GB T 6882-2008 声学.声压法测定噪声源声功率级.消声室和半消声室精密法.pdf

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1、ICS 17.140 A 59 道E3国家标准国和-H: ./、中华人民GB/T 6882-2008/ISO 3745: 2003 代替GB/T6882-1986 声学声压法测定躁声源声功率级消声室和半消声室精密法Acoustics-Determination of sound power levels of noise sourc臼usingpressure-Precision methods for anechoic and hemi-anechoic rooms (lSO 3745 :2003 , IDT) 2008-07-02发布中华人民共和国国家质量监督检验检查总局中国国家标准化管理

2、委员会2009-02-01实施发布G/T 6882-2008/ISO 3745: 2003 目次EH11145556666666666777778999川口HHMUUMUU量四组压茸uuuu声甜UHHUUU件1组HUU事口EUH一忻行H口声川H单时求川口运UUUH的uuuuu正算的白要.uu和hu行组uu修计擅自件性求装运率uu.的的量叶文-Eu用要uuu安的功u置捏捏能声师以眼白白辑脚踩脏刷阳一艘踹呻萨一棚酣制脚时?可阿萨制相盟jf甜哺性和不室述试景度度述准声述捏捏助甜甜述量声量量最面拥率功能内述四学器围范语量试撞甜背温温器髓桂剖梧声声辅桂于槽胡传甜甜背在于功声声录髓桂声仪言言范规术甜甜12

3、345仪12桂12345用1234567用声12记12JJ前引12345FLZ山轧6丘丘71111188.&8.&9MMMHU口口口GB/T 6882-2008/吕03745:200311. 5 声学数据. . . . . oO . . . . . . . . .4. .4. .4. 13 12 报告内容.4.4. . . . . . . . . 13 附录A(规范性附录)鉴定消声重和半悄声室的一般方法咽. . . 14 附录B(规范性附录确定噪声醒声功率型的悄声室和半消声室的另一种鉴定方法18附录c(规范性附录自由场中传声器位置阵列.四附录D(规范性附录)反射面上方自由场中传声器位置阵列20

4、附录E(规范性附录半自由场中传声器的同轴圆形路程22酣录F(规范性附录)半自由届中传声器的子午弧线路程.23 附录G(现范性附录半自由场中传声器的螺旋线路在.咽. 25 附录H(规范性附录)从1/3倍摆带声功率组计算A计权声功率组26附录1(规范性附录)计算指向性指数和指向性因盘.27附录J(资料性附录)割量不确定度.28 附录K(资料性附录)甜试室设计导则. . . . . . . 31 参考文献. . 32 E GB/T 6882-2008/ISO 3745: 2003 目。自本际准是声压法测定噪声源声功率辑的系列际准之一。本标准等同果用ISO3745:2003(声学声压挂测定噪声露声功率

5、消声室和半悄声室精密击)，对GB/T6882-1986进行修订B本括准与GB/T6882-1986比较，增加了以下内容z对鉴定声指向性进行了严格限制;一一声能量握的测定:一一对特定曝声使用的消声室和半消声室的鉴定方法;一一半消声室精密法增加了甜点z一半自由场中传声器的子午线路程F一一半自由辑中传声器的螺旋缉路程F一由1/3倍频带声功率级计算A计扭声功率辑;对甜量不确定度的分析a本标准的附录A附录I为规范性附录p附录J、附录K为资料性附录。本际准由中国科学院提出，本括准由全国声学括准化技术委员会(SAC/TC17)归口，本际准主要起草单位z中国科学院声学研究所、南京大学，本挥准主要起草人z章投戚

6、、孙广荣、吕亚东，本标准所代替历改版本主布情况为zGB/T 6882-19860 E GB/T 6882-2008/ISO 3745: 2003 sl 本括准是GB/T14367有关声压法固定曝声声功率级的系列标准之一，该系列标准规定了制定机器、设备及其酣件的声功率辑的各种方法.使用本系列标准时，需要根据测试目的和条件，选择GB/T 14367系列中最合适的一种方法.GB!T 1905.2-2003和GB/T14367对如何选择合适的标准提供了指导.GB!T 14367系列仅仅给出关于被割声踵运行和安装的一般原则，对于特定类型的机器或设备，其运行和安装条件有特珠要求的，如果有相应曲噪声回试规范

