JB T 4730.3-2005 承压设备无损检测.第3部分 超声检测.pdf

《JB T 4730.3-2005 承压设备无损检测.第3部分 超声检测.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《JB T 4730.3-2005 承压设备无损检测.第3部分 超声检测.pdf（94页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、ICS 77.040.20 H26 四1I中华人民共和国行业标准JB厅4730.1-4730.6-2005 代替JB473-1994 承压设备无损检测Nondestructive testing of pressure equipmen臼2005-07-26发布2005-11-01实施国家发展和改革委员会发布中华人民共和国国家发展和改革委员会公_lh 口二00五年第46号公布10项锅炉压力容器行业标准*国家发改委批准电站阀门铸钢件技术条件等10项锅炉压力容器行业标准，现予公布，自2005年11月1日起实施。以上锅炉压力容器行业标准由新华出版社出版。附件:10项锅炉压力容器行业标准编号及名称二0

2、0五年七月二十六日*摘编自中华人民共和国国家发展和改革委员会公告(2005年第46号)。附件:10项锅炉压力容器行业标准编号及名称序号标准编号标准名称代替标准1 JB厅5263-2005电站阀门铸钢件技术条件JBff 5263一1991承压设备无损检测2 JBff 4730.1-2005 第1部分:通用要求JB 4730-1994 JBff 4730.2-2005 承压设备元损检测JB 4730-一19943 第2部分:射线检测JBff 4730.3-2005 承压设备无损检测JB 4730-1994 4 第3部分:超声检测JB厅4730.4-2005承压设备无损检测JB 4730-1994

3、5 第4部分:磁粉检测JB厅4730.5-2005承压设备元损检测JB 4730-1994 6 第5部分:渗透检测7 JB厅4730.6-2005承压设备元损检测JB 4730-1994 第6部分:涡流检测8 JB厅4710-2005钢制塔式容器JB 4710-一20009 JB厅4731-2005钢制卧式容器JB 4731-2000 10 JB厅4781-2005液化气体罐式集装箱JB/T 4730.1-4730. 6-2005 目录前言.11 B厅4730.L-25承压设备无损检测第1部分:通用要求. .,. 1 JB厅4730.2-2005承压设备无损检测第2部分:射线检测.17 JB厅

4、4730.3-25承压设备无损检测第3部分:超声检测.61JB厅4730.4-25承压设备无损检测第4部分:磁粉检测.149JB厅4730.5-25承压设备无损检测第5部分:渗透检测.173 JB厅4730.2005承压设备无损检测第6部分:涡流检测191皿厅4730.1- 4730.6-2005 20-40 单晶直探头5 14mm-20mm 40-250 单晶直探头2.5 20 mm - 25 mm 4.1.2.2 双晶直探头性能应符合附录A(规范性附录)的要求。4.1.3 标准试块4. 1. 3. 1 用双晶直探头检测厚度不大于20mm的钢板时，采用如图1所示的CBI标准试块。4.1.3.

5、2 用单直探头检测厚度大于20mm的钢板时，CBII标准试块应符合图2和表2的规定。试块厚度应与被检钢板厚度相近。如经合同双方协商同意，也可采用双晶直探头进行检测。全部V注z尺寸误差.:;0.05mm-NN - -寸问-O20-40 15 ;:.20 CBII-2 40-60 30 ;:.40 CBII-3 60-1 50 ;:.65 CBII-4 1-160 90 ;:.110 CBII-5 160 -2 140 注170CBII-6 2-250 190 ;:.220 4.1.4基准灵敏度4.1.4.1 板厚不大于20mm时，用CBI试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度的50%，再提

6、高10dB作为基准灵敏度。4.1.4.2 板厚大于20mm时，应将CBn试块5平底孔第一次反射波高调整到满刻度的50%作为基准灵敏度。4. 1. 4. 3 板厚不小于探头的3倍近场区时，也可取钢板无缺陷完好部位的第一次底波来校准灵敏度，其结果应与4.1.4.2的要求相一致。4.1.5 检测方法4. 1.5.1 检测面可选钢板的任一轧制表面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可选钢板的上、下71 JB/T 4730.3-2005 两轧制表面分别进行检测。4.1.5.2 稠合方式藕合方式可采用直接接触法或液浸法。4. 1. 5. 3 扫查方式a)探头沿垂直于钢板压延方向，间距不大于l0

