴线能与上方的辘平行平行度为0.1mm以内
11、)。薄膜的横向f茸茸可随意调节。薄膜放餐时张力可调。在机架的另一端从第二个辘子自由悬拔下来的薄膜上装一盏物或弹簧夹,其重量及相对:r薄膜的位置可调,以便在薄膜整幅上提供一基本均匀的张力。张力大小ll产品标准定。长领尺长度大于1525四m.钢直尺长150mm,分度值1mm。钢卷尺 2 m,分度值1mm。7.2.2.3试验步骤从安装好的薄膜卷上缓慢放卷(速度约为300mrn/叶。将薄膜轻轻地放在两个平行辘上移动薄膜自自端,使两糕泻的薄膜尽量平整。施加张力于薄膜自由端,并尽量使张力在整个薄模宽度上均匀。将长钢尺轻革圣地放于两子行程上,测最长专题尺累i薄旗下垂最大处将距离,该距离那为该试荐的下垂遗。7
12、.2.2.4 试验主吉巢取三个试样测量值的中值作为试验结果e并报告其他二工个值,单位为mrn.续占在取二位有效数字。1 z 巳因2卷绕性测定示意图方法1测定下象及方法2测定偏斜与下蠢)l 膏、记线.2-试桦7.3 方法27.3.1 方法葵点取-t史条薄膜试样,在规定的条件下放在两个平行的粮上.使薄膜的纵向与辍轴垂直,在薄膜一端均匀地施加一张力,使张紧的薄膜不存在偏斜和下垂,同时测定该情况下的薄膜的相对伸长。7.3.2 试验设备试验设备问7.2. 2. 2条。119 GB/T 13541-92 合适的自粘性标签。7. 3. 3 试验步骤从安装好的薄膜卷上缓慢放出一段试样(速度约为300mm!s)
13、。将薄膜轻轻地放在两个平行银I二。移动薄膜自由端,使工辗间的薄膜尽量平整。施加张力到薄膜的自由端,调节张力到1.0圭0.3MPa(以薄膜的标称厚度和宽度计算。在薄膜显示下垂量较小的线上(该直线平行于薄膜边缘).作两个自粘性的参考标记(相距1000 mml 100 mm)。用钢卷尺测量两标记之间的距离,精确到0.5mmo 增加施加在薄膜上的张力,使薄膜基本上平整,薄膜边缘基本上是直线(偏差在0.5mm以内).并且在任何一点下垂不超过7.5mmo此时,用测得的两个参考标记间的距离增加的百分率来表示薄膜的卷绕性(见图2)。重复上述程序,测定另外三个试祥。7.3.4 试验结果取三个试祥测量值的中值作为
14、试验结果,并报告其他二个数值。结果取两位有效数字。8熔点8. 1 方法要点将被试薄膜放在滴有少量硅汹的热台上。盖上玻璃圆片,使它在试样支撑下与硅油形成弯液面。用肉眼观察,当试样不再支撑玻璃圆片而使弯液面向前移动时的温度即为被试薄膜的熔点。8.2 试验仪器和材料铅分析纯,熔点271.3 C。锡分析纯:熔点231.9C。(或其他已知熔点的标准物)硅泊沸点高于被测物体的熔点。弯液面法熔点测定仪由铝块和加热器组成的加热台,并附有测温元件孔。测温元件紧贴在加热台的规定位置。温控系统分高、低两档进行调温,低档升温速率约为2C/min。3X5放大镜。精密测温元件范围20300C.分度值。5C。制备试样的工具
15、如刀片、镀子等。8. 3 试样薄膜可切成约2mmX2 mm或直径2mm的小片30片,将总厚度约为0.1mm的几层薄膜小片重叠在一起作为一个试样。共取兰个试样。8.4 试验步骤如果第一次使用仪器或者更换测温元件,必须使用锡、锡或已知熔点的标准物校准仪器。插入测温元件,保证自由j温元件与热台有良好的接触,在热台上滴入适量的硅油。然后,尽量整齐地将已制好的试样放在加热台上,并使每片薄膜之间都浸润硅泊。盖上玻璃圆片,接通仪器电源,使热台温度迅速上升当温度达到预期熔点以下约20C时,将温控调节到升温速率约为2C/min。由于温度上升,试样被熔化,玻璃圆片不再被试样支撑,硅泊的弯液面开始移动。用放大镜观察
