JJG 1034-2008 光谱光度计标准滤光器检定规程.pdf

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1、中华人民共和国国家计量检定规程JJG 1034-2008光谱光度计标准滤光器Reference Filter for Calibration Spectrophotometer20080131发布 20080430实施国家质量监督检验检疫总局发布光谱光度计标准滤光器检定规程Verification Regulation of ReferenceFilter for Calibration Spectrophotometer矿一、； 2i JJG 10342008 l5 2a O弋一一一一j本规程经国家质量监督检验检疫总局于2008年1月31日批准，并自2008年4月30日起施行。归口单位：全国

2、光学计量技术委员会起草单位：中国计量科学研究院辽宁省计量科学研究院湖北省计量科学研究院本规程委托全国光学计量技术委员会负责解释本规程主要起草人：张巧香(中国计量科学研究院)王煜(中国计量科学研究院)石丽平(辽宁省计量科学研究院)黄庭茂(湖北省计量科学研究院)参加起草人：郑春弟(中国计量科学研究院)李平(中国计量科学研究院)冯国进(中国计量科学研究院)JJG 1034-2008目 录1范围一2引用文献一3术语和计量单位一4概j盎一41透射比标准滤光片。42波长标准滤光片一43杂散辐射标准滤光片一5计量性能要求一6通用技术要求。61外观要求一62外形尺寸要求一7计量器具控制。71检定条件72检定项

3、目73检定方法74检定结果处理一75检定周期一附录A吸收型波长标准滤光片的特性参数一附录B截止型杂散辐射标准滤光片的特性参数一附录C雾度一附录D算术平均值和贝塞尔公式一附录E光谱光度计标准滤光器测量不确定度评定实例一附录F透射比标准滤光片检定证书内页格式一附录G吸收型波长标准滤光片检定证书内页格式一附录H干涉滤光片检定证书内页格式一附录I截止型杂散辐射标准滤光片检定证书内页格式_ ；)约约”mmm柳锄柳VvVvvvll；(；(HG 1034-2008光谱光度计标准滤光器检定规程1范围本规程适用于光谱光度计(含分光光度计)检定用标准滤光器(以下简称标准滤光器)的首次检定、后续检定和使用中的检验。

4、检定用标准滤光器的型式评价中有关计量性能的要求可参照本规程执行。2引用文献JJF 1032-2005光学辐射计量名词及定义JJF 1001-1998通用计量术语及定义JJF 1059-1999测量不确定度评定与表示JJG 8121993干涉滤光片检定规程JJG 1782007紫外、可见、近红外分光光度计检定规程使用本规程时，应注意使用上述引用文献的现行有效版本。3术语和计单位下列术语适用于本规程中。31透射比标准滤光片transmittance reference filter透射比标准滤光片是用于传递光谱透射比的标准样品，其主要计量技术指标为光谱透射比，计量单位是1。32 吸收型波长标准滤光

5、片 wavelength reference filter of absorption type吸收型波长标准滤光片是以吸收峰的峰顶值的方式来传递波长量值的标准样品，其主要计量技术指标为波长，计量单位是nm。33干涉滤光片interference filter干涉滤光片是以其最大透射比的峰值位置来传递波长量值的标准样品，其主要计量技术指标为波长，计量单位是nm。34杂散辐射标准滤光片stray radiant reference filter本规程中的杂散光指JJF 1032-2005中483杂散光定义中的异色杂散辐射，杂散辐射标准滤光片是用截止区的透射比来衡量仪器的杂散辐射，以光谱吸光度表示

6、，计量单位是1。35正反面检测差值differenee of bidirectional transmittance指辐射束从标准滤光片的正反两个方向通过时，由于标准滤光片本身的性能而造成的改变量。36透射比均匀性uniformity of transmittance本规程特指由于标准滤光片性能，造成中心光斑点与距中心光斑点上下各5 mm处的辐射束的变化量。1jjG 1034-20083。7相对峰高relative depth of vale吸收型波长标准滤光片的相对峰高是指特征峰峰谷的透射比值与相邻特征峰峰顶最小透射比值的差值的绝对值。计量单位是1。38吸收峰对称性symmetry of a