7、0mm的平行线进行扫查。在钢板剖口预定线两侧各5臼nm(当板厚超过l00mm时，以板厚的一半为准)内应作1%扫查，扫查示意图见图3。b)根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查。I I I I I I a) b) 图3探头扫查示意图100%扫查区剖口预定线4.1.6 缺陷的测定与记录4.1.6.1 在检测过程中，发现下列兰种情况之一即作为缺陷:a)缺陷第一次反射波(乓)波高大于或等于满刻度的50%，即乓;:50%。b)当底面第一次反射波(B, )波高未达到满刻度，此时，缺陷第一次反射波(1; )波高与底面第一次反射波(B, )波高之比大于或等于50%，即B，3N/T，m=2n)

8、按式(1 )计算:= (Bn -Bm)-6/2(m-n)T 、】，/ A ，E、. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 式中:一一衰减系数，dB/m (单程);( Bn -Bm )一一两次衰减器的读数之差，dB; T-一工件检测厚度，mm; N一一单直探头近场区长度，mm; m、n一一底波反射次数。4.2.7.3 衰减系数(T 3N )按式(2)计算=(B1-B2)-6/2T . (2) 式中:( B1 - B2 )一一两次衰减器的读数之差，dB; 其余符号意义同式(1 )。4.2.7.4 工件上兰处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。4

9、.2.8 缺陷当量的确定4.2.8.1 被检缺陷的深度大于或等于探头的3倍近场区时，采用AVG曲线及计算法确定缺陷当量。对于3倍近场区内的缺陷，可采用单直探头或双晶直探头的距离一波幅曲线来确定缺陷当量。也可采用其他等效方法来确定。4.2.8.2 计算缺陷当量时，若材质衰减系数超过4dB烟，应考虑修正。4.2.9 缺陷记录4.2.9.1 记录当量直径超过4mm的单个缺陷的波幅和位置。4.2.9.2 密集区缺陷:记录密集区缺陷中最大当量缺陷的位置和缺陷分布。饼形锻件应记录大于或等于4mm当量直径的缺陷密集区，其他锻件应记录大于或等于3mm当量直径的缺陷密集区。缺陷密集区面积以50mmx50mm的方

10、块作为最小量度单位，其边界可由6dB法决定。4.2.9.3 底波降低量应按表6的要求记录。77 JB/T 4730.3-2005 表6由缺陆引起底波降低量的质量分级dB 等级I E 皿IV V 底波降低量BGIBF 8 8-14 14-20 20-26 26 注:本表仅适用于声程大于近场区长度的缺陆。4.2.9.4 衰减系数。4.2.10 质量分级等级评定4.2.10. 1 单个缺陷的质量分级见表7。4.2.10.2 缺陷引起底波降低量的质量分级见表60表7单个缺陆的质量分级mm E 回IV V 4+ ( 0扭-8dB ) I 4+ ( 8 dB - 12dB ) I 4+ ( 12 dB -

11、1创B)I4+1创B4.2.10.3 缺陷密集区质量分级见表8。表8密集区缺陆的质量分级等级密集区缺陷占检测总面积的百分比，%4.2.10.4 表6、表7和表8的等级应作为独立的等级分别使用。4.2.10.5 当缺陷被检测人员判定为危害性缺陷时，锻件的质量等级为V级。4.3 承压设备用铝及铝合金和铁及铁合金板材超声检测和质量分级4.3.1 范围本条适用于厚度大于或等于6mm的承压设备用铝及铝合金、铁及铁合金板材的超声检测和质量分级。4.3.2 探头选用4.3.2.1 探头的选用应按表1的规定进行。4.3.2.2 双晶直探头性能要求应符合附录A(规范性附录)的要求。4.3.3 检测方法14.3.

12、3.1 检测面可选板材的任一轧制表面进行检测。若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可选板材的上、下两轧制表面分别进行检测。4.3.3.2 扫查方式a)探头沿垂直于板材压延方向，间距不大于40mm的平行线进行扫查。在板材剖口预定线两侧各50mm内应作1%扫查，扫查示意如图30b)根据合同、技术协议书或图样的要求，也可采用其他形式的扫查。4.3.3.3 基准灵敏度的确定将探头置于待检板材完好部位，调节第一次底波高度为荧光屏满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。4.3.4 搞合方式搞合方式可采用直接接触法或液浸法。78 JB/T 4730.3-2005 4.3.5 缺陷记录4.3.5.1 在检测过程