16、弯液面开始移动时的温度,读数准确到O.5 C (见图3)。这个温度即为该试样的熔点。在仪器校准时如发现测定的标准物熔点与理论熔点相差lC以上时,则试样的熔点也应作相应的修正。8. 5 试验结果如果三个试样的测量值相差5C以上时,则试验作废,并重新进行试验。取三个试祥测量值的中值作为试验结果。120 9 摩擦系数按GB10006进行。10 湿润张力(聚烯侄薄膜的)10. 1 方法耍点GB/T 13541-92 1 2 3 4 。图3弯液面法熔点测定示意图1 试样,2硅油,3玻璃圆片,4加热平台当具有一定表面张力的混合有机液体涂到薄膜表面时,能湿润薄膜的表面。利用该原理采用一组不同表面张力的混合有
17、机液体可测定薄膜的湿润张力。试验中,杂质会影响试验的结果。因此,不能触摸和摩擦被试薄膜表面。所有设备要清洁,试剂为分析纯。10.2 试验器材与试剂长约150mm、一端包有脱脂棉的玻璃棒。50 mL的量杯二个。100 mL试剂瓶。试剂用分析纯甲酷胶(HCONH2)和分析纯乙二醇乙隧(CH,CH2-O-CH,CH2-OH)按表2比例配制成混合液。混合液的有效期为一星期。表2甲酷胶乙二醇乙隘湿润张力体和、%体和、%mN/m 。100 30 2. 5 97. 5 31 121 G/T 13541-92 续表2可辛酸黯乙二醇乙重建iil菌张力体积%体我%mN/白10. 5 89.5 32 一-19. 0
18、 81.0 33 26.5 73. 5 34 3$.0 65.0 35 42.5 57.5 36 48.5 51. 5 37 54.0 46.0 38 59.0 41. 0 39 63. 5 36.5 40 67.5 32.5 41 71.5 28.号42 4.7 25.3 43 78.0 22.0 44 80.3 19. 7 45 83.0 )7. 0 46 87.0 13.0 48 90.7 9.3 50 93.7 6.3 52 96.3 3.7 54 99巾。1. 0 56 10.3 试样沿纵向ll&氏度等于薄膜宽度的薄膜作为试祥。10.4 试验步骤用理主璃棒头上的脱脂棉蘸j二某一种比例
19、的混合液,Jl尽量少的液体轻轻地涂在试祥约6.5cm2的面积上,测定液体在薄膜表面能保中牵连续液膜的时间。如时间大于2s,贝再选用我面张力更大一级的混合液进行试验。反之,如时间小子2s ,l)1JlE用表面张力更小-级的混合液进行试骏。当连续液膜破裂的时间为2s 时,所对应混合液的表商张力(mN/m)即为该被试薄膜的湿润张力。每次试验均应换用干净的脱Hil梅。在试样的1/4,1/2,3/4程度位置上进行试验。10.5 试验综果款三个浏撞镶约中佳作为试验结果。若三个测锺值之差超过2.0mN/m.则应再试验六个,用九个测量值的中值作为测量结果,并报告个别值。11 拉伸强度和断裂伸长率11. 1 试