7、bsorption vale吸收型波长标准滤光片的对称性是指特征峰的波长值与理论波长值的差值的绝对值，理论波长值可以认为是特征峰相对峰高的半峰高处两波长值的平均值。计量单位是rim。39斜率slop _指截止型杂散辐射标准滤光片在截止区和透光区中间的过渡区的曲线的陡峭程度，是该过渡区曲线的一阶导数。计量单位是1nm。4概述标准滤光器是用于检定光谱光度检定装置的透射比、波长和杂散辐射的计量标准器具。标准滤光器包括透射比标准滤光片(中性灰玻璃滤光片、镀金属膜的滤光片、重铬酸钾滤光片等)，波长标准滤光片(干涉滤光片、氧化钬滤光片、镨钕滤光片、镨铒滤光片)，杂散辐射标准滤光片。41透射比标准滤光片透射

8、比标准滤光片主要用于光谱光度计透射比示值的检定，由透射比标准滤光片提供稳定、均匀的透射比值。为了减少被测仪器中波长等因素的影响，要求透射比标准滤光片的波长选择性尽可能小。42波长标准滤光片吸收型波长标准滤光片和干涉滤光片主要是用于光谱光度计波长示值的检定，因为这两种滤光器中前者能提供一个陡峭的、尖锐的光谱吸收峰；后者能在特定波长下提供尖锐的高光谱透射。43杂散辐射标准滤光片杂散辐射标准滤光片用于确定仪器的杂散辐射的检定。因为杂散辐射标准滤光片在一段波长区具有高透射，在另一段波长区具有高吸收的光谱特性。利用测量其高吸收光谱区的光谱透射比可以反映仪器杂散辐射的水平。要求杂散辐射标准滤光片在过渡区的

9、波长范围尽可能地窄，以便能有效地提供一个光透射和光吸收的对比。5计量性能要求透射比标准滤光片、干涉滤光片和杂散辐射标准滤光片均分成两个级别，各级标准滤光器的计量性能应满足表13和表5，6的要求；吸收型波长标准滤光片按照吸收峰的特性，把吸收峰分为一级吸收峰、二级吸收峰，各级吸收峰的计量性能应满足表4中相应的要求。表1可见区透射比标准滤光片级别 透射比 透射比 透射比 光谱透射比。(436，465，年变化量1 正反面检测差值1 均匀性1546，590，635 nm)l一级 008 3 Q03 2 05 O3 35 o8 15二级 30 07 10注：表16中上角标“I，”表示检定项目的类型，详细内

10、容参见7计量器具控制中的说明。“一”表示需要测量，但对大小不做限定的指标。6通用技术要求61外观要求611标准滤光器工作表面要求平整、清洁、干燥、整体直观颜色均匀、无裂纹、条纹、气泡、斑点、划痕等缺陷。612标准滤光器外包装上应标有名称，要求坚固耐用，光学稳定性好。613标准滤光器应有较密闭的外包装，编号、型号、生产厂名，同时标准滤光器均可以防尘、防潮、避光、防震、保证运输、3JJG 1034-2008保存安全。614标准滤光器长期存放应在干燥皿中，保存在(235)，小于65RH洁净的环境中，以确保量值传递的稳定可靠。62外形尺寸要求621标准滤光器应有符合通用标准的通光孔尺寸，不小于29 m

11、m8 mm。622标准滤光器框架及固定用弹簧片和螺钉应进行表面黑化处理，以利于减少杂散辐射。7计量器具控制计量器具控制包括首次检定、后续检定以及使用中的检验，由于部分标准滤光器使用的特殊性，本规程把所有可能涉及的项目分为三类来区别对待：一类属于必检项目，涉及内容必须符合相应标准滤光器的计量性能表格的要求；二类属于信息项目，指标准滤光器使用中涉及的必要信息；三类是可选项目，此类项目可按照客户的要求，选择给出或不给出。71检定条件711检定设备光谱光度检定装置应具备以下性能：波长分辨力优于005 nm；波长示值误差优于02 nm；特征波长点透射比的示值误差优于土0001；杂散辐射水平低于110；测

12、量的光谱范围应覆盖开展工作所需的光谱范围。712检定环境检定的环境温度为(23士5)，相对湿度不大于65，保存和工作环境中不应有引起标准滤光器或其膜层腐蚀的气体。72检定项目如表7所示。衰7标准滤光器检定项目一览表检定项目 首次检定 后续检定 使用中检验外观 + + +透射比年变化量 + +透射比 透射比正反面检测差值J一标准滤光片透射比均匀性 + +特征波长点的光谱透射比 + + +外观 + + J一特征波长年变化量 + +吸收型 相对峰高 + + +波长标准滤光片 特征峰峰值波长点 + + +相对峰高光谱带宽 + + +特征峰对称性相对峰高 + + +JJG 1034-2008表7(续)检