13、中，发现下列情况之一者即作为缺陷处理:a)缺陷第一次反射波(F; )波高大于或等于满刻度的40%，即F;40%。b)缺陷第一次反射波(F; )波高低于满刻度的40%，同时，缺陷第一次反射波(乓)波高与底面第一次反射波(Bl )波高之比大于或等于1%，即F;I Bl 1%。c) 当底面第一次反射波(Bl )波高低于满刻度的5%，即Bl 5 4.6.8 质量分级4.6.8.1 单个缺陷的质量分级见表12。4.6.8.2 由缺陷引起底波降低量的质量分级见表130表13由缺陆引起底波降低量的质量分级dB 级等一量耳灿、降波底BGIBF 2三8H 8 -14 III 14 - 20 IV 20-26 V

14、 26 注:本表仅适用于声程大于近场区长度的缺陷。4.6.8.3 按表12和表13评定缺陷等级时，应作为独立的等级分别使用。4.6.8.4 当缺陷被检测人员判定为危害性缺陷时，螺栓坯件的质量等级为V级。4. 7 承压设备用奥氏体钢锻件超声检测和质量分级4.7.1 范围本条适用于承压设备用奥氏体钢锻件的超声检测和质量分级。4.7.2探头4.7.2.1 探头的工作频率为0.5MHz- 2MHz o 4. 7. 2. 2 直探头的晶片直径为14mm-30mmo4.7.2.3斜探头的K值一般为0.5-2。4.7.2.4 为了准确测定缺陷，必要时也可采用其他探头。4. 7. 3试块83 JB/T 473

15、0.3-2005 4.7.3.1 对比试块应符合3.5的规定。4.7.3.2 对比试块的晶粒大小和声学特性应与被测锻件大致相近。4.7.3.3 应制备几套不同晶粒度的奥氏体钢锻件对比试块，以便能将缺陷区衰减同试块作合理的比较。4.7.3.4 对比试块的形状和尺寸按图11和表14所示。全部7D - o N 图11奥氏体钢锻件试块表14奥氏体钢锻件试块尺寸mm 3 b 。10 13 L D L D L D L D 20 50 20 50 20 50 20 50 40 50 50 50 50 50 50 50 60 50 80 50 1 60 100 60 80 50 120 60 150 80 1

16、50 80 160 80 200 80 200 80 200 80 250 100 250 100 300 100 300 100 400 150 500 150 600 200 4.7.3.5 在条件允许时，可在锻件有代表性的部位加工一个或几个适当大小的对比孔或槽，代替试块作为校正和检测的基准。4.7.4 检测时机和工件要求84 JB/T 4730.3-2005 4.7.4.1 锻件原则上应在最终热处理后、粗加工前进行超声检测。检测表面粗糙度航运6.3m。检测面应元氧化皮、漆皮、污物等。4.7.4.2 锻件应加工成简单的形状，以利于扫查和声束的覆盖。4.7.5 检测方法一般应进行直探头纵波检

17、测。对筒形锻件和环形锻件必要时还应进行斜探头检测，但扫查部位和验收标准应由合同双方商定。4.7.5.1 斜探头检测奥氏体钢锻件斜探头检测应按附录E(规范性附录)的要求进行。4.7.5.2 直探头纵波检测直探头纵波检测应符合4.2.5.2的规定。4.7.6 灵敏度的校正4. 7. 6. 1 当被检锻件厚度小于或等于6mm时，应根据定货锻件厚度和要求的质量等级，在适当厚度和当量的平底孔试块上校正，并根据实测值作出距离一波幅曲线(定量线);当被检锻件厚度大于6mm时，在锻件无缺陷部位将底波调至满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。4.7.6.2 扫查灵敏度应至少比距离-波幅曲线(定量线)或基准灵敏度提

18、高6dB。4. 7. 7 缺陷记录4. 7. 7. 1 由于缺陷的存在，而使底波降为满刻度25%以下的部位。4.7.7.2 波幅幅度大于基准线高度50%的缺陷信号。4.7.8 质量分级4. 7. 8. 1 单直探头检测的质量分级见表15。4.7.8.2 斜探头检测的质量分级见表16。4. 7. 8. 3 表15和表16的级别应作为独立的等级使用。表15单直探头检测的质量分级mm 工件公称厚度80 80- 200 200 - 300 300-600 600 工件质量等级I II I H I H I II I II 缺陷当量直径。或因缺陷 3 3 罢王6 6 罢王lO 10 13 13 二;.5%