20、骏仪器合适缝糠的材料试验机,装有一对夹真湾以夹住试栋。在施加拉申负苍苍对,夹黑靠在以产品标准Ji1.定122 GB/T 13541二92的速度彼此分离。试验机的拉伸负荷和伸长率的示值的相对误差不大于1%。11. 2 试样沿薄膜的纵向和横向分别取长约200mm、宽15+1mm的试梓各五条。试祥宽度的测量精度不低于0.15mm.在试样中部标出两个相距至少50mm的标记线。如产品标准对试样尺寸另有规定.则按产品标准定。按第4.1. 1条所述方法,在每条试祥的标线间测量三点厚度,取其中值作为试样厚度。11.3 试验步骤测量试样标线间的长度,精确到1mm(l调节夹具间距离到产品标准规定的值。将试样平直地
21、夹于两夹具间,使其拉伸时不在夹具内打滑,且不受夹具的机械损伤。安装伸长仪,使得伸长仪的两夹口与试样上的两标线重合。伸长仪央口不应对试样产生损伤或畸变自以产品标准规定的拉伸速度施加负荷直至试样断裂。记录最大负荷和试样断裂时两标线间的伸长。如试祥在夹口处断裂(不包括在标记线外断裂),该试验数据无效,应重新另取一个试样进行试验。也可采用测量夹口问距离的增加来计算试样的断裂伸长率。但有争议时仍以标线问试样伸长汁算所得的断裂伸长率为准。11. 4 试验结果式中一拉f申强度,MPa;户最大负荷,N;A 试样厚度mm;h 试样宽度.nlnl Q 式中:e断裂伸长率,%;户一b h L - L , e=f10
22、0 L , 未拉伸时试样两标线|同距离,mm;L 试祥断裂时两标线间的距离,mmo( 2 ) . ( 3 ) 分别取纵向和横向的五个测量值的中值作为试验结果,并报告每个方向的最大值和最小值。拉伸强度结果取三位有效数字;断裂伸长率结果取两位有效数字。12 边缘撕裂性12.1 试验仪器同11.1条所述材料试验机,并附有图4所示夹具。12. 2 试样沿薄膜纵、横向分别取长约300mm、宽度为15mm的试样各五个。12.3 试验步骤把试样插入固定在试验机上夹头的试验夹具的斜槽中,试样两端夹在试验机下夹头中(见图4)。调节螺丝使橡胶垫轻轻压住试样以防在斜槽中滑动。从开始加拉伸负荷到试祥撕裂的时间应在20
23、士5s 内。读取试样边缘开始撕裂的力。12.4 试验结果分别取纵、横向五个测量值的中值作为纵、横向边缘撕裂性的试验结果。结果取三位有效数字。123 8 7 6 5 4 3 2 1 GB/T 13541-92 r- - -, A I A RO.25 A-A 图4边缘撕裂性试验示意图RO.25 10 l一下夹头,2一衬垫,3一试样,4一斜槽,5一橡胶垫条,6一滑块,7一螺丝,8上央头13 内撕裂性按GB11999进行。14 挺度待定。15 寝面电阻事按GB1410进行。测量电极直径50mm,高压电极直径54mm,电极材料可选用真空镀膜、导电橡皮、油贴铝锚.试验电压及试样个数按产品标准规定.16 体
24、积电阻率16. 1 方法l接触电极法按GB1410进行。电极材料用真空镀膜、导电橡皮、油贴铝费o采用测量电极直径25mm和高压电极直径27mm的两电极系统,试验电压、电化时间、试样个数按产品标准规定。16.2 方法2一一模型电容器法适用于卷绕电容器介质用薄膜或对方法1来说太薄的薄膜.16.2. 1 测试仪器 高阻计可测试样电容不大于0.5F,试样电阻1013n及以下。合适的电容测试仪。屏蔽籍。卷制机能卷绕模型电容器,对薄膜的卷绕张力为2.5士0.5N o 124 GB!T 13541 92 16.2.2 试样制备试样为卷在硬绝缘管芯上的模型电容器元件,采用铝?自突出型结构,介质为单层被试薄膜,
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