AIMC 0002-2006 无源射频标签通用技术规范.pdf

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1、中国自动识别技术协会标准AIMC 0002-2006 无源射频标签通用技术规范General technical specifications for passive tag 2006-12-15发布2007-01”01实施中国自动识别技术协会发布AIMC 0002-2006 吕欠mw111111333333333344444444ili-lili-11 类分二叮类类签分分标件件件二谏料类性签合求皮求件文文文作材分特标标稿要强要文类类类工装率理求指合射术曲力动接度度度度术用义口试义、理封频物要能离离电性稿散技性力弯应振连性温温湿、砸技性击引定接测定构原照照照术性距距静特感向签特压恋曲械叠片特作

2、储作储签特冲性据中验和结构作类按按按技气读写抗理电反标械抗动扭机折芯境工存工存标械抗围范数空试语签结工分123般电123物12性机123456环1234性机1言中一一口范规123术标123111lLLL2Z盯如柔1LLLLLL21ZZ立硬lL前引1202Z344444445旦旦旦旦旦旦丘6丘aa队队队an队6n队队6711I J、币二？咱啕55555555566666678999001334677 签标范签合规标标稿试试m动落度度度度指合射测性性测性性u线线m振跌性温温混湿雾线线明能离离电性藕散签特特签特特性外挝伫械由特作储作储盐性外射说性距距静特感向标械境标械境封紫X机自境工存工存抗封紫x试

3、气读写抗理电反性机环型机环密抗抗023环l2345密抗抗试测电123物12柔12异12345nuM川口M114222222345拍12222333444555555An叮t咛t叮t叩t巧t咛t叮t叮t咛t咛t叮tQUQUOOOOOOQUQUOOQUQUOOOOOOnooooOQUQUII AIMC 00022006 刚吕本标准，按照菌家标准制定的工作流程及标准化工作导则一一第1部分：标准的结构和编写规则C GB/T 1. 1-2000）编写。本标准定义了无源封频标签通用技术规范。本标准为首次发布。本标准酣录为资料性附录。本栋准由中白白动识别技术协会射频工作组提出并归口。本标准主要起草单位：江苏

4、瑞福智能科技有限公司、深圳市华阳微电子有限公司、大连维深自动识别技术有限公司、上海先达企业发展有限公司、深圳市远望谷倍息技术股份有眼公司、北京维深电子科技有限公司、沈El先达条码技术发展有限公司、深圳市和擎科技有报公司、意法半导体（上海有限公词、NXP半导体智能识别部（中圄）、北京维深科技发展有限公司、上海外高桥软件产业发展有眼公司、德州仪器半导体技术（上海有眼公司、北京凯泰先达科技发展公司、总后勤部后勤科学研究所、北京航天信息有眼公司本标准主要起草人z谢棋、鞠苏明、滕玉杰、李代万、陈一新、武岳山、张革军、张咒III 、AIMC 0002一2006引射频识别（RadioFrequency Id

5、entification，即ID）技术，是一种利用射频道信实现的非接触式自动识别技术。RFID标签具有体积小、容量大、寿命长、可重复使店等特点，可支持快速读骂、非可视识别、移动识别、多目标识别、定位及长期跟踪管理。射频识别技术在中国处于一个起步的盼段，但是它的发展潜力是巨大的。本标准结合目前国际上流行的RFID应用特点，针对RFID系统中的重要组成部分一标签，提出一套共同遵循的基础性的物理结构和特性，以及测试方法作为射频标签通用规范的主体内容。IV AIMC 00022006 无源射频标签通用技术规范1范围本标准规定了无源射频标签的通用技术要求和测试方法。参照ISO/IEC18000-n系列标

6、准，包括：假于135kHzCISO/IEC18000一刀，13.56MHz ( ISO/IEC 18000-3, ISO 15693, ISO 14443) , 2. 45GHz (ISO/IEC 18000-4) , 860MHz960股1z( ISO/IEC 180006) 433阳zCISO/IEC 180007）。对标签应用环境条件特殊的，可能要求采取减缓措施。2规范性引用文件下列文件中的条款通过引用商成为本部分的条款。凡是位明日期的轩用文件，只有所引用的版本适用于本标准。凡是未注明白期的引用文件，其随后的修改版本（包括任何附件）也适用于本标准。2. 1数据定义类文件ISO/IEC 1

