SJ 50033 149-2000 半导体分立器件.2CW100~121型玻璃钝化封装硅电压调整二极管详细规范.pdf
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1、S.J 中华人民共和国电子行业军用标准FL 5961 SJ 50033/149-2000 半导体分立器件2CW100121型玻璃钝化封装硅电压调整二极管详细规范Semiconductor discrete devices Detail specification for type 2CW100121 glass passivation package silicon voltage-requlator diodes 2000斗。明20发布2000-10吨20实施中华人民共和国信息产业部批准中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件2CW100121型玻璃钝化封装硅电压调整二极管详细规范Se
2、miconductor discrete devices Detail specification for types 2CW100 121 glass passivation package silicon voltage-requlator diodes 1 范围1. 1 主题内容SJ 50033/149 2000 本规范规定了2CW100121型玻璃钝化封越旺也应调整二极管(以F简称器件)的详细要求。1. 2 适用范围本规范适用于器件的研制、生产和l采购。1. 3 分类本规范根据器件质量保证等级进行分类。1. 3. 1 器件的等级按照GJB33A半导体分立器件总规范1.3.1的规定,提供
3、的器件质量保证等级为讲军、特军和超特军三级,分别用字母JP、JT革11JCT表示。2 引用文件GB厅66711995半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)不II调黠千二极管GB厅7581-87半导体分立器件外形尺寸。JB33A7半导体分立器件总规范GJB 128A甲“97?气导体分立器件试验方法3 要求3. 1 详细要求各条要求同按照GJB33A和l本规范的规定。3“ 2 设计、结构和i外形尺寸中华人民共和困倍息产业部2000什0-20发布2000“10-20实施SJ 50033/149-2000 器件的设计和结构应按GJB33A和本规范的规定。3. 2. 1 引出端材料和镀垛引出端材料
4、为无氧锢,引出端表面应镀锡。3.2.2 器件的结构器件是采用脏台平钳构,破璃钝化实体封装,芯片和引线之间采用冶金键合。3.2.3 外形尺寸外形尺寸应符合GB厅7581中的。2一lOA型及本规范的规定(见图1)。L G L 乎已飞D2-IOA min nom 份10.72 G L 25 L, Lt 12.5 if: I) L2为引线句曲h直角后器件去接的最小轴向氏度。3. 3 最大橄定值和主要光山特性3. 3. 1 最大颇定值参数ptotl) 几25C w 2CWIOO 121 剧1外形图lzsM fzM mA mA 表6第8牛气表6自7栏H: I)几25C时,tii8mW/K线性地降棚。2 T
5、 叩 由55150mm 口tax0.87 23.5 5.0 1.5 T,飞也 叩55175SJ 50033/149-2000 3.3.2 主要光电特性(几25C) :(: V. r zk R, vz lz表6第4栏lz表6第4栏lzK=I mA VR表6第9栏lz表6第4栏v n 。v v 最小值最大值最大值最大值最大值最大值2CWIOO 121 表6第表6第3栏2栏表6i在5栏我6第6栏我6第10栏表6第14栏3.4 电测试要求电测试应符合GBff6571及本规范的规定。3.5 标志标志应符合GJB33A和本规范的规定。器件标志为极性和型号,型号中省略2C”字样,如2CW108标志为“W10
6、8”4 质量保证规定4. 1 抽样和检验抽样和检验应按GJB33A和本规范的规定。4. 2 鉴定检验鉴定检验应按GJB33A平u本规?在A姐、日细、C纽矛uE组检验的规定。4. 3 筛选(仅对JT和JCT级)筛选应按GJB33A农2和本规范的规定,其测试应按本规泪者1的规定进行,超出本规范表1极限值的器件应予剔除。筛选要求步3罪和项目试验方陆条件要求GJB 128A 1.内部自检(不适用)2.向温寿命1032 几叶75C,户96h 3.幅度循环(节气1i.气)1051 试验条件。循环次数:20次4.恒定力ll速度(不适用)7密封(不适用)10.尚溢反偏(不适用)11. PDA的中问h参数测试和
7、技小;圳均表l的A2分组测几和儿l(J)变化最12.功率在炼1038 试验条件B几25C 外力电流见农6第7科时间:常少96h 3 步骤和项目试瞌方法GJB 128A M中农U一续num 条件13.终点测试PDA的中间电t直本规范表l的A2分组参数A参数14.密封(不适用)4.4 质量一致性检验质戴一致性检验应按GJB33A和本规范的规定。4.4. 1 A细检验A细检验应按GJB33A和本规范表l的规定进行。4.4.2 8组检验B细检验应按GJB33A刑l本规范表2的规定进行。4.4.3 C组检验C细检验所按GJB33A和本规范表3的规定进行。4.5 检验和试验方法检验和试验方法所按本规?也相
8、应的表和下列规定进行。4.5. 1 浪涌电流望求i&R,I运初始值的100%戚1.0 A取较大者。I .dVz I初始值的2.5%。在斗极臂上反向施加表6第8栏中规定的峰值电流,并且这一峰值山流向l:j电流(表6第4栏)叠加,每个浪涌时间间隔为lmin,共作5次,波形为50Hz的正强波(成能量相等的方波)。4.5. 2 工作电压(几)l;作电压的测试,在施加测试电流(表6第4栏)待器件热平衡后进行。在进行该项测试中,器件的安装夹具内侧边离管体在lOmm12川之间,环墙温度25日。Co4. 5. 3 工作白眼泪度系数(vz);在规定的环境泪度下,施加工作电流,待器件热平衡后,测出电压值,按下式算
9、出工作也照温度系数vz,单位为(%oC)。 叩100(几一几i)vz一(川一几)Vz,式中:Vz广T2温度F的工作也眩,V:几l一一一T,温度F的:作4-!庄,Vo4. 5.4 电压调棋(L1几)保持山流为MC表6第7栏)的10%,作器件热平衡阳,测试凡的数值,再把电流增加到zM(农6第7栏)的50%,保持一段时间,待器件热平衡阳,测试此时的陀值。这两个电陀的变化姐:不JIV.超过农6第13栏给山的规定值。在该项试验期间,器朴的安装夹只内侧边离智体fili.在lOmm12mm之间,环境湘度(25士3)。C。4 SJ 50033/149 2000 表1A细检验检验成GB厅6571绵阳章第2节抽样
10、极限值单位方案符号试验方;去号条件已协25C 小最大l分组LTPD血5(PPM-3) GJB 128A 目视标志应清晰,破球目枪和机2071 无割棋、针孔气炮、制械检验柱路出不超过0.8mm2分组116 (PPM-2) /F=IOO mA (俨0) 正向也应血流法VF 1.5 v 反向电流4 VR我6第9祀的/RI 100 表6第10A 值见本舰也4.5.4工作电压I. I 目表6第4栏的值Vz 表6第3栏表6第2栏v 3分组I 16 (PPM-2) 几叫25qs C (俨0)高温工作直流it反向电流4 VR表6第9栏的I阳表6第lIt A 值4分组116 (PPM) (啦。)4/J rl!.
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