19、引起底破降低后的幅度表16斜探头检测的质量分级mm 等级缺陷大小V形槽深为丁V形槽深为T.件壁厚的5%，最大为65 承压设备对接焊接接头超声检测和质量分级5. 1 钢制承压设备对接焊接接头超声检测和质量分级5. 1. 1 适用范围本条规定了钢制承压设备对接焊接接头的超声检测和质量分级。本条适用于母材厚度为8mm-400mm全熔化焊对接焊接接头的超声检测。母材厚度为6mm-8mm全熔化焊对接焊接接头的超声检测应按照附录G(规范性附录)的规定进行。承压设备有关的支承件和结构件以及螺旋焊接接头的超声检测也可按本条的规定进行。铁制承压设备对接焊接接头超声检测参照附录M(资料性附录)的规定进行，奥氏体不

20、锈钢承压设备对接焊接接头超声检测参照附录N(资料性85 JB/T 4730.3-2005 附录)的规定进行。如确有需要，壁厚为4mm-6mm的环向对接焊接接头的超声检测可参照6.1进行。本条不适用于铸钢对接焊接接头、外径小于159mm的钢管环向对接焊接接头、内径小于或等于200mm的管座角焊缝的超声检测，也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于80%的纵向对接焊接接头超声检测。5.1.2 超声检测技术等级5. 1. 2. 1 超声检测技术等级选择超声检测技术等级分为A、B、C三个检测级别。超声检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关规范、标准及设计图样规定。5. 1. 2. 2 不同检

21、测技术等级的要求5. 1. 2. 2. 1 A级仅适用于母材厚度为8mm-46mm的对接焊接接头。可用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面单侧进行检测。一般不要求进行横向缺陷的检测。5.1.2.2.2 B级检测:a)母材厚度为8mm-46mm时，一般用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在对接焊接接头的单面双侧进行检测。b)母材厚度大于46mm至120mm时，一般用一种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进行检测，如受几何条件限制，也可在焊接接头的双面单侧或单面双侧采用两种K值探头进行检测。c)母材厚度大于120mm至400mm时，一般用两种K值探头采用直射波法在焊

22、接接头的双面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于100。d)应进行横向缺陷的检测。检测时，可在焊接接头两侧边缘使探头与焊接接头中心线成100-20。作两个方向的斜平行扫查，见图12。如焊接接头余高磨平，探头应在焊接接头及热影响区上作两个方向的平行扫查，见图13。5. 1. 2. 2. 3 C级检测采用C级检测时应将焊接接头的余高磨平，对焊接接头两侧斜探头扫查经过的母材区域要用直探头进行检测，检测方法见5.1.4.4086 a)母材厚度为8mm-46mm时，一般用两种K值探头采用直射波法和一次反射波法在焊接接头的单面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于100，其中一个折射角应为450

23、0b)母材厚度大于46mm至400mm时，一般用两种K值探头采用直射波法在焊接接头的双面双侧进行检测。两种探头的折射角相差应不小于100。对于单侧坡口角度小于5。的窄间隙焊缝，如有可能应增加对检测与坡口表面平行缺陷的有效检测方法。c)应进行横向缺陷的检测。检测时，将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查，见图13。图12斜平行扫查JB/T 4730.3-2005 IT:J 一-一一-一图13平行扫查5.1.3试块5.1.3. 1 试块制作应符合3.5的规定。5. 1. 3.2 采用的标准试块为CSK-IA、CSK-IIA、CSK-IIIA和CSK-IVA。其形状和尺寸应分别符合图14、图

24、15、图16、图17和表17的规定。110 125 其余v95 8 105 -0、K2.0 K2.5 K3.0 K J.O K J.5 140 200 衍。，、N 注:尺寸误差不大于:!:O.05mm。300 有机玻璃图14CSK-IA试块87 JB/T 4730.3-2005 其余字40 3 、唱P司L 注1:L一试块长度，由使用的声程确定。注2:尺寸误差不大于:tO.05mmoCSK-IIA试块图15其余字。CN-8 o v、o 咕同寸千L 7川短横孔种气|?-4|-4|咛300 CSK-IIIA试块图16注:尺寸误差不大于:tO.05mmo88 JB/T 4730.3-2005 全部7号