7、8000-1信息技术用于单品管理的射频识别技术第1部分：标准化规定的体系结构和参数定义2.2空中接口类文件ISO/IEC 18000-2信息技术用于单品管理的射频识别技术第2部分：135kHz以下频段的空中接口通信参数ISO/IEC 18000-3信息技术用于单品管理的射频识别技术第3部分：13.56MHz频段的空中接口通倍参数ISO/I丑C18000-4信患技术用于单品管理的射频识别技术第4部分：2.45G频段的空中接口通倍参数ISO/IEC 18000-6信息技术用于单品管理的射频识别技术第6部分：860-960MHz频段的空中接口通信参数ISO/IEC 18000-7信息技术起于单品管理

8、的射频识别技术第7部分：433阳1z频段的空中接口通信参数ISO/IEC 14443和ISO/IEC15693：识别卡一非接触集成电路卡一近距离卡2.3试验测试类文件GB/T14916-2006识别卡物理特性四月2423.10-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fe和导则：振动正弦）GB 9254-1998 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法GB/T 17618-1998 倍息技术设备抗扰度限值和测量方法ISO/IEC 10373-6识别卡测试方法第6部分：近距离卡ISO/IEC7816智能卡系列标准3术语和定义下列术语和定义适用于本标准，其它参照、ISO/IEC19762

9、-30 1 、AIMC 0002-2006 3. 1射频识别radio frequency identification CRFID) 是自动识别技术领域的一种技术，利用无线电射频通讯技术实现短程数据双向通信，对目标进行识别。3.2无源射频标签passive tag 内部无电源、靠接收射频能量工作的电子标签。3.3有源射频标签active tag 靠内部电池供电工作的电子标签。3.5异型标签abnormity tag 根据不同应用以及不同3.6交变磁场alternati 磁场能量按某一规3. 7交变电场alte 电场强度按某一3.8芯片integr 也称IC集成3. 9电磁干扰e 无线电波对3

10、. 10电感藕合利用线圈对3. 11反向散射雷达原理模空间传播规律，915服怡，2.45GHz3. 12抗静电ele, 对静电所产生3. 13抗应力pre 被现i样品在走53. 14拉冲击能力str 被视i样品在冲击下能3. 15防水等级waterproo 被视i样品在某种含水的环3. 16读距离readrange 在各种环境下，RFID系统能可靠地读版到预3. 17写距离writerange 在各种环境下，RFID系统能可靠地写到预定标签的距离。3. 18额定功率ratedpower 读写器能可靠地读取或写到预定距离和预定标签所需的功率。2 4标签结构、工作原理与分类4. 1结构AIMC 0

11、002-2006 无源挝频标签由芯片、天线，以及外包装组成，其中芯片和外天线互连构成标签的核心。通过对芯片和天线进行封装形成即ID标签。天线按制造方法主要有四种：蚀刻冲压、印刷、绕线和溅射。标签封装根据加工流程可分为半封装和全封装。半封装完成芯片和天线的连接，即逼常说的嵌体(inlay）：全封装相当于二次封装，给嵌体加外钮装。4.2工作原理扭扭扭耻阳无源标签工作时，首先被读写器发射的射频能量激活，标整4.3分类4.3. 1按照封装常用的标签【纸质标签一骨薄膜标签；本标准主要4.3.2按照频率由于标签工签说明，工作频低频标签一一高频标签一一工超高频标签一微波标签一一工作4.3.3按照物理特性分类

12、根据本标准要求以及标5般技术要求5. 1电气性能指标5. 1. 1读距离5. 1. 1. 1低频标签参考范围zO 20cmo 3 AIMC 00022006 5. 1. 1. 2高频标签参考范围：075cmo5. 1. 1. 3超高频标签参考范围：08血。5. 1. 1. 4微波标签参考范围：01.加。5. 1. 2写距离5. 1. 2. 1低频标签参考范围：020cm。5. 1. 2. 2高频标签参考范围：075cmo5. 1. 2. 3超高频标签参考范围：06血。5. 1. 2. 4撤波标签参考范围：0lmo5. 1. 3抗静电V臼D大于4kV。5.2物理特性5. 2. 1电感辑合标签5.