13、定项目 首次检定 后续检定 使用中检验外观 + + +峰值波长 + + +峰值透射比 + + +半宽度 + + +干涉滤光片型截止区背景光透射比 + +波长标准滤光片波形系数 + +峰值波长年变化量 + +峰值波长均匀性 + +峰值波长正反面检测差值 +外观 + + +截止型 截止波长吸光度年变化量 + +杂散辐 截止波长吸光度 + + +射标准滤光片 + +非截止区透射比 L斜率 +注：“+”表示需检项目，“一”表示不需检项目。73检定方法731外观检查7311用目视法按611614规定的各项内容进行外观检查。7312对标准滤光器表面进行清洁处理，可用洗耳球吹净表面浮尘；经委托方允许后，对污

14、染严重的标准滤光器用脱脂棉蘸洗净液(乙醇和乙醚的1：4混合物)擦净表面，并按611614进行外观检查。732透射比标准滤光片的检定利用光谱光度检定装置，开机，预热至少半小时(或按照设备要求预热)，在固定波长条件下测量透射比标准滤光片的光谱透射比值。a)选择光谱光度检定装置到相应的波长点，校准100透射比。b)在测量样品位置放置被检光谱透射比标准滤光片，以空气作参比，读出相应特征波长点下的透射比值，重复6次，计算其算术平均值作为该标准滤光片的透射比值，并记录；按照贝塞尔公式(详见附录D)计算相对标准偏差，要求同一波长点下的6个透射比平均值的相对标准偏差小于等于003，否则应重新测量。c)更换滤光

15、片，重复上述2步骤。d)改变波长点，重复上述3个步骤，测量2 350，2 000，1 690，1 300，1 000 nm(红外辐射区)、635，590，546，465，436 nm(可见辐射区)、365，340，300，254 121215JJG 1034200S(紫外辐射区)等规定波长点下对应的透射比值，或客户特殊要求的测量波长。7321透射比年变化量计算同一透射比标准滤光片两次周期检定的对应特征波长点下透射比值差值的绝对值。其结果应满足相应的表l或表2或表3的要求。7。32。z透射比正反面检测差值在紫外、可见、近红外的特定波长点处(紫外、可见、近红光谱区分别取365，546，1 690

16、nm作为特征波长点)，测量光谱光度检定装嚣的入射光(此处每一测试点的测量光束直径为5 mm)从透射比标准滤光片正面中心点射入与从背面中心点射人时的两个透射比值，计算差值，取绝对值。其结果应满足相应的表1或表2或表3的要求。7323透射比均匀性在透射比标准滤光片中心点及距中心点上下各5 mm处，分别测量特定波长点(测量光束直径5 mm，紫外、可见、近红光谱区分别取365，546，1 690 nm作为特征波长点)的透射比值。计算三处透射比值的差值，取其绝对值。其中最大值应满足相应的表1或表2或表3的要求。7324雾度以透射比标准滤光片的雾度值来评价标准滤光器对光的散射性能。作为第三类检定的信息项目

17、。可选其中定波长点(例如365，546，1 690 nm)测量样品的雾度，详细说明见附录C。733吸收型波长标准滤光片和干涉滤光片的检定利用光谱光度检定装置，开机预热至少半小时(或按照设备要求预热)后，采用波长扫描方式测量。a)选择相应的波长范围，以不大于005 nm的步长(或数据间隔)校正100基线。b)在测量窗口放置被检波长标准滤光片，以空气作参比，以不大于005 nm的步长(或数据间隔)测出被检波长标准滤光片的光谱透射比曲线，选择波长标准滤光片的特征峰。对于氧化钬、镨钕、镨铒等吸收型波长标准滤光片，选择特征峰的原则是：尽量选择对称、尖锐的峰作为特征峰，推荐的做法是按照表4中所列的相对峰高

18、，峰值对称性，带宽等指标(具体可参考附录A)来选择特征峰，并记录。利用光谱光度检定装置从长波扫描到短波和从短波扫描到长波的不同测量状态，比较特征波长点的变化值。定为第三类可以选用的检测方法，针对高准确度的仪器测量时推荐采用。73，31 吸收型波长标准滤光片的特征峰根据733吸收型波长标准滤光片检定方法测出的光谱透射比曲线，记录标准滤光片特征峰的峰值波长点、峰值透射比值，计算其相对峰高，光谱带宽，吸收峰对称性等，详细说明见附录A。7332 吸收型波长标准滤光片和干涉滤光片的特征峰峰值波长年变化量计算同一标准滤光片两次周期检定结果中的相应的特征峰峰值波长点的差值的6JJG 1034-2008绝对值