7、，屯参考其规范进行割试。本标准规定了应用具有特定声学性酶的消声室或半悄声室来测定声雷辐射声功率的实验室方法。本标准规定的方法仅仅适用于特E实验室中的室内由量，本标准规定的实验室方法草仅用于测定声功率盟，还可以测定声握的声能量盟，时单个挥主声或瞬时声，声功率提不能走叉，需要应用声能量束说明这样时间历程的主射声。未来西订GB!T14367系列中的其他际准时，将考虑声能量扭曲应用。本标准在固定声瑞事辑或声能量组时，要考虑气象条件，对1组副量，尤应如此。N GB/T 6882-2008/ISO 3745:2003 声学声压法测定噪声源声功率级消声室和半消声室精密法1 范围本标准规定了在消声室和半消声室

8、中甜量包围睡声酶的目量表面上的声压组，从而确定噪声踵的声功率辑或声能量盟的测量方法。它结出了对回试环境和仪器的要求，同时结出了由翻得的表面声压组计算其声功率辑或声能量扭曲方法，保证所得到的结果具有1组准确度。本标准规定的方法适用于所有类型曝声掘的测量。噪声雷可以是设备、机器、组件或附件。可甜量声源的最大尺寸取抉于测量包结面假想璋(或半球)的半径。2 规范性引用立件下列文件中的条款通过本际准的引用而成为本标准的条款回凡是注目期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容或修订版均不适用于本际准，然而，鼓励根据本际准达威胁议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本回凡是不注日期的引用文件，其最新

9、版本适用于本括睦。GB/T 3241-1998 倍颇程和分数倍损程撞撞器(eqvIEC 61260: 1995) GB/T 3947-1996 声学名词术语GB/T 14573.1-1993 声学确定和检验机器设备规定的噪声辐射值的统计学方法第一部分z障述与定义(neqISO 7574-1:1985) GB/T 14573.4-1993 声学确定和桂验机器设备规定的噪声辐射值的统计方法第四部分:成批机器标牌值的确定和栓验方法(neqISO 7574-4 :1 985) GB/T 17247.1-2000声学户外声传播的衰属第1部分z大气声眼收的计算(eqvISO 9613-1:1993) JJ

10、F 1059-1999 甜量不确定度评定与表示IEC 60942: 2003 电声声桂准器IEC 6t672-1 :2002电声声组计第1部分z技术要求3 术语和定义3. 1 下列术语和定义适用于本际准，晤时声ffiinstantan回回回undpr四orep(t) 在某空间点和指定颤带，由于有声波存在时，而引起的某特定时刻叠加在大气静压上的胜动压力值。3.2 注z单位为帕斯卡J(Pa) 声1Isoond pressore p 在一段时间内瞬时声压的方均捏值。注z单位为帕斯卡(Pa)回GB/T 6882-2008/ISO 3745:2003 3.3 声E组皿undpr四urelevel Lp

11、瞬时声压平方与基准声压(户。=2X10-SPa)平方之比的以10为底的对数的10倍。注1:声压级单位为分贝(dB) L, =lb4 J.。. ( 1 ) 注2:要指明所用的频率计权或频带宽度和时间社兹i哥姐z具有S(惺)时间计权的A计权声压级是Lp蝠3.3. 1 时间平均声E扭time-averaged so皿dpr国snreJevel L问T在测量时间间隔内，稳蓝声主u牵动声的平均声压握。即在指定时间间隔T内，瞬时声压的时间均方与基准声压的平方之比的讯10为底的对量的10倍，单位为dB.LT = 101gf r且Pdt1.呻.(2 ) T -.l TJo p -J 注:通常省略下标在吨事饨T

12、，因时间平均声压级需要在确定的测量时间间隔内来测定-3.3.2 3.4 3.5 3.6 3. 7 2 四量时间间隔measurement time interval 用以确定时间平均声压盟的时间间隔，国量表面meas田唯mentsurface 面积为S.包圄声器并在它上面布置甜点的假想表面。注:在半消声室中，由且表面的终蜡位于反射平面上，表面声压扭扭曲cesound pressure level Lp 在自量表面上所有传声器位置址，经背景曝声修正Kl(3. 18)后的时间平均声压盟的能量平均-Lf = 101g(拮100lL, ) 式中zLp/一一表面声臣盟，单位为分!Cd); Lp，一一传声

13、器第z个位置，壁背景睡声悸E后的声压辑EN一一传声器的位置盘，注t单位为分贝CdB) 声功率皿皿dpower w 单位时间内声嚣辐射的空气声能量回注:单位为瓦CW声功率辑sonnd power level L, .( 3 ) 声醺辐射声功率与基准声功率Wo(Wo = 1O-12W)之比的以10为底的对数的10倍。GB/T 6882-2008/1803745:2003 3.8 Lw二101g在注1:单位为分贝(dB).注2:应指明频率计权或频带宽度，例如，A计权声功率级为LwA单-事件声E辑single -event sound pressure level LpE 单一挥发声或瞬时声的声压辑，