13、 2. 1. 1抗磁场强度表1标签能够承受的交变磁场强度频率范围阳fa)0.3 3.0 3.0 30 30 300 5.2. 1.2抗电场强度表2标签能够承受的交变电场强皮频率范围（阳z)0.3 3.0 3.0 30 30 300 5.2. 2反向散射辑合标签标签能够承受的最大电磁强度为50V/mo 6柔性标签技术要求6. 1机械特性6. 1. 1抗班力平均磁场强度（A/m)1. 63 4.89/f 0. 163 平均电场强度（V/m)614 1842/f 61. 4 标搭在一定的压力下，无明显变形且储存在标签内的数据不改变，标签应能正常工作。6. 1. 2动态弯曲弯曲标签使标签边的最大偏移与

14、边长的比率为0.23，标签应能正常工作，封装不能异常。4 咱咽AIMC 0002-2006 6. 1. 3扭曲应力把标签进行旋转角度为15扭曲后，标签仍能正常工作，封装不能异常。6. 1. 4机械振动在不工作状态下，分别在对三个互相垂直轴线方向，在振动试验台上进行扫频耐久性试验，频率班围：50日z，句，lh试验后储存在标签内的数据不改变，标签应能正常工作，封装不能异常。6. 1. 5折叠将标签天线部分对折180，并在折叠处施加5Kg重物，恢复平后，不得损坏，标签应能正常工作。6. 1. 6芯片连接强度在芯片边缘沿45方向施加切力，在该力不超过5Kg时，芯片不得脱落，标签应能正常工作。6.2环境

15、特性6. 2. 1工作温度一2050C。6.2.2存储温度一4060。6.2.3工作温度5% 95%0 6.2.4存储温度5%95%。7硬性标签技术要求7. 1机械特性7. 1. 1抗冲击标签应能承受：20g,11时，半正弦脉冲的冲击。试验后标签应能正常工作。7. 1. 2机械振动标签应能承受：拙，峙的振动。试验后标签应能正常工作。7. 1. 3自由跌落标签应能承受：高度3.3m，冲击面为5cm胶合板背对水泥地面的跌落试验。试验后标肇应能正常工作。7.2环境特性7. 2. 1工作温度工作温度：一2060。7.2.2存储温度存储温度一40C85。7.2.3工作混度5%95%。7.2.4存储温度5

16、% 95%0 7.2.5抗挫雾标签在盐雾条件下能够正常使用。7.3密封性室外使用：IP64o室内使用：IP63o5 、AIMC 00022006 7.4抗紫外线能够抵抗能量为15W/s/c旷的紫外线照射。7.5抗X射线能够提抗能量70140keV，剂量0.lGy的X射线照射。8测试8. 1测试说明每个测试项目按照以下几个方面来描述：(1）测试环境描述环境滥度、温度，(2）测试设备列出主要测试，、(3）测试流程说明测试(4）测试方法该项指8. 2. 1. 1 1E颇似测试环境：辙被暗室或空旷室外测试设备：程布鼠读写器和天目。测试流程：a.选择、b.架设和c.测试读d.记录据试e.分析测试数测试方

17、法：测试天线和频功率为额定功率。读取标签测试指标：参照、5.1. 1. lo 8. 2. 1. 2高频标签的中心位置，读写器输出射据试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度l0C35，相对湿度40%60%。测试设备：主二控机、读写器和天线。6 测试流程：a.选择测试场地：b.架设和谓试测试设备：c.测试读距离；d.记录那试数据，包括环境因素、测试设备；e.分析测试数据，给出结果。. ” - AIMC 0002一2006测试方法：测试天线和标签架高1.5m，将一个标签放置于天线辐射场的中心位置，读写器输出射频功率为额定功率。读取标签ID号的成功率要求达50%以上。测试指标：参照5.1. 1.