19、。7333干涉滤光片的波长均匀性在干涉滤光片中心点及距中心点上下各5 mm处，分别测量干涉滤光片的峰值波长点，(此处每一测试点的测量光束直径为5 mm)，交叉计算三处的差值，取其绝对值，其中最大值应满足表5的相应的要求。7334 干涉滤光片的波长正反面检测差值测量光谱光度检定装置的入射光(此处每一测试点的测量光束直径为5 mm)从干涉滤光片正面中心点射人与从背面中心点射入的峰值波长，计算其差值，差值的绝对值应满足表5的相应的要求。7335干涉滤光片的半宽度根据733标准滤光片检定方法测出的光谱曲线，找到对应于最大透射比值一半的两点所对应的波长，计算两者的差值，取其绝对值。7336干涉滤光片的截

20、止区背景光透射比根据733标准滤光片检定方法测出的光谱曲线，除透射主峰外，找出其他范围的背景光的最大的透射比。7337干涉滤光片的波形系数根据733标准滤光片检定方法测出的光谱曲线，找到对应于最大透射比值的10的两点处的波长点值，计算两者的差值，除以其半宽度，取其绝对值。734截止型杂散辐射标准滤光片检定利用光谱光度检定装置，采用波长扫描方式，开机，预热至少半小时(或按照设备要求预热)。a)选择相应的波长范围，扫描透射比100和0两条基线。b)在测量窗1：3放置被检截止型杂散光标准滤光片，以空气作参比，测出其光谱曲线。7341吸光度年变化量计算同一截止型杂散辐射标准滤光片两次周期检定的对应标称

21、截止波长点的吸光度的差值，取其绝对值。7342截止波长吸光度根据734标准滤光片检定方法测出的光谱醢线，取标称截止波长点处的光谱吸光度值。7343非截止区(透光区)透射比根据734标准滤光片检定方法测出的光谱曲线，取截止型杂散辐射标准滤光片的斜率小于等于05的截止区(透光区)的光谱透射比值。详细说明见附录B。7344斜率利用截止型杂散辐射标准滤光片在非截止区的最大透射比值的80与20处对应的两点透射比和波长点值来计算其斜率值，计算方法详见附录B。7345雾度以截止型杂散辐射标准滤光片的雾度值来评价标准滤光器对光的散射性能。作为第73jG 1034-2008三类检定的信息项目，选择其非截止区测量

22、样品的雾度，测量和计算方法详细说明见附录C。74检定结果处理经检定合格的滤光片，发给检定证书；不合格的发给检定结果通知书，并注明不合格项。但首次检定暂不定级，不评价年稳定性，使用一年后复检根据第5条要求给予定级，对镀膜类标准滤光器，首次检定暂不定级，使用半年后复检并根据第5条要求给予定级。7，5检定周期镀膜的标准滤光器(包括镀膜透射比标准滤光片和干涉滤光片)，需要对其稳定性迸行考察，在使用的初期(前三年)，建议每半年进行一次检定，之后可以一年检定一次。其他标准滤光器检定周期一般不超过1年。送检时应附上一次检定证书。检定证书的内页格式见附录FI。8JJG 10342008附录A吸收型波长标准滤光

23、片的特性参数A1特征蜂总量：指吸收型波长标准滤光片的特征蜂的总的数量。A2相对峰高：吸收型波长标准滤光片的相对峰高是指特征峰峰谷的透射比值与相邻该特征峰峰谷最小的峰顶的透射比值的差值的绝对值。例如图A1中，特征峰2的相对峰高：rI nr2 (A1)A3对称性：吸收型波长标准滤光片的带宽是指特征峰相对峰高的半峰高处(指图中7Yl2处)与曲线相交的两点波长值差值的绝对值。例如图A1中，特征峰2的带宽：AI a1一A2 (A2)吸收型波长标准滤光片的对称性是指特征峰的波长值与理论波长值的差值的绝对值，理论波长值可以认为是特征峰相对峰高的半峰高处(指图中叫：处)与曲线相交的两点波长值的和的一半。例如图

24、A1中，特征峰2的对称性： 甄一。半l(A，3)誉 60交接蚪 4020400 500波长nm图A1 吸收型波长标准滤光片示例图扎一特征波长点的波长值；n一特征波长点的透射比值；r。 以特征波长点作为峰谷，峰谷到拐点(峰顶)的最小透射比值；“： 特征波长点由峰谷到拐点的透射比值的差值的一半-，z一特征渡长点对应z点的两个波长点值JJG 10342008附录B截止型杂散辐射标准滤光片的特性参数B1截止波长吸光度截止型杂散辐射标准滤光片的截止波长吸光度是指在标称截止波长处该滤光片的吸光度值。B2斜率截止型杂散辐射标准滤光片的斜率指取滤光片在透光区的最大透射比值的80和20两点的数值来计算。例如图&