14、由式(5)岳出:式中=户。)-一瞬时声压，单位为帕(Pa); 户。一一基准声压，如=20Pa;LpE =叫j拮dtJt 2 -t1 足够茸的时间间隔，以便能包含所述事件中所有有意义的声z3.9 To = 1 S. 注1:单位为分贝M助。注2:在其他标准中，此量被称为声暴露级。声能量sound energy E 声摒辐射的单一挥发声或瞬时声的声能量。3. 10 注z单位为焦耳(J声能量组皿undenergy level LJ E二w. ( 4 ) . ( 5 ) . ( 6 ) 被测声握辐射的声能量E(焦耳)和基准声能量EoEo = 1 pJ (10-叮叮之比的以10为底的对数的10倍。3. 1

15、1 3. 12 3. 13 LJ =盹去注1:单位为分贝(dB), 注2:应指明所用的频率计权或频带宽度国自由蝠free field 均匀各向同性媒质中边界影响可以想略不计的声场。注2实际应用中，自由声场是指在所需考虑的频率范围内边界反射可以忽略不计的声场。消声室anechoic room 可在得自由场的房间，一个反射平面上的自由场fr国fieldover a reflecting plane 半自由场hemi-free field 无限大刚性平面上方的半空间均匀各向同性媒质中其他边界影响可想略不计的声场囚( 7 ) 3 GB/T 6882-2008/ISO 3745: 2003 3. 14

16、3. 15 3. 16 3. 17 3. 18 3. 19 3.20 半消声室hemi-an田hoicroom 在反射面主方可在得自由声墙的房间。测试颤率范围frequency range of inter田t中心拥率从100Hz到10000Hz的1/3倍颇程所覆盖的颜率范围。在z对于特殊目的，频率范围可以在两端扩展或减缩，此时提供的测试室和仪器准确度应满足所扩展或踹缩的频率范围，酒量半径me描町ementradius 球形或半球形割量表面的半径。背景睡声background noise 来自被四声据外，所有其他源的噪声。注2背景噪声可以包含来自空气声、结构声和仪器的电噪声a背景噪声倍iEba

17、ckground noise co回tionK Ii 在每个传声器位置，背景噪声影响副量结果的修E项。注:K且与频率有关，用dB表示-指向性国最directivity fador Ro GB/T 3947-1996中5.41Ja) 发射换能器在它主轴上远处一定点所辐射的某蜻率的声压的平方，与声功率相同、颇率相同的点掠代替挟能器后在同一点上所产生的声压的平方的比恒目b) 接收换能器由于沿着换能器主轴传来的某颇辜的声世所产生的电动势平方，与颇率相同、方均棍声压相同的扩散场所产生的电动势平方的比值a注z定义中的远处是指该处已满足球面发散条件，指向性措鼓directivity index D GB/T

18、 3947-1996中5.42J指向性因数的以10为屁的对数的10倍。注2单位为分贝(dB)。4 副量不暗定度如果一结定噪声握在若干个不同的实验室都挂本际准测定该声捆的声功率辑，所得结果会皇现离散性，可以计算所副声功率级的缸准偏差(见GB/T14573.4-1993中B.2.1的示例)，它随颇事变化回这些括准偏差通常不会超过表1中的值，个别情况除外。表l结出的值是挂GBjT14573. 1厨定义的再现性标准偏差吨，它考虑了应用本标准方法时酣量不确定度的累积鼓应，但不包括因运行条件(例如4 GB/T 6882-2008/1803745:2003 旋转速度、供电电压)或安装条件改变引起功率输出的变

19、化的情况a除非承担割量的实验重或在特定系列噪声源的噪声副武规范特别指定，一般挂JJF1059-1999中定义，在置信度为95%(包含国子k=2)时，确定声功率辑或声能量级的扩展测量不确定度，将取再理性标准偏差的2倍a表1撞本挥准确定声功率组和声能量扭曲再现性悻准偏差估算值上阻再现住标准偏差上限值RldB1/3倍频程中心频率1Hz消声室半消声室50-80 2.0 2.0 100-630 1. 0 1. 5 800-5000 。.51. 0 6300-10000 1. 0 1. 5 12 500-20 OOOb 2.0 2.0 A计扭0.5 0.5 注1，表1中的标准偏差是和测试条件及本标准定义的

