IEC 60151-24-1971 Measurements of the electrical properties of electronic tubes Part 24 Methods of measurement of cathode-ray charge-storage tubes《电子管电性能的测量 第24部分 阴极射线电荷存储管的测量方法》.pdf

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1、NORME CE1 INTERNATIONALE IEC INTERNATIONAL STANDARD 601 51 -24 Premire dition First edition 1971-0: Mes u res des caractristiques lectriques des tubes lectroniques Partie 24: Mthodes de mesure des tubes rayons cathodiques mmoire lectrostatique Measurements of the electrical properties of electronic

2、tubes Part 24: Methods of measurement of cathode-ray charge-storage tubes Numro de rfrence Reference number CEIIIEC 60151-24: 1971 Numros des publications Numbering Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications con so I idees Les versions consolid

3、es de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validi

4、t de la presente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relati

5、fs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Cite web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement

6、(Catalogue en ligne)* Bulletin de la CE1 Disponible la fois au 4te web de la CEI et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VE i). Pour les symb

7、oles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux A utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1

8、 6061 7: Symboles graphiques pour schmas. As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, r

9、espectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects c

10、urrent technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publi

11、cations issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue) Available both at the IEC web site* and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter sym bo I s For general ter

12、minology, readers are referred to I EC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graph

13、ical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page. * Voir adresse 4te web, sur la page de titre. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 601 51 -24 P rem re dition Firs

14、t edit ion 1971-01 Mes u res des caractris t iq ues lectriques des tubes lectron iq ues Partie 24: Mthodes de mesure des tubes rayons cathodiques mmoire lectrostatique Measurements of the electrical properties of electronic tubes Part 24: Methods of measurement of cathode-ray c h a rg e-s to rag e t

15、u bes O IEC 1971 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun any form or by any means, electronic or mecha

16、nical, procd, lectronique ou mcanique. y compris la photo- including photocopying and microfilm, without permission in copie et les microfilms, sans raccord hit de Iditeur. writing from the publisher. International Electrotechnical Commission Telefax: +41 22 919 0300 3, rue de Varemb Geneva, Switzer

17、land IEC web site http: /www.iec.ch e-mail: inmailiec.ch U CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical Commission MemwiapomaR 3nenpoexreca HOMHCCHR O -2- SOMMAIRE PRAMBULE PREFACE

18、 . Articles 1 . Domaine dapplication . 2 . Dfinitions 2.1.1 Tube mmoire 2.1.3 Tube mmoire sortie lectrique 2.1.4 Tube mmoire sortie image 2.1.5 Tube rayons cathodiques mmoire 2.1.6 2.1 Types de tubes 2.1.2 Tube mmoire lectrostatique . Tube rayons cathodiques mmoire lectrostatique 2.2 Elments de tube

19、s . 2.2.1 Ensemble de mmoire 2.2.2 Elment de mmoire 2.2.3 Surface de mmoire . 2.2.4 Cible . 2.2.5 Grille darrt 2.2.6 Electrode de collimation 2.3 Conditions de fonctionnement 2.3.1 Conductibilit induite par bombardement . 2.3.2 Modulation par transmission . 2.3.3 Modulation par rflexion 2.3.4 Balaya

20、ge continu (en trame) . 2.3.5 Balayage en damier . 2.3.6 Niveau 2.3.7 Niveaux utilisables . 2.3.8 Niveau de saturation 2.3.9 Fonctionnement deux niveaux . 2.3.10 Fonctionnement bistable 2.3.1 1 Rgnration . 2.3.12 Intgration de signaux . 2.3.13 Arroser 2.3.14 Collimater 2.3.15 Tension de G cross-over

21、 ) de lmission secondaire . 2.3.16 Tension dquilibre dun lment de mmoire . 2.3.17 Entretenir . Pages 8 8 10 10 10 10 10 10 10 10 10 12 12 12 12 12 12 12 12 12 12 12 12 14 14 14 14 14 14 14 14 14 14 14 16 16 -3- CONTENTS Page FOREWORD 9 PREFACE . 9 Clause 1 . Scope 11 2 . Definitions 11 2.1 Types of

22、tubes 11 2.1.1 Storage tube 11 2.1.2 Charge-storage tube 11 2.1.4 Display storage tube 11 2.1.5 Cathode-ray storage tube 11 2.1.6 Cathode-ray charge-storage tube . 11 2.1.3 Electrical-signal storage tube (electrical-output storage tube) . 11 2.2 Tube elements . 13 2.2.1 Storage assembly 13 2.2.2 Sto

23、rage element 13 2.2.3 Storage surface . 13 2.2.4 Target 13 2.2.5 Barrier grid 13 2.2.6 Collimating lens 13 2.3 Operating conditions 13 2.3.1 Bombardment-induced conductivity 13 2.3.2 Transmission modulation 13 2.3.3 Reflection modulation 13 2.3.4 Raster scan 13 2.3.5 Chequer board scan (beam indexin