18、 2。8. 2. 1. 3超高频标签测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度1035C，相对湿度40%60%。测试设备：主控机、读写器和天线。源试流程：a.选择测试场地：b.架设和调试探i试设备：c.测试读距离；d.记录测试数据，e.分析测试数溅试方法：醋、频功率为额定功率。测试指标：参A8. 2. 1. 4微波标签测试环境：测试设备：测试流程：e.分测试方法：颇功率为额定功测试指标：参，、8.2.2写距离8. 2. 2. 1低频标签测试环境：微波暗测试设备：主控机、测试流程：挝旷室外作为测试写出！盯35，相加剧0%60%。读写器和天去a.选择据试场地：b.架设和调试测试设备；c.溅试写

19、距离：d.记录那试数据，钮括环境因素、测试设备；e.分析测试数据，给出结果。测试方法：测试天线和标签架高1.加，将一个标签放置于天线辐射场的中心位置，读写器输出射频功率为额定功率。向标签一次写32比特数据的成功率要求达50%以上。测试指标：参照5.1. 2. 1。8.2.2.2离频标签测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度1035，相对注重度40%60%。测试设备z主控机、读写器和天线。7 AIMC 00022006 视i试流程：a.选择测试场地；b.架设和调试溅试设备：c.测试写距离：d.记录测试数据，钮括环境因素、测试设备；e.分析测试数据，给出结果。测试方法：测试天线和标签架高1

20、.加，将一个标签放置于天线辐射场的中心位置，读写器输出射频功率为额定功率。向标签一次写32出特数据的成功率要求达50%以上。测试指标：参照、5.1. 2. 2。8. 2. 2. 3超高频标签测试环境：微波暗室或空旷室外作为溅试场地，温度lOC35，相对湿度40%60%。测试设备：控机、读写器和天线。测试流程：a.选择溅试场地：b.架设和满试测试设备：c.测试写距离：d.记录测试数据，包括环境因素、测试设备：e.分析那试数据，给出结果。测试方法：测试天线和标签架高1.5囚，将一个标签放置于天线辐射场的中心位置，读写器输出射频功率为额定功率。向标签一次写32比特数据的成功率要求达50%以上。测试指

21、标：参照、5.1.2.308.2.2.4微波标签测试环境：微波暗室或空旷室外作为耐试场地，温度1035C，相对温度40%60%。测试设备：主控机、读写器和天线。据试流程ta.选择测试场地：b.架设和调试溅试设备；c.测试骂距离；d.记录测试数据，包括环境因素、测试设备；e.分析溅试数据，给出结果。测试方法z测试天线和标签架高1.加，将一个标签放置于天线辐射场的中心位置，读写器输出射频功率为额定功率。向标签一次写32比特数据的成功率要求达50%以上。溅试指标：参照5.1. 2. 4o 8.2.3抗静电8 测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度1035，相对湿度40%60%。据1试设备：主

22、控机、读骂器、天线、静电枪。测试流程：a.选择测试场地：b.架设和调试测试设备：c.抗静电视i试：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标答是否正常：e.按照8.2.2.18.2.2.4要求之一u试写距离，验证标签是否正常：f.记录测试数据，包括环境因素、溅试设备：AIMC 0002一2006g.分析测试数据，给出结果。测试方法z按照、15010373-6中规定进行，试验后标签应能正常工作。测试指标：参照、5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，5.1. 2. 1 5. 1. 2. 4之一，5.1. 3o 8.3物理特性8.3. 1电感藕合标签8. 3.

23、 1. 1拭磁场强度测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度1035，相对湿度40%60%。那试设备：主控机、读写器、天线、磁场发生器。测试流程：a.选择测试场地：b.架设和满试测试设备；c.参照GB9254一1998和四月17618-1998标准测试抗磁场强度：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常：e.按照8.2.2.18.2.2.4要求之一测试写距离，验证标签是否应常：f.记录测试数据，钮括环境因素、测试设备：g.分析溅试数据，给出结果。测试方法：标签暴露在按表1设定的磁场强度电场中6分钟。测试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1.

24、1. 4之一，5.1. 2. 1 5. 1. 2. 4之一，表lo8. 3. 1. 2抗电场强度那试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度1035，相对湿度40%60%。测试设备：主控机、读写器、天线、电场发生器。测试流程：a.选择测试场地：b.架设和满试测试设备：c.参照、G丑9254-1998和GB/T176181998标准测试抗电场强度：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一m试读距离，验证标签是否正常：e.按照8.2.2.18.2.2.4要求之一测试写距离，验证标签是否正常：f.记录测试数据，包括环境因素、测试设备：g.分析测试数据，给出结果。那试方法：标签暴露在