20、方法有关，而与噪声源本身无关.标准倡差的一部分是自测量实验室之间的变化而引起，如测试室的几何形状(尺寸、反射平面的声学性质、测试室边界的吸收、背景噪声以及仪器的类型和校准F另一方面是由于实验技术的不同，包括测量百寂的尺寸，传声器翻点的位置和点数，声源位置和积分时间，在声源近场作测量时的不确定性也影响标准偏差，这种不确定性依赖于声源的性质，并当测量距离较小和频率较低(低于250Hz)时，不确定度增加，注2，对于某些声源，再现住标准偏差可以小于表1所列到的值.因此，当能证明合适的实验室之间的测试结果有效时，对给定类型的机器或设备参照本标准制定的噪声测试规范可以阐明标准偏差小于表1所列的值Ea假如声

21、场按第5章方法鉴定是合格的.b假如仪器允许并己做大气声吸收修正，表l所列的再现性标准偏差包含了相同声捏在相同条件(重复性标准偏差见GBjT14573. 1-1993)下重复测量间的变化，此不确定度通常远小于实验室之间差异性的不确定度。然而，对于特定声蘸如果要维持稳定的运行和安装条件存在困难，则其重复性标准偏差就会不小于表1结出的值回此时，关于声掠难以得到可重复的声功率提数据这一事实要在测试报告中记录井阐明。注2表1给出的再现性标准偏差是从不同实验室比对测试得到的，该方法提供的有关测盘不确定度信息并不符合JJF 1059-1999的要求，制定本标准时，还没有充分的资料可以声明符合JJF1059-

22、1999要求回但是，附录J给出了需要包括这类信息在内的说明，5 甜试主要求5. 1 罹蛊挂本际准回量所用的回试室是下列两者之-.a) 提供自由场或反射平面上方自由场的房间，它在四量颜率范围描足附录A.b) 为了由定噪声嚣的声功率撞，提供自由场或反射平面上方自由榻的房间，在四量翻率范围满足酣录B.本括睦的要求应至少在回试颇率范围能够满足自如果这些要求仅仅在更拥有阻的颇率范围内满足，应在报告中清楚阐明，并声明仅仅在这些有限踊率范围内与GBjT6882一盟D5.2 副试室适用性要求附录A和附录B介绍了割试室与理想自由场条件或理想半自由场条件的偏差范围的甜定方法，并结出了评估甜试室适用性判定的要求回关

23、于四试重的鉴定方法见附录A或附录B.注:如需要在与平方反比定律偏差值的要求超过附录A和B的值的空间内进行四盘，见GB/T3767、GB/T3768、GB/T 164.04.、GB/T164.04.2或GB/T16404. 3. 5 GB/T 6882-2008/1803745:2003 5.3 背景曝声要求在甜量表面上所有传声器位置和测试踊率范围内的每个颇带，背景噪声级应比被四声掘工作时的声压组至少低10dB.如果假定从这些颜带相加得到的A计权背景喋声援比从所有插带相拥得到的A计扭声压辑低10dB或10dB以上，则A计扭声功率甜定时，不要求所有摒率都满足上述要求。5.4 温重要求回量时的空气温

24、度范围是15-c 30 C. 注:温度范围的限定是为了保证对于具有不同噪声产生机理的噪声源应用式(1日时，其偏差小于0.2dB. 5.5 温度悻正在空气温度范围15-c 30 -C，湿度的最大修正量近似为0.04dB，可以扭略不计。6 位器6. 1 撞击包括传声器和电撞的声学仪器系统应满足IEC61672 1: 2002规定的1组仪器的要求，所用的撞撞器应描且GB/T3241-1998规定1辑仪器的要求，传声器应按被桂准时的方向取向根据目试条件，可按生产厂家说明书或特定副武规范的要求选择更合适的取向，在世有说明书或目试规范的情况下，传声器应在甜量表面上最靠近传声器的点上垂直指向割量表面。目定大

25、气压的仪器的不确定度等于或小于2%。甜定温度的仪器的不确定度等于或小于1c 0由定相对温度的仪器的不确定度等于或优于10%。6.2 桂准每眈系列j割量之前，应采用具有IEC60942: 2003规定的1组准确度的声桂准器来桂准传声器，在四量描率范围内一个或多个颇率上进行整个目量系统的桂验。桂准器要进行桂准，仪器系统要进行符合IEC61672-1: 2002要求的周期性桂验，具体桂验方法可拥11相应际准。7 植副声噩的安装和运行7. 1 罹蛊被割声扭曲安装和运行方式对声Et辐射的声功率有重要影响。本章规定的被割声嚣的安装和运行条件是使声功率输出变化最小的条件。如果被回声酒的安装和运行条件在其噪声