25、嗖t。咀凡40 d L 注1:L一试块长度，由使用的声程确定。注2.尺寸误差不大于:!:0.05mm。图17CSK-IVA标准试块表17CSK-IVA试块尺寸mm CSK-IV 被检工件厚度对比试块厚度T标准孔位置b标准孔直径dNo.l 120 -150 135 T/4、T/26.4 (1/4 in) No.2 150 -2 175 T/4、T/27.9 (5/16 in) No.3 2-250 225 T/4、T/29.5 (3/8 in) No.4 250 -300 275 T/4、T/211.1 (7/16 in) No.5 3-350 325 T/4、TI212.7 (1/2 in)

26、No.6 350-4 375 T/4、T/214.3 (9/16 in) 5. 1. 3. 3 CSK-IA、CSK-IIA和CSK-lIIA试块适用壁厚范围为6mm-120mm的焊接接头，CSK-IA和CSK-IVA系列试块适用壁厚范围大于120mm至400mm的焊接接头。在满足灵敏度要求时，试块上的人工反射体根据检测需要可采取其他布置形式或添加，也可采用其他型式的等效试块。5.1.3.4 检测曲面工件时，如检测面曲率半径R运W2/4时(W为探头接触面宽度，环缝检测时为探头宽度，纵缝检测时为探头长度)，应采用与检测面曲率相同的对比试块，反射孔的位置可参照标准试块确定。试块宽度b一般应满足:b

27、;: 2S / Do . (3) 式中:b一一试块宽度，mm; 一一超声波波长，mm; S一一声程，mm; 89 JB/T 4730.3一2005D。一一声源有效直径，mm。5.1.4 检测准备5. 1.4.1 检测面a)检测区的宽度应是焊缝本身，再加上焊缝两侧各相当于母材厚度30%的一段区域，这个区域最小为5mm，最大为10mm，见图18。(1万E-.图18检测和探头移动区b)探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他杂质。检测表面应平整，便于探头的扫查，其表面粗糙度Ra值应小于或等于6.3m，一般应进行打磨。1 )采用一次反射法检测时，探头移动区应大于或等于1.25P:或式中:P一一跨距，

28、mm; T-一母材厚度，mm; k一一探头K值;一一探头折射角，(0)。P=2KT P=2Ttan 2)采用直射法检测时，探头移动区应大于或等于0.75P。. (4) . (5) c)去除余高的焊缝，应将余高打磨到与邻近母材平齐。保留余高的焊缝，如果焊缝表面有咬边、较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，并作圆滑过渡以免影响检测结果的评定。5.1.4.2探头K值(角度)斜探头的K值(角度)选取可参照表18的规定。条件允许时，应尽量采用较大K值探头。90 JB/T 4730.3-2005 表18推荐采用的斜探头K值板厚T，mm K值6 - 25 3.0 - 2.0 (720 - 600 ) 25-

29、46 2.5 - 1.5 (680 - 560 ) 46 - 120 2.0 - 1.0 (600 - 450 ) 120-4 2.0 - 1.0 (600 - 450 ) 5. 1. 4. 3 检测频率检测频率一般为2MHz-5MHz。5.1.4.4母材的检测对于C级检测，斜探头扫查声束通过的母材区域，应先用直探头检测，以便检测是否有影响斜探头检测结果的分层或其他种类缺陷存在。该项检测仅作记录，不属于对母材的验收检测。母材检测的要点如下:a)检测方法:接触式脉冲反射法，采用频率2MHz-5MHz的直探头，晶片直径lOmm-25mmob)检测灵敏度:将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的10

30、0%。c)凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度20%的部位，应在工件表面作出标记，并予以记录。5.1.5距离一波幅曲线的绘制5. 1.5.1 距离一波幅曲线应按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线族由评定线、定量线和判废线组成。评定线与定量线之间(包括评定线)为I区，定量线与判废线之间(包括定量线)为11区，判废线及其以上区域为III区，如图19所示。如果距离一波幅曲线绘制在荧光屏上，则在检测范围内不低于荧光屏满刻度的20%。ea理刷刷判!发线(RL) 定量线(SL)评定线(EL) 。距离.mm 图19距离一波幅曲线5. 1. 5. 2 距离一波幅曲线的灵敏度选择a)壁厚为6mm-120

31、mm的焊接接头，其距离一波幅曲线灵敏度按表19的规定。91 JB/T 4730. 3-2005 表19距离一波幅曲线的灵敏度试块型式板厚，mm 评定线定量线判废线6-46 。2x 40-18dB CSK-IIA 2 x 40-12dB 2 x40-4dB 46-120 2 x 40-14dB 2 x40-8dB 2 x40+2dB 8 - 15 1 x 6-12dB 1 x 6-6dB 。1x6+2dB CSK-田A 15 - 46 。1x 6-9dB 1 x6-3dB 1 x 6+5dB 46 - 120 1 x 6-6dB 份1x6 1 x 6+ lOdB b)壁厚大于120mm至400m