24、g) . 15 2.3.6 Level . 15 2.3.7 Usable levels 15 2.3.8 Saturation level 15 2.3.9 Bilevel operation 15 2.3.10 Bistable operation . 15 2.3.1 1 Regeneration . 15 2.3.12 Integration of signals 15 2.3.13 Toood . 15 2.3.14 To collimate 15 2.3.15 Secondary-emission cross-over voltage 15 2.3.16 Storage eleme

25、nt equilibrium voltage . 17 2.3.17 Tohold 17 -4- 3 . 2.4 Inscription 2.4.1 Inscrire 2.4.2 Vitesse dinscription 2.4.3 Vitesse dinscription maximale utilisable 2.4.4 Temps dinscription . 2.4.5 Temps dinscription minimal utilisable 2.4.6 Gamme dynamique dinscription . 2.4.7 Surinscription . 2.5 Lecture

26、 2.5.1 Lire . 2.5.2 Nombre de lectures . 2.5.3 Nombre de lectures maximal utilisable 2.5.4 Temps de lecture 2.5.5 Temps de lecture maximal utilisable 2.5.6 Vitesse de lecture 2.5.7 Vitesse de lecture minimale utilisable . 2.5.8 Gamme dynamique de lecture 2.5.9 Nombre de circum-lectures . 2.5.10 Lect

27、ure destructive . 2.5.11 Temps de vision 2.5.12 Temps de vision maximal utilisable 2.6 Effacement 2.6.1 Effacer 2.6.2 Temps deffacement . 2.6.3 Temps deffacement minimal utilisable 2.6.4 Vitesse deffacement 2.6.5 Effacement slectif . 2.6.6 Rapidit deffacement 2.6.7 Apprter . 2.6.8 Vitesse dapprtage

28、. 2.6.9 Rapidit dapprtage 2.7 Caractristiques diverses et dfauts divers . 2.7.1 Pouvoir de rsolution 2.7.2 Temps maximal de mmoire . 2.7.3 Dclin 2.7.4 Dclin statique . 2.7.5 Dclin dynamique . 2.7.6 Dclin anormal 2.7.7 Temps de dclin 2.7.8 Dfectuosit 2.7.9 Taches (du signal de sortie ou du fond) 2.7.

29、10 Irrgularits (du signal de sortie ou du fond) 2.7.11 Moir . 2.7.12 Redistribution . Gnralits . Thorie . 3.1 Tubes sortie lectrique un seul canon . 3.1.1 Tube grille darrt 16 16 16 16 16 16 16 16 16 16 18 18 18 18 18 18 18 18 18 18 20 20 20 20 20 20 20 20 20 20 20 20 20 22 22 22 22 22 22 22 22 24 2

30、4 24 24 26 26 -5- 2.4 Writing . 2.4.1 Towrite 2.4.2 Writing speed . 2.4.3 2.4.4 Writing time 2.4.6 Dynamic writing range . 2.4.7 Overwriting Maximum usable writing speed 2.4.5 Minimum usable writing time 2.5 Reading . 2.5.1 Toread 2.5.2 Read number . 2.5.3 Maximum usable read number 2.5.4 Reading ti

31、me . 2.5.5 Maximum usable reading time 2.5.6 Reading speed . 2.5.7 Minimum usable reading speed 2.5.8 Dynamic reading range . 2.5.9 Read-around number 2.5.10 Destructive reading 2.5.11 Viewing time 2.5.12 Maximum usable viewing time 2.6 Erasing 2.6.1 Toerase . 2.6.2 Erasing time 2.6.3 Minimum usable

32、 erasing time 2.6.4 Erasing speed . 2.6.5 Selective erasing 2.6.6 Erasing rate 2.6.7 Toprime . 2.6.8 Priming speed . 2.6.9 Priming rate 2.7 Miscellaneous characteristics and various defects 2.7.1 Resolution . 2.7.2 Maximum retention time 2.7.3 Decay . 2.7.4 Static decay 2.7.5 Dynamic decay . 2.7.6 A

33、bnormal decay 2.7.7 Decay time 2.7.8 Blemish 2.7.9 Shading (of the output signal or of the background) 2.7.10 Disturbance (of the output signal or of the background) . 2.7.11 Moir . 2.7. I2 Redistribution . 3 . General . Theory . 3.1 Single-gun tubes with electric output . 3.1.1 Barrier-grid tube 17

34、 17 17 17 17 17 17 17 17 17 19 19 19 19 19 19 19 19 19 19 21 21 21 21 21 21 21 21 21 21 21 21 21 23 23 23 23 23 23 23 23 25 25 25 25 27 27 -6- 3.1.2 Tube modulation par transmission ( un seul canon) . 26 3.2 Tubes sortie lectrique deux canons . 3.2.1 Tube conductibilit induite par bombardement 3.2.2