26、测试规范中有说明时应遵照执行。7.2 声罩住置在四试重内放置声Et时，要有且够的空间，能接8.2的要求使测量表面能够包辖被四声嚣。安装条件和传声器阵列布置的细节应以本际准和读英声酷的特定噪声回试规范一般要求为基础。7.3 声雷安装7.3.1 摄述许多情况下声功率发射与世回声酶的支撑茸茸辈条件有关，只要被割设备存在典型的安装条件，应使用或模拟这种条件如果某特定由试规范规定了被四声掘的支撑安装条件，则要采用这些条件。如果目试规范规定的特定条件不存在，但存在支撑或安装的主要或典型条件，则采用这些主要或典型条件q所有这些情况，应小心避免由试用安装系统引起的声露声输出的变化。应采取措施瞌少来自被目声It

27、安装结构的任何声辐射。6 注2许多小型声源，虽然它们本身并不是很强的低频声辐射装置，但由于不适当安装方法，使其振动能量传递到足够大表面上使其成为有效的低额辐射装fl.而辐射更多的低频声，GB/T 6882-2008/ISO 3745:2003 7.3.2 手持噪声雷手持噪声握由于把持或主制。如果被困声握因运行原因需要有支撑，支撑结构应较小，井被认为是被翻声嚣的一部分，同时在机器测试规范中应加以说明。7.3.3 基础圭革和墙壁圭装睡声谭基础安装和墙壁安装的噪声挥应位于反射声学上硬勺平面(地面和墙壁)上回桌面设备应置于地面上，除非该设备按其回试规革要求运行时需要放置在桌面或支架上，此时谙世备应位于

28、四试桌面的中心位置，7.4 辅助设备应确保任何连接到桂测声嚣的送凤营造、电缆管辑、其他管道不向测试室辐射显著的声能，桂割声醺运行所细有，但又不是声蘸的一部分的所有辅助设备，如果可能，应置于测试重外-7.5 撞副声罩的运行回量期间，对特定类型的桂割机器和设备，如有相关测试规范规定的运行条件，则按有关甜试规范规定的条件运行，若世有甜试规毡，如有可能，声源应采用一种典型的正常使用的方式运行。此时，应选择下列运行条件中的一种或几种za) 规定负革和运行条件Fb) 满负载(若与上述条件不同); c) X负载(怠速hd) 相应于正常使用中最大声发生时的运行条件zd 仔细规定条件下模拟负载运行FO 具有特定

29、工作周期的运行条件，声露声功率的目定可以用所要求的任意运行条件组(即负草、设备速度、温度)。这些甜试条件预先选定，井在回试期间保持恒定团声挥应在任何噪声泪量前就在所要求的条件下运行回如果喋声i:l.射与改要运行参量有关，例如被处理材料的类型或使用的工具类型，要尽可能选择引起变化最小的参量并且是典型运行情况，特定机器系列的喋声测试规范应规定测试用的工具和材料回为特殊目的，规定一种或几种运行条件是合适的，以便使同一系列声imti:l.射的噪声具有较高的再现性，井且能包含声雷系列的最普通和典型运行条件.这些运行条件应在特定副武规范中加以规定。如采用模拟运行条件，要选择能够结出代表被割声Z匡正常使用的

30、声功率辑的那些条件，如果合适的话，对于几种植立运行条件(每种都持续一定的时间周期的回试结果，则可以通过能量平均组舍得到总的运行过程的合成结果，声学副量期间声嚣的运行条件，应在甜试报告中完整描述。8 用于四E声功率组的声压辑回量8. 1 捷连消声室提供了具有最小不确定度的优选副量环境，但是倘若遵守本标准所规定的预防措施，在半消声重中也可以得到合理的准确度，8.2 酒量表面8.2. 1 副量璋面(消声室副量在悄声室中甜量时，用来甜量声压摄的球形表面的中心最好位于声嚣的声中心位置上，因为声中心的位置通常是未知的，所以假定的声中心例如，声嚣的几何中心)应在测试报告清楚说明。测试璋面的半径应等于或大于下