32、m的焊接接头，其距离一波幅曲线灵敏度按表20的规定。表20距离波幅曲线的灵敏度试块型式板厚，mm 评定线定量线判废线CSK-IVA 120-400 d-16dB d-l0dB d 注:d为横孔直径，见表17。c)检测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高6dB。d)检测面曲率半径R三W2/4时，距离一波幅曲线的绘制应在与检测面曲率相同的对比试块上进行。e)工件的表面捐合损失和材质衰减应与试块相同，否则应按附录F(规范性附录)的规定进行传输损失补偿。在一跨距声程内最大传输损失差小于或等于2dB时可不进行补偿。f)扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。5.1.6 检测方法5. 1. 6. 1 平板对

33、接焊接接头的超声检测92 a)为检测纵向缺陷，斜探头应垂直于焊缝中心线放置在检测面上，作锯齿型扫查，见图20。探头前后移动的范围应保证扫查到全部焊接接头截面，在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时，还应作100_ 150的左右转动。不同检测技术等级对纵向缺陷的检测要求见5.1.2图2却O锯齿型扫查b川)不同检测技术等级对横向缺陷的检测要求见5.1.口.2C)对电渣焊焊接接头还应增加与焊缝中心线成4付5。的斜向扫查OJB/T 4730.3-2005 d)为观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号，确定缺陷的位置、方向和形状，可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式，见图210前后左右转角

34、环绕图21四种基本扫查方法5.1.6.2 曲面工件(直径小于或等于500mm)对接焊接接头的超声检测a)检测面为曲面时，可尽量按平板对接焊接接头的检测方法进行检测。对于受几何形状限制，无法检测的部位应予以记录。b)纵缝检测时，对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差应小于10%。1 )根据工件的曲率和材料厚度选择探头K值，并考虑几何临界角的限制，确保声束能扫查到整个焊接接头。2)探头接触面修磨后，应注意探头人射点和K值的变化，并用曲率试块作实际测定。3)应注意荧光屏指示的缺陷深度或水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异，必要时应进行修正。c)环缝检测时，对比试块的曲率半径应为检测面

35、曲率半径的0.9-1.5倍。5.1.6.3 管座角焊缝的检测a)一般原则在选择检测面和探头时应考虑到各种类型缺陷的可能性，并使声束尽可能垂直于该焊接接头结构的主要缺陷。b)检测方式根据结构形式，管座角焊缝的检测有如下五种检测方式，可选择其中一种或几种方式组合实施检测。检测方式的选择应由合同双方商定，并应考虑主要检测对象和几何条件的限制。1 )在接管内壁采用直探头检测，见图22位置1。2)在容器内壁采用直探头检测，见图23位置1。在容器内壁采用斜探头检测，见图22位置403 )在接管外壁采用斜探头检测，见图23位置2。的在接管内壁采用斜探头检测，见图22位置3和图23位置3。5 )在容器外壁采用

36、斜探头检测，见图22位置2093 JB/T 4730.3-2005 |位置3l位置1图22插入式管座角焊缉图23安放式管座角焊缝c)管座角焊缝以直探头检测为主，必要时应增加斜探头检测的内容。探头频率、尺寸应按4和5.1.4的规定执行，管座角焊缝斜探头的距离一波幅曲线灵敏度按表19的规定，直探头的距离一波幅曲线灵敏度按表21的规定。距离一波幅曲线的制作详见5.1.5.10表21管座角焊缝直探头距离一波幅曲线的灵敏度评定线定量线判废线2mm平底孔3mm平底孔6mm平底孔5. 1. 6. 4 T型焊接接头的超声检测a)适用范围94 本条适用于厚度为6mm-50mm的锅炉、压力容器全熔化焊T型焊接接头

37、的超声检测。其他用途的全熔化焊T型焊接接头的超声检测也可参照本条的规定进行。b)基本原则在选择检测面和探头时应考虑到检测各类缺陷的可能性，并使声束尽可能垂直于该类焊接接头结构的主要缺陷。c)检测方式根据焊接接头结构形式，T型焊接接头的检测有如下兰种检测方式，可选择其中一种或几种方式组合实施检测。检测方式选择应由合同双方商定，并应考虑主要检测对象和几何条件的限制。1 )用斜探头从翼板外侧用直射法进行探测，见图24位置1、图25位置1和图26位置102)用斜探头在腹板一侧用直射法或一次反射法进行探测，见图24位置2和位置4、图25位置2和位置4、图26位置2和位置4。3 )用直探头或双晶直探头在翼

