SJ T 10076-1991 电子元器件详细规范.半导体集成电路CJ 710型电压比较器.pdf

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1、中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路。710型电压比较器SJ/T 10076 91 Detail specification for electronic components Semiconductor integrated circuit VoItage comparator type C.J 710 .一本规m规定了半导体集成电路CJ710型电压比较器质量评定的全部内容。本何;1佳符合GB4589. 1(半导体器件分立器件和集成电路总规m;fUGB/T 12750 CJ 710型电压比较器详细规程订货资料:见本规范第71 机械说明外形依据:GB7092(半导体集

2、成电路外形尺寸第6外形图:GB7092 J型5.4条及5.4. 1条P型5.5条及5.5. 1条T型5.6条及5.6. 2条引出端排列:1 H GND D 2 13 JN+D 3 12 JN-U4 V+ 5 V-D6 9DOUT GND lN一7 8 V+ 。、，OUT 1 - 7 V 标志:按GB4589. 1第2.5条及本规范2 简要说明双极型电压比较器电路半导体材料:硅封装:空封、非空封品种:型号环境温度IO7WC I -551250C 封 (C) I (M) 装形式金属圆壳CT)ICJ 710CT CJ 710MT 瓷封装。)CJ710叫CJ 710MJ 塑料直插CP)CJ 710CP

3、 3 质量评定类别l , mA , mB , mC -2一SJ /T 10076 91 4 极限直(绝对最大额定值)若无其它规定，适用于全工作温度范围。数值条款号虽二是 数符号单位最最大CJ 710M -55 125 4. 1 工作环境温度Tamb CJ 710C 。70 十4.2 贮存Tstg -65 150 V+ 14 4.3 电源电压(Tamb=25C) V V -7 4.4 出电流10M 10 mA 4.5 短路出时限tos 10 S 4.6 差模入电压范围VWH -5 5 V 4. 7 共模入电压范围VCR -7 7 V 功耗T 300 4.8 mW Pn (T.mb=25C) J

4、.P 200 4.9 耐焊接热(60s)Th 300 。C一一一一二一5 电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5. 1 电工作条件若无其它规定，适用于全工作温度范围。数条款号注数符号主拿位最最大5. 1. 1 正电源电压V+ 12 V 5. 1. 2 负电源电压V -6 V 5. 2 电特性若无其它规定，Tankb=25。规艳值条款号特性和条件符号单位试最小最大5. 2. 1 入失调电压Rs 1，、k1. 6 mA A3 一3一8J /T 10076 91 续表条款号特性和条件符号|输入失调电Rs =50。5.2.6 VIO - 55C :E;Tamb:E; 125C 25C T

5、amb:E; T max 5.2.7 输入失调电流温漂:110 Tmin:E;Tamb25 C 共模输入电压范围V_ =-7V 5.2.8 VCR 一55C :E;TambO三125C5.2.9 共模抑制比- 55C :E;Tamb :E; 125C KCMR 5.2. 10 差入电压范围一55C :E;Tamb:E; 125C VIDR 5. 2. 11 正出电压一5mA王三10,0 , V，二三10mVVo+ 5.2.12 负出电压V, 10mV V。一5.2. 13 正电源电流V，注10mV1, 5. 2. 14 负电电流V，关10mVL 5.2.15 功耗V，注10mV10 =OV P

6、D 6 标志器件上的标志示例:a. J、P型封装认lE合格有士(远用时引出端识别标志-一CJ710CP 啦t商标8916 皿A检验批识别代码若受器件尺寸限制时，允许将检验批识别代码、b. T型封装引出端识别标志制造单位商标A 认证fT恪标志(活用时)川口CJ 710MT 8911 mc 检验批识别代的规范值单位试最小最大20 V/C A3a/A3b 50 nA/C A3a/A3b 100 一55 V A3a/A3b 70 dB A3a/A3b 一55 飞JA3a/A3b 2. 5 V A3 一1.0V A3 9 mA A3 7 mA A3 150 mW A3 型号一质量评定类别评定类别标在器件