25、1中，该滤光片的斜率：K一型鱼拿竖坠 (B1)1060享丑摇蜊 40200200 300 400 500波长nm图B1 截止型杂散辐射标准滤光片示例图fm。一截止型杂散辐射标准滤光片在非截止区的最大透射比值。，b一对应20rm。和80rm，处的两点波长值JJG 1034-2008附录C雾 度透明材料的散透射比“与该透明材料的总透射比r的比值，常用省略百分号的百分数大分子表示，用H代表雾度，则有：H一旦X100f雾度的测量原理如式(C2)所示：H一(薏一鲁)100式中：T。入射辐射通量；疋透明材料试样的总透射辐射通量；T3测量装置本身的散入射辐射通量；L测量装置和试样的散透射辐射通量。雾度的测量

26、装置的原理示意如图C1所示。称为该材料的雾度值。试样架 积分球图C1雾度的测量装置的原理示意图光阱(C1)(C2)JJG 1034-2008附录D算术平均值和贝塞尔公式对被测量Q，在重复条件或复现性条件下进行”次独立重复测量，其测量值为q。(i=1，2，n)。算术平均值q为：一一：1q 宴 (D1)一i厶 (u1 J1：1qi对同一被测量作n次测量，表征测量结果分散性的量s可按照如下所示的贝塞尔公式来计算：s(qE)=式中：吼第次测量结果；qn次测量结果的算术平均值，此时n要求不小于10。(D2)JJG 1034-2008附录E光谱光度计标准滤光器测量不确定度评定实例E1 透射比标准滤光片测量

27、不确定度评定检定透射比标准滤光片的测量方法主要有两种，定波长测量光谱透射比的方法和扫描波长测量光谱透射比的方法。采用这两种方法测量得到的结果其不确定度评定的情况有所不同。下面以测量可见区一级标准滤光片光谱透射比为例，分析影响透射比标准滤光片透射比值的测量不确定度，其影响的因素主要有：E1，1 检定装置波长准确度和波长重复性(“。)可以采用原子谱线法(如利用汞灯和氘灯的多条发射谱线)检测标准装置的波长准确度。根据实际检测的结果判定在各波长范围的波长准确度和波长重复性对于光谱透射比的影响。在选用不同的光谱带宽检测光谱透射比时，波长准确度和重复性可能发生变化。针对实际测量的样品要求，分析在测量点发生

28、波长偏差时可能引人的透射比偏差记入波长准确度和重复性的不确定度影响。这种影响与样品的种类有直接关系。对中性灰色滤光器波长准确度和重复性的不确定度影响不大。但对于有光谱选择的彩色滤光片，波长准确度和重复性的不确定度影响会很大。通过实验测试及计算，可见辐射区一级透射比标准滤光片的测量结果中，由检定装置波长准确度和波长重复性带来的透射比值的标准不确定度“，一o05。E12检定装置杂散辐射(“：)杂散辐射通过改变光谱透射比测量过程中，透射通量与入射通量之间的比例关系影响透射比测量结果。r一鲁糍 (E1)。一翥新 1)式中，C为杂散辐射通量。当透射通量西。很小时，杂散辐射通量的影响会很大。杂散辐射对于光

29、谱透射比测量结果的影响，只能利用实际测量杂散辐射和光谱透射比的数据，通过上面的计算公式进行估算。通过实验测试及计算，可估算得到辐射区一级透射比标准滤光片的测量结果中，由检定装置杂散辐射带来的透射比值的标准不确定度U。一0000 5。E13检定装置光电探测系统响应度线性(“。)可以利用双孔叠加法检测装置的光电探测系统响应度线性。利用测量得到的响应度线性结果对光谱透射比测量值进行修正并记人不确定度的影响因素。通过实验测试及计算，可见辐射区一级透射比标准滤光片的测量结果中，由检定装置光电探测系统响应度线性带来的透射比值的标准不确定度地一01。E14检定装置透射比测量重复性(“。)利用检定装置多次测量

