CNS 14896-14-2005 Titanium - Method for atomic emission spectrometric analysis《钛-原子发光光谱分析法》.pdf
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1、 1 印行年月 94 年 10 月 本標準非經本局同意不得翻印 中華民國國家標準 CNS 總號 類號 ICS 77.120.50 H2123-1414896-14經濟部標準檢驗局印行 公布日期 修訂公布日期 94 年 2 月 5 日 年月日 (共 4 頁 )鈦原子發光光譜分析法 Titanium Method for atomic emission spectrometric analysis 1. 適用範圍:本標準規定鈦之原子發光光譜分析法。定量元素及定量範圍如表 1 所示。 表 1 定量元素及定量範圍 定量元素 定量範圍 %(m/m) 碳 矽 鐵 0.005以上, 0.1以下 0.006以
2、上, 0.08以下 0.01以上, 0.5以下 2. 用語定義:本標準所使用主要用語之定義依 CNS 12416發光光譜分析法通則之規定。 3. 一般事項:分析方法共同之一般事項,依 CNS 10005金屬材料之光電式發光光譜分析法通則之規定。 4. 方法概要:將試樣切斷或切削後,經研削或研磨等精加工成平面狀,安裝於原子發光光譜分析裝置之試樣支持台上,與對電極間發生火花放電使定量元素及內標準元素氣化激發,以光電測光法測定於光譜線波長之發光強度。 5. 試樣調製 5.1 分析試樣:依 CNS 10005 之第 4.2 節 (試片切削及研磨用機械 )規定,使用切斷機械或切削機械將分析面加工成直徑
3、20mm 以上、厚度 3mm 以上之形狀 (1),用研削機 械或研磨機械將分析面調製成平面狀 (2)。研磨 (3)使用氧化鋁質研磨帶,研磨材粒度使用 CNS 3787磨料粒度之 #40 #80。 註 (1) 試樣直徑未滿 20mm 或厚度未滿 3mm 時,使用補助夾具,其大小應可裝卸於試樣支持台上。 (2) 試樣之放電面要平,須管制研削機械或研磨機械及研磨材料,以將試樣放電面加工成平坦且為一定之粗糙度。 (3) 試樣調製時之溫度上升,依發光條件,有時會影響定量值,因此須使成為經常保持一定溫度之調製條件。 5.2 檢量線製作用試樣:檢量線製作用試樣,係依 CNS 10005 之第 6.2 節 (
4、標準試片 )之規定,將分析試樣之冶金製程及化學組成與分析試樣近似,分析試樣在可內插中之定量元素含量之範圍內,準備具有適當間隔含量之一系列定量元素試樣數個,依第 5.1 節調製。檢量線製作用試樣中之定量元素含量,依 CNS 14896-3 2 CNS 14896-14, H 2123-14 鈦及鈦合金鐵定量法、 CNS 14896-6鈦及鈦合金碳定量法及 CNS 14896-7鈦及鈦合金矽定量法所規定之方法求出。 5.3 檢量線校正用試樣:檢量線校正用試樣,亦可自檢量線製作用試樣系列中選擇適當者試樣使用,但也並非一定要自檢量線製作用試樣中選擇,而只要均質且測定值再現性佳者即可。以 2 點校正檢量
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