31、列所有要求:的声握最大尺寸的两倍;b) 甜量最低颇率的/4;c) 1 m. 7 GB/T 6882-2008/ISO 3745: 2003 传声器的位置不应位于按附录A或附录B由量鉴定为合格的区域以外。注:对于小型低噪声产品，在有限频率范围(见3.1日拥量，国试球面的半径可以小于1m.但不能小于0.5m.然而，小于1m的半径本身就对能到试的频率范围施加了限制，8.2.2 副量半球面半消声室副量在半消声室中测量时，半璋形表面的中心应与按8.2. 1选定的声中心在地面上的投影相重告。副试半璋的半在应等于或大于下列所有要求:a) 声握最大尺寸的两倍或声蘸声中心离反射平面臣离的3倍，两者中取其尺寸较大

32、者zb) 测量最低颇率的/4;c) 1 mo 传声器的位置不可位于挂盹景A或附录B拥量鉴定为合格的区域剧外。注:对于小型低噪声产品，在有限频率在围(见3.15)到量，国试半球茵的半径可以A于1m.但不能小于0.5m. 然而，小于1m半径本身就对德割试的频率范围施加了限制，8.3 传声器位置8.3. 1 悟述为了在得测试璋面4或半球面)的表面声压辑，应使用下3日j四种规定的传声器排列之一，或采用晴足8.3.6所要求的用卢定义的传声器排列z的来用固定传声器位置的阵列，这些位置分布在甜试球面(或半璋面)上e可J.，用单个传声器在相邻位置相撞移动z也可以用许多固定传声器，相继采集或同时采集它们的输出信

33、号臼b) 单个传声器情测试球面(或半球面卜有规则间隔分布的几个圆形路程碍动，也可以传声器固定，声mt重翼非3600的旋转。单个传声器驾于四试璋面(或半球面)1:有规则间阳分布的几个子午睡缉I工移动，d) 单个传声器围费由试璋面(或半球面的垂直铀的螺旋形踏在移动，8.3.2 固定的传声器位置8.3.2.1 副武球面4渭声室副量使用附录C所最曲zo个传声器位置的阵刑。通常，如果在任何国量翻率中割得的最高和最低声压辑之差(dB)，在敢面上牛于四点数的一半，则四点盘是且堪的，如果采用附录C的20个甜点的阵列不能满足这个要求，则可旋辑声雷或旋转酣景巳原来阵列辑z轴转葫1800得到另20点阵列(新阵列的z

34、轴顶部和底部的四点与原阵列顶部和底部副点重合。这两个阵列401四点在附录C的副试球面上占有相等的面积。如果用两阵列的40点不能情足酣点数的要求时，则应详细研究璋面局部区域的声压辑，可观事到这一区域由于声嚣的高度指向世串成的声柬飞为了固定在可需摒率冉声压握的最高和最低值，这种研究是需要的.如按照这个方法，传声器位置通常就不必在四量璋面上占有相等的面租而应作一些适当的修正(见8.7.2.白。8.3.2.2 副武半球面(半消声童副量)使用附录D所示的20个传声器位置的阵列。通常，如果在任何甜量颇带内，在20个位置上测得的最高和最低声压辑之差(dB)，在数值上小于四点量的一半，则甜点数是足够的。如果采

35、用附录D的20个四点的阵列不能满足这个要求，则可提转声掘或旋转附录D原来阵列，费z轴转动1800得到另外20点阵，这两个阵列40个四点在附录D的目试半球面上占有相等的面租目如果两阵列的40点还不能满足四点数的要求时，则应详细研究半球面局部区堪的声压辑，可现票到这一区域由于声嚣的高度指向性形成的声柬。为了回走所需颜带内声压盟的最高值和最低值，这种研究是需要的。如按照这个方法，传声器位置通常就不必在副量半球上占有相等的面积而应作一些适当的修正(见8.7.2.白。GB/T 6882-2008/1503745 :2003 8.3.3 平行平面内同轴的圆B睡在(消声室或半消声室副量单个传声器沿圆形路程连

36、结移动，声压组作空间和时间的平均，在半自由场情况，最少要5个路程，如附录E所示回对发射离散颇率音的特殊声缸，至少要20个路毡，每个路径的高度如茬且1规定田在自由场情况，这些路程依在增加到10个和40个，在测量球面的上半球和下半璋对稳地选择高度。圆形路程可以均匀地移动传声器或瞿慢地旋转被割声掘360.来完成。如使用转台旋转声掘，转台表面最好与反射面齐平a任何情况下，转台表面不能高出声雷离反射面高度的10%0 8.3.4 子午辑事动(消声室或半酒声室副量)在得璋面或半球面表面声压辑的第三个方法是用单个传声器围费通过声蘸中心的水平轴作半圆形弧缉事动见图F.口，垂直速度(dz/dt)保持恒定。传声器支