25、按表2设定的电场强度电场中6分钟。那试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，5.1. 2. 1 5. 1. 2. 4之一，表2。8.3.2反向散射辑合标签测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度1035，相对提度40%60%。测试设备：主控机、读写器、天线、电磁场发生器。据试流程：a.选择测试场地：b.架设和调试测试设备：c.参照、GB9254-1998和GB/T17618-1998标准测试抗电磁场强度：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一j试读距离，验证标签是否正常：e.按照8.2.2.18.2.2.4要求之一测试写距离，验证标签是否正常：f.记录

26、测试数据，包括环境因素、醋试设备：g.分析据试数据，给出结果。测试方法：标签暴露在电磁强度为50V部的环境下60秒。9 AIMC 0002-2006 视i试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，5.1. 2. 1 5. 1. 2. 4之一，5.2. la 8.4柔性标签测试8.4. 1机橄特性8. 4. 1. 1抗压力测试环境：微波暗室或空旷室外作为据试场地，渥度1035，相对搜度40%60%。测试设备：主控机、读写器、天线、5mm钢球。谢试流程：a.选择测试场地：b.架设和调试源试设备；c.测试抗压力；d.按照8.2. 1. 1 e.记录测试数f.分析测试测试方法：把标片中

27、心上方的标签测试指标：参8. 4. 1. 2动态弯测试环境：测试设备：测试流程：a.选b.架c.测d.按he.记if.分析测试方法：将1标签封装无异常。测试指标：参照8.4. 1.3扭曲应力测试环境：微波暗爱测试设备：主控机、读测试流程：a.选择据试场地：b.架设和调试测试设备：c.测试扭曲应力：、fr己率为0.23, d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一据试读距离，验证标签是否正常：e.记录测试数据，包括环境陋素、跚试设备：f.分析醋试数据，给出结果。测试方法：将栋签进行旋转角度为15扭曲，然后恢复正常，重复十次。标签封装无异常。测试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1

28、. 1. 4之一，6.1. 3o 8.4. 1.4机械振动测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度1035，相对湿度40%60%。10 据试设备：主控机、读写器、天线、振动台。测试流程：a.择据试场地：b.架设和调试测试设备：c.测试机械振动；d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常：e.记录测试数据，包括环境因素、测试设备：f.分析源试数据，给出结果。测试方法：按GB/T2423.10 试参数为t频率范围：1055Hz轴线方向进行振动。测试轴正常。测试指标：参照5.8.4. 1. 5折叠测试环境：微J蹦试设备：测试流程：a.选择划b.架、c.

29、测、d.按，、e.记if.分t测试方法：、能正常工作。测试指标：8.4. 1. 6芯片连接测试环境：微J测试设备：主控测试流程：丽力2. 1 8. 2. 1. 4 据，包括环境据，给出结果。线部分对折1a.选择测试场b. 架设和满试测或c.测试报曲应力：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要惑之一测试读距离，e.记录测试数据，包括环境因素、商情f.分析测试数据，给出结果。证标签是否正常：AIMC 0002-2006 40%60%。得损坏，标签应40%60%。测试方法：在芯片边缘沿45方向施加切力，在该力不超过5Kg时，芯片不得搅落，标签应能正常工作。测试指标：参照5.1. 1. 1

30、 5. 1. 1. 4之一，6.1. 3 0 8.4.2环境特性8.4.2. 1工作温度8. 4. 2. 1. 1工作高温溅试环境：微波暗室或空旷室外作为溅试场地，相对湿度40%60%。11 AIMC 00022006 测试设备：主控机、读写器、天线、高低温籍。测试流程a.选择测试场地：b.架设和调试探i试设备：c.加热标签；d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常：e.记录测试数据，包括环境因素、测试设备：f.分析测试数据，给出结果。测试方法z在高低温箱中，将标签加热蓝设定温度2h后，迅速取出进行读距离测试。测试指标z参照5.1. 1. 1 5.