30、中性透射比滤光器的光谱透射比来评估检定装置透射比测量重复性，测量结果的重复性以标准偏差表示。13JJG 1034-2008扫描测量的测量重复性由样品的光谱选择性和透射比的幅度决定。通过实验测试及计算，可见辐射区一级透射比标准滤光片的测量结果中，由检定装置透射比测量重复性带来的透射比值的标准不确定度“t一003。E15测量装置稳定性(“s)通过常年的检定和期间核查结果可以估计得到检定装置的稳定性对标准滤光器透射比的影响。通过实验测试及计算，可见辐射区一级透射比标准滤光片的由检定装置稳定性带来的透射比值的标准不确定度“。一005。E16检定装置基线平直度(“s)当采用扫描测量的方法测量光谱透射比时

31、，必须考虑检定装置基线扫描平直度对测量结果的影响。可以按照不同光谱区域，分别估算基线平直度对光谱透射比测量结果的影响。在采用定波长测量光谱透射比的方法时，无此项不确定度的影响。E17透射比标准滤光片透射比加工质量(嘶)通过测量透射比标准滤光片上中下三点的透射比和正反方向透射比的偏差可以估计透射比标准滤光片材料均匀性和加工质量对光谱透射比测量结果的影响。通过实验测试及计算，可见辐射区一级透射比标准滤光片的加工质量带来的透射比值的标准不确定度蜥一O05。E18透射比标准滤光片稳定性()从透射比标准滤光片透射比年变化率可以估计其长期稳定性对在正常使用过程中滤光片光谱透射比量值的影响。通过实验测试及计

32、算。可见辐射区一级透射比标准滤光片的长期稳定性带来的透射比值的标准不确定度“s一005。E19光谱透射比定波长点测量的合成标准不确定度合成标准不确定度：”。一“+“；+“；-t-“：+“；+“i+“；+“ (E2)有效自由度：坩，一j (E3)等取置信概率声一95，由f分布表查表得出包含因子值，计算相对扩展不确定度为U一地。 (E4)由于各检定单位装置和人员、环境条件的差别，检定结果的不确定度各不相同。按照上述分析，通过实验测试估算的扩展不确定度(一2)如表E1所示。表E1透射比标准滤光片扩展不确定度估算表(一2)级别 可见辐射区 紫外辐射区 红外辐射区一级光谱透射比标准滤光片 03 05 O

33、5二级光谱透射比标准滤光片 O5 O8 0814JJG 1034-208上述测量结果给出的扩展不确定度除以扩展因子可作为溯源引入的不确定度分量，与测量应用过程中的不确定度分量合成可作为测量结果的不确定度。E2杂散辐射标准滤光片测量不确定度评定检定杂散辐射标准滤光片的方法主要是扫描波长测量光谱透射比的方法。影响检定杂散辐射标准滤光片测量结果不确定度的因素主要有：E21检定装置波长准确性和波长重复性(“。)可以采用原子谱线法。如利用汞灯和氘灯的多条发射谱线，检测标准装置的波长准确性。根据实际检测的结果判定在各波长范围的波长准确度和波长重复性指标。在选用不同的光谱带宽检测吸光度时，波长准确度和重复性

34、可能发生变化。针对实际测量的样品要求，分析在测量点发生波长偏差时可能引入的吸光度偏差记入波长准确度和重复性的不确定度影响。通过实验测试及计算，一级杂散辐射标准滤光片的测量结果中，由检定装置波长准确度和波长重复性带来的透射比值的标准不确定度“。一005。E22检定装置杂散辐射比率(“。)与杂散辐射对光谱透射比测量结果的影响相似，当透射通量或很小时，杂散辐射对吸光度的测量结果影响很大。通过实验测试及计算，一级杂散辐射标准滤光片的测量结果中，由检定装置杂散辐射比率带来的透射比值的标准不确定度“z一02。E23检定装置光电探测系统响应线性度(撕)由于测量杂散辐射滤光器吸光度时的光电信号动态范围大，由此

35、引入的响应度线性的影响也相对较大，通常利用在检定装置后光路插入衰减器的方法减小信号的动态范围，从而减小响应度线性对测量结果的影响。利用双孔叠加法检测装置的光电探测系统响应线性度。利用测量得到的响应线性度结果对光谱透射比测量值进行修正并记人不确定度的影响因素。通过实验测试及计算，一级杂散辐射标准滤光片的测量结果中，由检定装置光电探测系统响应线性度带来的透射比值的标准不确定度毗一01。E24检定装置透射比测量重复性(Ua)利用检定装置多次测量中性透射比标准滤光片的光谱透射比来评估检定装置透射比测量重复性。测量结果的重复性以标准偏差表示。通过实验测试及计算，一级杂散辐射标准滤光片的测量结果中，由检定