35、 Tube modulation par transmission ( deux canons) 3.3 Tube mmoire sortie image . 4 . Mthodes de mesure 4.1 Tubes sortie lectrique Pouvoir de rsolution en balayage continu . 4.1.2 Pouvoir de rsolution en balayage ( damier N . 4.1.3 Vitesse dinscription en balayage continu . 4.1.4 Temps dinscription en

36、 balayage ( damier D Nombre de lectures en balayage continu 4.1.6 Nombre de lectures en balayage damier n 4.1.7 Temps de lecture en balayage ( damier D . 4.1.10 Vitesse deffacement en balayage continu . 4.1.1 1 Temps deffacement en balayage ( damier D Temps de mmoire en balayage continu Temps de mmo

37、ire en balayage ( damier N . 4.1.14 Rapport signal sur taches Rapport signal sur irrgularits 4.1.16 Temps de dclin statique 4.1.17 Temps de dclin dynamique . 4.1.1 4.1.5 4.1.8 Nombre de circum-lectures en balayage t( damier D . 4.1.9 Rapidit deffacement en surface en balayage continu 4.1.12 4.1.13 4

38、.1.15 4.2 Tubes sortie image 4.2.1 Pouvoir de rsolution 4.2.2 Vitesse dinscription . 4.2.3 Temps dinscription . 4.2.4 Temps de vision 4.2.5 Rapidit deffacement en surface . 4.2.6 Vitesse deffacement . 4.2.7 Temps deffacement par faisceau dentretien 4.2.8 Temps de mmoire . 4.2.9 Rapport signal sur ta

39、ches Rapport signal sur irrgularits 4.2.10 FIGURES . 28 28 30 32 34 34 34 34 36 36 36 36 36 38 38 40 40 40 42 42 42 42 42 44 44 44 46 46 46 46 48 48 48 48 52 -7- 3.1.2 Transmission-modulation tube (single-gun) . 27 3.2 Double-gun tubes with electric output 3.2.1 Bombardment-induced conductivity tube

40、 . 3.2.2 Transmission-modulation tube (double-gun) 3.3 Display storage tube . 4 . Measuring methods 4.1 Electrical-output tubes . 4.1.1 Resolution with continuous scan . 4.1.2 Resolution with chequer board scan . 4.1.3 Writing speed with countinuous scan . 4.1.4 Writing time with chequer board scan

41、4.1.5 Read number with continuous scan . 4.1.6 Read number with chequer board scan 4.1.7 Reading time with chequer board scan 4.1.8 Read-around number with chequer board scan . 4.1.9 Area erasing rate with continuous scan 4.1.10 Erasing speed with continuous scan 4.1.11 Erasing time with chequer boa

42、rd scan . 4.1.12 Retention time with continuous scan . 4.1.13 Retention time with chequer board scan 4.1.14 Signal-to-shading ratio . 4.1.15 Signal-to-disturbance ratio 4.1.16 Static decay time 4.1.17 Dynamic decay time 4.2 Tubes with image output 4.2.1 Resolution . 4.2.2 Writing speed . 4.2.4 Viewi

43、ng time 4.2.5 Area erasing rate 4.2.6 Erasing speed . 4.2.8 Retention time . 4.2.9 Signal-to-shading ratio . 4.2.3 Writing time 4.2.7 Holding beam erasing time . 4.2.10 Signal-to-disturbance ratio 29 29 31 33 35 35 35 35 37 37 37 37 37 39 39 41 41 41 43 43 43 43 43 45 45 45 47 47 47 47 49 49 49 49 F

44、IGURES . 52 -8- COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE MESURES DES CARACTRISTIQUES LECTRIQUES DES TUBES LECTRONIQUES Vingt-quatrime partie : Mthodes de mesure des tubes rayons cathodiques mmoire lectrostatique PREAMBULE 1) Les dcisions ou accords officiels de la C E I en ce qui concerne les quest

45、ions techniques, prpars par des Comits dEtudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telle

46、s par les Comits nationaux. 3) Dans le but dencourager cette unification internationale, la C E I exprime le vu que tous les Comits nationaux ne possdant pas encore de rgles nationales, lorsquils prparent ces rgles, prennent comme base fondamentale de ces rgles les recommandations de la C E I dans l

47、a mesure OU les conditions nationales le permettent. 4) On reconnat quil est dsirable que laccord international sur ces questions soit suivi dun effort pour harmoniser les rgles nationales de normalisation avec ces recommandations dans la mesure O les conditions nationales le permettent. Les Comits

48、nationaux sengagent user de leur influence dans ce but. PRFACE La prsente recommandation a t tablie par le Comit $Etudes NO 39 de la C E I: Tubes lectroniques. Elle fait partie dune srie de publications traitant des mesures des caractristiques lectriques des tubes lectroniques, Le catalogue des publications de la C E I donne tous renseignements sur les autres parties de cette srie. Un premier projet fut discut lors de la runion tenue New Haven en 1967. Un nouveau projet fut discut lors de la runion tenue Londres, en 1968, la suite de laquelle un projet rvis fu