31、1. 1. 4之一，6.2. lo 8. 4. 2. 1. 2工作低温测试环境：微波暗室或空旷室外作为翻试场地，相对湿度40%60%。测试设备：主控机、读写器、天线、高低温箱。测试流程：a.选择测试场地：b.架设和调试测试设备：c.冷冻标签：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常：e.记录测试数据，包括环境自索、测试设备：f.分析溺试数据，给出结果。跚试方法：在高低温箱中，将标签冷冻至设定温度2h后，迅速取出进行读距离测试。测试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，6.2.1. 8.4.2.2存储温度8.4.2.2. 1存储高温测

32、试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，相对湿度40%60%。据试设备：主控机、读写器、天线、高低温箱。测试流程：a.选择测试场地：b.架设和满试测试设备：c.标签存铸在设定温度下：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一据试读距离，验证标签是否正常：e.记录测试数据，包括环境因素、测试设备：f.分析泌试数据，给出结果。现i试方法：标签放置在6.2.2要求的高温箱中不通电4小时后，取出标签，在室温下恢复1小时，然后进行读距离测试。醋试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，6.2. 2o 8.4.2.2.2存储低温12 测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，

33、相对湿度40%60%。测试设备：主控机、读写器、天线、高低温箱。测试流程：a.选择测试场地：b.架设和语试测试设备：c.标签存储在设定温度下：AIMG 0002-2006 d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4耍求之溅试读距离，验证栋签是否正常：e.记录醋试数据，包捂环境因素、醋试设备：f.分析测试数据，给出结果。测试方法：标签放置在6.2.2要求的低温箱中不通电4小时后，取出栋签，在室温下恢复1小时，然后进行读距离测试。据试指标z参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，6.2.2o8.4.2.3工作湿度测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度lOC35。跚试设备：主

34、控机、读写器、天线、恒温搜度箱。测试流程za.选择测试场地：b.架设和娓试测试设备；c.标肇放置在设定湿度下：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一醋试读距离，验证标签是否正常；e.记录测试数据，包括环境因素、测试设备：f.分析蜒试数据，给出结果。据试方法：标签放置在相对湿度90%95%的实验箱中2天后，迅速取出标签进行读距离挺试。测试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，6.2. 3o 8.4.2.4存储温度即试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度+10十35。测试设备：主控机、读写器、天线、惺温湿皮箱。测试流程：a.选择测试场地：b.架设和调试测试

35、设备：c.标签存储在设定温度下：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常：e.记录蹦试数据，包括环境因素、醋试设备；f.分析测试数据，给出结果。摆i试方法：标签放置在相对握茂90%95%的实验箱中2天后，取出标签，在室温下恢复2小时，然后进行读距离那试。测试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，6.2.4o8.5异搜标签测试规范8. 5. 1机械特性8. 5. 1. 1抗冲击测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度10十35，相对湿度40%60%。溅试设备：主控机、读写器、天线、冲击台。测试流程：a.选择测试场地；b.架设和调

36、试据试设备：c.测试抗冲击：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常：e.记录测试数据，钮括环境因素、测试设备；f.分析测试数据，给出结果。13 AIMC 00022006 测试方法：加速度50g（半正弦波、持续时间11rns、冲击方向为叹，一X，吁，一Y，吃，一Z;外观无损坏，功能正常，测试指标：参照、5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，7.1. la 8. 5. 1. 2机械振动测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，摄度1035，相对湿度40%60%。醋试设备：主控机、读写器、天线、振动台。溅试流程：a.选择测试场地；b.架设和语试

37、测试设备；c.测试机械振动：d.按照8.2. 1. 1 8 e.记录测试数f.分析测试”测试方法：按GB试参数为：频率范轴线方向进行振动。测试指标：8. 5. 1. 3自由跌测试环境z测试设备z测试流程za.选b.架、c.测、d.按照e.记录f.分析测试方法：裸层20rnrn厚的胶合板上飞测试指标：参照5.8.5.2环境特性8. 5. 2. 1工作温度8. 5. 2. 1. 1工作高温飞测试环境：微波暗室或空旷窒夕乎是提试场地，相测试设备z主控机、读写器、天线、高测试流程：a.选择测试场地：b.架设和谓试测试设备：c.加热标签：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离

38、，验证标签是否正常：e.记录测试数据，包括环境因素、溅试设备：f.分析测试数据，给出结果。的硬木板安装在两现i试方法：在高低温箱中，将标签加热至设定温度劫后，迅速取出进行读距离测试。14 翩翩圄翩翩嗣阴阳测试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，7.2. lo 8. 5. 2. 1. 2工作低温测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，相对湿度40%60%。据试设备：主控机、读写器、天线、高纸混箱。测试流程：a.选择测试场地：b.架设和调试测试设各：8.5.2.2存储温度8.5.2.2. 1布储高测试环境：微L测试设备：据试流程：旷地：b.架、拖嚼拭测试设备：c.标封存古希胜