7、背面。ll1号质最评定类别一-4 SJ /T 10076 91 若在管壳侧面打印，则将器件正放，从引出端识别标志起按逆时针方向依次标志:制造单位商标、型号、认证合格标志、检验批识别代码、质量评定类别。7 订货资料若无其它规定，可购器件至少需要下列资料:a. 产品型号;b. 详细规范编号;C. 陌窗评定类另11;d. 其它。8试件和检验要求样要求:根据采用的质量评定类别，按照GB/T12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求AQL 分组E 类E 类IL AQL 1L A1 E O. 65 E A3 E O. 15 E 十A3a S4 1. 0 S4 A3b S4 1. 0 S4 B组、C组和

8、D组检验的抽样要求LTPD 分组E 类E类A B B1 15 15 15 C1 20 20 20 B3 C3 15 15 15 B4 C4 10 10 10 B5 C5 10 10 10 C6 20 20 20 C7 15 15 15 B8 C8 10 5 7 C9 15 5 7 Cl1 20 20 20 B21 20 10 10 一-5 -一AQL 0.65 0.15 1. 0 1. 0 C 15 20 15 10 10 20 15 10 15 20 15 8J /T 10076 91 续表LTPD 分组E 类E类A B C23 20 10 15 C24 20 10 15 D8 10 D 7

9、 A组一逐批全部试验均为非破坏性的(见GB4589. 1第3.6.6条)检验或试验Al分组外部自检一引用标准一一一GB 4589.1 第4.2. 1. 1条一一一一一-一-A3分组25 C下的静态特性GB 6798半导体集成接口电路也压比较指测试方法的基本原理条件若无其它规定，Tamb=25C(见GB4589. J第4.1条);交本规范5.2. 1条至5.2. 5条、52. 11条圭5.2.15条一一一一一-一卜A3a分组一一一川一最高工作温度下的I GB (j 198 静态特性A3b分组最低工作温度下的静态特性GB 6798 i7anlb按本规范4.1条规定曲最!大值。条件:协规范5.2.

10、6条主5.2.104头Tarnb按本规范4.1条规定的最小值。条件:同A3a分组C 20 20 10 检验要求规施值标志清晰，表面无损伤和气孔按本规范5.2. 1条至5.2. 5条、5.2. 11条至5.2. 15条按本规范5.2. 6条至5.2. 10条同A3a分组6 -一SJfT 10076 91 B组一一逐批标有(0)的试验是破坏性的(见GB4589.1第3.6. 6条)条件或引用标准若无其它规定.T.mb=25C(见GB4589. 1第4.1条检验要求范值B1分组尺寸GB 4589.1第4.2. 2 条及附录B按本规1章组眼四分知胆m引弯GB 4590半导体集|外加力的值按第2.2条表

11、2成电路机械和气候试验方法第2.2条伤B4分组可焊性GB 4590 第2.5条按方法b(槽焊法)按2.5. 6条B5分组度快速变化a.空封器件随后进行z电测量密封g细GB 4590 I I!度:按本规范第4.1条规定第3.1条|循环次数:10次tj =5min 同A2，A3分组恢复2hGB 4590 第3.12 :主|按规定GB 4590 第3.13条|按规定同A2，A3分组b.非空封和奸、氧封的空封器伴随后进行g外部目检稳态湿热GB 4590 第3.1条GB 4589. 1 第4.2. 1. 1条GB 4590 第3.7条度z按本规范第4.1条规定环次数，10次tj =5min 按规定同A1

12、分组电测量严格度A时间:24h同A2，A3分组同A2，A3分组B8分组电耐久性(168h) 最后测量(同A2、A3和A4分GB 4590 第4.7条Tamb按本规范4.1条规定的最大值，其它按本规拖10.3条同A2，A3和A4分组A2、A3和A4分组7 SJ/T 10076 91 B组一一逐批(续条件检验或试验引用标准若无其它规定.1amb= 25C (见G4589.1第4.1条)B21分组高压蒸汽(D)GB 4590 |严格度C(非空封器件)第4.5条时间:24h-一-同A2和A3分组一L就阳、134、町、B8和B21分组提供计数检查结果。CRRL分组C组一一周期标有(D)的试验是破坏性的(

13、见GB4589. 1第3.6. 6条)-一检验或试验号1m标准条件苦J.其它规定，Tambt25c(见GB4589. 1第4.1条)口分组| ! 尺寸I GB 4:,6,:, 1结4.2. 2 i C3分组引线强度拉力(0)C4分组耐焊接热(1)最后测量同A3分组)C5分组温度快速变化(0)(非空封和环氧封的空封器件)进行z外部吕检稳态湿热电量A3分组条及附i户;31 二-一一一一一一一GB 4590 2. 1条GB 4590 第2.6条1GB 4590 3. 1条I GB 4589. 1 4. 2. 1. 1条GB 4590 3. 7条外加力的值按2.1条表l按方法1(260C槽焊)同A3分

