GB T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理.pdf
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1、中华人民共和国国家标准半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理国家技术监督局 批准 实施本标准规定了半导体集成电路数字锁相环以下简称器件或数字锁相环电参数测试方法的基本原理数字锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照 半导体集成电路 电路测试方法的基本原理总要求若无特殊说明测试期间环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定测试期间 施于被测器件的电参量应符合器件详细规范的规定测试期间应避免外界干扰对测试精度的影响 测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范的规定被测器件与测试系统连接或断开时不应超过器件的使用极限条件若有要求时应按器件详细规范规定的顺序接通电源测试期间 被测
2、器件应连接器件详细规范规定的外围电路和补偿网络若电参数值是由几步测试的结果经计算而确定时这些测试的时间间隔应尽可能短测试期间应避免因静电感应而引起器件失效参数测试动态功耗目的测试器件动态工作时的功率测试原理图测试原理图见图图测试条件测试期间 下列测试条件应符合器件详细规范的规定环境温度压控振荡器输入电压定频网络的电阻和电容压控振荡器输出频率测试程序将被测器件接入测试系统中接通电源调节直流信号源的输出电压 使压控振荡器输入电压 为电源电压 的调节定额网络中的电容使压控振荡器输出频率为规范值在电源端读取电流 的平均值按式 计算压控振荡器最高工作频率目的测试压控振荡器输入电压为最大值时的输出频率测试
3、原理图测试原理图见图图测试条件测试期间 下列测试条件应符合器件详细规范的规定环境温度电源电压压控振荡器输入电压定频网络的电阻和电容压控振荡器输出端电平和波形测试程序将被测器件接入测试系统中接通电源调节直流信号源的输出电压使压控输入电压 为电源电压读取压控振荡器输出端频率即为压控振荡器最高工作频率压控振荡器输出频率温度系数目的在规定的温度范围内测试单位温度变化所引起的压控振荡器输出频率的相对变化测试原理图测试原理图见图图测试条件测试期间 下列测试条件应符合器件详细规范的规定环境温度电源电压压控振荡器输入电压定频网络的电阻和电容测试温度将被测器件接入测试系统中接通电源调节压控振荡器的直流输入电压
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