38、板外侧沿焊接接头探测，或者用斜探头(推荐使用Kl探头)在翼板外侧沿焊接接头探测，见图24位置3、图25位置3和图26位置3。位置3包括直探头和斜探头两种扫查。翼板(炉ijE!或简体)位置1位置3位置1位置4JB/T 4730.3-2005 位置1位置3位置1/如板悯翼E胆炉( 位置4/-(管板)a) 位置l位置3/ a) b) 图24T型焊接接头(型式I)位置1位置3/ ?& 由世且位/ 翼板位置2/ (炉胆或简体(管板)b) 图25T型焊接接头(型式11)95 JB/T 4730.3-2005 位置1位置3位置l位置1位置3位置1位置4/ / 翼板(炉胆或简体)-(管板)a) ) LU 图2

39、6T型焊接接头(型式III)d)斜探头K值的确定用斜探头在翼板外侧进行探测时，推荐使用Kl探头;用斜探头在腹板一侧进行探测时，探头K值根据腹板厚度按表18进行选择。e)距离一波幅曲线灵敏度的确定用斜探头探测时，距离一波幅曲线灵敏度应以腹板厚度按表19确定;用直探头探测时，距离一波幅曲线灵敏度应以翼板厚度按表22确定。表22T型焊接接头直探头距离一波幅曲线的灵敏度叫一定量线3mm平底孔判废线4mm平底孔f)扫查方式直探头和斜探头的扫查按5.1.6的有关规定进行。g)对缺陷进行等级评定时，均以腹板厚度为准。5.1.7 缺陷定量检测5. 1. 7. 1 灵敏度应调到定量线灵敏度。5.1.7.2 对所

40、有反射波幅达到或超过定量线的缺陷，均应确定其位置、最大反射波幅和缺陷当量。5.1.7.3 缺陷位置测定缺陷位置测定应以获得缺陷最大反射波的位置为准。5.1.7.4 缺陷最大反射波幅的测定将探头移至缺陷出现最大反射波信号的位置，测定波幅大小，并确定它在距离一波幅曲线中的区域。5.1.7.5 缺陷定量应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷当量直径或缺陷指示长度L。a)缺陷当量直径份，用当量平底孔直径表示，主要用于直探头检测，可采用公式计算，距离一波幅曲线和试块对比来确定缺陷当量尺寸。96 JB/T 4730.3-2005 b)缺陷指示长度!lL的检测采用以下方法:1 )当缺陷反射波只有一个高点，且位于11

41、区或11区以上时，使波幅降到荧光屏满刻度的80%后，用6dB法测其指示长度。2)当缺陷反射波峰值起伏变化，有多个高点，且位于11区或11区以上时，使波幅降到荧光屏满刻度的80%后，应以端点6dB法测其指示长度。3 ) 当缺陷反射波峰位于I区，如认为有必要记录时，将探头左右移动，使波幅降到评定线，以此测定缺陷指示长度。5.1.8 缺陷评定5. 1.8.1 超过评定线的信号应注意其是否具有裂纹等危害性缺陷特征，如有怀疑时，应采取改变探头K值、增加检测面、观察动态波型并结合结构工艺特征作判定，如对波型不能判断时，应辅以其他检测方法作综合判定。5.1.8.2 缺陷指示长度小于10mm时，按5mm计。5

42、.1.8.3 相邻两缺陷在一直线上，其间距小于其中较小的缺陷长度时，应作为一条缺陷处理，以两缺陷长度之和作为其指示长度(间距不计人缺陷长度)。5.1.9 质量分级焊接接头质量分级按表23的规定进行。表23焊接接头质量分级mm 反射波幅等级板厚T单个缺陷指示长度L多个缺陷累计长度L(所在区域)6-4 I 非裂纹类缺陷6-120 L=TI3，最小为10，最大不超过30在任意9T焊缝长度范围内11 120-400 L=TI3，最大不超过50L不超过T6-120 L=2TI3，最小为12，最大不超过40在任意4.5T焊缝长度范围内H H 120-400 最大不超过75L不超过T11 超过11级者超过1