14、组I TA =-65C TB =150C 环次数:500t1 =5 min 严格j吏A时间，24h同A3分组检要求规范同A2和A3分组检验要求范值一一一j安本规范第1章按2.1.5条同A3分组同Al分组|同A3分组8 SJfT 10076 91 C组一一周期(续条件检验要求检验或引用标准若无其它规定.Tamb=25C规范值见GB4589.1 4. 1条)C6分组1) 稳态如度(1)(空封GB 4590第2.10条加速度:按规定最后测量(同A3分组)同A3分组同A3分组一-_.-_- -C7分组稳态湿热(D:GB 4590 空件第3.6条严格度Db. 1:空封器件1GB 4590 第3，7条严格

15、度A时间:1000h 最后测量(同A3分组)A3分组同A3分组C8分组电耐久性(1000h)GB 4590第4.7条B8分组最量罔B8分组间B8分组同B8分C9分组存(D)GB 4590 第3.i条l温度:按TSlg(max)时间:1000h 最后囊(同B8分组)问B8分组同B8分组Cl1分组标志耐久性GB 4590 溶液:A型4. 3条按4.3.2条C 23分组抗溶性(1)GB 4590 (非空封器件第4.4条按4.4.2条按4.4.2条C 24 易燃性(1)GB 4590 (非空封第4.1条按4.1.2条按4. . 2条CRRL分组就C3、C4，C5、C6、C7、C8、C9、Cll、C23

16、和C24分组提供数检查结果.注:1)连续三次通过后，周期可延长为一年一次.9 D组-9一SJfT 10076-91 四D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。D8分组咆耐久性(D)最后测量同B8分组10 附加资料引用标准GB 4590 4. 7条10.1 R。和t阳电特性下:条款号特性和条件10. 1. 1 出电阻10. 1.2 全响应时间10.2 其余电特性测量如下:其余电特性测量按GB6798的规定.10.3 电耐久性试验线路10.4电1=50日zIIPP=士5V图G 冉、d100kQ 条件若无其它规定，Tamb=25C(见GB4589.1第4.1条E类，2000hE类，3

17、000h其它同B8B8分组符号Ro tlOl 100kQ +12V _f DUT + 一6V典型值200 40 OUT 2kQ 检验要求规范值B8分组单位。ns 一-10 -一SJ /T 10076 91 R. 2.8kQ Rs 3.9kQ V+ R3 1. lkQ T7 Ts 50 R, R2 500Q D2 T. OUT , D, IN T2 T8 IN+ t Re I. 7kQ Tg R7 IIOOQ Q oas hR创V_ -11 一一SJ /T 10076 91 附录A筛选(补充件E类器件:生产厂自行规定筛选条件。E类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B内部目检内部目检GB 459

18、0 GB 4590 第4.6条第4.6条高温贮存高温贮存GB 4590 GB 4590 3.3条，第3.3条，150C、96h150.C、48h化度快速GB 4590 3. 1条，GB 4590 3. 1条，一55-125.C.10次一55-125.C.5次可稳态加1) 稳态加速度GB 4590 GB 4590 第2.10条第2.10条密封1)密封1)GB 4590 GB 4590 第3.12条和3.13条第3.12条和3.13条老化前电浪u量老化前电量同A3分组同A3分组剔除不合格品剔除不合格品老1七老化GB 4590 GB 4. 590 第4.7条，第4.7条，Tamb最大、240hTamb最大、168h老化后电测量老化后电l量同A3分组，同A3分组，剔除不合格品。若不合剔除不合格品。若不合格品率大于5%，则该格品率大于5%.该批拒收。批拒收。垃，1)不适用于非空封器件。等级C内部目检GB 4590 第4.6条r-老化前电测量| L 同A3分组除不合格品老化GB 4590 第4.7条，Tamb最大、168hI 老化后电测量问A3分组除不合格品。一12一SJ/T 10076 91 -附加说明1本标准由生回集成电路栋准化技水委员会提出。本标准主要起草人:胡思蔚、胡菇。一-13一，一一