36、装置透射比测量重复性带来的透射比值的标准不确定度U。=003。E25测量装置稳定性(“s)通过常年的检定和期间核查结果可以估计得到检定装置的稳定性对标准滤光器透射比的影响。通过实验测试及计算，一级杂散辐射标准滤光片的测量结果中，由检定装置装置稳定性带来的透射比值的标准不确定度“。一005。E26检定装置基线平直度(“。)当采用扫描测量的方法测量光谱透射比时，必须考虑检定装置基线扫描平直度对测15JJG 1034-2008量结果的影响。可以按照不同光谱区域，分别估算基线平直度对光谱透射比测量结果的影响。通过实验测试及计算，一级杂散辐射标准滤光片的测量结果中，由检定装置基线平直度带来的透射比值的标

37、准不确定度U。一02。E27杂散辐射标准滤光片性能的影响(蜥)包括吸光度的年变化量，过渡区透射比随波长变化的斜率，杂散辐射标准滤光片散射特性对于测量结果的影响。通过实验测试及计算，一级杂散辐射标准滤光片的测量结果中，由杂散辐射标准滤光片性能带来的透射比值的标准不确定度狮一O05。E28扫描测量光谱透射比的合成标准不确定度合成标准不确定度：”。一石再再虿F虿干丽干霹干霹再歹 (E5)有效自由度：f一羲 沮6)取置信概率p=95，由t分布表查表得出包含因子k值，计算相对扩展不确定度为U=ku。 (E 7)根据各检定单位装置和人员、环境条件的差别，检定结果的不确定度各不相同。根据上述分析，主编单位通

38、过实验测试，计算一级杂散辐射标准滤光片的测量结果不确定度(=2)一般可以优于07，二级杂散辐射标准滤光片的测量结果不确定度(=2)一般可以优于08。上述测量结果给出的扩展不确定度除以扩展因子可作为溯源引入的不确定度分量，与测量应用过程中的不确定度分量合成可作为测量结果的不确定度。E3 吸收型波长标准滤光片检定结果不确定度评定检定吸收型波长标准滤光片的方法主要是扫描波长测量光谱透射比的方法。影响吸收型波长标准滤光片测量不确定度的因素主要有：E31检定装置波长准确度(“。) 、可以采用原子谱线法。如利用汞灯和氘灯的多条发射谱线，检测标准装置的波长准确度。通过实验测试及计算，一级吸收型波长标准滤光片

39、的测量结果中，由检定装置波长准确度带来的波长值的标准不确定度”。一005 nm。E32检定装置波长重复性(地)采用扫描测量吸收型波长标准滤光片时，需要考虑装置扫描的波长重复性对测量结果的影响。用三次扫描发射谱线的波长偏差，估计对于检定波长标准滤光片结果的影响。通过实验测试及计算，一级吸收型波长标准滤光片的测量结果中，由检定装置波长重复性带来的波长值的标准不确定度“。一0025 nm。JJG 10342008E33检定装置光谱带宽准确度(地)由于吸收型波长标准滤光片吸收峰的不对称性，当检定装置选用不同的光谱带宽时，得到的吸收峰的峰底波长位置不同。一般选用与检定光谱光度仪器时所采用的相同光谱带宽检

40、定吸收型波长标准滤光片。即便如此，检定装置的光谱带宽的显示偏差仍然会影响测量结果。这种影响需要实际测量后校正，并估算出残余偏差对于滤光片吸收蜂峰底位置测量结果的影响。通过实验测试及计算，一级吸收型波长标准滤光片的测量结果中，由检定装置光谱带宽准确度带来的波长值的标准不确定度地一00t nm。E34检定装置光电探测系统信号噪声(“。)吸收峰峰底位置的确定，同样取决于光谱透射信号的稳定性，不同于检定装置的测量重复性，它主要取决于滤光器吸收峰的峰底波长位置、吸收峰尖锐程度和吸收深度。通过实验测试及计算，一级吸收型波长标准滤光片的测量结果中，由检定装置光电探测系统信号噪声带来的波长值的标准不确定度U。

41、=005 nm。E35检定装置基线平直度(Us)当采用扫描测量的方法测量吸收峰峰值位置时，需考虑检定装置基线扫描平直度对测量结果的影响。与检定装置光电探测系统信号噪声近似，它也是叠加在峰值透射信号上的噪声信号，但不同的是，它是在装置自校准时预设到装置内存中的。通过实验测试及计算，一级吸收型波长标准滤光片的测量结果中，由检定装置基线平直度带来的波长值的标准不确定度U。一0025 nm。E36 吸收型波长标准滤光片材料和加工质量的影响(”。)由于滤光器材料中的气泡条纹或由于加工造成的缺陷，会改变测量光线传输的方向。因此在不同光路条件的仪器中，其吸收峰蜂顶位置的测量结果会有一定偏差。通过实验测试及计