37、架的角速度是正比于l/cos.p增加，此处件是与水平轴的夹角国传声器输出由电子装置对璋面或半球面的表面面担作合适计权后的平方平均，另种方法是用恒定的角速度井挂COS.p进行电子计扭。这样的传声器移动结至少要8条，每条围撞声酶的方位角有相等的递增量。这也可由放置声Z原来完成.8.3.5 螺旋辑踏在(消声室或半消声室副量)获得璋面或半球面表面声压握的第四个方法是用单个传声器按8.3.4的一条子午弧线路程移动的同时，还缰慢地经过至少5个整圆周路径，这样就形成了围绕酒量表面垂直轴的螺旋路径。另一种得到螺旋丑主路径的方法，是以恒定的旋转速度旋转声缸，至少要完整地转5圄，而传声器括于午弧线路程移动，螺旋形

38、路程的例子见附录G.角度计扭如8.3.4中所述，8.3.6 其他传声器排列上述要求并不排除其他可改进准确度的传声器排列和甜量表面。然而，若用另一种传声器排列和四量表面，应证明它与来用在8.3.2至8.3.5中确定的那些特定排列之一相比，在四量据率内的任何腰带，1/3倍插带声功率辑之间的差异不超过土0.5dB，采用的酒量表面完全包围声掘。注2选择其他排列的意义是改进准确度，而不是简单地减少传声器位置致，或8.3.2至8.3.5中特定排列的一个折衷方案，参考文献13J是另一种测量表面和传声器排列的示例.8.4 副量条件环境条件对测量传声器产生影响(例如，来自测试设备的强电辑或磁场、空气排放、风的冲

39、击等)，必缅适当选择和就置传声器，以避免这些条件的影响。10000 Hz以上的空气衰踹挂GB/T17247. -2000佳正，8.5 副量盘据声压组应在声据典型运行时间内酒量(见7.日，在每个传声器位置用A计权和/或所需的每一腰带宦取声压组.所用仪器要带合第6章的要求。下面的数据应至少在声源的一个或多个完整周期上进行平均zd 撞回声醺运行时的A计扭声压辑和/E(.颇带声压组pb) 由背景曝声产生的A计权声压辑和/gJ;，踊带声压援团对中心巅率等于或小于160Hz的损带，回量时间至少为305;对A计扭声压辑和中心颇率等于或大于200Hz的损带，测量时间至少为10So 此外，要测量测试时的气象条件

40、(声蘸周围的空气大气压、温度和相对温度8.6 背景睡声辑的悟正挂8.3规定的方法之一在声源不工作时由得背景噪声辑如在每个传声器位置或每个传声器移动路径上，每个频带的背景噪声辑L气，比声雷运行时刮得的声压辑L，.;低10dB20 dB，则对Lpi值要作背景喋声影响修正，背景曝声影响修正是从甜得的声压辑陆去K1;值.KIi值(单位:dB)是在每个频带和每个传声器位置由式(8)计算得到tl:K J; =- 10Ig(1 -10-D.lL;) ( 8 ) 9 GB/T 6882-2008/ISO 3745: 2003 式中:L，=Lp，-L飞修正后的声压组Lp，=L p, -K 如背景噪声援比声运行时

41、的声压组低20dB以上，可不作修正。对于具有声压握的声掘，在测量颜率草围内的一些颜带，背景噪声辑与声醒运行时的声压握之差可能小于10dB，此时，在这些描带使用最大的修正量0.5dBo在报告中若结出这样的数据，则在文本中要清楚地说明这是被翻声蘸声功率级的上限。此外，如计算A计权总声功率撞，可用两种不同的方法计算zd 应用测试颇率范围内每个颇带的敢量Fb) 除去背景噪声组比声酶运行时声E组小于10dB的颜带。如果用这两种方法得到的声援差小于0.5B，酣用所有藏带数据计算得到的总声最是符合本标准的。如声氧量大于0.5dB，则用li有摒带数据计算得到的总声最代表声功率握的上限，要在报告和国表中加以清楚