39、设定温度下：d按咱e.记号f.分测试方法：然后进行读距离据试指标：参8.5.2.2.2存储低. 1 8. 2. 1. 4 据，包括环境品据，给出结果在7.2.2要J测试环境：微波测试设备：主控机、测试流程za.选择测试场地：b.架设和调试测试设c.标签存储在设定渥度下：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求乏2洒前使e.记录测试数据，包括环境因素、测试设备：f.分析测试数据，给出结果。证标签是否正常：AIMC 00022006 下恢复l小时，测试方法：标签放置在7.2.2要求的保温箱中不通电4小时后，取出标签，在室温下恢复1小时，然后进行读距离溅试。测试指标：参照5.1. 1.

40、1 5. 1. 1. 4之一，7.2. 2o 8.5.2.3工作温度测试环境：微波暗室或空旷室外作为据试场地，温度1035。测试设备：主控机、读写器、天线、惶温湿皮箱。15 AIMC 00022006 测试流程：a. :1在择测试场地；b.架设和调试测试设备；c.标签放置在设定湿度下；d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常；e.记录测试数据，包括环境因素、测试设备；f.分析测试数据，给出结果。测试方法：标签放置在相对湿度90%95%的实验箱中2天后，迅速取出标签进行读距离溅试。那试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，7.2.3o

41、8. 5. 2.4存储温度测试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度十1035。测试设备：主二控机、读写器、天线、恒温湿皮箱。测试流程：a.选择溅试场地：b.架设和娓试测试设备；c.标签存储在设定跟度下：d.按照、8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常：e.记录测试数据，包括环境因素、溅试设备：f.分析测试数据，给出结果。测试方法：标签放置在相对湿度90%95%的实验箱中2天后，取出标签，在室温下恢复2小时，然后进行读距离据试。测试指标：参照、5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，7.2. 4o 8.5.2.5抗盐雾测试环境：微波暗室或空旷室外

42、作为测试场地，温度1035，相对湿度40%60%。挺试设备：主控机、读写器、天线、盐雾箱。测试流程：a.选择溅试场地：b.架设和娓试测试设备：c.标签放置在盐雾箱中；d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一测试读距离，验证标签是否正常：e.记录那试数据，包括环境因素、测试设备：f.分析测试数据，给出结果。测试方法：栋签放置在盐雾箱中2天后，取出标签，在室温下恢复2小时，然后进行读距离那试。测试指标：参照、5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，7.2.5o8.5.3密封性16 翻试环境：微波暗室或空旷室外作为溅试场地，温度1035C，相对程度40%60%。测试设备：主控机

43、、读写器、天线、造商装置。溅试流程：a.选择测试场地：b.架设和调试测试设备：c.标签放置在人造雨中：d.按照8.2. 1. 1 8. 2. 1. 4要求之一栅试读距离，验证标签是否正常：e.记录测试数据，包括环境因素、测试设备；气AIMC 0002-2006 f.分析测试数据，给出结果。现i试方法：将标经放景在人造雨中1小时后，降雨强度lOOmm/h，取出标签，擦干水，然后进行读距离测试。测试指标：参照5.1. 1. 1 5. 1. 1. 4之一，7.3o8.5.4拉紫外线适用于室外使用标签。源试环境：微波暗室或空旷室外作为测试场地，温度1035，相对、温度40%60%。测试设备：主控机、读写器、天线、紫外全缸，测试流程：a.选择溅试场地；b.架设和混试测试、c.紫外线照射标，d.按照8.2. 1. e.记录测试f.分析测、测试方法：单正常工作。测试指标z8.5.5抗X射线适用于室外测试环境：测试设备：据试流程：d. e.记录测、f.分析测、测试方法：X射线正常工作。8. 2. 1. 4要求、括环境出结果，试验后标签应能SI lh，试验后标签应能17 中国白动识别技术协会协会标准无源射频标签通用技术规范AIMC 0002-2006 * 跟权专有不得翻版* 2006年12月第一次印刷