42、算，一级吸收型波长标准滤光片的测量结果中，由吸收型波长标准滤光片材料和加工质量带来的波长值的标准不确定度“。一0005 nm。E37 吸收型波长标准滤光片稳定性(蜥)从吸收型波长标准滤光片特征波长年变化量可以估计其长期稳定性对在正常使用过程中对波长检定的影响。通过实验测试及计算，一级吸收型波长标准滤光片的测量结果中，由吸收型波长标准滤光片稳定性带来的波长值的标准不确定度蜥一01 nm。E38扫描测量吸收型波长标准滤光片吸收峰峰底波长位置的合成标准不确定度合成标准不确定度：U。一“+U；+U；+“：+“i+“；+“； (E8)有效自由度：!Peif一11二。一-A。取置信概率户一95，由t分布表

43、查表得出包含因子k值，Uh。(E9)计算相对扩展不确定度为(E10)17JJG 1034-2005根据各检定单位装置和人员、环境条件的差别，检定结果的不确定度各不相同。按照上述分析，主编单位通过实验测试，计算得到一级吸收型波长标准滤光片的测量结果不确定度(=2)一般可以优于03 nm，二级吸收型波长标准滤光片的测量结果不确定度(矗一2)一般可以优于05 nm。上述测量结果给出的扩展不确定度除以扩展因子可作为溯源引入的不确定度分量，与测量应用过程中的不确定度分量合成可作为测量结果的不确定度。E4干涉滤光片检定结果不确定度评定检定干涉滤光片的方法主要是扫描波长测量光谱透射比的方法。影响干涉滤光片测

44、量不确定度的因素主要有：E41检定装置波长准确度(“，)可以采用原子谱线法。如利用汞灯和氘灯的多条发射谱线，检测标准装置的波长准确性。通过实验测试及计算，一级干涉滤光片的测量结果中，由检定装置波长准确度带来的波长值的标准不确定度U。一005 nm。E42检定装置波长重复性(“。)采用扫描测量干涉滤光片时，需要考虑装置扫描的波长重复性对测量结果的影响。用三次扫描发射谱线的波长偏差，估计对于检定干涉滤光片测量结果的影响。通过实验测试及计算，一级干涉滤光片的测量结果中，由检定装置波长重复性带来的波长值的标准不确定度“z一0025 111Tl。E43 检定装置光谱带宽准确度(“。)由于干涉滤光片透射蜂

45、的不对穗性，当检定装置选用不同的光谱带宽时，得到的峰顶波长位置不同。一般选用与检定光谱光度仪器时所采用的相同光谱带宽检定干涉滤光片。通过实验测试及计算，一级干涉滤光片的测量结果中，由检定装置光谱带宽准确度带来的波长值的标准不确定度U。一001 nm。E44检定装置光电振测系统信号噪声(“。)干涉滤光片透射峰蜂顶位置的确定，同样取决于光谱透射信号的稳定性，不同于检定装置的波长测量重复性，它主要取决于干涉滤光片的峰顶波长位置、透射峰尖锐程度和峰值透射比。通过实验测试及计算，一级干涉滤光片的测量结果中，由检定装置光电探测系统信号噪声带来的波长值的标准不确定度U。一005 nm。E45检定装置基线平直

46、度(“s)当采用扫描测量的方法测量透射峰峰值位置时，需考虑检定装置基线扫描平直度对测量结果的影响。与检定装置光电探测系统信号噪声近似，它也是叠加在峰值透射信号上的噪声信号，但不同的是，它是在装置自校准时预设到装置内存中的。通过实验测试及计算，一级干涉滤光片的测量结果中，由检定装置基线平直度带来的波长值的标准不确定度U。=0025 nm。E。46干涉滤光片加工质量和安装位置的影响(u6)18JJG 10342008由于干涉滤光片加工造成的缺陷或测量时安装角度的影响，会改变测量光线传输的方向和干涉增强波长的分布。因此在不同光路条件的仪器中，其干涉滤光片透射峰峰顶位置的测量结果会有一定变化。通过实验测试及计算，一级干涉滤光片的测量结果中，由干涉滤光片加工质量和安装位置带来的波长值的标准不确定度“。一015 nln。E47干