42、说明白8. 7 表面声.EE!&的计算8.7. 1 罹埠声嚣的声功率提Lw是由球面(或半球面)上平均表面声压级Lpf计算得到，表面声E组Lpf是由测试璋面(或半球面主持方声压的幸间平均计算得出e为了从声压撞击数得剧表面声E组乌，可用8. 7. 28. 7.4结出的方法。8.7.2 固定传声器位置8.7.2.1 摄述当用固定传声器位置时，可用8.7. 2. 2 11 2. t. Z. 3结出白宫方法之一。8.7.2.2 等面租当各传声器位置在白试球面(革半球面)上占有的面积相等时，表面声压辑I，应用武(9)得到zI pf = 101咐主100旺p，) . . . . . .( 9 ) 式中zLp

43、I一一表面声压辑，单位为分贝(dB)(基准值为20Pa); Lp量一一在第i个传声器位置回悍的并经背景牒声修正的声压辑，单位为分贝(dB)(基准世为20Pa); N 传声器位置盘。8.7.2.3 不相等的面租当各传声器位置在回量表面上占有曲面扭不相等时，茬面声直撞LpfJ$l用式(10)得到，E,.: = 10时. 10000 土豆。运二630土2.0800-5000 士2.5半消声雯6 300-10 000 土3.010000 土5.0对于指向性测量，声雷可以在除了被鉴定的房间之外的不同悄声室或半消声室中被安装和评价(例如在所用掘率范围内已知有好的悄声性能的房间)。注1.适于用来鉴定消声室和

44、半消声室的声源在参考资料中描述，注2.对于半消声室的鉴定，在地面中心留一小空穴是有用的，空穴的目的是为安装芦源，使它的辐射表面在地板平面上，颜率低于800Hz时，符合GB/T19889.3要求的声醒是适用的。可能的替代物是因箱中的电动苗声器，其尺寸宜小于世茸的十分之一。藏率高于10kHz，适用的声II可以是声学屏蔽的压缩草动器(高顿头)与末端逐渐变细的柱形管相连。管子长度约为150mm2) ，出口端直在6mm.如在更高3)的颇率使用，可采用更短的管子。建议使用在距离声蘸0.5m半径扯能睡满足A.2.2.2要求的声掘。声蘸在远场趋于更加元指向性，声拇指向性在近场和远墙的差异将使拥试室的鉴定更为困

45、难困A.3 副试声雷和传声器的安装. 3.1 消声室副试声嚣的位置应使其假定声中心尽可能接近四试璋面的儿何中心，并尽可能是房间的中心。A.3.2 半消声室A. 3.2.1 罹蛊测试声嚣的位置应使其假定其声中心尽可能接近四试半球面的几何中心，并尽可能是房间地面的中心，测试声雷应在反射地面的平面上，所以测试声掘的声中心尽可能接近反射地面是合适的，但在任何情况下，离地不宜太于150mm.如有可能，由试声掘的声中心离反射地面臣离应在0.1擅长之内。因此，推荐在反射地面的空穴中安装甜试声握(见A.2. 2. 2注2).3.2.2 &.射平面的尺寸反射平面应扩屉到比四量表面在反射平面上的技至少大0.75m

46、. .3.2.3 眼声系量反射平面的眼声系敢在所用踊率范围内应小于0.06.注z用握握土结构或面密度为20kg/m2或更大的轻结构能满足要求。.3.3 传声器睡在传声器的移动应在不同方向离开酒量璋面或半球面的几何中心至少有5个直线路程回主要的传声2) 150原文为1.5m，有误-3) 150原文为缸，有误.15 GB/T 6882-2008/ISO 3745: 2003 器踏在是从测量球面或半球面的儿何中心到房间的角上(此角指两个墙面与天花撮，或两个墙面与地桓的交界处).所要求的五个路程中有四个是到角的主要路径。在悄声室中，4个桂选择的路程应位于房间的工作区域内，即室内用于常规制量的那部分a当

47、悄声室内在有明确工作区域时，所选的角应处于通过房间中心的假想平面向。在半悄声室中，应避免很靠近反射地面以及与反射地面平行的路径。四试声握将以选定的方位放置，井对所有传声器路程都保持这一方位。在割试声握的声中心不能被清楚地确认的情况下，要恰当地选择代表此中心的点，并且在整个鉴定过程中始终用这一个点回这一个点仅仅用于四量z声中心实际位置的计算见A.4.3. 1. A.4 副试方法A.4.1 声的产生除非有作纯音鉴定的要求，A.2.2描述的测试声雷特由无规噪声激励。应时被鉴定房间在整个颇率范围进行1/3倍颇带分析。在低于125Hz和高于4000 Hz的颜率，用连续的1/3倍插带的中心蝠卒甜试，在125Hz和4000 Hz之间，用连键的倍颇带中心插