43、1级者III 6-400 III 所有缺陷I、H、III裂纹等危害性缺陷注1:母材板厚不同时，取薄板侧厚度值。注2.当焊缝长度不足9T(1级)或4.5T (11级)时，可按比例折算。当折算后的缺陷累计长度小于单个缺陷指示长度时，以单个缺陷指示长度为准。5.2 承压设备堆焊层超声检测和质量分级5.2.1 检测范围和一般要求本条适用于承压设备用奥氏体不锈钢、镰合金等堆焊层内缺陷，堆焊层与母材未接合缺陷和堆焊层层下母材再热裂纹的超声检测以及检测结果的质量分级。5.2.2 检测方法a)使用双晶直探头和纵波双晶斜探头从堆焊层侧对堆焊层进行超声检测。b)用单直探头和纵波单斜探头从母材侧对堆焊层进行超声检测

44、。97 JB/T 4730.3-2005 5.2.3探头5.2.3.1 双晶探头a)双晶探头(直、斜)两声束间的夹角应能满足有效声场覆盖全部检测区域，使探头对该区域具有最大的检测灵敏度。探头总面积不应超过325mt，频率2.5MHz，为了达到所需的分辨力，也可采用其他频率。两晶片间隔声效果应保证良好。b)纵波双晶斜探头的K=2.75(折射角=700)，焦点深度应位于堆焊层和母材的结合部位。5.2.3.2 单直探头探头面积一般不应超过625mm2，频率为2MHz-5MHz。5.2.3.3 纵波斜探头探头频率为2MHz-5MHz，5.2.4对比试块K=l (折射角=450)。5.2.4.1 对比试

45、块应采用与被检工件材质相同或声学特性相近的材料，并采用相同的焊接工艺制成。其母材、熔合面和堆焊层中均不得有大于或等于2mm平底孔当量直径的缺陷存在。试块堆焊层表面的状态应和工件堆焊层的表面状态相同。5.2.4.2 从堆焊层侧进行检测采用Tl型试块，母材厚度T至少应为堆焊层厚度的2倍。Tl型试块如图27所示。40 40 堆焊层母材一手一乒-诈图27T1型试块40 3.2 4 其余V。切。-叫 /队5.2.4.3 从母材侧进行检测采用T2型试块，母材厚度T与被检母材的厚度差不得超过10%0T2型试块如图28所示。如果工件厚度比较大，T2型试块的长度L应能满足检测要求。98 L 母材40 40 堆焊

46、层一乒-F-介1.5 图28T2型试块3.2 40 JB/T 4730. 3-2005 其余V志S A 5.2.4.4 检测堆焊层和母材的未结合，采用T3型试块(见图29)。当从母材侧进行检测时，采用图29a)型试块，被检测的工件母材厚度和试块母材厚度差不应超过10%。当从堆焊层侧进行检测时，采用图29b)型试块，试块的母材厚度至少应为堆焊层厚度的2倍。其余V100 100 -币108 一手与一8 扩。堆焊层。堆焊层z。咱母材坠吨母材3.2 b) 图29T3型试块99 JB/T 4730. 3-2005 5.2.5 灵敏度校准5.2.5.1 采用Tl型试块的校准a)纵波双晶斜探头灵敏度的校准:

47、将探头放在试块的堆焊层表面上，移动探头使从l.5mm横孔获得最大反射波幅，调节衰减器使回波幅度为满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。b)双晶直探头灵敏度的校准:将探头放在试块的堆焊层表面上，移动探头使其从们mm平底孔获得最大波幅，调整衰减器使回波幅度为满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。5.2.5.2 采用T2型试块的校准a)将单直探头放在母材一侧，使3mm平底孔回波幅度为满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。b)纵波斜探头灵敏度的校准:将探头放在试块的母材表面上，移动探头使从l.5mm横孔获得最大反射波幅，调节衰减器使回波幅度为满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。5.2.5.3 采用T3型试块的校准a)双晶直探头灵敏度的校准:将探头放在堆焊层一侧，使lOmm平底孔回波幅度为满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。b)单直探头灵敏度的校准:将探头放在母材一侧，使10mm平底孔回波幅度为满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。5.2.6 扫查方法5.2.6.1 检测应从母材或堆焊层一侧进行。如对检测结果有怀疑时，也可从另一侧进行补充检测。5.2.6.2 扫查灵敏度应在基准灵敏度基础上提高6dB。5.2.6.3 采用双晶斜探头检测时应在堆焊层表面按90。方向进行两次扫查;采用双晶直探头检测时应垂直于堆焊方向进行扫查